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1. 发明专利

TWI601278B 光檢測裝置有权
简体标题：光检测设备
公开(公告)号：TWI601278B
公开(公告)日：2017-10-01
申请号：TW105139293
申请日：2012-08-15
申请人：濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：永野輝昌 , NAGANO, TERUMASA , 細川暢郎 , HOSOKAWA, NOBURO , 鈴木智史 , SUZUKI, TOMOFUMI , 馬場隆 , BABA, TAKASHI
IPC分类号： H01L27/144
CPC分类号： H01L27/14643 , H01L27/1446 , H01L27/14618 , H01L27/14636 , H01L27/14658 , H01L31/107

2. 发明专利

TWI549270B 光檢測裝置有权
简体标题：光检测设备
公开(公告)号：TWI549270B
公开(公告)日：2016-09-11
申请号：TW101129606
申请日：2012-08-15
申请人：濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：永野輝昌 , NAGANO, TERUMASA , 細川暢郎 , HOSOKAWA, NOBURO , 鈴木智史 , SUZUKI, TOMOFUMI , 馬場隆 , BABA, TAKASHI
IPC分类号： H01L27/144
CPC分类号： H01L27/1446 , H01L27/1443 , H01L27/14605 , H01L28/20 , H01L31/02005 , H01L31/02322 , H01L31/107 , H01L2224/11

3. 发明专利

TWI484144B 分光計及其製造方法有权
简体标题：分光计及其制造方法
公开(公告)号：TWI484144B
公开(公告)日：2015-05-11
申请号：TW101122537
申请日：2008-06-06
申请人：濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：柴山勝己 , SHIBAYAMA, KATSUMI , 海慕特特基曼 , HELMUT, TEICHMANN , 能野隆文 , YOKINO, TAKAFUMI , 鈴木智史 , SUZUKI, TOMOFUMI , 戴特瑪席勒 , DIETMAR, HILLER , 歐里其史塔克 , ULRICH, STARKER
IPC分类号： G01J3/02
CPC分类号： G01J3/02 , G01J3/0202 , G01J3/0208 , G01J3/0256 , G01J3/0259 , G01J3/0262 , G01J3/18 , G01J3/2803

4. 发明专利

TWI470193B 分光模組有权
简体标题：分光模块
公开(公告)号：TWI470193B
公开(公告)日：2015-01-21
申请号：TW097125465
申请日：2008-07-04
申请人：濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：柴山勝己 , SHIBAYAMA, KATSUMI , 能野隆文 , YOKINO, TAKAFUMI , 鈴木智史 , SUZUKI, TOMOFUMI , 海慕特特基曼 , TEICHMANN, HELMUT , 戴特瑪席勒 , HILLER, DIETMAR , 歐里其史塔克 , STARKER, ULRICH
IPC分类号： G01J3/02
CPC分类号： G01J3/18 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/0259 , G01J3/0291

5. 发明专利

TW201318153A 光檢測裝置审中-公开
简体标题：光检测设备
公开(公告)号：TW201318153A
公开(公告)日：2013-05-01
申请号：TW101129606
申请日：2012-08-15
申请人：濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：永野輝昌 , NAGANO, TERUMASA , 細川暢郎 , HOSOKAWA, NOBURO , 鈴木智史 , SUZUKI, TOMOFUMI , 馬場隆 , BABA, TAKASHI
IPC分类号： H01L27/144
CPC分类号： H01L27/1446 , H01L27/1443 , H01L27/14605 , H01L28/20 , H01L31/02005 , H01L31/02322 , H01L31/107 , H01L2224/11
摘要：本發明之半導體光檢測元件10係將包含以蓋革模式動作之複數個雪崩光電二極體APD、相對於各雪崩光電二極體APD串列連接之滅弧電阻R1、及並列地連接滅弧電阻R1之信號線TL之光電二極體陣列PDA作為一個通道且具有複數個通道。搭載基板20係與各通道對應之複數個電極E9配置於主面20a側，並且處理來自各通道之輸出信號之信號處理部SP配置於主面20b側。於半導體基板1N中，針對各通道而形成有與信號線TL電性連接之貫通電極TE。貫通電極TE與電極E9經由凸塊電極BE而電性連接。
简体摘要：本发明之半导体光检测组件10系将包含以盖革模式动作之复数个雪崩光电二极管APD、相对于各雪崩光电二极管APD串行连接之灭弧电阻R1、及并列地连接灭弧电阻R1之信号线TL之光电二极管数组PDA作为一个信道且具有复数个信道。搭载基板20系与各信道对应之复数个电极E9配置于主面20a侧，并且处理来自各信道之输出信号之信号处理部SP配置于主面20b侧。于半导体基板1N中，针对各信道而形成有与信号线TL电性连接之贯通电极TE。贯通电极TE与电极E9经由凸块电极BE而电性连接。

