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1. 发明专利

TW200916806A 判斷裝置測試用記憶體需求之系統 SYSTEMS FOR DETERMINING MEMORY REQUIREMENTS FOR DEVICE TESTING 失效
简体标题：判断设备测试用内存需求之系统 SYSTEMS FOR DETERMINING MEMORY REQUIREMENTS FOR DEVICE TESTING
公开(公告)号：TW200916806A
公开(公告)日：2009-04-16
申请号：TW097150933
申请日：2004-03-31
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：海豪瑞德 HAYHOW, REID
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G06F11/263 , G01R31/318371
摘要：測試裝置測試用記憶體需求之方法與系統被揭示。在一實施例中,該方法包含讀取包括有將被施用至一裝置之數個測試向量的一測試檔與判斷執行該等數個測試向量所需的被要求之一記憶體。
简体摘要：测试设备测试用内存需求之方法与系统被揭示。在一实施例中,该方法包含读取包括有将被施用至一设备之数个测试矢量的一测试档与判断运行该等数个测试矢量所需的被要求之一内存。

2. 发明专利

TWI289670B 最小侵入裝置電流分析器 MINIMALLY INVASIVE DEVICE CURRENT ANALYZER 失效
简体标题：最小侵入设备电流分析器 MINIMALLY INVASIVE DEVICE CURRENT ANALYZER
公开(公告)号：TWI289670B
公开(公告)日：2007-11-11
申请号：TW092123804
申请日：2003-08-28
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：麥克J. 班尼斯 MICHAEL JOSEPH BENES , 詹姆斯R. 麥杜尼克 JAMES R. MEDUNICK , 羅素A. 卡立吉 RUSSELL A. CLEGG
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R19/0092
摘要：一種用以進行從一電源流動至待測試之裝置(DUT)的電流之非常精確的非侵入電流量測之裝置和方法。一組以一通過模式操作並且包含多數感知導線之電源供應，其補償由於在電源供應頻寬限制之內的系統接線和量測分流器之電壓降。在添加量測系統和系統接線之後，由負載端所見之形成的電路電壓和阻抗幾乎相同於電源之輸出電壓和阻抗。
简体摘要：一种用以进行从一电源流动至待测试之设备(DUT)的电流之非常精确的非侵入电流量测之设备和方法。一组以一通过模式操作并且包含多数感知导线之电源供应，其补偿由于在电源供应带宽限制之内的系统接线和量测分流器之电压降。在添加量测系统和系统接线之后，由负载端所见之形成的电路电压和阻抗几乎相同于电源之输出电压和阻抗。

3. 发明专利

TWI288861B 光微影系統、光微影裝置及用來進行光微影製程的方法 PHOTOLITHOGRAPHY SYSTEM, PHOTOLITHOGRAPHY APPARATUS AND METHOD FOR PERFORMING PHOTOLITHOGRAPHY 失效
简体标题：光微影系统、光微影设备及用来进行光微影制程的方法 PHOTOLITHOGRAPHY SYSTEM, PHOTOLITHOGRAPHY APPARATUS AND METHOD FOR PERFORMING PHOTOLITHOGRAPHY
公开(公告)号：TWI288861B
公开(公告)日：2007-10-21
申请号：TW093120464
申请日：2004-07-08
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：西村間A. NISHIMURA, KEN A. , 薛羅德達利W. SCHROEDER, DALE W. , 霍克查理斯D. HOKE, CHARLES D.
IPC分类号： G03F , H01L
CPC分类号： G03F7/70466 , G03F7/70291
摘要：一種供使用於一光微影系統中的空間光調制器，包含多數光調制元件等可利用重複曝光造樣技術將一影像光微影地移轉於一基材上，以減少被移轉影像中的瑕疵。一第一組光調制元件係可操作來將該影像的一部份光微影地移轉至該基材之一區域上，且一第二組光調制元件亦可操作來將該部份影像光微影地移轉至該基材的同一區域上。該空間光調制器更含有記憶元件等導接各光調制元件而可儲存代表該部份影像的資料。
简体摘要：一种供使用于一光微影系统中的空间光调制器，包含多数光调制组件等可利用重复曝光造样技术将一影像光微影地移转于一基材上，以减少被移转影像中的瑕疵。一第一组光调制组件系可操作来将该影像的一部份光微影地移转至该基材之一区域上，且一第二组光调制组件亦可操作来将该部份影像光微影地移转至该基材的同一区域上。该空间光调制器更含有记忆组件等导接各光调制组件而可存储代表该部份影像的数据。

