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1. 发明专利

TWI487839B 旋轉凸輪式真空切換模組有权
简体标题：旋转凸轮式真空切换模块
公开(公告)号：TWI487839B
公开(公告)日：2015-06-11
申请号：TW102117026
申请日：2013-05-14
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：施松柏 , SHIH, SUNG PO
IPC分类号： F04C25/02 , F04C28/24

2. 发明专利

TWI424174B 具旋轉光源機構之測試機及使用該測試機之動態測試設備與方法有权
简体标题：具旋转光源机构之测试机及使用该测试机之动态测试设备与方法
公开(公告)号：TWI424174B
公开(公告)日：2014-01-21
申请号：TW102104188
申请日：2013-02-04
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：施松柏 , SHIH, SUNG PO
IPC分类号： G01R31/265

3. 发明专利

TWI582029B 指紋辨識電子元件測試裝置及其測試設備有权
简体标题：指纹辨识电子组件测试设备及其测试设备
公开(公告)号：TWI582029B
公开(公告)日：2017-05-11
申请号：TW105130610
申请日：2016-09-22
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：詹勳亮 , CHANG, HSUNG-LIANG , 施松柏 , SHIH, SUNG-PO , 梁居平 , LIANG, CHI-PING
IPC分类号： B65G49/07 , G06K9/24

4. 发明专利

TWI498987B 偵測裝置有权
简体标题：侦测设备
公开(公告)号：TWI498987B
公开(公告)日：2015-09-01
申请号：TW102108975
申请日：2013-03-14
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：施松柏 , SHIH, SUNG PO
IPC分类号： H01L21/66 , H01L21/677

5. 发明专利

TW201732220A 承載盤檢驗裝置审中-公开
简体标题：承载盘检验设备
公开(公告)号：TW201732220A
公开(公告)日：2017-09-16
申请号：TW105107058
申请日：2016-03-08
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：詹勳亮 , CHANG, HSUNG-LIANG , 施松柏 , SHIH, SUNG-PO , 鄭聿彣 , CHENG, YU-WEN , 李慶康 , LI, CHING-KANG , 陳約翰 , CHEN, YUEH-HAN
IPC分类号： G01B11/14 , G01B11/16
摘要：本發明係有關於一種承載盤檢驗裝置，包括一滑軌單元、二高度計以及一控制單元。滑軌單元包括有一軌道及一經由一皮帶帶動之橫移推桿，該皮帶係連接一動力源，其中，複數承載盤係依序放置於軌道上，並受橫移推桿之線性推移。二高度計分別設置於一支撐架上，提供一單點式光束對應每一承載盤之兩側端緣之上表面，用以感測承載盤之高度變化量，並透過電連接該動力源及該二高度計之控制單元，控制每一承載盤之啟動時序，使得每一承載盤可被照射一特定數量之單點式光束之量測點。藉此，可有效避免各機台誤用過度變形的承載盤，造成半導體元件翻覆、彈出或破損的情況產生。
简体摘要：本发明系有关于一种承载盘检验设备，包括一滑轨单元、二高度计以及一控制单元。滑轨单元包括有一轨道及一经由一皮带带动之横移推杆，该皮带系连接一动力源，其中，复数承载盘系依序放置于轨道上，并受横移推杆之线性推移。二高度计分别设置于一支撑架上，提供一单点式光束对应每一承载盘之两侧端缘之上表面，用以传感承载盘之高度变化量，并透过电连接该动力源及该二高度计之控制单元，控制每一承载盘之启动时序，使得每一承载盘可被照射一特定数量之单点式光束之量测点。借此，可有效避免各机台误用过度变形的承载盘，造成半导体组件翻覆、弹出或破损的情况产生。

6. 发明专利

TW201443342A 旋轉凸輪式真空切換模組审中-公开
简体标题：旋转凸轮式真空切换模块
公开(公告)号：TW201443342A
公开(公告)日：2014-11-16
申请号：TW102117026
申请日：2013-05-14
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：施松柏 , SHIH, SUNG PO
IPC分类号： F04C25/02 , F04C28/24
摘要：本發明係關於一種旋轉凸輪式真空切換模組，包括有：一管體、一中空柱體、複數機械閥以及一通氣管。管體固設有一凸輪，中空柱體套設於管體之外側，具有一基座。複數機械閥環設於基座上，每一機械閥具有與凸輪之一凸出部於徑向上相互干涉之一作動部。通氣管設置於管體內，並與每一機械閥之一入口及一真空泵相連通。藉管體或中空柱體之其一旋轉，由凸出部依序壓抵每一機械閥之作動部，進而開啟或關閉每一機械閥之一出口，而達真空切換之目的。藉凸輪機構控制複數機械閥開啟或關閉，可減少機構設計複雜度及電控設計與軟體程式的編寫修改。
简体摘要：本发明系关于一种旋转凸轮式真空切换模块，包括有：一管体、一中空柱体、复数机械阀以及一通气管。管体固设有一凸轮，中空柱体套设于管体之外侧，具有一基座。复数机械阀环设于基座上，每一机械阀具有与凸轮之一凸出部于径向上相互干涉之一作动部。通气管设置于管体内，并与每一机械阀之一入口及一真空泵相连通。藉管体或中空柱体之其一旋转，由凸出部依序压抵每一机械阀之作动部，进而打开或关闭每一机械阀之一出口，而达真空切换之目的。藉凸轮机构控制复数机械阀打开或关闭，可减少机构设计复杂度及电控设计与软件进程的编写修改。

