会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 1. 发明专利
    • 包含電接觸檢測的探針系統和方法
    • 包含电接触检测的探针系统和方法
    • TW201903414A
    • 2019-01-16
    • TW107111006
    • 2018-03-29
    • 美商加斯凱德微科技公司CASCADE MICROTECH, INC.
    • 謝 春明SIA, CHOON BENG根岸一樹NEGISHI, KAZUKI
    • G01R1/067
    • 探針系統及方法係包含電接觸檢測。該探針系統係包含一探針組件以及一夾頭。該探針系統亦包含一平移結構,其係被配置以在操作上平移該探針組件及/或該夾頭、以及一儀器封裝,其係被配置以檢測在該探針系統以及一受測裝置(DUT)之間的接觸,並且測試該DUT的操作。該儀器封裝係包含一連續性檢測電路、一測試電路、以及一平移結構控制電路。該連續性檢測電路係被配置以檢測在一第一探針電性導體以及一第二探針電性導體之間的電連續性。該測試電路係被配置以電性地測試該DUT。該平移結構控制電路係被配置以控制該平移結構的操作。該些方法係包含監測在一第一探針以及一第二探針之間的連續性、以及根據該監測來控制一探針系統的操作。
    • 探针系统及方法系包含电接触检测。该探针系统系包含一探针组件以及一夹头。该探针系统亦包含一平移结构,其系被配置以在操作上平移该探针组件及/或该夹头、以及一仪器封装,其系被配置以检测在该探针系统以及一受测设备(DUT)之间的接触,并且测试该DUT的操作。该仪器封装系包含一连续性检测电路、一测试电路、以及一平移结构控制电路。该连续性检测电路系被配置以检测在一第一探针电性导体以及一第二探针电性导体之间的电连续性。该测试电路系被配置以电性地测试该DUT。该平移结构控制电路系被配置以控制该平移结构的操作。该些方法系包含监测在一第一探针以及一第二探针之间的连续性、以及根据该监测来控制一探针系统的操作。
    • 3. 发明专利
    • 用於電子裝置之晶圓上動態測試的系統及方法
    • 用于电子设备之晶圆上动态测试的系统及方法
    • TW201539004A
    • 2015-10-16
    • TW104105962
    • 2015-02-25
    • 加斯凱德微科技公司CASCADE MICROTECH, INC.
    • 根岸一樹NEGISHI, KAZUKI希爾 艾瑞克HILL, ERIC
    • G01R31/28
    • G01R31/2601G01R31/2889
    • 用於電子裝置之晶圓上動態測試的系統及方法該等系統包含一探針頭組件(probe head assembly)、一探針端接觸結構、一卡盤(chuck)以及一卡盤端接觸結構。該探針頭組件包含一探針,被組構成用以電性接觸一待測裝置(device under test;DUT)之一第一側。該探針端接觸結構包含一探針端接觸區域。該卡盤包含一導電支承表面,被組構成用以支承一包含該DUT之基板以及用以電性接觸該DUT之一第二側。該探針頭組件與該卡盤被組構成相對於彼此平移,以選擇性地建立該探針與該DUT之間的電性接觸。該卡盤端接觸結構包含一卡盤端接觸區域,電性通連該導電支承表面,並位於該探針端接觸結構之對側。該等方法可以包含操作該等一或多個系統的方法。
    • 用于电子设备之晶圆上动态测试的系统及方法该等系统包含一探针头组件(probe head assembly)、一探针端接触结构、一卡盘(chuck)以及一卡盘端接触结构。该探针头组件包含一探针,被组构成用以电性接触一待测设备(device under test;DUT)之一第一侧。该探针端接触结构包含一探针端接触区域。该卡盘包含一导电支承表面,被组构成用以支承一包含该DUT之基板以及用以电性接触该DUT之一第二侧。该探针头组件与该卡盘被组构成相对于彼此平移,以选择性地创建该探针与该DUT之间的电性接触。该卡盘端接触结构包含一卡盘端接触区域,电性通连该导电支承表面,并位于该探针端接触结构之对侧。该等方法可以包含操作该等一或多个系统的方法。