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    • 1. 发明申请
    • 記憶装置、情報処理装置、制御装置、記憶装置破壊方法及びプログラム
    • 存储装置,信息处理装置,控制装置以及用于破坏存储装置的方法和程序
    • WO2013046297A1
    • 2013-04-04
    • PCT/JP2011/071886
    • 2011-09-26
    • 富士通株式会社須藤 正俊
    • 須藤 正俊
    • G11B33/00
    • G11B23/505G11B25/043
    •  記憶装置は、記録面を有する記録媒体と、前記記録媒体を回転させる回転体に対して前記記録媒体を固定する固定部と、前記記録媒体への情報の書き込み及び前記記録媒体から情報の読み込みを行うヘッドを含み、移動可能な可動範囲を有するヘッド部と、前記ヘッド部の前記可動範囲を制限する可動制限部と、前記制限された可動範囲内で前記ヘッド部を移動させるヘッド駆動部と、前記可動制限部による前記可動範囲の制限が解除された状態で、前記ヘッド駆動部を制御して前記ヘッド部を前記固定部方向へ移動させることで、前記ヘッド部を前記固定部に接触させる駆動制御部と、を備えた。
    • 存储装置设置有具有记录表面的记录介质,用于将记录介质固定到旋转记录介质的旋转体的固定部分,包括用于向记录介质写入和读取信息的磁头的磁头部分, 并具有可移动范围,用于限制头部的可移动范围的可移动范围限制部分,用于在受限可移动范围内移动头部的头驱动单元,以及用于使头部与该头部接触的驱动控制单元 通过控制头驱动单元在移动可移动范围限制部的可移动范围的极限的状态下,朝向固定部移动头部。
    • 2. 发明申请
    • 観察装置
    • 观察装置
    • WO2011136382A1
    • 2011-11-03
    • PCT/JP2011/060562
    • 2011-05-02
    • 浜松ホトニクス株式会社岩井 秀直藤本 正俊
    • 岩井 秀直藤本 正俊
    • G02B27/52G01J9/02G01N21/45
    • G01B9/02045G01N21/41G02B21/14G02B27/52G03H1/0443G03H1/0866G03H2001/0447G03H2001/045G03H2001/0463G03H2210/62
    • 1画素当りの読出し速度が低速である光検出器を用いる場合であっても移動している対象物の位相像を高速に高感度で得ることができる観察装置を提供することを目的とする。観察装置1は、光源部10、第1変調器20、第2変調器30、レンズ40、ビームスプリッタ41、光検出器46および演算部50を備える。レンズ40は、移動している対象物2で生じた散乱光を入力して対象物2のフーリエ変換像を形成する。光検出器46は、レンズ40を経て受光面上の各位置に到達した光のドップラーシフト量に応じた周波数で時間的に変化するデータのv方向についての総和を表すデータを、u方向の各位置について各時刻に出力する。演算部50は、光検出器46の出力に基づいて対象物2の像を得る。
    • 公开了一种即使在使用每像素读出速度较低的光检测器的情况下也能够高速,高精度地获取移动体的相位图像的观察装置。 观察装置(1)设置有光供给单元(10),第一调制器(20),第二调制器(30),透镜(40),分束器(41),光电检测器 和计算单元(50)。 透镜(40)输入由移动物体(2)产生的散射光并产生物体(2)的傅立叶变换。 光电检测器(46)在每个时间点在u方向上输出关于每个位置的数据,所述数据表示在对应于到达每个位置的光的多普勒频移量的频率处时间上改变的数据的v方向的和 透镜(40)上的受光面的位置。 计算单元(50)基于光电检测器(46)的输出来获取被摄体(2)的图像。
    • 3. 发明申请
    • 観察装置
    • 观察装置
    • WO2011136381A1
    • 2011-11-03
    • PCT/JP2011/060561
    • 2011-05-02
    • 浜松ホトニクス株式会社岩井 秀直藤本 正俊
    • 岩井 秀直藤本 正俊
    • G02B27/52G01J9/02G01N21/45
    • G01B9/02045G01N21/41G02B21/14G02B27/52G03H1/0443G03H1/0866G03H2001/0447G03H2001/045G03H2001/0463G03H2210/62
    • 1画素当りの読出し速度が低速である光検出器を用いる場合であっても移動している対象物の位相像を高速に高感度で得ることができる観察装置を提供することを目的とする。観察装置1は、光源部10、第1変調器20、第2変調器30、レンズ40、ビームスプリッタ41、光検出器46および演算部50を備える。レンズ40は、移動している対象物2で生じた散乱光を入力して対象物2のフーリエ変換像を形成する。光検出器46は、レンズ40を経て受光面上の各位置に到達した光のドップラーシフト量に応じた周波数で時間的に変化するデータのv方向についての総和を表すデータを、u方向の各位置について各時刻に出力する。演算部50は、光検出器46の出力に基づいて対象物2の像を得る。