7. 发明专利

TW201436076A 偵測裝置审中-公开
简体标题：侦测设备
公开(公告)号：TW201436076A
公开(公告)日：2014-09-16
申请号：TW102108975
申请日：2013-03-14
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：施松柏 , SHIH, SUNG PO
IPC分类号： H01L21/66 , H01L21/677
摘要：本發明係關於一種偵測裝置，包括：移動載台、複數光纖及光源感測器。移動載台包括至少一容置槽及相互連通之一主通道與至少一次通道，每一次通道對應設於每一容置槽二側，且分別由容置槽二側向外匯集連通至主通道，並延伸穿透移動載台二側壁，容置槽用以容設一晶片。複數光纖嵌埋於主通道與每一次通道上，光源感測器包括光源訊號發射端及光源訊號接收端，分別設置於移動載台之二側壁外側並對應主通道。光源訊號發射端所發射之一光源訊號，經由主通道及每一次通道連通，藉光源訊號接收端接收，用以判斷每一容置槽所容設之晶片是否正確對位。
简体摘要：本发明系关于一种侦测设备，包括：移动载台、复数光纤及光源传感器。移动载台包括至少一容置槽及相互连通之一主信道与至少一次信道，每一次信道对应设于每一容置槽二侧，且分别由容置槽二侧向外汇集连通至主信道，并延伸穿透移动载台二侧壁，容置槽用以容设一芯片。复数光纤嵌埋于主信道与每一次信道上，光源传感器包括光源信号发射端及光源信号接收端，分别设置于移动载台之二侧壁外侧并对应主信道。光源信号发射端所发射之一光源信号，经由主信道及每一次信道连通，藉光源信号接收端接收，用以判断每一容置槽所容设之芯片是否正确对位。

8. 发明专利

TW201321756A 連桿式動態測試機及使用該測試機之動態測試設備审中-公开
简体标题：连杆式动态测试机及使用该测试机之动态测试设备
公开(公告)号：TW201321756A
公开(公告)日：2013-06-01
申请号：TW102104186
申请日：2013-02-04
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：施松柏 , SHIH, SUNG PO
IPC分类号： G01P21/00
摘要：本發明係有關於一種連桿式動態測試機及使用該測試機之動態測試設備，動態測試機包括：一具有一支撐塊之承載台、一主動平台、一從動平台、一平行四連桿、一測試基座以及一驅動單元。平行四連桿之每一連桿分別藉由一樞軸樞設於支撐塊上，主動平台與從動平台樞設於平行四連桿上，且分別位於支撐塊之相對側。測試基座設於從動平台上，而驅動單元用以驅動主動平台往復運動，進而促使測試基座經由平行四連桿而往復運動。藉此，本發明於運轉時可減少噪音以及雜訊產生，且整體構造簡單可節省製造成本。
简体摘要：本发明系有关于一种连杆式动态测试机及使用该测试机之动态测试设备，动态测试机包括：一具有一支撑块之承载台、一主动平台、一从动平台、一平行四连杆、一测试基座以及一驱动单元。平行四连杆之每一连杆分别借由一枢轴枢设于支撑块上，主动平台与从动平台枢设于平行四连杆上，且分别位于支撑块之相对侧。测试基座设于从动平台上，而驱动单元用以驱动主动平台往复运动，进而促使测试基座经由平行四连杆而往复运动。借此，本发明于运转时可减少噪音以及噪声产生，且整体构造简单可节省制造成本。

9. 发明专利

TW201811643A 指紋辨識電子元件測試裝置及其測試設備审中-公开
简体标题：指纹辨识电子组件测试设备及其测试设备
公开(公告)号：TW201811643A
公开(公告)日：2018-04-01
申请号：TW105130610
申请日：2016-09-22
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：詹勳亮 , CHANG, HSUNG-LIANG , 施松柏 , SHIH, SUNG-PO , 梁居平 , LIANG, CHI-PING
IPC分类号： B65G49/07 , G06K9/24
摘要：本發明係關於一種指紋辨識電子元件測試裝置及其測試設備，指紋辨識電子元件測試裝置包括有：一指壓模組、一測試基座及一移動載台。指壓模組於垂直方向移動，包括有一驅動部、複數導電彈性壓頭及複數容置孔，驅動部驅動複數導電彈性壓頭作動，複數導電彈性壓頭與複數容置孔對應，測試基座具有複數測試凸部，複數測試凸部對應複數導電彈性壓頭，移動載台設置於指壓模組及測試基座之間，並於水平方向及垂直方向移動，包括有一檢測區及複數容置槽，複數容置槽容置複數測試凸部，藉此改善電子元件之測試效率。
简体摘要：本发明系关于一种指纹辨识电子组件测试设备及其测试设备，指纹辨识电子组件测试设备包括有：一指压模块、一测试基座及一移动载台。指压模块于垂直方向移动，包括有一驱动部、复数导电弹性压头及复数容置孔，驱动部驱动复数导电弹性压头作动，复数导电弹性压头与复数容置孔对应，测试基座具有复数测试凸部，复数测试凸部对应复数导电弹性压头，移动载台设置于指压模块及测试基座之间，并于水平方向及垂直方向移动，包括有一检测区及复数容置槽，复数容置槽容置复数测试凸部，借此改善电子组件之测试效率。

10. 发明专利

TWI588443B 承載盤檢驗裝置有权
简体标题：承载盘检验设备
公开(公告)号：TWI588443B
公开(公告)日：2017-06-21
申请号：TW105107058
申请日：2016-03-08
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：詹勳亮 , CHANG, HSUNG-LIANG , 施松柏 , SHIH, SUNG-PO , 鄭聿彣 , CHENG, YU-WEN , 李慶康 , LI, CHING-KANG , 陳約翰 , CHEN, YUEH-HAN
IPC分类号： G01B11/14 , G01B11/16

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