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    • 1. 发明申请
    • 全反射テラヘルツ波測定装置
    • 总反射TERA HERTZ波形测量装置
    • WO2008111351A1
    • 2008-09-18
    • PCT/JP2008/052336
    • 2008-02-13
    • 浜松ホトニクス株式会社安田 敬史河田 陽一高橋 宏典青島 紳一郎
    • 安田 敬史河田 陽一高橋 宏典青島 紳一郎
    • G01N21/35
    • G01N21/3581G01N21/552
    • 全反射テラヘルツ波測定装置1は、テラヘルツ波を用いて全反射測定法により測定対象物Sの情報を取得するものであって、光源11、分岐部12、チョッパ13、光路長差調整部14、偏光子15、ビームスプリッタ17、テラヘルツ波発生素子20、内部全反射プリズム31、テラヘルツ波検出素子40、1/4波長板51、偏光分離素子52、光検出器53A、光検出器53B、差動増幅器54およびロックイン増幅器55を備える。内部全反射プリズム31は、いわゆる無収差プリズムであって、入射面31a,出射面31bおよび反射面31cを有する。内部全反射プリズム31の入射面31aにテラヘルツ波発生素子20が一体に設けられ、内部全反射プリズム31の出射面31bにテラヘルツ波検出素子40が一体に設けられている。
    • 一种全反射测量装置(1),用于通过使用赫兹波的全反射测量方法获取关于测量对象(S)的信息,包括光源(11),分支部分(12),斩波器 13),光路长度调节部分(14),偏振器(15),分束器(17),赫赫波发生元件(20),内部全反射棱镜(31),赫兹波检测 元件(40),四分之一波长板(51),偏振分离元件(52),光电检测器(53A),光电检测器(53B),差分放大器(54)和锁定放大器(55)。 内部全反射棱镜(31)是具有入射面(31a),出射面(31b)和反射面(31c)的所谓的柱状棱镜。 一体地设置在内部全反射棱镜(31)的入射面(31a)上的天线赫兹波发生元件(20),并且将赫赫波检测元件(40)一体地设置在内部全反射棱镜(31)的出射面 内部全反射棱镜(31)。
    • 2. 发明申请
    • 単発テラヘルツ波時間波形計測装置
    • 单TERAHERTZ波形时间波形测量装置
    • WO2008044424A1
    • 2008-04-17
    • PCT/JP2007/067843
    • 2007-09-13
    • 浜松ホトニクス株式会社河田 陽一安田 敬史高橋 宏典青島 紳一郎
    • 河田 陽一安田 敬史高橋 宏典青島 紳一郎
    • G01N21/35
    • G01N21/35G01N21/23G01N21/3581
    • 単発テラヘルツ波時間波形計測装置1は、テラヘルツ波を用いて測定対象物9の情報を取得するものであって、光源11、ビーム径調整部12、分岐部13、テラヘルツ波発生部21、光路長差調整部31、パルス面傾斜部32、偏光子33、合波部41、電気光学結晶42、検光子43および光検出器44を備える。テラヘルツ波発生部21は、ポンプ光を入力することでパルステラヘルツ波を発生し出力する。パルス面傾斜部32は、プローブ光のパルス面を傾斜させて、電気光学結晶42に入力される際のテラヘルツ波およびプローブ光それぞれのパルス面を互いに非平行とする。
    • 一种用于通过使用太赫波来获取关于被测量物体(9)的信息的单个太赫兹波时间波形测量装置(1)。 装置(1)包括光源(11),光束直径调节部分(12),分支部分(13),太赫兹波发生部分(21),光程长度差调节部分(31) 脉冲平面倾斜部分(32),偏振器(33),复用部分(41),电光晶体(42),分析器(43)和光学传感器(44)。 太赫兹波产生部分(21)在接收泵浦光时产生并输出脉冲太赫兹波。 当太赫兹波和探针光被输入到电光晶体(42)中时,脉冲平面倾斜部分(32)倾斜探测光的脉冲平面并使太赫兹波和探测光的脉冲平面不平行。