6. 发明专利

TW201906785A 光學裝置及其製造方法审中-公开
简体标题：光学设备及其制造方法
公开(公告)号：TW201906785A
公开(公告)日：2019-02-16
申请号：TW107123489
申请日：2018-07-06
申请人：日商濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：杉本達哉 , SUGIMOTO, TATSUYA , 鈴木智史 , SUZUKI, TOMOFUMI , 港谷恭輔 , KOTANI, KYOSUKE
IPC分类号： B81B7/02 , G02B26/00
摘要：本發明之光學裝置具備：基座；可動部，其具有光學功能部；彈性支持部，其以可動部能夠沿著第1方向移動之方式支持可動部；第1梳齒電極，其設置於基座；及第2梳齒電極，其設置於可動部及彈性支持部之至少一者，且具有複數個第2梳齒。彈性支持部具有沿著與第1方向垂直之第2方向延伸之扭力棒、及連接有扭力棒之桿。第2梳齒電極係設置於可動部及彈性支持部之至少一者中位於較扭力棒更靠光學功能部側之部分。相鄰之第1梳齒與第2梳齒係於第2方向、或與第1方向及第2方向垂直之第3方向之中可動部之外力耐受性較高之方向上彼此相對。
简体摘要：本发明之光学设备具备：基座；可动部，其具有光学功能部；弹性支持部，其以可动部能够沿着第1方向移动之方式支持可动部；第1梳齿电极，其设置于基座；及第2梳齿电极，其设置于可动部及弹性支持部之至少一者，且具有复数个第2梳齿。弹性支持部具有沿着与第1方向垂直之第2方向延伸之扭力棒、及连接有扭力棒之杆。第2梳齿电极系设置于可动部及弹性支持部之至少一者中位于较扭力棒更靠光学功能部侧之部分。相邻之第1梳齿与第2梳齿系于第2方向、或与第1方向及第2方向垂直之第3方向之中可动部之外力耐受性较高之方向上彼此相对。

7. 发明专利

TW201906782A 光學裝置审中-公开
简体标题：光学设备
公开(公告)号：TW201906782A
公开(公告)日：2019-02-16
申请号：TW107123432
申请日：2018-07-06
申请人：日商濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：杉本達哉 , SUGIMOTO, TATSUYA , 鈴木智史 , SUZUKI, TOMOFUMI , 港谷恭輔 , KOTANI, KYOSUKE
IPC分类号： B81B7/02 , G02B26/00
摘要：於本發明之光學裝置中，可動部具有：本體部；框部，其自本體部空開特定之間隔而包圍本體部；及複數個連結部，其等將本體部與框部相互連結。本體部之外緣部包含以外緣部之厚度厚於中央部之厚度之方式形成的第1樑部。框部包含以框部之厚度厚中央部之厚度之方式形成的第2樑部。各連結部之寬度大於本體部與框部之間之間隔，且小於自框部中之與各連結部之連接位置至與一對第1扭轉支持部各者及一對第2扭轉支持部各者之連接位置之任一者的距離。
简体摘要：于本发明之光学设备中，可动部具有：本体部；框部，其自本体部空开特定之间隔而包围本体部；及复数个链接部，其等将本体部与框部相互链接。本体部之外缘部包含以外缘部之厚度厚于中央部之厚度之方式形成的第1梁部。框部包含以框部之厚度厚中央部之厚度之方式形成的第2梁部。各链接部之宽度大于本体部与框部之间之间隔，且小于自框部中之与各链接部之连接位置至与一对第1扭转支持部各者及一对第2扭转支持部各者之连接位置之任一者的距离。

