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1. 发明专利

TWI593252B 用於無線裝置之測試站及其之校準方法有权
简体标题：用于无线设备之测试站及其之校准方法
公开(公告)号：TWI593252B
公开(公告)日：2017-07-21
申请号：TW101145738
申请日：2012-12-05
申请人：艾斯肯公司 , EMSCAN CORPORATION
发明人：羅達派翠克 , RADA, PATRICK , 派頓羅斯卡 , PATTON, RUSKA
IPC分类号： H04L1/24
CPC分类号： G01R35/005 , H04B17/11 , H04B17/21

2. 发明专利

TWI422838B 多頻道無吸收器之近場測量系統有权
简体标题：多频道无吸收器之近场测量系统
公开(公告)号：TWI422838B
公开(公告)日：2014-01-11
申请号：TW096103590
申请日：2007-01-31
申请人：艾斯肯公司 , EMSCAN CORPORATION
发明人：亞帝賽蘇奈夏達 , NYSHADHAM, ADISESHU , 茹絲卡派頓 , PATTON, RUSKA , 金建江 , JIN, JASON
IPC分类号： G01R29/08
CPC分类号： G01R29/0878 , H01Q21/062

3. 发明专利

TW201334459A 用於無線裝置之測試站及其之校準方法审中-公开
简体标题：用于无线设备之测试站及其之校准方法
公开(公告)号：TW201334459A
公开(公告)日：2013-08-16
申请号：TW101145738
申请日：2012-12-05
申请人：艾斯肯公司 , EMSCAN CORPORATION
发明人：羅達派翠克 , RADA, PATRICK , 派頓羅斯卡 , PATTON, RUSKA
IPC分类号： H04L1/24
CPC分类号： G01R35/005 , H04B17/11 , H04B17/21
摘要：一種用於無線裝置之測試站及該測試站之校準方法。該測試站包括一信號產生器、一校準器、具有接收及傳輸天線之一掃描器、一信號分析器及一電腦。在該電腦之指導下，該信號產生器根據一可程式化校準信號指令碼產生一校準信號。該校準器可用於藉由將該校準信號傳輸至該掃描器以供該信號分析器進行分析來仿真處於傳輸模式中之一無線裝置，或藉由自該掃描器接收該校準信號以供該信號分析器進行分析來仿真處於接收模式之一無線裝置。藉由使如由該校準信號指令碼指定之該校準信號與如在該信號分析器處量測之該校準信號之信號參數相關來校準該測試站之行為。
简体摘要：一种用于无线设备之测试站及该测试站之校准方法。该测试站包括一信号产生器、一校准器、具有接收及传输天线之一扫描仪、一信号分析器及一电脑。在该电脑之指导下，该信号产生器根据一可进程化校准信号脚本产生一校准信号。该校准器可用于借由将该校准信号传输至该扫描仪以供该信号分析器进行分析来仿真处于传输模式中之一无线设备，或借由自该扫描仪接收该校准信号以供该信号分析器进行分析来仿真处于接收模式之一无线设备。借由使如由该校准信号脚本指定之该校准信号与如在该信号分析器处量测之该校准信号之信号参数相关来校准该测试站之行为。

4. 发明专利

TW201627674A 反應性近場天線量測审中-公开
简体标题：反应性近场天线量测
公开(公告)号：TW201627674A
公开(公告)日：2016-08-01
申请号：TW104137392
申请日：2015-11-12
申请人：艾斯肯公司 , EMSCAN CORPORATION
发明人：派頓羅斯卡 , PATTON, RUSKA , 派亞頓卓卡斯拉 , PAYANDEHJOO, KASRA
IPC分类号： G01R29/08 , G01R29/10
CPC分类号： G01R35/005 , G01R29/10
摘要：一種校準或校正來自電子地切換以自一受測試天線(AUT)擷取近場資料且具有一板輸出端的整合量測探針之一掃描器板陣列之近場或遠場資料之方法，該方法包含以下步驟：將一校準探針與該等量測探針之一者耦合；量測通過該量測探針及該校準探針之電力，且藉由移除該校準探針之效應而隔離自該量測探針至該板輸出端之RF路徑之效應；及針對各量測探針重複。本發明亦揭示用於校正對該AUT之散射效應及負載效應之方法。
简体摘要：一种校准或校正来自电子地切换以自一受测试天线(AUT)截取近场数据且具有一板输出端的集成量测探针之一扫描仪板数组之近场或远场数据之方法，该方法包含以下步骤：将一校准探针与该等量测探针之一者耦合；量测通过该量测探针及该校准探针之电力，且借由移除该校准探针之效应而隔离自该量测探针至该板输出端之RF路径之效应；及针对各量测探针重复。本发明亦揭示用于校正对该AUT之散射效应及负载效应之方法。

5. 发明专利

TW201534934A 用於對由受測試電子裝置所輻射出之電磁場進行高解析度空間掃描之掃描器系統與方法审中-公开
简体标题：用于对由受测试电子设备所辐射出之电磁场进行高分辨率空间扫描之扫描仪系统与方法
公开(公告)号：TW201534934A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：TW104103076
申请日：2015-01-29
申请人：艾斯肯公司 , EMSCAN CORPORATION
发明人：派頓羅斯卡 , PATTON, RUSKA , 鄒怡平 , ZHOU, YIPING , 蒙泰格吉爾 , MONTAG, GIL , 修羅伯特 , XUE, ROBERT
IPC分类号： G01R29/08 , G01R31/00
CPC分类号： G01R29/0814 , G01R1/07 , G01R1/073 , G01R23/16 , G01R29/08 , G01R29/0878 , G01R31/00 , G01R31/001
摘要：本發明提供一種可操作用於對由一受測試電子裝置(DUT)所輻射出之一電磁場進行高解析度空間掃描之掃描器系統與方法。使用包括複數個空間上分隔之切換式探針、一分析器及一電腦之一探針陣列來量測由該DUT輻射出之該電磁場位準。一致動器使該探針陣列相對於該DUT之位置改變小於或等於該等探針之間之分隔距離之一距離，且再次量測與儲存該電磁場位準。
简体摘要：本发明提供一种可操作用于对由一受测试电子设备(DUT)所辐射出之一电磁场进行高分辨率空间扫描之扫描仪系统与方法。使用包括复数个空间上分隔之切换式探针、一分析器及一电脑之一探针数组来量测由该DUT辐射出之该电磁场位准。一致动器使该探针数组相对于该DUT之位置改变小于或等于该等探针之间之分隔距离之一距离，且再次量测与存储该电磁场位准。

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