    • 能够以高灵敏度在对象的高速相位图像来获得每个像素的观察装置的读出速度使用光检测器,其是慢时,即使移动 它旨在提供。 观察设备1包括光源单元10,第一调制器20,第二调制器30,透镜40,分束器41,光电检测器46和操作单元50。 透镜40输入由运动物体2产生的散射光以形成物体2的傅里叶变换图像。 光学检测器46,表示在对应于光的通过透镜40,每个U方向的到达光接收表面上的各个位置处的多普勒偏移量的频率v方向随时间变化的数据的总和的数据 该位置是每次输出。 计算单元50基于光电检测器46的输出获得对象2的图像。

    • 4. 发明申请
    • 高速粒子発生装置
    • 高速颗粒发生器
    • WO2004095473A1
    • 2004-11-04
    • PCT/JP2004/005828
    • 2004-04-22
    • 独立行政法人科学技術振興機構高橋 宏典藤本 正俊青島 紳一郎
    • 高橋 宏典藤本 正俊青島 紳一郎
    • G21K1/00
    • G21K1/06
    • 真空チャンバ60内に設置されたターゲット30に対し、レーザ光源10から出力されたレーザ光L1を、集光光学系20によって集光しつつ照射する。これにより、陽子などの高速粒子Pが発生し、ターゲット30から放出される。また、レーザ光L1の集光照射に伴うターゲット30からのプラズマ発光L2を光計測装置40で計測し、その計測信号を解析装置50で解析して高速粒子Pの発生状態を評価する。そして、その解析結果に基づいて光学系移動機構25、ターゲット移動機構35を介して集光光学系20、ターゲット30を制御して、ターゲット30での高速粒子Pの発生状態をフィードバック制御する。これにより、高速粒子の発生状態をリアルタイムでモニタすることにより、効率良く高速粒子を発生させることが可能な高速粒子発生装置が実現される。
    • 在通过冷凝光学系统(20)冷凝的同时,从激光束源(10)输出的激光束(L1)照射放置在真空室(60)内的靶(30)。 因此,高速颗粒(P) 质子,从靶(30)产生并发射。 通过光测量仪器(40)测量入射到激光束(L1)的聚光照射的目标物(30)的等离子体发射(L2),借助于分析仪(50)对其测量信号进行分析, 从而评估高速颗粒(P)的产生状态。 基于分析结果,冷凝光学系统(20)和目标(30)通过光学系统移动机构(25)和目标移动机构(35)进行控制,从而反馈控制高速的发生状态 靶(30)上的颗粒(P)。 能够实现通过实时监控其生成条件而有效地产生高速粒子的高速粒子发生器。
    • 6. 发明申请
    • 容量性負荷駆動回路
    • 电容负载驱动电路
    • WO2013065387A1
    • 2013-05-10
    • PCT/JP2012/071348
    • 2012-08-23
    • 浜松ホトニクス株式会社山岸 彰伍藤本 正俊高橋 聡
    • 山岸 彰伍藤本 正俊高橋 聡
    • H03K4/02
    • H02M7/537G02F1/0327H01S3/0057H01S3/0064H01S3/08H01S3/1075H01S3/235H03K4/023H03K17/102H03K17/691H03K2017/6875H03K2217/009Y10T307/549
    •  駆動回路1Aは、階段波及び矩形波の何れかを出力端11から選択的に出力して容量性負荷52を駆動する回路であって、定電圧VHを供給する高電圧電源41と、出力端11と高電圧電源41との間に直列接続されたFET21と、出力側コイルがFET21のゲートに接続された変圧器22と、変圧器22の入力側コイルに容量素子23を介して接続された入力端12aと、定電圧VHより低い定電圧VLを供給する高電圧電源42と、出力端11と高電圧電源42との間に直列接続されたFET31と、出力側コイルがFET31のゲートに接続された変圧器32と、変圧器32の入力側コイルに容量素子33を介して接続された入力端12bとを備える。これにより、容量性負荷に対して階段状の高電圧パルスを好適に与えることが可能な回路が実現される。
    • 驱动电路(1A)是用于从输出端子(11)选择性地输出阶梯波或矩形波并驱动电容性负载(52)的电路,该电路配备有:高压电源(41) 用于提供恒定电压(VH); 串联连接在输出端子(11)和高压电源(41)之间的FET(21); 变压器(22),其输出侧线圈连接到FET(21)的栅极; 连接到变压器(22)的输入侧线圈的输入端子(12a),其间具有电容元件(23); 用于提供低于恒定电压(VH)的恒定电压(VL)的高压电源(42); 串联连接在输出端子(11)和高压电源(42)之间的FET(31); 变压器(32),其输出侧线圈连接到FET(31)的栅极; 以及连接到变压器(32)的输入侧线圈的输入端子(12b),其间具有电容元件(33)。 因此,可以实现能够呈现具有阶梯高压脉冲的电容性负载的电路。
