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1. 发明专利

TW200928376A 可調整的測試型樣結果潛伏時間 ADJUSTABLE TEST PATTERN RESULTS LATENCY 审中-公开
简体标题：可调整的测试型样结果潜伏时间 ADJUSTABLE TEST PATTERN RESULTS LATENCY
公开(公告)号：TW200928376A
公开(公告)日：2009-07-01
申请号：TW097139125
申请日：2008-10-13
申请人：泰瑞達公司 TERADYNE, INC.
发明人：麥可F 麥可迪克 MCGOLDRICK, MICHAEL F. , 威廉T 巴瑞茲 BORROZ, WILLIAM T. , 史帝芬K 安 ENG, STEPHEN K. , 大衛A 米莉 MILLEY, DAVID A.
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G11C29/10 , G01R31/31726 , G01R31/31813 , G11C29/56
摘要：一種數位測試儀器及一種測試方法提供可調整的結果潛伏時間。一數位測試儀器包括:一型樣控制器,設置以至少部分地回應於一通過/未通過結果而產生一測試型樣序列;一型樣記憶體,設置以提供該所產生之測試型樣序列至一受測單元;一型樣結果收集單元,設置以接收來自該受測單元之至少一結果値且針對至少一個所提供之測試型樣判定一通過/未通過結果;及一同步單元,設置以在一測試開始後在一預設數目之型樣循環期間提供一無結果指示至該型樣控制器,型樣循環之該預設數目係基於該測試儀器之一結果潛伏時間,且在該預設數目之型樣循環後提供通過/未通過結果至該型樣控制器。
简体摘要：一种数码测试仪器及一种测试方法提供可调整的结果潜伏时间。一数码测试仪器包括:一型样控制器,设置以至少部分地回应于一通过/未通过结果而产生一测试型样串行;一型样内存,设置以提供该所产生之测试型样串行至一受测单元;一型样结果收集单元,设置以接收来自该受测单元之至少一结果値且针对至少一个所提供之测试型样判定一通过/未通过结果;及一同步单元,设置以在一测试开始后在一默认数目之型样循环期间提供一无结果指示至该型样控制器,型样循环之该默认数目系基于该测试仪器之一结果潜伏时间,且在该默认数目之型样循环后提供通过/未通过结果至该型样控制器。

2. 发明专利

TW200921692A 用於可重配置測試器中之測試的方法 A METHOD FOR TESTING IN A RECONFIGURABLE TESTER 审中-公开
简体标题：用于可重配置测试器中之测试的方法 A METHOD FOR TESTING IN A RECONFIGURABLE TESTER
公开(公告)号：TW200921692A
公开(公告)日：2009-05-16
申请号：TW097141552
申请日：2008-10-29
申请人：泰瑞達公司 TERADYNE, INC.
发明人：喬治W 康尼 CONNER, GEORGE W.
IPC分类号： G11C
CPC分类号： G06F11/263 , G01R31/31917 , G06F11/261
摘要：在某些施行例中,提供一用於測試的方法,該方法包括了以一測試器模擬一用於一第一型態待測裝置之功能性操作環境。這包括了認知一擁有一預先決定協定的非決定性回應訊號,從該第一型態待測裝置接收該非決定性回應訊號,根據該預先決定協定確認一從該非決定性回應訊號待傳送至該第一型態待測裝置之預期刺激訊號,並且啓動該預期刺激訊號至該第一型態待測裝置之傳送。該方法進一步包括在測試該第一型態待測裝置後以該測試器模擬一用於第二型態待測裝置的功能性操作環境。
简体摘要：在某些施行例中,提供一用于测试的方法,该方法包括了以一测试器仿真一用于一第一型态待测设备之功能性操作环境。这包括了认知一拥有一预先决定协定的非决定性回应信号,从该第一型态待测设备接收该非决定性回应信号,根据该预先决定协定确认一从该非决定性回应信号待发送至该第一型态待测设备之预期刺激信号,并且启动该预期刺激信号至该第一型态待测设备之发送。该方法进一步包括在测试该第一型态待测设备后以该测试器仿真一用于第二型态待测设备的功能性操作环境。

