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1. 发明专利

TW201625956A 半導體元件測試裝置及其測試設備审中-公开
简体标题：半导体组件测试设备及其测试设备
公开(公告)号：TW201625956A
公开(公告)日：2016-07-16
申请号：TW104101107
申请日：2015-01-13
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：陳峯杰 , CHEN, FONG JAY , 陳盈宏 , CHEN, YING HUNG
IPC分类号： G01R1/06 , G01R31/26
摘要：本發明係有關於一種半導體元件測試裝置及其測試設備，可應用於分類機中，該裝置主要包括有一上測試座及一下測試座。上測試座固設於一上治具，包括有複數上部探針、一基座、一浮動容置座以及夾設於基座與浮動容置座間之至少一彈性體。其中，當上測試座向下壓入至下測試座，至少一彈性體遭壓縮，促使每一上部探針由浮動容置座之每一探針口中露出，藉以電性測試一半導體元件。藉此，在壓測作業中，可吸收壓合過程之衝擊應力，減少半導體元件受損的機率，有效防止測試異常狀況產生。
简体摘要：本发明系有关于一种半导体组件测试设备及其测试设备，可应用于分类机中，该设备主要包括有一上测试座及一下测试座。上测试座固设于一上治具，包括有复数上部探针、一基座、一浮动容置座以及夹设于基座与浮动容置座间之至少一弹性体。其中，当上测试座向下压入至下测试座，至少一弹性体遭压缩，促使每一上部探针由浮动容置座之每一探针口中露出，借以电性测试一半导体组件。借此，在压测作业中，可吸收压合过程之冲击应力，减少半导体组件受损的概率，有效防止测试异常状况产生。

2. 发明专利

TW201603174A 半導體元件靠邊定位機構及其測試裝置审中-公开
简体标题：半导体组件靠边定位机构及其测试设备
公开(公告)号：TW201603174A
公开(公告)日：2016-01-16
申请号：TW103122975
申请日：2014-07-03
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：陳峯杰 , CHEN, FONG JAY , 詹勳亮 , CHANG, HSUNG LIANG , 林文婷 , LIN, WEN TING , 陳盈宏 , CHEN, YING HUNG
IPC分类号： H01L21/68 , G01R31/26
摘要：本發明係有關於一種半導體元件靠邊定位機構及其測試裝置，該測試裝置整合了半導體元件靠邊定位機構、進出料模組以及取放單元。而半導體元件靠邊定位機構包括有一基座、一吸附載座以及一校正片。基座包括一底座及二墊塊，底座上設置有一滑軌及一動力源。吸附載座連接至少一連接管，滑設於滑軌上。校正片具有至少一開槽，固設於二墊塊。其中，吸附載座係能藉由動力源在滑軌上滑移至一特定處時，將一置放於陶瓷吸座上之半導體元件定位至開槽之一對角處。藉此，在不更換任何治具的情況下，所述半導體元件將被準確的定位，有助於使用者重複進行取放作業，增進半導體元件檢測之效能。
简体摘要：本发明系有关于一种半导体组件靠边定位机构及其测试设备，该测试设备集成了半导体组件靠边定位机构、进出料模块以及取放单元。而半导体组件靠边定位机构包括有一基座、一吸附载座以及一校正片。基座包括一底座及二垫块，底座上设置有一滑轨及一动力源。吸附载座连接至少一连接管，滑设于滑轨上。校正片具有至少一开槽，固设于二垫块。其中，吸附载座系能借由动力源在滑轨上滑移至一特定处时，将一置放于陶瓷吸座上之半导体组件定位至开槽之一对角处。借此，在不更换任何治具的情况下，所述半导体组件将被准确的定位，有助于用户重复进行取放作业，增进半导体组件检测之性能。

3. 发明专利

TWI556345B 半導體元件靠邊定位機構及其測試裝置有权
简体标题：半导体组件靠边定位机构及其测试设备
公开(公告)号：TWI556345B
公开(公告)日：2016-11-01
申请号：TW103122975
申请日：2014-07-03
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：陳峯杰 , CHEN, FONG JAY , 詹勳亮 , CHANG, HSUNG LIANG , 林文婷 , LIN, WEN TING , 陳盈宏 , CHEN, YING HUNG
IPC分类号： H01L21/68 , G01R31/26

4. 发明专利

TWI548876B 半導體元件測試裝置及其測試設備有权
简体标题：半导体组件测试设备及其测试设备
公开(公告)号：TWI548876B
公开(公告)日：2016-09-11
申请号：TW104101107
申请日：2015-01-13
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：陳峯杰 , CHEN, FONG JAY , 陳盈宏 , CHEN, YING HUNG
IPC分类号： G01R1/06 , G01R31/26

5. 发明专利

TWI458985B 高硬度耐磨探針與其製作方法有权
简体标题：高硬度耐磨探针与其制作方法
公开(公告)号：TWI458985B
公开(公告)日：2014-11-01
申请号：TW100105956
申请日：2011-02-23
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD
发明人：陳峯杰 , CHEN, FONG JAY , 張久芳 , CHANG, CHIU FANG
IPC分类号： G01R1/067 , C22C38/12 , C22C38/00
CPC分类号： G01R3/00 , B22F2998/10 , C22C29/08 , B22F5/006 , B22F3/162

6. 发明专利

TWI399547B 具同心圓探針座之半導體測試設備有权
简体标题：具同心圆探针座之半导体测试设备
公开(公告)号：TWI399547B
公开(公告)日：2013-06-21
申请号：TW098124694
申请日：2009-07-22
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：陳峯杰 , CHEN, FONG JAY
IPC分类号： G01R1/073
CPC分类号： G01R31/2889

7. 发明专利

TWI386646B 探針座有权
简体标题：探针座
公开(公告)号：TWI386646B
公开(公告)日：2013-02-21
申请号：TW098128773
申请日：2009-08-27
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：陳峯杰 , CHEN, FONG JAY
IPC分类号： G01R1/04 , G01R31/26

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