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1. 发明专利

TWI690702B 濕度計測試模組及其測試系統有权
简体标题：湿度计测试模块及其测试系统
公开(公告)号：TWI690702B
公开(公告)日：2020-04-11
申请号：TW108112624
申请日：2019-04-11
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：丁偉修 , TING, WEI HSIU , 劉光祥 , LIU, KUANG HSIANG , 李明憲 , LEE, MING SHIEN
IPC分类号： G01N19/10

2. 发明专利

TWI636261B 半導體元件影像測試裝置有权
简体标题：半导体组件影像测试设备
公开(公告)号：TWI636261B
公开(公告)日：2018-09-21
申请号：TW107101466
申请日：2018-01-16
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：蔡秉諺 , TSAI, PIN-YAN , 宋栢寬 , SUNG, PO-KUAN
IPC分类号： G01R1/20 , G01R31/265

3. 发明专利

TW201743629A 麥克風元件測試座及其測試裝置审中-公开
简体标题：麦克风组件测试座及其测试设备
公开(公告)号：TW201743629A
公开(公告)日：2017-12-16
申请号：TW105117224
申请日：2016-06-01
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：蔡旻諺 , TSAI, MIN-YEN , 李欣哲 , LEE, HSIN-CHE , 詹勳亮 , CHANG, HSUNG-LIANG , 羅偉誠 , LO, WEI-CHENG , 莊進邦 , CHUANG, CHIN-PANG
IPC分类号： H04R29/00
摘要：本發明係關於一種麥克風元件測試座及其測試裝置，麥克風元件測試座包括有：一測試基座、一音源、一參考麥克風、一壓座及複數探針銷。測試基座包括有至少一第一測試部、一第一安裝部、一第二安裝部及一測試通道，測試通道連通至少一第一測試部、一第一安裝部及一第二安裝部，音源設置於第一安裝部，參考麥克風設置於第二安裝部，壓座壓合測試基座，具有至少一第二測試部，至少一第一測試部及至少一第二測試部形成至少一待測元件置放空間，複數探針銷連通至少一待測元件置放空間。藉此，可減少聲波之總諧波失真，改善麥克風元件之聲音測試品質。
简体摘要：本发明系关于一种麦克风组件测试座及其测试设备，麦克风组件测试座包括有：一测试基座、一音源、一参考麦克风、一压座及复数探针销。测试基座包括有至少一第一测试部、一第一安装部、一第二安装部及一测试信道，测试信道连通至少一第一测试部、一第一安装部及一第二安装部，音源设置于第一安装部，参考麦克风设置于第二安装部，压座压合测试基座，具有至少一第二测试部，至少一第一测试部及至少一第二测试部形成至少一待测组件置放空间，复数探针销连通至少一待测组件置放空间。借此，可减少声波之总谐波失真，改善麦克风组件之声音测试品质。

4. 发明专利

TW201732220A 承載盤檢驗裝置审中-公开
简体标题：承载盘检验设备
公开(公告)号：TW201732220A
公开(公告)日：2017-09-16
申请号：TW105107058
申请日：2016-03-08
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：詹勳亮 , CHANG, HSUNG-LIANG , 施松柏 , SHIH, SUNG-PO , 鄭聿彣 , CHENG, YU-WEN , 李慶康 , LI, CHING-KANG , 陳約翰 , CHEN, YUEH-HAN
IPC分类号： G01B11/14 , G01B11/16
摘要：本發明係有關於一種承載盤檢驗裝置，包括一滑軌單元、二高度計以及一控制單元。滑軌單元包括有一軌道及一經由一皮帶帶動之橫移推桿，該皮帶係連接一動力源，其中，複數承載盤係依序放置於軌道上，並受橫移推桿之線性推移。二高度計分別設置於一支撐架上，提供一單點式光束對應每一承載盤之兩側端緣之上表面，用以感測承載盤之高度變化量，並透過電連接該動力源及該二高度計之控制單元，控制每一承載盤之啟動時序，使得每一承載盤可被照射一特定數量之單點式光束之量測點。藉此，可有效避免各機台誤用過度變形的承載盤，造成半導體元件翻覆、彈出或破損的情況產生。
简体摘要：本发明系有关于一种承载盘检验设备，包括一滑轨单元、二高度计以及一控制单元。滑轨单元包括有一轨道及一经由一皮带带动之横移推杆，该皮带系连接一动力源，其中，复数承载盘系依序放置于轨道上，并受横移推杆之线性推移。二高度计分别设置于一支撑架上，提供一单点式光束对应每一承载盘之两侧端缘之上表面，用以传感承载盘之高度变化量，并透过电连接该动力源及该二高度计之控制单元，控制每一承载盘之启动时序，使得每一承载盘可被照射一特定数量之单点式光束之量测点。借此，可有效避免各机台误用过度变形的承载盘，造成半导体组件翻覆、弹出或破损的情况产生。