3. 发明专利

TW200845260A 具改善線性之時序內插器 TIMING INTERPOLATOR WITH IMPROVED LINEARITY 审中-公开
简体标题：具改善线性之时序内插器 TIMING INTERPOLATOR WITH IMPROVED LINEARITY
公开(公告)号：TW200845260A
公开(公告)日：2008-11-16
申请号：TW097108429
申请日：2008-03-11
申请人：泰瑞達公司 TERADYNE, INC.
发明人：寇斯名伊歐葛 IORGA, COSMIN
IPC分类号： H01L
CPC分类号： H03K5/13 , G01R31/31922 , H03K5/131 , H03K5/133 , H03K2005/00052
摘要：一種可編程時序內插器電路係包括低輸出阻抗緩衝電路系統,其驅動一節點,該節點的電容隨著該內插器所引入的經編程延遲而變動。該低輸出阻抗緩衝電路系統接收粗略延遲訊號的子集合,並在緩衝之後將緩衝過後的粗略延遲訊號提供給精細延遲電路系統。該緩衝器可包括兩個彼此相耦接的源極隨耦器級。該第一源極隨耦器級將經接收訊號的準位往下移。該第二源極隨耦器級則將來自該第一源極隨耦器級的訊號之準位往上移。該等第一與第二源極隨耦器級都採用NMOS與PMOS技術來實施。
简体摘要：一种可编程时序内插器电路系包括低输出阻抗缓冲电路系统,其驱动一节点,该节点的电容随着该内插器所引入的经编程延迟而变动。该低输出阻抗缓冲电路系统接收粗略延迟信号的子集合,并在缓冲之后将缓冲过后的粗略延迟信号提供给精细延迟电路系统。该缓冲器可包括两个彼此相耦接的源极随耦器级。该第一源极随耦器级将经接收信号的准位往下移。该第二源极随耦器级则将来自该第一源极随耦器级的信号之准位往上移。该等第一与第二源极随耦器级都采用NMOS与PMOS技术来实施。

4. 发明专利

TW200843357A 平行且時間交錯類比至數位轉換器之錯誤減少 ERROR REDUCTION FOR PARALLEL, TIME-INTERLEAVED ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER 审中-公开
简体标题：平行且时间交错模拟至数码转换器之错误减少 ERROR REDUCTION FOR PARALLEL, TIME-INTERLEAVED ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER
公开(公告)号：TW200843357A
公开(公告)日：2008-11-01
申请号：TW096142660
申请日：2007-11-12
申请人：泰瑞達公司 TERADYNE, INC.
发明人：徐放 XU, FANG
IPC分类号： H03M
CPC分类号： G01R19/2509 , H03M1/1215
摘要：揭示一種用於在M個類比至數位轉換器(ADC)所組成之平行且時間交錯轉換器(PTIC)中減少錯誤之技術,係涉及:針對各個ADC,藉由PTIC以取樣一輸入訊號且實行M個不同的離散傅立葉變換(DFT)。M個DFT之元素係根據頻率而群組在一起且乘以修正矩陣,以產生針對PTIC之一修正、重新構成的功率頻譜。該技術在移除PTIC之個別ADC所引入的增益與相位誤差,包括隨著頻率而變化之增益與相位誤差時特別有效。
简体摘要：揭示一种用于在M个模拟至数码转换器(ADC)所组成之平行且时间交错转换器(PTIC)中减少错误之技术,系涉及:针对各个ADC,借由PTIC以采样一输入信号且实行M个不同的离散傅里叶变换(DFT)。M个DFT之元素系根据频率而群组在一起且乘以修正矩阵,以产生针对PTIC之一修正、重新构成的功率频谱。该技术在移除PTIC之个别ADC所引入的增益与相位误差,包括随着频率而变化之增益与相位误差时特别有效。

