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    • 11. 发明申请
    • デバイスエミュレーション支援装置、デバイスエミュレーション支援方法、デバイスエミュレーション支援回路及び情報処理装置
    • 设备仿真支持设备,设备仿真支持方法,设备仿真支持电路和信息处理器
    • WO2009144892A1
    • 2009-12-03
    • PCT/JP2009/002221
    • 2009-05-20
    • パナソニック株式会社天野克重谷川忠雄
    • 天野克重谷川忠雄
    • G06F11/22
    • G06F11/261
    •  アクセス監視部(11)は、CPU(1)から周辺デバイス(3)に向けて出力されるアクセス信号から、監視アドレス設定部(10)に記憶されているアドレスに合致するアドレスを含むアクセス情報を取得し、アクセス判断部(13)は、アクセス監視部(11)から受け取ったアクセス情報と、アクセス記憶部(12)に記憶されている直前のアクセス情報とを比較し、受け取ったアクセス情報が直前のアクセス情報と異なる場合、取得したアクセス情報をアクセス記憶部(12)に記憶するとともに、例外発生部(14)に例外発生通知の送信を要求し、受け取ったアクセス情報が直前のアクセス情報と同一の場合、アクセス記憶部(12)に記憶されている直前のアクセス情報を比較の対象から除外する。この構成により、エミュレーションする際の処理量を削減することができ、効率的に周辺装置のエミュレーションを行うことができる。
    • 访问监视单元(11)从从CPU(1)输出到外围设备(3)的访问信号中获取包括与监视地址设置单元(10)中存储的地址相匹配的地址的访问信息。 访问决定单元(13)比较从访问监视单元(11)接收的访问信息和存储在访问存储器(12)中的紧接在前的访问信息,将获取的访问信息存储在访问存储器(12)中,并请求 当所接收的访问信息不同于紧接在前的访问信息时,将异常生成的通知发送到异常发生器(14),并且当接收的访问信息(14)从所述比较目标移除存储在访问存储器(12)中的紧接在前的访问信息 匹配紧接在前的访问信息。 该配置能够在仿真期间减少处理负载,并且能够有效地模拟外围设备。
    • 12. 发明申请
    • プログラムテスト装置、およびプログラム
    • 程序测试设备和程序
    • WO2009096322A1
    • 2009-08-06
    • PCT/JP2009/051035
    • 2009-01-23
    • 東京エレクトロン株式会社西村 優
    • 西村 優
    • G06F11/28
    • G06F11/261G06F11/3696
    • 【課題】従来の群管理システムにおいては、プロセスパラメータの変更が影響し得る1以上のレシピを容易に知ることができない、という課題があった。 【解決手段】2以上の制御装置が保持しているプロセスに関する情報である2以上のレシピを、前記2以上の制御装置に各々対応付けて格納しているレシピ格納部と、レシピに含まれるプロセスパラメータについての情報であるプロセスパラメータ情報を受け付ける受付部と、前記プロセスパラメータ情報を用いて、前記レシピ格納部からレシピを検索し、当該検索したレシピについての情報であるレシピ情報を取得するレシピ情報取得部と、前記レシピ情報取得部が取得したレシピ情報を出力する出力部を具備するプロセス情報管理装置により、プロセスパラメータの変更が影響し得る1以上のレシピを容易に知ることができる。
    • 常规的组控制系统存在这样的问题:可以容易地知道可能受过程参数变化影响的一个或多个配方。 可以通过具有以下部分的过程信息管理装置容易地知道可以受过程参数变化影响的一个或多个配方:配方存储部分,其中两个或多个配方是由两个或更多个 控制器分别与两个或更多个控制器相关联地存储; 接收处理参数信息的接收部分,该信息是包括在配方中的处理参数的信息; 食谱信息获取部分,使用处理参数信息从食谱存储部分搜索食谱,以获取作为关于搜索食谱的信息的食谱信息; 以及输出部,其输出由食谱信息获取部获取的食谱信息。
    • 15. 发明申请
    • APPARATUS AND METHOD FOR CONTROLLING POWER, CLOCK, AND RESET DURING TEST AND DEBUG PROCEDURES FOR A PLURALITY OF PROCESSOR/CORES
    • 用于处理器/ CORES的大量测试和调试程序中控制电源,时钟和复位的装置和方法
    • WO2007127840A3
    • 2008-10-09
    • PCT/US2007067493
    • 2007-04-26
    • TEXAS INSTRUMENTS INCMCGOWAN ROBERT A
    • MCGOWAN ROBERT A
    • G06F11/00
    • G06F11/2242G06F11/2236G06F11/261
    • An interface unit (1) is provided for use with a JTAG test and debug procedure involving a plurality of processor cores (11, 12, IN). The interface unit is provided with a logic unit that can translate test and debug commands into control signals. The control signals are applied to a power state machine coupled to a processor/core. The state of the power state machine can thereby be controlled and therefore the parameters of the associated processor/core, i.e., the power and clock parameters of the processor/core. In addition, the logic unit can generate control signals for activating switches, switches that controllably selective apply the TRST signal and the TMS signal to the TAP unit (111, 121, INl) of the processor /core. This capability permits the TAP units of each processor/core to be synchronized.
