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1. 发明专利

TWI588457B 發光二極體光電特性量測裝置有权
简体标题：发光二极管光电特性量测设备
公开(公告)号：TWI588457B
公开(公告)日：2017-06-21
申请号：TW101135474
申请日：2012-09-26
申请人：晶元光電股份有限公司 , EPISTAR CORPORATION
发明人：黃明宏 , HUANG, MING HONG , 曾培翔 , TSENG, PEI HSIANG , 施佩秀 , SHIH, PEI HSIU , 尤家鴻 , YU, CHIA HUNG , 黃泯舜 , HUANG, MIN SHUN
IPC分类号： G01J1/02
CPC分类号： G01R31/2635 , G01J1/0422 , G01J1/42 , G01J2001/0481 , G01J2001/4252

2. 发明专利

TW201602526A 輻射通量分布測定方法及輻射通量分布測定裝置审中-公开
简体标题：辐射通量分布测定方法及辐射通量分布测定设备
公开(公告)号：TW201602526A
公开(公告)日：2016-01-16
申请号：TW104110593
申请日：2015-04-01
申请人：松下知識產權經營股份有限公司 , PANASONIC INTELLECTUAL PROPERTY MANAGEMENT CO., LTD.
发明人：福島博司 , FUKSHIMA, HIROSHI , 青木沙季 , AOKI, SAKI
IPC分类号： G01J1/00
CPC分类号： G01J3/0264 , G01J1/0242 , G01J1/429 , G01J3/0254 , G01J3/0278 , G01J3/505 , G01J2001/0481 , G01J2001/4247
摘要：本發明旨在提供一種輻射通量分布測定方法及輻射通量分布測定裝置，可提升輻射UV－C的紫外線的光源引起的水平面輻射通量分布的測量精度。其中，該輻射通量分布測定方法，包含：第1程序，決定用以校正分光儀（4）之輸出的修正係數；第2程序，測定光源（1）的發光強度分布；第3程序，改變光源（1）與積分球（2）的孔（21）的外觀上出射口（21b）之距離（Lx），測定光源（1）的外觀上單位立體角之輻射通量，作成第1輻射通量累積曲線；第4程序，由發光強度分布而作成盧梭圖，計算光源（1）的單位立體角之輻射通量，作成第2輻射通量累積曲線；第5程序，在以複數假想出射口與光源（1）位置所決定的立體角，作成「改寫第1輻射通量累積曲線的複數曲線」；第6程序，決定孔（21）的有效出射口（21e）；及第7程序，根據有效出射口（21e），求算光源（1）引起的水平面輻射通量分布。
简体摘要：本发明旨在提供一种辐射通量分布测定方法及辐射通量分布测定设备，可提升辐射UV－C的紫外线的光源引起的水平面辐射通量分布的测量精度。其中，该辐射通量分布测定方法，包含：第1进程，决定用以校正分光仪（4）之输出的修正系数；第2进程，测定光源（1）的发光强度分布；第3进程，改变光源（1）与积分球（2）的孔（21）的外观上出射口（21b）之距离（Lx），测定光源（1）的外观上单位三維角之辐射通量，作成第1辐射通量累积曲线；第4进程，由发光强度分布而作成卢梭图，计算光源（1）的单位三維角之辐射通量，作成第2辐射通量累积曲线；第5进程，在以复数假想出射口与光源（1）位置所决定的三維角，作成“改写第1辐射通量累积曲线的复数曲线”；第6进程，决定孔（21）的有效出射口（21e）；及第7进程，根据有效出射口（21e），求算光源（1）引起的水平面辐射通量分布。