5. 发明专利

TW200841025A 電性模擬指紋感測器測試方法 ELECTRICALLY STIMULATED FINGERPRINT SENSOR TEST METHOD 审中-公开
简体标题：电性仿真指纹传感器测试方法 ELECTRICALLY STIMULATED FINGERPRINT SENSOR TEST METHOD
公开(公告)号：TW200841025A
公开(公告)日：2008-10-16
申请号：TW096146699
申请日：2007-12-07
申请人：泰瑞達公司 TERADYNE, INC.
发明人：徐放 XU, FANG
IPC分类号： G01R , G06K
CPC分类号： G06K9/0002 , G01R31/2829
摘要：用於測試一指紋感測器的系統與技術係敘述。一導電材料係被放置在該指紋感測器的一表面上方,並且係施加一電性信號給該導電材料。該電性信號係影響和該指紋感測器的第一電極與第二電極相關聯的第一電性特性。和該等第一電極與第二電極相關聯的一第二電性特性之第一測量値與第二測量値係被取得,該第二電性特性係與該第一電性特性有關。該等第一測量値與第二測量値係被分析,以判斷該指紋感測器是否具有一個或更多缺陷。
简体摘要：用于测试一指纹传感器的系统与技术系叙述。一导电材料系被放置在该指纹传感器的一表面上方,并且系施加一电性信号给该导电材料。该电性信号系影响和该指纹传感器的第一电极与第二电极相关联的第一电性特性。和该等第一电极与第二电极相关联的一第二电性特性之第一测量値与第二测量値系被取得,该第二电性特性系与该第一电性特性有关。该等第一测量値与第二测量値系被分析,以判断该指纹传感器是否具有一个或更多缺陷。

6. 发明专利

TWI309507B 具有任意頻率控制時脈之直接數位合成電路 DDS CIRCUIT WITH ARBITRARY FREQUENCY CONTROL CLOCK 有权
简体标题：具有任意频率控制时脉之直接数码合成电路 DDS CIRCUIT WITH ARBITRARY FREQUENCY CONTROL CLOCK
公开(公告)号：TWI309507B
公开(公告)日：2009-05-01
申请号：TW093139809
申请日：2004-12-21
申请人：泰瑞達公司 TERADYNE, INC.
发明人：傑森梅希爾 MESSIER, JASON
IPC分类号： H03L
CPC分类号： G06F1/0328 , H03L7/00
摘要：一種使用直接數位合成電路來產生在頻譜上純淨、敏捷的時脈之測試系統。將此時脈使用於自動測試系統的類比與數位儀器中。由於藉由系統時脈所產生的DDS時脈來計時激勵之,因此將DDS電路同步於測試器系統之時脈。透過使用會針對系統時脈而追蹤所累加相位之並聯累加器,降低所累加的相位誤差。在重合點上,將DDS累加器中所累加的相位重設為系統累加器中的數値。
简体摘要：一种使用直接数码合成电路来产生在频谱上纯净、敏捷的时脉之测试系统。将此时脉使用于自动测试系统的模拟与数码仪器中。由于借由系统时脉所产生的DDS时脉来计时激励之,因此将DDS电路同步于测试器系统之时脉。透过使用会针对系统时脉而追踪所累加相位之并联累加器,降低所累加的相位误差。在重合点上,将DDS累加器中所累加的相位重设为系统累加器中的数値。

