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1. 发明专利

TW201511172A 電子元件測試基座之浮動緩衝機構审中-公开
简体标题：电子组件测试基座之浮动缓冲机构
公开(公告)号：TW201511172A
公开(公告)日：2015-03-16
申请号：TW102133145
申请日：2013-09-13
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：李欣哲 , LEE, HSIN CHE , 詹勳亮 , CHANG, HSUNG LIANG , 顏澤詢 , YEN, TSE HSUN , 羅偉誠 , LO, WEI CHENG , 李昱明 , LI, YU MING
IPC分类号： H01L21/683 , G01R31/26
摘要：本發明關於一種電子元件測試基座之浮動緩衝機構，包括：蓋體、本體、彈性墊、滑移件、測試基座及容置座。蓋體具有連結至氣壓泵之入氣孔。本體具有一容置空間及複數個定位槽，本體與蓋體對應相結合。彈性墊夾設於蓋體與本體間並覆蓋容置空間，以界定出蓋體與彈性墊間之一氣密空間。滑移件包括複數個定位柱，藉由每一定位柱對應每一定位槽容設於容置空間內，滑移件可縱向滑移。測試基座係連結於滑移件之底部，具有至少一測試針組。容置座與測試基座對應結合設置，包括有對應於每一測試針組之一容置槽，其可容置有一待測電子元件。
简体摘要：本发明关于一种电子组件测试基座之浮动缓冲机构，包括：盖体、本体、弹性垫、滑移件、测试基座及容置座。盖体具有链接至气压泵之入气孔。本体具有一容置空间及复数个定位槽，本体与盖体对应相结合。弹性垫夹设于盖体与本体间并覆盖容置空间，以界定出盖体与弹性垫间之一气密空间。滑移件包括复数个定位柱，借由每一定位柱对应每一定位槽容设于容置空间内，滑移件可纵向滑移。测试基座系链接于滑移件之底部，具有至少一测试针组。容置座与测试基座对应结合设置，包括有对应于每一测试针组之一容置槽，其可容置有一待测电子组件。

2. 发明专利

TW201743629A 麥克風元件測試座及其測試裝置审中-公开
简体标题：麦克风组件测试座及其测试设备
公开(公告)号：TW201743629A
公开(公告)日：2017-12-16
申请号：TW105117224
申请日：2016-06-01
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：蔡旻諺 , TSAI, MIN-YEN , 李欣哲 , LEE, HSIN-CHE , 詹勳亮 , CHANG, HSUNG-LIANG , 羅偉誠 , LO, WEI-CHENG , 莊進邦 , CHUANG, CHIN-PANG
IPC分类号： H04R29/00
摘要：本發明係關於一種麥克風元件測試座及其測試裝置，麥克風元件測試座包括有：一測試基座、一音源、一參考麥克風、一壓座及複數探針銷。測試基座包括有至少一第一測試部、一第一安裝部、一第二安裝部及一測試通道，測試通道連通至少一第一測試部、一第一安裝部及一第二安裝部，音源設置於第一安裝部，參考麥克風設置於第二安裝部，壓座壓合測試基座，具有至少一第二測試部，至少一第一測試部及至少一第二測試部形成至少一待測元件置放空間，複數探針銷連通至少一待測元件置放空間。藉此，可減少聲波之總諧波失真，改善麥克風元件之聲音測試品質。
简体摘要：本发明系关于一种麦克风组件测试座及其测试设备，麦克风组件测试座包括有：一测试基座、一音源、一参考麦克风、一压座及复数探针销。测试基座包括有至少一第一测试部、一第一安装部、一第二安装部及一测试信道，测试信道连通至少一第一测试部、一第一安装部及一第二安装部，音源设置于第一安装部，参考麦克风设置于第二安装部，压座压合测试基座，具有至少一第二测试部，至少一第一测试部及至少一第二测试部形成至少一待测组件置放空间，复数探针销连通至少一待测组件置放空间。借此，可减少声波之总谐波失真，改善麦克风组件之声音测试品质。

3. 发明专利

TWI579951B 半導體元件翻面裝置及其測試設備有权
简体标题：半导体组件翻面设备及其测试设备
公开(公告)号：TWI579951B
公开(公告)日：2017-04-21
申请号：TW104137813
申请日：2015-11-17
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：詹勳亮 , CHANG, HSUNG-LIANG , 羅偉誠 , LO, WEI-CHENG , 陳俞成 , CHEN, YU-CHENG , 蔡旻諺 , TSAI, MIN-YEN
IPC分类号： H01L21/67 , B25J9/12

4. 发明专利

TWI602443B 麥克風元件測試座及其測試裝置有权
简体标题：麦克风组件测试座及其测试设备
公开(公告)号：TWI602443B
公开(公告)日：2017-10-11
申请号：TW105117224
申请日：2016-06-01
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：蔡旻諺 , TSAI, MIN-YEN , 李欣哲 , LEE, HSIN-CHE , 詹勳亮 , CHANG, HSUNG-LIANG , 羅偉誠 , LO, WEI-CHENG , 莊進邦 , CHUANG, CHIN-PANG
IPC分类号： H04R29/00

5. 发明专利

TW201719786A 半導體元件翻面裝置及其測試設備审中-公开
简体标题：半导体组件翻面设备及其测试设备
公开(公告)号：TW201719786A
公开(公告)日：2017-06-01
申请号：TW104137813
申请日：2015-11-17
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：詹勳亮 , CHANG, HSUNG-LIANG , 羅偉誠 , LO, WEI-CHENG , 陳俞成 , CHEN, YU-CHENG , 蔡旻諺 , TSAI, MIN-YEN
IPC分类号： H01L21/67 , B25J9/12
摘要：本發明係有關於一種半導體元件翻面裝置及其測試設備，該半導體元件翻面裝置包括有一轉盤、一連動單元以及一控制器。一轉盤套設於一馬達上，轉盤之端緣處設置有至少二分別與一真空管相連之容置槽，且轉盤內部具有一容置空間。連動單元包括一連接一驅動裝置之驅動件及一容置於容置空間內之從動件，其中，驅動件與從動件具有連動關係。控制器分別電連接馬達及驅動裝置，用以依序控制轉盤及連動單元之作動時機。藉此，利用簡單且低成本之機構模組，可連續翻轉數個半導體元件，其每單位時間內之產能可大幅提升，有效提高翻面效率。
简体摘要：本发明系有关于一种半导体组件翻面设备及其测试设备，该半导体组件翻面设备包括有一转盘、一连动单元以及一控制器。一转盘套设于一马达上，转盘之端缘处设置有至少二分别与一真空管相连之容置槽，且转盘内部具有一容置空间。连动单元包括一连接一驱动设备之驱动件及一容置于容置空间内之从动件，其中，驱动件与从动件具有连动关系。控制器分别电连接马达及驱动设备，用以依序控制转盘及连动单元之作动时机。借此，利用简单且低成本之机构模块，可连续翻转数个半导体组件，其每单位时间内之产能可大幅提升，有效提高翻面效率。

6. 发明专利

TWI523143B 電子元件測試基座之浮動緩衝機構有权
简体标题：电子组件测试基座之浮动缓冲机构
公开(公告)号：TWI523143B
公开(公告)日：2016-02-21
申请号：TW102133145
申请日：2013-09-13
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：李欣哲 , LEE, HSIN CHE , 詹勳亮 , CHANG, HSUNG LIANG , 顏澤詢 , YEN, TSE HSUN , 羅偉誠 , LO, WEI CHENG , 李昱明 , LI, YU MING
IPC分类号： H01L21/683 , G01R31/26

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