8. 发明专利

TW201717371A 光檢測裝置审中-公开
简体标题：光检测设备
公开(公告)号：TW201717371A
公开(公告)日：2017-05-16
申请号：TW105142732
申请日：2012-08-15
申请人：濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：永野輝昌 , NAGANO, TERUMASA , 細川暢郎 , HOSOKAWA, NOBURO , 鈴木智史 , SUZUKI, TOMOFUMI , 馬場隆 , BABA, TAKASHI
IPC分类号： H01L27/144
CPC分类号： H01L31/107 , G01J1/42 , G01T1/208 , H01L27/144 , H01L27/1443 , H01L27/14636 , H01L27/14643 , H01L27/14658 , H01L27/14663 , H01L28/20 , H01L31/02005 , H01L31/022408
摘要：本發明之半導體光檢測元件10包含：複數個雪崩光電二極體APD，其以蓋革模式動作並且形成於半導體基板1N內；滅弧電阻R1，其相對於各雪崩光電二極體APD串列連接並且配置於半導體基板1N之主面1Na側；及複數個貫通電極TE，其與滅弧電阻R1電性連接且自主面1Na側至主面1Nb側為止貫通半導體基板1N而形成。搭載基板20包含對應於每個貫通電極TE而配置於主面20a側之複數個電極E9。貫通電極TE與電極E9經由凸塊電極BE而電性連接，且半導體基板1N之側面1Nc與玻璃基板30之側面30c為同一平面。
简体摘要：本发明之半导体光检测组件10包含：复数个雪崩光电二极管APD，其以盖革模式动作并且形成于半导体基板1N内；灭弧电阻R1，其相对于各雪崩光电二极管APD串行连接并且配置于半导体基板1N之主面1Na侧；及复数个贯通电极TE，其与灭弧电阻R1电性连接且自主面1Na侧至主面1Nb侧为止贯通半导体基板1N而形成。搭载基板20包含对应于每个贯通电极TE而配置于主面20a侧之复数个电极E9。贯通电极TE与电极E9经由凸块电极BE而电性连接，且半导体基板1N之侧面1Nc与玻璃基板30之侧面30c为同一平面。

9. 外观设计

TWD167684S 分光器之部分有权
公开(公告)号：TWD167684S
公开(公告)日：2015-05-11
申请号：TW103305071
申请日：2008-06-06
申请人：濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
设计人：柴山勝己 , SHIBAYAMA, KATSUMI , 鈴木智史 , SUZUKI, TOMOFUMI , 伊藤將師 , ITO, MASASHI

10. 发明专利

TWI451072B 分光模組有权
简体标题：分光模块
公开(公告)号：TWI451072B
公开(公告)日：2014-09-01
申请号：TW097121329
申请日：2008-06-06
申请人：濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：鈴木智史 , SUZUKI, TOMOFUMI , 柴山勝己 , SHIBAYAMA, KATSUMI , 飯田孝 , IIDA, TAKASHI , 能野隆文 , YOKINO, TAKAFUMI , 伊藤將師 , ITO, MASASHI , 海慕特特基曼 , TEICHMANN, HELMUT , 戴特瑪席勒 , HILLER, DIETMAR , 歐里其史塔克 , STARKER, ULRICH
IPC分类号： G01J3/02
CPC分类号： G01J3/14 , G01J3/02 , G01J3/0256

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