专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

TW201300787A 顯示面板模組之多向燒機測試設備失效
简体标题：显示皮肤模块之多向烧机测试设备
公开(公告)号：TW201300787A
公开(公告)日：2013-01-01
申请号：TW100122180
申请日：2011-06-24
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：陳麒任 , 范姜正 , 陳立勳
IPC分类号： G01R1/20 , G01R31/30
CPC分类号： G01R31/2849 , G01R31/2817 , G09G3/006
摘要：一種顯示面板模組（Display-Panel Module）之多向燒機測試（Burn-in Test）設備包括一溫度調控箱、至少一面板模組承載架與至少一面板夾具。溫度調控箱係將其內部之測試腔室中之溫度控制在一測試溫度範圍。面板模組承載架包含至少一方向導引組件與至少一面板模組承載桿。方向導引組件係開設至少一多向導引溝，且多向導引溝係經過複數個定位點。面板模組承載桿係穿設於多向導引溝。在進行燒機測試前，係將面板模組承載桿沿多向導引溝移動，並選擇性地固定於其中一個上述之定位點，並利用面板夾具將顯示面板模組夾持固定於複數個測試承置方向中之一者，藉以進行燒機測試。
简体摘要：一种显示皮肤模块（Display-Panel Module）之多向烧机测试（Burn-in Test）设备包括一温度调控箱、至少一皮肤模块承载架与至少一皮肤夹具。温度调控箱系将其内部之测试腔室中之温度控制在一测试温度范围。皮肤模块承载架包含至少一方向导引组件与至少一皮肤模块承载杆。方向导引组件系开设至少一多向导引沟，且多向导引沟系经过复数个定位点。皮肤模块承载杆系穿设于多向导引沟。在进行烧机测试前，系将皮肤模块承载杆沿多向导引沟移动，并选择性地固定于其中一个上述之定位点，并利用皮肤夹具将显示皮肤模块夹持固定于复数个测试承置方向中之一者，借以进行烧机测试。

2. 实用新型

TWM346803U 環境測試設備 ENVIRONMENTAL TEST APPARATUS 有权
简体标题：环境测试设备 ENVIRONMENTAL TEST APPARATUS
公开(公告)号：TWM346803U
公开(公告)日：2008-12-11
申请号：TW097214088
申请日：2008-08-06
申请人：李昆達 LEE, KUN-TA
发明人：李昆達 LEE, KUN-TA
IPC分类号： G01W
CPC分类号： G05D27/02 , F24F11/30 , F24F11/77 , F24F2110/10 , F24F2110/20 , G01N17/002 , G01R31/2849 , G01R31/2874 , G05D22/02 , G05D23/19
摘要：本創作係揭露一種環境測試設備。該環境測試設備可用以模擬溫、溼度變化之環境。該環境測試設備包含一中空箱體、複數風口、複數風扇以及複數控制器。該中空箱體具複數側壁,其中該等風口係設於該中空箱體之至少二側壁上,且各該風扇對應設置於各該風口。該等個控制器用以分別控制各該風扇之一轉速,適可均勻該中空箱體內之溫、溼度分布。
简体摘要：本创作系揭露一种环境测试设备。该环境测试设备可用以仿真温、湿度变化之环境。该环境测试设备包含一中空箱体、复数风口、复数风扇以及复数控制器。该中空箱体具复数侧壁,其中该等风口系设于该中空箱体之至少二侧壁上,且各该风扇对应设置于各该风口。该等个控制器用以分别控制各该风扇之一转速,适可均匀该中空箱体内之温、湿度分布。

3. 发明专利

TW200305825A 可辨別結果之電子測試程式技術 Electronic Test Program That Can Distinguish Results 审中-公开
简体标题：可辨别结果之电子测试进程技术 Electronic Test Program That Can Distinguish Results
公开(公告)号：TW200305825A
公开(公告)日：2003-11-01
申请号：TW091133978
申请日：2002-11-21
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：克里斯多弗K 蘇頓 CHRISTOPHER K. SUTTON
IPC分类号： G06G
CPC分类号： G01R31/2849 , G01R31/2834
摘要：一種可分辨錯誤及邊際結果之電子測試系統（100）。該測試系統包括有一記憶體（101）及用以控制該測試執行，獲得測試結果及產生測試結果之一電子處理器（102）。該測試結果包括有決定甚麼樣測試資料點的條件是通過，失敗，或邊際，其中通過指示該待測裝置符合規格，失敗指示該待測裝置沒有符合規格，錯誤指示該測試系統或介面對於該待測裝置是測試失敗的，及邊際指示該系統是在該規格的邊際範圍之內。該測試結果顯示在一圖形使用者介面（300）上。該測試系統基於該等結果提供控制該測試系統的進行。例如，該系統可以被程式來停止在錯誤結果，邊際結果，失敗結果，前述之組合，或在每一次測量之後停止。當該系統停止，一下拉視窗（600）出現解釋停止的理由。
简体摘要：一种可分辨错误及边际结果之电子测试系统（100）。该测试系统包括有一内存（101）及用以控制该测试运行，获得测试结果及产生测试结果之一电子处理器（102）。该测试结果包括有决定什么样测试数据点的条件是通过，失败，或边际，其中通过指示该待测设备符合规格，失败指示该待测设备没有符合规格，错误指示该测试系统或界面对于该待测设备是测试失败的，及边际指示该系统是在该规格的边际范围之内。该测试结果显示在一图形用户界面（300）上。该测试系统基于该等结果提供控制该测试系统的进行。例如，该系统可以被进程来停止在错误结果，边际结果，失败结果，前述之组合，或在每一次测量之后停止。当该系统停止，一下拉窗口（600）出现解释停止的理由。