    • 9. 发明申请
    • 全反射テラヘルツ波測定装置
    • 总反射TERAHERTZ波形测量装置
    • WO2009133853A1
    • 2009-11-05
    • PCT/JP2009/058282
    • 2009-04-27
    • 浜松ホトニクス株式会社中西 篤司河田 陽一安田 敬史高橋 宏典藤本 正俊青島 紳一郎
    • 中西 篤司河田 陽一安田 敬史高橋 宏典藤本 正俊青島 紳一郎
    • G01N21/35G01N21/27
    • G01N21/552G01N21/3504G01N21/3586
    •  全反射テラヘルツ波測定装置1は、光源11、分岐部12、チョッパ13、光路長差調整部14、偏光子15、ビームスプリッタ17、テラヘルツ波発生素子20、フィルタ25、内部全反射プリズム31、テラヘルツ波検出素子40、1/4波長板51、偏光分離素子52、光検出器53a、光検出器53b、差動増幅器54およびロックイン増幅器55を備える。内部全反射プリズム31は、いわゆる無収差プリズムであって、入射面31a,出射面31bおよび反射面31cを有する。内部全反射プリズム31の入射面31aにテラヘルツ波発生素子20およびフィルタ25が一体に設けられ、内部全反射プリズム31の出射面31bにテラヘルツ波検出素子40が一体に設けられている。フィルタ25は、テラヘルツ波を透過させ、ポンプ光を遮断する。これにより、小型化が可能な全反射テラヘルツ波測定装置が実現される。
    • 公开了一种设置有光源(11),分支部(12),斩波器(13),光程差调节单元(14),光偏振器(15)的全反射太赫兹波测量装置 ),分束器(17),太赫兹波发生元件(20),滤波器(25),全内反射棱镜(31),太赫兹波检测元件(40),1/4波长板 51),偏振光分离元件(52),光检测器(53a),光检测器(53b),差分放大器(54)和锁定放大器(55)。 全内反射棱镜(31)是所谓的无像差棱镜,具有入射面(31a),辐射面(31b)和反射面(31c)。 太赫兹波产生元件(20)和滤光器(25)被集成到全内反射棱镜(31)的入射面(31a)中。 太赫兹波检测元件(40)被集成到全内反射棱镜(31)的辐射表面(31b)中。 滤波器(25)允许太赫兹波通过并阻止泵浦光。 因此,可以实现能够减小尺寸的全反射太赫兹波测量装置。
    • 10. 发明申请
    • A/D変換装置およびA/D変換方法
    • A / D转换装置和A / D转换方法
    • WO2006101161A1
    • 2006-09-28
    • PCT/JP2006/305810
    • 2006-03-23
    • 株式会社進化システム総合研究所東京電力株式会社河西 勇二伊藤 桂一鎌田 崇佐藤 正俊
    • 河西 勇二伊藤 桂一鎌田 崇佐藤 正俊
    • H03M1/10H03M1/36H04B3/04
    • H03M1/1038H03M1/123H03M1/365
    •  高い周波数まで使用可能であり、かつ高精度なA/D変換装置およびA/D変換方法を提供する。  A/D変換装置は、主A/D変換器40と、入力信号微分回路41の出力信号をA/D変換する補助A/D変換器42と、主A/D変換回路40および補助A/D変換回路42の出力信号をアドレスとして入力し、補正値あるいは補正された出力値を出力する補正値メモリ43と、主A/D変換回路40の出力と補正値メモリ43の出力とを加算する加算器44を備える。微分回路を使用する代わりに、補助A/D変換器42に主A/D変換器40とは異なるタイミング信号を供給してもよい。超高速かつ高精度なA/D変換器を提供でき、経年変化等に対応して補正値メモリ43に記憶されている補正値を修正することにより校正が可能である。
    • A / D转换装置和A / D转换方法,其中可以使用高频率的频率并实现高精度。 A / D转换装置包括主A / D转换器(40)。 用于对来自输入信号微分电路(41)的输出信号进行A / D转换的辅助A / D转换器(42)。 一个用于接收主A / D转换器(40)和辅助A / D转换器电路(42)的输出信号作为地址的校正值存储器(43),用于输出校正值或经校正的输出值; 以及用于将主A / D转换电路(40)的输出与校正值存储器(43)的输出相加的加法器(44)。 代替使用微分电路,可以设置辅助A / D转换器(42)接收与要施加到主A / D转换器(40)的定时信号不同的定时信号。 以这种方式,可以提供高速率,高精度的A / D转换器,并且还可以根据老化等修改存储在校正值存储器(43)中的校正值来校正。