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1. 发明专利

TW201708829A 半導體元件影像測試裝置及其測試設備审中-公开
简体标题：半导体组件影像测试设备及其测试设备
公开(公告)号：TW201708829A
公开(公告)日：2017-03-01
申请号：TW104127662
申请日：2015-08-25
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：吳國榮 , WU, KUO-JUNG , 梁興岳 , LIANG, HSING-YUEH
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/302
摘要：本發明係有關於一種半導體元件影像測試裝置及其測試設備，該半導體元件影像測試裝置包括有一測試電路模組及一移動式光源模組，測試電路模組設置於與一測試頭連接之一主架體上，包括至少一電路板、一界面板以及固設於界面板上之一針測座。設置於一升降裝置之移動式光源模組包括一基座、一光源供應裝置以及一裝載有複數鏡頭之鏡頭組載盤。其中，升降裝置可選擇式地驅動移動式光源模組頂抵或不頂抵測試電路模組，使測試載盤內之至少一半導體元件接觸或不接觸針測座。藉此，透過模組的設置，方便安裝、維修及取放光源供應裝置及複數光學鏡頭，同時測試訊號可直接傳送至影像測試電路及測試頭，俾能增加訊號傳遞的穩定性。
简体摘要：本发明系有关于一种半导体组件影像测试设备及其测试设备，该半导体组件影像测试设备包括有一测试电路模块及一移动式光源模块，测试电路模块设置于与一测试头连接之一主架体上，包括至少一电路板、一界皮肤以及固设于界皮肤上之一针测座。设置于一升降设备之移动式光源模块包括一基座、一光源供应设备以及一装载有复数镜头之镜头组载盘。其中，升降设备可选择式地驱动移动式光源模块顶抵或不顶抵测试电路模块，使测试载盘内之至少一半导体组件接触或不接触针测座。借此，透过模块的设置，方便安装、维修及取放光源供应设备及复数光学镜头，同时测试信号可直接发送至影像测试电路及测试头，俾能增加信号传递的稳定性。

2. 发明专利

TWI696323B 連接器夾持機構有权
简体标题：连接器夹持机构
公开(公告)号：TWI696323B
公开(公告)日：2020-06-11
申请号：TW108118591
申请日：2019-05-29
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：吳國榮 , WU, KUO-JUNG , 梁興岳 , LIANG, HSING YUEH , 廖栢維 , LIAO, PO WEI
IPC分类号： H01R13/629 , H01R13/639

3. 发明专利

TWI553296B 具防止排線彎折之動態測試機及其測試設備有权
简体标题：具防止排线弯折之动态测试机及其测试设备
公开(公告)号：TWI553296B
公开(公告)日：2016-10-11
申请号：TW104100828
申请日：2015-01-09
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：陳俊光 , CHEN, CHUN KUANG , 梁興岳 , LIANG, HSING YUEH , 吳國榮 , WU, KUO JUNG
IPC分类号： G01D11/16 , G01D11/20

4. 发明专利

TW201802481A 彈性組合之半導體元件處理裝置以及半導體元件分類測試系統审中-公开
简体标题：弹性组合之半导体组件处理设备以及半导体组件分类测试系统
公开(公告)号：TW201802481A
公开(公告)日：2018-01-16
申请号：TW105121866
申请日：2016-07-12
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD
发明人：詹勳亮 , CHANG, HSUNG-LIANG , 蔡宗益 , TSAI, TSUNG YI , 梁興岳 , LIANG, HSING YUEH , 林俊良 , LIN, CHUN-LIANG , 吳永仁 , WU, YUNG-JEN
IPC分类号： G01R31/01 , G01R31/26
摘要：本發明相關於一種彈性組合之半導體元件處理裝置以及以及半導體元件分類測試系統。依照各種不同的需求，可以由此彈性組合之半導體元件處理裝置中自由地選取各種不同的入料單元、處理單元、以及出料單元，而組裝成符合一可以統一於其上以自動化的方式實施半導體元件的包裝轉換與處理的半導體元件處理裝置。其次，依照各種不同的需求，可以由此彈性組合之半導體元件分類測試系統中自由地選取各種不同的入料單元、處理單元、測試單元、以及出料單元，而組裝成符合一可以統一於其上以自動化的方式實施半導體元件的包裝轉換、處理、以及測試的半導體元件分類測試系統。
简体摘要：本发明相关于一种弹性组合之半导体组件处理设备以及以及半导体组件分类测试系统。依照各种不同的需求，可以由此弹性组合之半导体组件处理设备中自由地选取各种不同的入料单元、处理单元、以及出料单元，而组装成符合一可以统一于其上以自动化的方式实施半导体组件的包装转换与处理的半导体组件处理设备。其次，依照各种不同的需求，可以由此弹性组合之半导体组件分类测试系统中自由地选取各种不同的入料单元、处理单元、测试单元、以及出料单元，而组装成符合一可以统一于其上以自动化的方式实施半导体组件的包装转换、处理、以及测试的半导体组件分类测试系统。

5. 发明专利

TWI604202B 彈性組合之半導體元件處理裝置以及半導體元件分類測試系統有权
简体标题：弹性组合之半导体组件处理设备以及半导体组件分类测试系统
公开(公告)号：TWI604202B
公开(公告)日：2017-11-01
申请号：TW105121866
申请日：2016-07-12
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD
发明人：詹勳亮 , CHANG, HSUNG-LIANG , 蔡宗益 , TSAI, TSUNG YI , 梁興岳 , LIANG, HSING YUEH , 林俊良 , LIN, CHUN-LIANG , 吳永仁 , WU, YUNG-JEN
IPC分类号： G01R31/01 , G01R31/26

6. 发明专利

TWI542888B 半導體元件影像測試裝置及其測試設備有权
简体标题：半导体组件影像测试设备及其测试设备
公开(公告)号：TWI542888B
公开(公告)日：2016-07-21
申请号：TW104127662
申请日：2015-08-25
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：吳國榮 , WU, KUO-JUNG , 梁興岳 , LIANG, HSING-YUEH
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/302

7. 发明专利

TW201625906A 具防止排線彎折之動態測試機及其測試設備审中-公开
简体标题：具防止排线弯折之动态测试机及其测试设备
公开(公告)号：TW201625906A
公开(公告)日：2016-07-16
申请号：TW104100828
申请日：2015-01-09
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：陳俊光 , CHEN, CHUN KUANG , 梁興岳 , LIANG, HSING YUEH , 吳國榮 , WU, KUO JUNG
IPC分类号： G01D11/16 , G01D11/20
摘要：本發明係有關於一種具防止排線彎折之動態測試機及其測試設備，動態測試機包括有一動態測試模組、一馬達及一捲線模組。動態測試模組具有至少一排線；馬達具有一中空軸，中空軸之二端分別固設有一壓條，用以固定該至少一排線；捲線模組具有至少一理線槽，用以容設該至少一排線；其中，動態測試模組、馬達及捲線模組係依序排列設置，並且三者一起轉動。藉此，本發明可防止多條排線相互纏繞，藉以提升排線壽命及測試訊號之精確度。
简体摘要：本发明系有关于一种具防止排线弯折之动态测试机及其测试设备，动态测试机包括有一动态测试模块、一马达及一卷线模块。动态测试模块具有至少一排线；马达具有一中空轴，中空轴之二端分别固设有一压条，用以固定该至少一排线；卷线模块具有至少一理线槽，用以容设该至少一排线；其中，动态测试模块、马达及卷线模块系依序排列设置，并且三者一起转动。借此，本发明可防止多条排线相互缠绕，借以提升排线寿命及测试信号之精确度。

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