3. 发明专利

TWI500912B 量子效率測量方法、量子效率測量裝置以及積分器有权
简体标题：量子效率测量方法、量子效率测量设备以及积分器
公开(公告)号：TWI500912B
公开(公告)日：2015-09-21
申请号：TW100105595
申请日：2011-02-21
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：大澤祥宏 , OSAWA, YOSHIHIRO , 大久保和明 , OHKUBO, KAZUAKI
IPC分类号： G01J3/443 , G01N21/64
CPC分类号： G01N21/645 , G01J1/58 , G01J3/0254 , G01J2001/0481 , G01J2001/4247 , G01N2021/6417 , G01N2021/6469 , G01N2201/0655

4. 发明专利

TWI497039B 含有半球型積分球的光學測量裝置有权
简体标题：含有半球型积分球的光学测量设备
公开(公告)号：TWI497039B
公开(公告)日：2015-08-21
申请号：TW100105597
申请日：2011-02-21
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：大澤祥宏 , OSAWA, YOSHIHIRO , 大久保和明 , OHKUBO, KAZUAKI
IPC分类号： G01J1/04
CPC分类号： G01J3/0254 , G01J1/58 , G01J2001/0481 , G01J2001/4247

5. 实用新型

TWM502171U 光性量測裝置有权
简体标题：光性量测设备
公开(公告)号：TWM502171U
公开(公告)日：2015-06-01
申请号：TW104200660
申请日：2015-01-15
申请人：旺矽科技股份有限公司 , MPI CORPORATION
发明人：彭柏翰 , PENG, POHAN , 陳建羽 , CHEN, CHIENYU , 林宏毅 , LIN, HUNGI
IPC分类号： G01J1/04
CPC分类号： G01J1/06 , G01J2001/0481 , G01J2001/4252

6. 发明专利

TW201537151A 帶有遮光器的光學積分球审中-公开
简体标题：带有遮光器的光学积分球
公开(公告)号：TW201537151A
公开(公告)日：2015-10-01
申请号：TW103125490
申请日：2014-07-25
申请人：伊斯美加半導體控股公司 , ISMECA SEMICONDUCTOR HOLDING SA
发明人：菲諾特席爾菲 , VIENOT, SYLVAIN
IPC分类号： G01J3/08 , G01J3/46 , G01N21/25
CPC分类号： G01J1/044 , G01J1/0214 , G01J1/0223 , G01J1/0271 , G01J1/0474 , G01J1/42 , G01J2001/0481 , G01J2001/4252
摘要：一種用於量測一LED3之光特性的光學積分球1，該光學積分球包括在一端部的一入口5，一LED3能為測試被呈現於該處；一遮光器7，其被設置在該入口5處，其中該遮光器7被配置成可在一第一打開位置及一第二關閉位置之間移動，一待被測試的LED3在該第一打開位置能被接收進入該入口5中，該遮光器7在該第二關閉位置能覆蓋該LED3被支撐於其上之一套接件9的至少大部分，以致該遮光器能防止由該LED3所發射出的光線被該套接件9的至少大部分從該積分球被轉移開。進一步提供有一種包括該光學積分球1的組合。
简体摘要：一种用于量测一LED3之光特性的光学积分球1，该光学积分球包括在一端部的一入口5，一LED3能为测试被呈现于该处；一遮光器7，其被设置在该入口5处，其中该遮光器7被配置成可在一第一打开位置及一第二关闭位置之间移动，一待被测试的LED3在该第一打开位置能被接收进入该入口5中，该遮光器7在该第二关闭位置能覆盖该LED3被支撑于其上之一套接件9的至少大部分，以致该遮光器能防止由该LED3所发射出的光线被该套接件9的至少大部分从该积分球被转移开。进一步提供有一种包括该光学积分球1的组合。