5. 发明专利

TW201719139A 用於老化測試裝置之負壓冷卻系統以及使用該負壓冷卻系統之老化測試裝置审中-公开
简体标题：用于老化测试设备之负压冷却系统以及使用该负压冷却系统之老化测试设备
公开(公告)号：TW201719139A
公开(公告)日：2017-06-01
申请号：TW104139521
申请日：2015-11-26
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD
发明人：劉大綱 , LIU, TA-KANG , 林宗毅 , LIN, CHUNG-YI
IPC分类号： G01N17/00 , F27D9/00
摘要：本發明相關於一種用於老化測試裝置之負壓冷卻系統以及使用該負壓冷卻系統之老化測試裝置，特別是一種用於開放式老化測試裝置之負壓冷卻系統以及使用該負壓冷卻系統之開放式老化測試裝置。該負壓冷卻系統包含一橫向抽風通道、一集風區、以及一主抽風通道。藉由橫向抽風通道、集風區、以及主抽風通道形成一負壓通道而持續地將老化測試裝置周邊的空氣與老化測試裝置內的熱空氣進行交換，以有效地移除老化測試爐內的積熱。
简体摘要：本发明相关于一种用于老化测试设备之负压冷却系统以及使用该负压冷却系统之老化测试设备，特别是一种用于开放式老化测试设备之负压冷却系统以及使用该负压冷却系统之开放式老化测试设备。该负压冷却系统包含一横向抽风信道、一集风区、以及一主抽风信道。借由横向抽风信道、集风区、以及主抽风信道形成一负压信道而持续地将老化测试设备周边的空气与老化测试设备内的热空气进行交换，以有效地移除老化测试炉内的积热。

6. 发明专利

TW201710160A 電子元件捲帶包裝結構及以該捲帶包裝結構包裝電子元件的方法审中-公开
简体标题：电子组件卷带包装结构及以该卷带包装结构包装电子组件的方法
公开(公告)号：TW201710160A
公开(公告)日：2017-03-16
申请号：TW104129847
申请日：2015-09-09
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD
发明人：邱東樑 , QUI, DON-LUNG
IPC分类号： B65D73/02 , B65D85/86
摘要：本發明相關於一種電子元件捲帶包裝結構及以該捲帶包裝結構包裝電子元件的方法。此電子元件之捲帶包裝結構包含一載帶、一上覆層膠膜、以及一下覆層膠膜。載帶具有複數個貫穿載帶上表面與下表面之第一開口沿著該載帶之長邊方向間隔排列，每一第一開口周圍由下表面朝離開下表面方向延伸形成一圍繞第一開口四周的側壁，而在每一側壁底部形成一第二開口。上覆層膠膜黏貼於載帶之上表面上，而封閉載帶之第一開口。下覆層膠膜則黏貼於側壁的底部而封閉第二開口，且下覆層膠膜與側壁共同形成複數個容置電子元件的容置空間。
简体摘要：本发明相关于一种电子组件卷带包装结构及以该卷带包装结构包装电子组件的方法。此电子组件之卷带包装结构包含一载带、一上覆层胶膜、以及一下覆层胶膜。载带具有复数个贯穿载带上表面与下表面之第一开口沿着该载带之长边方向间隔排列，每一第一开口周围由下表面朝离开下表面方向延伸形成一围绕第一开口四周的侧壁，而在每一侧壁底部形成一第二开口。上覆层胶膜黏贴于载带之上表面上，而封闭载带之第一开口。下覆层胶膜则黏贴于侧壁的底部而封闭第二开口，且下覆层胶膜与侧壁共同形成复数个容置电子组件的容置空间。