    • 接口单元(1)被提供用于与涉及多个处理器核心(11,12,IN)的JTAG测试和调试过程一起使用。 接口单元设置有可将测试和调试命令转换为控制信号的逻辑单元。 控制信号被施加到耦合到处理器/核的电源状态机。 因此可以控制功率状态机的状态,并因此控制相关处理器/核心的参数,即处理器/核心的功率和时钟参数。 此外,逻辑单元可以产生用于激活开关的控制信号,可控地选择性地将TRST信号和TMS信号施加到处理器/核的TAP单元(111,121,IN1)的开关。 该功能允许每个处理器/核心的TAP单元同步。
    • 17. 发明申请
    • BRANCHING AND BEHAVIORAL PARTITIONING FOR A VLIW PROCESSOR
    • VLIW处理器的分支和行为分配
    • WO2007121452A3
    • 2008-05-02
    • PCT/US2007066813
    • 2007-04-17
    • LIGA SYSTEMS INCVERHEYEN HENRY TSAHAI PARAMINDER SWATT WILLIAMCOLWILL PAUL
    • VERHEYEN HENRY TSAHAI PARAMINDER SWATT WILLIAMCOLWILL PAUL
    • G06F17/50
    • G06F17/5022G06F11/261G06F17/5027
    • In one aspect, the present invention overcomes the limitations of the prior art by providing a logic simulation system that uses a VLIW simulation processor with many parallel processor elements to accelerate the simulation of synthesizable tasks but that also supports non-synthesizable tasks and/or branching. In one approach, the VLIW simulation processor is based on an architecture that does not have an on-chip instruction cache. Instead, VLIW instruction words stream in directly from a program memory and the individual processor elements are programmed continuously based on the instruction words. This also allows the efficient implementation of side-entrance jumps, where a region of code can be entered in the middle of the region rather than always requiring entrance from the top. In another aspect, non-synthesizable tasks can be efficiently handled by exception handlers.
    • 在一个方面,本发明通过提供一种使用具有多个并行处理器元件的VLIW仿真处理器来加速可合成任务的仿真的逻辑仿真系统来克服现有技术的限制,但也支持非可合成任务和/或分支 。 在一种方法中,VLIW模拟处理器基于不具有片上指令高速缓存的架构。 相反,直接从程序存储器和各个处理器元件的VLIW指令字流基于指令字被连续编程。 这也允许有效地实施侧入口跳跃,其中可以在区域中间输入代码区域,而不是总是需要从顶部进入。 另一方面,非可合成任务可以由异常处理程序有效地处理。
    • 18. 发明申请
    • SPEEDING UP DEFECT DIAGNOSIS TECHNIQUES
    • 加快缺陷诊断技术
    • WO2007109322A2
    • 2007-09-27
    • PCT/US2007/007021
    • 2007-03-20
    • MENTOR GRAPHICS CORPORATIONZOU, WeiTANG, HuaxingCHENG, Wu-Tung
    • ZOU, WeiTANG, HuaxingCHENG, Wu-Tung
    • G01R31/28G06F11/00
    • G01R31/3177G01R31/318342G06F11/2252G06F11/261
    • Fault diagnosis techniques (e.g., effect-cause diagnosis techniques) can be speeded up by, for example, using a relatively small dictionary. Examples describe herein exhibit a speed up of effect-cause diagnosis by up to about 160 times. The technologies can be used to diagnose defects using compacted fail data produced by test response compactors. A dictionary of small size can be used to reduce the size of a fault candidate list and also to facilitate procedures to select a subset of passing patterns for simulation. Critical path tracing can be used to handle failing patterns with a larger number of failing bits, and a pre-computed small dictionary can be used to quickly find the initial candidates for failing patterns with a smaller number of failing bits. Also described herein are exemplary techniques for selecting passin patterns for fault simulation to identify faults in an electronic circuit.