7. 发明专利

TW201405104A 光學特性測量裝置审中-公开
简体标题：光学特性测量设备
公开(公告)号：TW201405104A
公开(公告)日：2014-02-01
申请号：TW101145799
申请日：2012-12-06
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：大久保和明 , OHKUBO, KAZUAKI , 白岩久志 , SHIRAIWA, HISASHI
IPC分类号： G01J1/04
CPC分类号： G02B17/00 , G01J1/0214 , G01J1/04 , G01J1/0407 , G01J1/0425 , G01J3/0218 , G01J3/0254 , G01J3/0262 , G01J3/505 , G01J2001/0481 , G01J2001/4252 , G02B5/08
摘要：光學特性測量裝置包含：半球部，係在內壁具有反射面；及平面部，係配置成塞住半球部的開口，並在半球部的內壁側具有反射面。平面部包含用以將光源安裝於包含半球部之實質上的曲率中心之範圍的第1窗。半球部及平面部之至少一方包含以既定規則性所配置之用以從半球部之內部取出光的複數個第2窗。
简体摘要：光学特性测量设备包含：半球部，系在内壁具有反射面；及平面部，系配置成塞住半球部的开口，并在半球部的内壁侧具有反射面。平面部包含用以将光源安装于包含半球部之实质上的曲率中心之范围的第1窗。半球部及平面部之至少一方包含以既定守则性所配置之用以从半球部之内部取出光的复数个第2窗。

8. 发明专利

TW201229497A 用於複數個受測裝置的同時光學測試之系統和方法 SYSTEMS AND METHODS FOR SIMULTANEOUS OPTICAL TESTING OF A PLURALITY OF DEVICES UNDER TEST 审中-公开
简体标题：用于复数个受测设备的同时光学测试之系统和方法 SYSTEMS AND METHODS FOR SIMULTANEOUS OPTICAL TESTING OF A PLURALITY OF DEVICES UNDER TEST
公开(公告)号：TW201229497A
公开(公告)日：2012-07-16
申请号：TW100138059
申请日：2011-10-20
申请人：加斯凱德微科技公司
发明人：波爾特布萊恩 , 史特里德艾瑞克W , 根岸一樹 , 哈里斯史帝夫
IPC分类号： G01N , G01R
CPC分类号： G01J1/32 , G01J1/0242 , G01J1/0425 , G01J2001/0481 , G01J2001/4247 , G01R31/2635
摘要：用於複數個受測裝置的同時光學測試之系統和方法。這些系統和方法可包含一光學探針組件的使用，該光學探針組件係包含一被配置以提供一電流至複數個受測裝置(DUT)的電源供應結構、以及一被配置以同時收集可能是由該複數個DUT產生的電磁輻射並且提供該收集到的電磁輻射至一或多個光學偵測裝置的光學收集結構。該系統和方法亦可包含該光學探針組件在一光學探針系統中的使用，以評估該複數個DUT的每個DUT的一或多個效能參數。
简体摘要：用于复数个受测设备的同时光学测试之系统和方法。这些系统和方法可包含一光学探针组件的使用，该光学探针组件系包含一被配置以提供一电流至复数个受测设备(DUT)的电源供应结构、以及一被配置以同时收集可能是由该复数个DUT产生的电磁辐射并且提供该收集到的电磁辐射至一或多个光学侦测设备的光学收集结构。该系统和方法亦可包含该光学探针组件在一光学探针系统中的使用，以评估该复数个DUT的每个DUT的一或多个性能参数。