4. 发明专利

TWI280367B 無線固定器中力之支配的方法及裝置 METHOD AND APPARATUS FOR THE MANAGEMENT OF FORCES IN A WIRELESS FIXTURE 失效
简体标题：无线固定器中力之支配的方法及设备 METHOD AND APPARATUS FOR THE MANAGEMENT OF FORCES IN A WIRELESS FIXTURE
公开(公告)号：TWI280367B
公开(公告)日：2007-05-01
申请号：TW091132016
申请日：2002-10-28
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：茄里夫‧亞利肯茄克 CHERIF AHRIKENCHEIKH , 茱莉L. 史達瑪 JULIE L. STAHMER
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/2808
摘要：本發明係有關於一種平衡在一固定器中之力量且減少在一容置於該固定器中之探針板(208)中之力量的方法與裝置，多數雙頭探針(200)係定位在該探針板(208)中。一位在其中一雙頭探針(200)處之第一抵接頭(216)係與進行測試之板(206)接觸，而一相對設置且位在該雙頭探針(200)之另一端處之第二抵接頭(218)則與一無線 PCB(202)接觸。一彈簧(220)於該雙頭探針(200)之長向上延伸且接觸該第一抵接頭(216)與該第二抵接頭(218)，當由該進行測試之板(206)施加向下力量且由該無線PCB(202)施加向上力量時，該等抵接頭(216、218)分別向下與向上移動並且壓縮該彈簧(220)，因而減輕/減少在探針板(208)上之力量。此外，由於該彈簧(220)在該雙頭探針(200)之長向上延伸且與該第一抵接頭(216)與該第二抵接頭(218)兩者接觸，來自該進行測試之板(206)之向下力量與來自該無線PCB(202)之向上力量互相平衡，該雙頭探針(200)被壓嵌入在該探針板(208)中之缺口(223)，且數個同心圓形凸塊(222)可限制以一軸為中心之樞轉。最後，該探針板(208)包括一用來對接該進行測試之板(206)的探針區域，接著放置在該探針板(208)中之雙頭探針(200)被定位成可平衡來自該進行測試之板(206)或該無線PCB(202)之不一致力量。
简体摘要：本发明系有关于一种平衡在一固定器中之力量且减少在一容置于该固定器中之探针板(208)中之力量的方法与设备，多数双头探针(200)系定位在该探针板(208)中。一位在其中一双头探针(200)处之第一抵接头(216)系与进行测试之板(206)接触，而一相对设置且位在该双头探针(200)之另一端处之第二抵接头(218)则与一无线 PCB(202)接触。一弹簧(220)于该双头探针(200)之长向上延伸且接触该第一抵接头(216)与该第二抵接头(218)，当由该进行测试之板(206)施加向下力量且由该无线PCB(202)施加向上力量时，该等抵接头(216、218)分别向下与向上移动并且压缩该弹簧(220)，因而减轻/减少在探针板(208)上之力量。此外，由于该弹簧(220)在该双头探针(200)之长向上延伸且与该第一抵接头(216)与该第二抵接头(218)两者接触，来自该进行测试之板(206)之向下力量与来自该无线PCB(202)之向上力量互相平衡，该双头探针(200)被压嵌入在该探针板(208)中之缺口(223)，且数个同心圆形凸块(222)可限制以一轴为中心之枢转。最后，该探针板(208)包括一用来对接该进行测试之板(206)的探针区域，接着放置在该探针板(208)中之双头探针(200)被定位成可平衡来自该进行测试之板(206)或该无线PCB(202)之不一致力量。

5. 发明专利

TW200717932A 零插入力印刷電路總成連接器系統及方法 ZERO INSERTION FORCE PRINTED CIRCUIT ASSEMBLY CONNECTOR SYSTEM AND METHOD 审中-公开
简体标题：零插入力印刷电路总成连接器系统及方法 ZERO INSERTION FORCE PRINTED CIRCUIT ASSEMBLY CONNECTOR SYSTEM AND METHOD
公开(公告)号：TW200717932A
公开(公告)日：2007-05-01
申请号：TW095120036
申请日：2006-06-06
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：梅德羅米 MAYDER, ROMI , 安德伯格約翰W. ANDBERG, JOHN W. , 屈東 CHIU, DON , 杉原紀幸 SUGIHARA, NORIYUKI
IPC分类号： H01R
CPC分类号： G01R31/2889
摘要：所揭為一種真空及彈簧作動的零插入力連接器系統。該連接器系統可包括一或多個電接觸元件能藉真空及彈簧機構來與一印刷電路板配接和斷接。
简体摘要：所揭为一种真空及弹簧作动的零插入力连接器系统。该连接器系统可包括一或多个电接触组件能藉真空及弹簧机构来与一印刷电路板配接和断接。

