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    • 8. 发明专利
    • 分光模組
    • 分光模块
    • TW201140006A
    • 2011-11-16
    • TW099129756
    • 2010-09-02
    • 濱松赫德尼古斯股份有限公司
    • 柴山勝己能野隆文
    • G01J
    • G01J3/0262G01J3/0208G01J3/021G01J3/0259G01J3/0291G01J3/18G01J3/2823
    • 本發明之分光模組中,以較衍射層6厚的方式,沿著衍射層6之周緣6a一體形成凸緣部7,且在透鏡部3之曲面3a中與凸緣部7接觸之部分為粗面。藉此,由與曲面3a之接著性高之凸緣部7包圍衍射層6。因此,即使將衍射層6薄型化,亦可防止衍射層6從透鏡部3之凸狀曲面3a剝離。再者,該分光模組中,在凸緣部7中與透鏡部3之曲面3a對向之後面7a呈平坦面。藉此,即使光入射至凸緣部7內,該光亦會到達凸緣部7之平坦面即後面7a。因此,可減少作為雜散光直接成像於光檢測元件之光檢測部之光。
    • 本发明之分光模块中,以较衍射层6厚的方式,沿着衍射层6之周缘6a一体形成凸缘部7,且在透镜部3之曲面3a中与凸缘部7接触之部分为粗面。借此,由与曲面3a之接着性高之凸缘部7包围衍射层6。因此,即使将衍射层6薄型化,亦可防止衍射层6从透镜部3之凸状曲面3a剥离。再者,该分光模块中,在凸缘部7中与透镜部3之曲面3a对向之后面7a呈平坦面。借此,即使光入射至凸缘部7内,该光亦会到达凸缘部7之平坦面即后面7a。因此,可减少作为杂散光直接成像于光检测组件之光检测部之光。
    • 9. 发明专利
    • 小型紅外線光譜儀及應用於其之元件之組合及製造之系統與方法 COMPACT INFRARED SPECTROMETER, AND METHODS AND SYSTEMS FOR MANUFACTURE AND ASSEMBLY OF COMPONENTS USED IN SAME
    • 小型红外线光谱仪及应用于其之组件之组合及制造之系统与方法 COMPACT INFRARED SPECTROMETER, AND METHODS AND SYSTEMS FOR MANUFACTURE AND ASSEMBLY OF COMPONENTS USED IN SAME
    • TWI269869B
    • 2007-01-01
    • TW094112545
    • 2005-04-20
    • 曹美為 TSAO, MEI WEI
    • 曹美為 TSAO, MEI WEI
    • G01J
    • G01J3/02G01J3/0202G01J3/0256G01J3/0264G01J3/0291G01J3/2803G01N21/35
    • 一種可操作於波長範圍為4.5微米或4.5微米以上的小型光譜儀,其包括一入射狹縫、一準直鏡、一光柵、一聚焦鏡以及一第一聚焦面。通過此狹縫的部分輻射會沿著一光徑行進,在此光徑中,此通過狹縫的部分輻射會被準直鏡反射到光柵上,接著此光柵反射部分輻射到聚焦鏡,而後該聚焦鏡便會反射與聚焦部分輻射在第一聚焦面及二維陣列偵測器之上。二維陣列偵測器中每一行均對應到波長範圍為4.5微米或4.5微米以上的某個波長,此二維陣列包括複數行,其全部會對應到橫跨波長範圍為4.5微米或4.5微米以上的複數個波長,且在此二維陣列偵測器上每一對相鄰的行均對應到波長差相等的兩波長。此入射狹縫、準直鏡、光柵、聚焦鏡以及第一聚焦面係置放於一大小等於或小於192立方英吋的體積內。
    • 一种可操作于波长范围为4.5微米或4.5微米以上的小型光谱仪,其包括一入射狭缝、一准直镜、一光栅、一聚焦镜以及一第一聚焦面。通过此狭缝的部分辐射会沿着一光径行进,在此光径中,此通过狭缝的部分辐射会被准直镜反射到光栅上,接着此光栅反射部分辐射到聚焦镜,而后该聚焦镜便会反射与聚焦部分辐射在第一聚焦面及二维数组侦测器之上。二维数组侦测器中每一行均对应到波长范围为4.5微米或4.5微米以上的某个波长,此二维数组包括复数行,其全部会对应到横跨波长范围为4.5微米或4.5微米以上的复数个波长,且在此二维数组侦测器上每一对相邻的行均对应到波长差相等的两波长。此入射狭缝、准直镜、光栅、聚焦镜以及第一聚焦面系置放于一大小等于或小于192立方英吋的体积内。