9. 发明专利

TW201135194A 含有半球型積分球的光學測量裝置 OPTICAL MEASUREMENT APPARATUS INCLUDING HEMISPHERICAL OPTICAL INTEGRATOR 审中-公开
简体标题：含有半球型积分球的光学测量设备 OPTICAL MEASUREMENT APPARATUS INCLUDING HEMISPHERICAL OPTICAL INTEGRATOR
公开(公告)号：TW201135194A
公开(公告)日：2011-10-16
申请号：TW100105597
申请日：2011-02-21
申请人：大塚電子股份有限公司
发明人：大澤祥宏 , 大久保和明
IPC分类号： G01J
CPC分类号： G01J3/0254 , G01J1/58 , G01J2001/0481 , G01J2001/4247
摘要：光學測量裝置（100、200、300）係包含：在內壁具有擴散反射層（1a）的半球部（1）；及平面部（10），以通過半球部的實質曲率中心而且閉塞半球部的開口部的方式予以配置，且在半球部的內面側具有反射層。平面部係包含：用以導入在形成於半球部與平面部之間的積分空間內應予以均一化的光的窗部（2、4、17）；及用以抽出在積分空間內經均一化的光的窗部（6、18）的至少一者；外周部（12），至少佔有離平面部與半球部的內壁相接的最外周相離預定寬幅的區域，且主要由產生正反射的第1材質所構成；及內周部（14），與第1材質相比較，至少在紫外波長範圍中具有較高的反射率，而且主要由產生擴散反射的第2材質所構成，且佔有外周部的內側的區域。
简体摘要：光学测量设备（100、200、300）系包含：在内壁具有扩散反射层（1a）的半球部（1）；及平面部（10），以通过半球部的实质曲率中心而且闭塞半球部的开口部的方式予以配置，且在半球部的内面侧具有反射层。平面部系包含：用以导入在形成于半球部与平面部之间的积分空间内应予以均一化的光的窗部（2、4、17）；及用以抽出在积分空间内经均一化的光的窗部（6、18）的至少一者；外周部（12），至少占有离平面部与半球部的内壁相接的最外周相离预定宽幅的区域，且主要由产生正反射的第1材质所构成；及内周部（14），与第1材质相比较，至少在紫外波长范围中具有较高的反射率，而且主要由产生扩散反射的第2材质所构成，且占有外周部的内侧的区域。

10. 发明专利

TW200846638A 可同時感測發光强度與色度之高速光學感測裝置與具有此高速光學感測裝置之光學量測系統 A HIGH-SPEED OPTICAL SENSING DEVICE ABLING TO SENSE LUMINOUS INTENSITY AND CHROMATICITY AND AN OPTICAL MEASURING SYSTEM WITH THE HIGH-SPEED OPTICAL SENSING DEVICE 审中-公开
简体标题：可同时传感发光强度与色度之高速光学传感设备与具有此高速光学传感设备之光学量测系统 A HIGH-SPEED OPTICAL SENSING DEVICE ABLING TO SENSE LUMINOUS INTENSITY AND CHROMATICITY AND AN OPTICAL MEASURING SYSTEM WITH THE HIGH-SPEED OPTICAL SENSING DEVICE
公开(公告)号：TW200846638A
公开(公告)日：2008-12-01
申请号：TW096119199
申请日：2007-05-29
申请人：致茂電子股份有限公司 CHROMA ATE INC.
发明人：歐聰憲 OU, TSUNG HSIEN , 宋新岳 SUNG, HSIN YUEH , 簡宏達 JIAN, HONG DA , 管繼正 KUAN, CHI CHENG , 羅文期 LUO, WEN CHI
IPC分类号： G01J
CPC分类号： G01N21/255 , G01J1/02 , G01J1/0214 , G01J1/04 , G01J1/0407 , G01J1/0437 , G01J1/0451 , G01J1/0488 , G01J1/4257 , G01J3/02 , G01J3/0213 , G01J3/50 , G01J2001/0481 , G01J2001/4247
摘要：一種高速光學感測裝置,用以量測一待測發光元件之發光强度與色度,此高速光學感測裝置包括一光偵測器、一集光透鏡組與一分光器。其中,光偵測器係用以偵測此待測發光元件之發光强度。集光透鏡組係用以會聚光線至一色彩分析裝置。分光器係對準待測發光元件,用以將待測發光元件產生之光線分光投射至光偵測器與集光透鏡組。
简体摘要：一种高速光学传感设备,用以量测一待测发光组件之发光强度与色度,此高速光学传感设备包括一光侦测器、一集光透镜组与一分光器。其中,光侦测器系用以侦测此待测发光组件之发光强度。集光透镜组系用以会聚光线至一色彩分析设备。分光器系对准待测发光组件,用以将待测发光组件产生之光线分光投射至光侦测器与集光透镜组。

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