6. 发明专利

TW200714903A 用於電子電路測試器之轉盤裝置、系統與方法 CAROUSEL DEVICE, SYSTEM AND METHOD FOR ELECTRONIC CIRCUIT TESTER 审中-公开
简体标题：用于电子电路测试器之转盘设备、系统与方法 CAROUSEL DEVICE, SYSTEM AND METHOD FOR ELECTRONIC CIRCUIT TESTER
公开(公告)号：TW200714903A
公开(公告)日：2007-04-16
申请号：TW095116035
申请日：2006-05-05
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：柯爾曼羅伯特S. KOLMAN, ROBERT S.
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/2893 , G01R31/2887
摘要：所揭示係一種可轉動式或可平移式轉盤,其在配置上可配合一個插入操控器和一個測試頭,而促成待測裝置(DUT)之電氣或電子測試。該轉盤係配置使佈置在一個測試器之測試頭上面,而在一個第一位置中,具有一個被裝載進該轉盤之第一測試位置內的第一待測裝置(DUT)(諸如單晶片系統(SOC)積體電路(IC))。針對上述在第一位置之第一DUT,有一個第一電氣或電子測試被執行,其後,該轉盤便會前進至一個第二位置,以及有一個第二DUT,會載進上述轉盤之一個第二測試位置內。正當該轉盤位於第二位置處之際,針對該第二DUT便會執行第一測試,以及針對該第一DUT,便會有一個第二電氣或電子測試被執行。在一個實施例中,上述測試DUT、插入DUT、以及相對於測試頭使該轉盤轉動或平移之程序,係使一再重複,直至該轉盤中之所有測試位置業已裝好,以及業已針對該第一DUT,執行所有希望之電氣或電子測試為止。此時,自該轉盤移出測試完全之DUT的程序,將會以最佳之方式進行。
简体摘要：所揭示系一种可转动式或可平移式转盘,其在配置上可配合一个插入操控器和一个测试头,而促成待测设备(DUT)之电气或电子测试。该转盘系配置使布置在一个测试器之测试头上面,而在一个第一位置中,具有一个被装载进该转盘之第一测试位置内的第一待测设备(DUT)(诸如单芯片系统(SOC)集成电路(IC))。针对上述在第一位置之第一DUT,有一个第一电气或电子测试被运行,其后,该转盘便会前进至一个第二位置,以及有一个第二DUT,会载进上述转盘之一个第二测试位置内。正当该转盘位于第二位置处之际,针对该第二DUT便会运行第一测试,以及针对该第一DUT,便会有一个第二电气或电子测试被运行。在一个实施例中,上述测试DUT、插入DUT、以及相对于测试头使该转盘转动或平移之进程,系使一再重复,直至该转盘中之所有测试位置业已装好,以及业已针对该第一DUT,运行所有希望之电气或电子测试为止。此时,自该转盘移出测试完全之DUT的进程,将会以最佳之方式进行。

7. 发明专利

TW200713194A 像素驅動電流測量方法及裝置 AN APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING TFT PIXEL DRIVING CURRENT 审中-公开
简体标题：像素驱动电流测量方法及设备 AN APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING TFT PIXEL DRIVING CURRENT
公开(公告)号：TW200713194A
公开(公告)日：2007-04-01
申请号：TW095129573
申请日：2006-08-11
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：三宅泰弘 MIYAKE, YASUHIRO
IPC分类号： G09G
CPC分类号： G09G3/006 , G09G3/32
摘要：本發明之目的在於提供一種可排除因控制電壓之變化而產生之補償電流之影響,而可進行精確度高之像素驅動電流測量之像素驅動電流測量方法及裝置。上述之課題可藉以下之像素驅動電流測量方法解決,即,該像素驅動動電流測量方法係測量具有將驅動電流提供給複數像素之配線之顯示裝置的像素驅動電流者,其包含有測量將前述複數像素皆設定為非點亮狀態時,流至前述配線之電流之第1步驟、在前述複數像素中,僅從將預定像素點亮時,流至前述配線之電流與前述電流之差分測量前述預定像素之前述像素驅動電流之第2步驟、重複前述第2步驟,依序測量前述複數像素中之預定數像素之前述像素驅動電流,之後將前述複數像素皆再設定為非點亮狀態之第3步驟及重複前述第1步驟至前述第3步驟,測量前述顯示裝置之前述像素驅動電流之第4步驟。
简体摘要：本发明之目的在于提供一种可排除因控制电压之变化而产生之补偿电流之影响,而可进行精确度高之像素驱动电流测量之像素驱动电流测量方法及设备。上述之课题可借以下之像素驱动电流测量方法解决,即,该像素驱动动电流测量方法系测量具有将驱动电流提供给复数像素之配线之显示设备的像素驱动电流者,其包含有测量将前述复数像素皆设置为非点亮状态时,流至前述配线之电流之第1步骤、在前述复数像素中,仅从将预定像素点亮时,流至前述配线之电流与前述电流之差分测量前述预定像素之前述像素驱动电流之第2步骤、重复前述第2步骤,依序测量前述复数像素中之预定数像素之前述像素驱动电流,之后将前述复数像素皆再设置为非点亮状态之第3步骤及重复前述第1步骤至前述第3步骤,测量前述显示设备之前述像素驱动电流之第4步骤。