4. 发明专利

TWI597502B 屏蔽式探針系統有权
简体标题：屏蔽式探针系统
公开(公告)号：TWI597502B
公开(公告)日：2017-09-01
申请号：TW105108953
申请日：2016-03-23
申请人：加斯凱德微科技公司 , CASCADE MICROTECH, INC.
发明人：賽門斯麥克E , SIMMONS, MICHAEL E. , 波爾特布萊恩康瑞德 , BOLT, BRYAN CONRAD , 史壯姆克里斯多弗安東尼 , STORM, CHRISTOPHER ANTHONY , 根岸一樹 , NEGISHI, KAZUKI , 佛蘭克爾約瑟夫喬治 , FRANKEL, JOSEPH GEORGE , 英格蘭古柏羅比 , INGRAM-GOBLE, ROBBIE
IPC分类号： G01R1/067
CPC分类号： G01R1/18 , G01R1/06705 , G01R31/2849

5. 发明专利

TWI475234B 具有扇形轉盤傳輸設備之檢測機台有权
简体标题：具有扇形转盘传输设备之检测机台
公开(公告)号：TWI475234B
公开(公告)日：2015-03-01
申请号：TW102125805
申请日：2013-07-18
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：李奕樵 , LEE, YI CHIAO , 吳信毅 , WU, XIN YI
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2867 , G01R31/2849 , G01R31/2874

6. 发明专利

TW201423397A 時間記錄裝置及方法审中-公开
简体标题：时间记录设备及方法
公开(公告)号：TW201423397A
公开(公告)日：2014-06-16
申请号：TW101148027
申请日：2012-12-18
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：王雅國 , WANG, YA-GUO , 陳俊卿 , CHEN, CHUN CHING
IPC分类号： G06F11/34 , G06F11/36 , G01R31/317
CPC分类号： G04F10/00 , G01R31/2825 , G01R31/2849 , G11B27/36
摘要：本發明涉及一種時間記錄方法，用於記錄電子設備進行燒機測試的持續時間。該時間記錄方法包括如下步驟：判斷是否偵測到燒機測試進行；若偵測到燒機測試進行，計算燒機測試的持續時間；判斷是否偵測到燒機測試停止；若偵測到燒機測試停止，停止計時並提示該持續時間。本發明還提供一種用於記錄電子設備進行燒機測試的持續時間的時間記錄裝置。
简体摘要：本发明涉及一种时间记录方法，用于记录电子设备进行烧机测试的持续时间。该时间记录方法包括如下步骤：判断是否侦测到烧机测试进行；若侦测到烧机测试进行，计算烧机测试的持续时间；判断是否侦测到烧机测试停止；若侦测到烧机测试停止，停止计时并提示该持续时间。本发明还提供一种用于记录电子设备进行烧机测试的持续时间的时间记录设备。

7. 发明专利

TW557530B 老化測試裝置有权
简体标题：老化测试设备
公开(公告)号：TW557530B
公开(公告)日：2003-10-11
申请号：TW091118898
申请日：2002-08-21
申请人：三菱電機股份有限公司
发明人：橋本修
IPC分类号： H01L
CPC分类号： G01R31/2849 , G01R19/003
摘要：本發明之解決手段是利用老化測試裝置(200)內之功能測試電路(21)用來指定被組裝在老化測試板(30)上，而且正常動作之多個被檢查裝置(DUT)。平均電壓算出電路(26)，對於施加到組裝部(1)上之特定之多個被檢查裝置(DUT)之試驗電壓(V)，算出其平均電壓(Vave)。電壓校正電路(27)接受平均電壓(Vave)，用來輸出控制信號(Vout)藉以控制從裝置電源產生電路(13)輸出之設定電壓(Vs)。因此，該老化測試裝置可以很容易以高精確度設定施加在被檢查裝置(DUT)之試驗電壓(V)。
简体摘要：本发明之解决手段是利用老化测试设备(200)内之功能测试电路(21)用来指定被组装在老化测试板(30)上，而且正常动作之多个被检查设备(DUT)。平均电压算出电路(26)，对于施加到组装部(1)上之特定之多个被检查设备(DUT)之试验电压(V)，算出其平均电压(Vave)。电压校正电路(27)接受平均电压(Vave)，用来输出控制信号(Vout)借以控制从设备电源产生电路(13)输出之设置电压(Vs)。因此，该老化测试设备可以很容易以高精确度设置施加在被检查设备(DUT)之试验电压(V)。