7. 发明专利

TW201708829A 半導體元件影像測試裝置及其測試設備审中-公开
简体标题：半导体组件影像测试设备及其测试设备
公开(公告)号：TW201708829A
公开(公告)日：2017-03-01
申请号：TW104127662
申请日：2015-08-25
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：吳國榮 , WU, KUO-JUNG , 梁興岳 , LIANG, HSING-YUEH
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/302
摘要：本發明係有關於一種半導體元件影像測試裝置及其測試設備，該半導體元件影像測試裝置包括有一測試電路模組及一移動式光源模組，測試電路模組設置於與一測試頭連接之一主架體上，包括至少一電路板、一界面板以及固設於界面板上之一針測座。設置於一升降裝置之移動式光源模組包括一基座、一光源供應裝置以及一裝載有複數鏡頭之鏡頭組載盤。其中，升降裝置可選擇式地驅動移動式光源模組頂抵或不頂抵測試電路模組，使測試載盤內之至少一半導體元件接觸或不接觸針測座。藉此，透過模組的設置，方便安裝、維修及取放光源供應裝置及複數光學鏡頭，同時測試訊號可直接傳送至影像測試電路及測試頭，俾能增加訊號傳遞的穩定性。
简体摘要：本发明系有关于一种半导体组件影像测试设备及其测试设备，该半导体组件影像测试设备包括有一测试电路模块及一移动式光源模块，测试电路模块设置于与一测试头连接之一主架体上，包括至少一电路板、一界皮肤以及固设于界皮肤上之一针测座。设置于一升降设备之移动式光源模块包括一基座、一光源供应设备以及一装载有复数镜头之镜头组载盘。其中，升降设备可选择式地驱动移动式光源模块顶抵或不顶抵测试电路模块，使测试载盘内之至少一半导体组件接触或不接触针测座。借此，透过模块的设置，方便安装、维修及取放光源供应设备及复数光学镜头，同时测试信号可直接发送至影像测试电路及测试头，俾能增加信号传递的稳定性。

8. 发明专利

TWI570394B 具遠紅外光之溫度感測器測試裝置有权
简体标题：具远红外光之温度传感器测试设备
公开(公告)号：TWI570394B
公开(公告)日：2017-02-11
申请号：TW105105607
申请日：2016-02-25
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：林威成 , LIN, WEI-CHANG , 呂傑文 , LU, CHIEH-WEN , 周錫華 , CHOU, HIS-HUA , 簡世展 , CHINE, SHIH-CHAN
IPC分类号： G01K15/00 , G01J5/10

9. 发明专利

TWI546530B 半導體元件壓力測試裝置及其測試設備有权
简体标题：半导体组件压力测试设备及其测试设备
公开(公告)号：TWI546530B
公开(公告)日：2016-08-21
申请号：TW104118101
申请日：2015-06-04
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：丁偉修 , TING, WEI HSIU , 陳文如 , CHEN, WEN JU
IPC分类号： G01N17/00 , G01R31/3181

10. 发明专利

TW201625956A 半導體元件測試裝置及其測試設備审中-公开
简体标题：半导体组件测试设备及其测试设备
公开(公告)号：TW201625956A
公开(公告)日：2016-07-16
申请号：TW104101107
申请日：2015-01-13
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：陳峯杰 , CHEN, FONG JAY , 陳盈宏 , CHEN, YING HUNG
IPC分类号： G01R1/06 , G01R31/26
摘要：本發明係有關於一種半導體元件測試裝置及其測試設備，可應用於分類機中，該裝置主要包括有一上測試座及一下測試座。上測試座固設於一上治具，包括有複數上部探針、一基座、一浮動容置座以及夾設於基座與浮動容置座間之至少一彈性體。其中，當上測試座向下壓入至下測試座，至少一彈性體遭壓縮，促使每一上部探針由浮動容置座之每一探針口中露出，藉以電性測試一半導體元件。藉此，在壓測作業中，可吸收壓合過程之衝擊應力，減少半導體元件受損的機率，有效防止測試異常狀況產生。
简体摘要：本发明系有关于一种半导体组件测试设备及其测试设备，可应用于分类机中，该设备主要包括有一上测试座及一下测试座。上测试座固设于一上治具，包括有复数上部探针、一基座、一浮动容置座以及夹设于基座与浮动容置座间之至少一弹性体。其中，当上测试座向下压入至下测试座，至少一弹性体遭压缩，促使每一上部探针由浮动容置座之每一探针口中露出，借以电性测试一半导体组件。借此，在压测作业中，可吸收压合过程之冲击应力，减少半导体组件受损的概率，有效防止测试异常状况产生。

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