8. 发明专利

TWI271764B 開關及其製造方法 SWITCH AND PRODUCTION THEREOF 失效
简体标题：开关及其制造方法 SWITCH AND PRODUCTION THEREOF
公开(公告)号：TWI271764B
公开(公告)日：2007-01-21
申请号：TW092116812
申请日：2003-06-20
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：馬文G. 王 MARVIN GLENN WONG
IPC分类号： H01H
CPC分类号： H01H29/28 , H01H1/0036 , H01H61/02 , H01H2029/008 , H01H2061/006
摘要：一種開關和其製造方法。該開關可藉由(1)將一液態開關元件設置在一基材上、(2)將一個通道板安置在基材附近、(3)朝向該基材移動該通道板，該液態開關元件係被濡濕至通道板，而一部分的該液態開關元件係被分離至在該通道板中之至少一廢料腔室內；並(4)相對於該基材密封該通道板。
简体摘要：一种开关和其制造方法。该开关可借由(1)将一液态开关组件设置在一基材上、(2)将一个信道板安置在基材附近、(3)朝向该基材移动该信道板，该液态开关组件系被濡湿至信道板，而一部分的该液态开关组件系被分离至在该信道板中之至少一废料腔室内；并(4)相对于该基材密封该信道板。

9. 发明专利

TW200700980A 操作測試執行程式之方法 METHOD OF OPERATING A TEST EXECUTIVE PROGRAM 审中-公开
简体标题：操作测试运行进程之方法 METHOD OF OPERATING A TEST EXECUTIVE PROGRAM
公开(公告)号：TW200700980A
公开(公告)日：2007-01-01
申请号：TW095115465
申请日：2002-04-18
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：薩頓克里斯多夫K. SUTTON, CHRISTOPHER K.
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G01R31/31912
摘要：一種具有可選擇規格之用以測試電子裝置之執行測試系統。使用者可由規格之多組選擇。而後此選擇規格被施用於測試結果並顯示規格應用之結果之顯示。
简体摘要：一种具有可选择规格之用以测试电子设备之运行测试系统。用户可由规格之多组选择。而后此选择规格被施用于测试结果并显示规格应用之结果之显示。

10. 发明专利

TW200700750A 用於對未受探針接觸探測節點之開路連接進行非接觸式測試及診斷之方法與裝置 METHODS AND APPARATUS FOR NON-CONTACT TESTING AND DIAGNOSING OF OPEN CONNECTIONS ON NON-PROBED NODES 审中-公开
简体标题：用于对未受探针接触探测节点之开路连接进行非接触式测试及诊断之方法与设备 METHODS AND APPARATUS FOR NON-CONTACT TESTING AND DIAGNOSING OF OPEN CONNECTIONS ON NON-PROBED NODES
公开(公告)号：TW200700750A
公开(公告)日：2007-01-01
申请号：TW095106079
申请日：2006-02-23
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：派克肯尼斯P. PARKER, KENNETH P. , 西奈德麥隆J. SCHNEIDER, MYRON J.
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/312
摘要：提供一種使用電容引線框技術檢測一電氣元件之未受探針接觸探測的待測節點上之開路缺陷之方法和裝置。根據本發明之方法,於該未受探針接觸探測的待測節點鄰近之一受探針接觸探測的節點係以一已知來源信號激勵。一電容感測探針之感測器係電容耦接至至少該電氣元件之受探針接觸探測的節點和未受探針接觸探測的待測節點,以及耦接至該電容感測探針之一測量元件測定存在於該探針之感測器與該電氣元件之至少受探針接觸探測的節點和未受探針接觸探測的待測節點間之電容耦合信號。基於電容感測信號値、已知期望的「無缺陷」電容感測信號測量値、及/或已知之期望「開路」電容感測信號測量値,來進行判定於該電氣元件之未受探針接觸探測的待測節點上是否存在有開路缺陷。
简体摘要：提供一种使用电容引线框技术检测一电气组件之未受探针接触探测的待测节点上之开路缺陷之方法和设备。根据本发明之方法,于该未受探针接触探测的待测节点邻近之一受探针接触探测的节点系以一已知来源信号激励。一电容传感探针之传感器系电容耦接至至少该电气组件之受探针接触探测的节点和未受探针接触探测的待测节点,以及耦接至该电容传感探针之一测量组件测定存在于该探针之传感器与该电气组件之至少受探针接触探测的节点和未受探针接触探测的待测节点间之电容耦合信号。基于电容传感信号値、已知期望的“无缺陷”电容传感信号测量値、及/或已知之期望“开路”电容传感信号测量値,来进行判定于该电气组件之未受探针接触探测的待测节点上是否存在有开路缺陷。

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