8. 发明专利

TWI418803B 顯示面板模組之多向燒機測試設備失效
简体标题：显示皮肤模块之多向烧机测试设备
公开(公告)号：TWI418803B
公开(公告)日：2013-12-11
申请号：TW100122180
申请日：2011-06-24
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：陳麒任 , 范姜正 , 陳立勳
IPC分类号： G01R1/20 , G01R31/30
CPC分类号： G01R31/2849 , G01R31/2817 , G09G3/006

9. 发明专利

TWI276817B 半導體裝置之錯誤評估支援方法及裝置以及記錄媒體 METHOD FOR EVALUATING SEMICONDUCTOR DEVICE ERROR AND SYSTEM AND RECORDING MEDIUM FOR SUPPORTING THE SAME 失效
简体标题：半导体设备之错误评估支持方法及设备以及记录媒体 METHOD FOR EVALUATING SEMICONDUCTOR DEVICE ERROR AND SYSTEM AND RECORDING MEDIUM FOR SUPPORTING THE SAME
公开(公告)号：TWI276817B
公开(公告)日：2007-03-21
申请号：TW093138942
申请日：2004-12-15
申请人：瑞薩科技股份有限公司 RENESAS TECHNOLOGY CORP.
发明人：伊部英史 , 矢作保夫 , 龜山英明
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31816 , G01R31/002 , G01R31/2849 , G01R31/2881 , G01R31/30
摘要：在評估半導體裝置之由宇宙射線中子所引起之錯誤耐受性之情形，於評估裝置之記憶部記憶有，具有不同之光譜形狀之複數的白色中子之光譜資料，及藉由利用此複數之各光譜資料所進行之白色法而獲得之複數的SEE數。而且，運算部係對於前述複數之光譜資料進行：由記憶部讀出光譜資料而分割為複數之能量群，算出各能量群之總通量而加以記憶。
另外，由記憶部讀出前述複數之各光譜資料之SEE數以及各能量群之總通量，代入顯示複數之各光譜資料之各能量群的總通量之矩陣元素與顯示各能量群之SEE剖面積之向量的積係顯示前述複數之各光譜資料的SEE數之連立方程式，以算出前述各能量群之SEE剖面積。而且，運算部將決定作為能量之函數的SEE剖面積之近似函數之形式的參數加以算出，使得藉由與複數之光譜近似函數之積分所獲得之錯誤數的計算值與實測值相當一致。
藉由進行此種處理，可以進行使用與加速器無關之白色中子的半導體裝置之錯誤評估。
简体摘要：在评估半导体设备之由宇宙射线中子所引起之错误耐受性之情形，于评估设备之记忆部记忆有，具有不同之光谱形状之复数的白色中子之光谱数据，及借由利用此复数之各光谱数据所进行之白色法而获得之复数的SEE数。而且，运算部系对于前述复数之光谱数据进行：由记忆部读出光谱数据而分割为复数之能量群，算出各能量群之总通量而加以记忆。另外，由记忆部读出前述复数之各光谱数据之SEE数以及各能量群之总通量，代入显示复数之各光谱数据之各能量群的总通量之矩阵元素与显示各能量群之SEE剖面积之矢量的积系显示前述复数之各光谱数据的SEE数之连立方进程，以算出前述各能量群之SEE剖面积。而且，运算部将决定作为能量之函数的SEE剖面积之近似函数之形式的参数加以算出，使得借由与复数之光谱近似函数之积分所获得之错误数的计算值与实测值相当一致。借由进行此种处理，可以进行使用与加速器无关之白色中子的半导体设备之错误评估。

10. 发明专利

TW436634B IC測試裝置失效
简体标题： IC测试设备
公开(公告)号：TW436634B
公开(公告)日：2001-05-28
申请号：TW088111770
申请日：1999-07-12
申请人：阿德潘鐵斯特股份有限公司
发明人：海沼正 , 增田登 , 中嵨治希 , 五十嵐德幸
IPC分类号： G01R , H01L
CPC分类号： G01R31/2868 , G01R31/2849 , G01R31/2874
摘要：本發明是關於IC測試裝置l，其在被測試IC上至少施加低溫熱應力，而來進行測試;其中包括:冷凍循環系統210，藉由冷媒配管216來至少依次連接壓縮機211，冷凝器212，膨脹閥214及蒸發器215等而構成;以及冷風供給系統220，具有將利用上述蒸發器215而進行熱交換的氣體予以供給至上述測試前的被測試IC之送風風扇223。
简体摘要：本发明是关于IC测试设备l，其在被测试IC上至少施加低温热应力，而来进行测试;其中包括:冷冻循环系统210，借由冷媒配管216来至少依次连接压缩机211，冷凝器212，膨胀阀214及蒸发器215等而构成;以及冷风供给系统220，具有将利用上述蒸发器215而进行热交换的气体予以供给至上述测试前的被测试IC之送风风扇223。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式