    • 故障诊断技术(例如效果原因诊断技术)可以通过例如使用相对较小的字典加速。 这里描述的实例表明效果原因诊断的加速高达约160次。 这些技术可用于通过测试响应压实机生成的压实故障数据来诊断缺陷。 可以使用小尺寸的字典来减小故障候选列表的大小,并且还有助于选择用于模拟的通过模式的子集的过程。 关键路径跟踪可用于处理具有较大数量故障位的故障模式,并且可以使用预先计算的小字典快速找到具有较少数量故障位的故障模式的初始候选。 这里还描述了用于选择用于故障模拟的通路图案以识别电子电路中的故障的示例性技术。
    • 20. 发明申请
    • SELECTABLE JTAG OR TRACE ACCESS WITH DATA STORE AND OUTPUT
    • 可选择的JTAG或跟踪数据存储和输出
    • WO2007021732A2
    • 2007-02-22
    • PCT/US2006/031019
    • 2006-08-09
    • TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATEDWHETSEL, Lee, D.
    • WHETSEL, Lee, D.
    • G01R31/28
    • G01R31/31723G01R31/31722G01R31/31725G01R31/31727G01R31/3177G01R31/318572G06F11/261G06F11/267G06F11/27G06F11/3466
    • An addressable interface selectively enables JTAG TAP domain operations or Trace domain operations within an IC. After being enabled, the TAP receives TMS and TDI input from a single data pin (308). After being enabled, the Trace domain acquires data from a functioning circuit within the IC in response to a first clock and outputs the acquired data from the IC in response to a second clock. An addressable two pin interface loads and updates instructions and data to a TAP domain within the IC. The instruction or data update operations in multiple ICs occur simultaneously. A process transmits data from an addressed target device to a controller using data frames, each data frame comprising a header bit and data bits. The logic level of the header bit is used to start, continue, and stop the data transmission to the controller. A data and clock signal interface between a controller and multiple target devices provides for each target device to be individually addressed and commanded to perform a JTAG or Trace operation. Trace circuitry within an IC can operate autonomously to store and output functional data occurring in the IC. The store and output operations of the trace circuitry are transparent to the functional operation of the IC. An auto-addressing RAM memory stores input data at an input address generated in response to an input clock, and outputs stored data from an
    • 可寻址接口选择性地启用IC内的JTAG TAP域操作或跟踪域操作。 启用后,TAP从单个数据引脚(308)接收TMS和TDI输入。 在启用之后,响应于第一时钟,跟踪域从IC内的功能电路获取数据,并且响应于第二时钟从IC输出所获取的数据。 可寻址的双引脚接口将指令和数据加载并更新到IC内的TAP域。 多个IC中的指令或数据更新操作同时发生。 过程使用数据帧将数据从寻址的目标设备发送到控制器,每个数据帧包括报头位和数据位。 标头位的逻辑电平用于启动,继续和停止向控制器传输数据。 控制器和多个目标设备之间的数据和时钟信号接口提供每个目标设备被单独寻址并命令执行JTAG或跟踪操作。 IC内的跟踪电路可以自主操作来存储和输出在IC中发生的功能数据。 跟踪电路的存储和输出操作对于IC的功能操作是透明的。 自动寻址RAM存储器将输入数据存储在响应于输入时钟而生成的输入地址处,并输出存储的数据