7. 发明专利

TW200842384A 使用靜電放電保護電路的校準測試器 CALIBRATING A TESTER USING ESD PROTECTION CIRCUITRY 审中-公开
简体标题：使用静电放电保护电路的校准测试器 CALIBRATING A TESTER USING ESD PROTECTION CIRCUITRY
公开(公告)号：TW200842384A
公开(公告)日：2008-11-01
申请号：TW097108431
申请日：2008-03-11
申请人：泰瑞達公司 TERADYNE, INC.
发明人：史帝文L 后柏門 HAUPTMAN, STEVEN L.
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R35/005 , G01R31/3191
摘要：一種裝置係包括:一電路元件,其需要校準;一校準電路,用於校準該電路元件;及,一箝位二極體,可電氣連接於其包括該校準電路之一第一路徑中,且可電氣連接於其不包括該校準電路之一第二路徑中。該第一路徑係用於電氣連接該校準電路與該電路元件,且該第二路徑係用於保護該種裝置為免於靜電放電。一切換電路係運用以於該第一路徑與該第二路徑之間切換該箝位二極體。
简体摘要：一种设备系包括:一电路组件,其需要校准;一校准电路,用于校准该电路组件;及,一箝位二极管,可电气连接于其包括该校准电路之一第一路径中,且可电气连接于其不包括该校准电路之一第二路径中。该第一路径系用于电气连接该校准电路与该电路组件,且该第二路径系用于保护该种设备为免于静电放电。一切换电路系运用以于该第一路径与该第二路径之间切换该箝位二极管。

8. 发明专利

TW200839257A 於測試板間分配資料以決定測試參數 DISTRIBUTING DATA AMONG TEST BOARDS TO DETERMINE TEST PARAMETERS 审中-公开
简体标题：于测试板间分配数据以决定测试参数 DISTRIBUTING DATA AMONG TEST BOARDS TO DETERMINE TEST PARAMETERS
公开(公告)号：TW200839257A
公开(公告)日：2008-10-01
申请号：TW096147596
申请日：2007-12-13
申请人：泰瑞達公司 TERADYNE, INC.
发明人：亞歷山大希勒 ZELLNER, ALEXANDER , 傑佛瑞S 班納夫 BENAGH, JEFFREY S.
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31907 , G01R31/02 , G01R31/31905 , G09G3/006 , G09G3/3611
摘要：本發明提出一種用以測試液晶顯示器(LCD)驅動器之系統,其包含:複數個測試板,每一個皆包含複數個通道,其對應於該LCD驅動器的資料通道;一裝置介面板,其作為該等複數個測試板與該LCD驅動器間的介面;一計算裝置,其配置以與該等複數個測試板通訊;一或多個通訊滙流排,該計算裝置與該等複數個測試板係於其上通訊。該等複數個測試板中每一個皆自該LCD驅動器的資料通道接收部份測試資料,並處理該部份資料以獲得部份結果;且該等複數個測試板的每一個會與複數個測試板中其他一或多個共用決定自對應部份資料的部份結果。
简体摘要：本发明提出一种用以测试液晶显示器(LCD)驱动器之系统,其包含:复数个测试板,每一个皆包含复数个信道,其对应于该LCD驱动器的数据信道;一设备界面板,其作为该等复数个测试板与该LCD驱动器间的界面;一计算设备,其配置以与该等复数个测试板通信;一或多个通信汇流排,该计算设备与该等复数个测试板系于其上通信。该等复数个测试板中每一个皆自该LCD驱动器的数据信道接收部份测试数据,并处理该部份数据以获得部份结果;且该等复数个测试板的每一个会与复数个测试板中其他一或多个共享决定自对应部份数据的部份结果。

9. 发明专利

TW200835924A 設計以測試之微型探針 DESIGN-FOR-TEST MICRO PROBE 审中-公开
简体标题：设计以测试之微型探针 DESIGN-FOR-TEST MICRO PROBE
公开(公告)号：TW200835924A
公开(公告)日：2008-09-01
申请号：TW096146696
申请日：2007-12-07
申请人：泰瑞達公司 TERADYNE, INC.
发明人：徐放 XU, FANG
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/2884 , G01R31/318513
摘要：用於測試裝置的系統與技術,在該裝置內部具有第一與第二互連晶片,該系統與技術包含:於該裝置內部在該等第一晶片與第二晶片之間內部訊號所行進的通訊途徑中選擇地點;以及將測試探針連接至該地點。
简体摘要：用于测试设备的系统与技术,在该设备内部具有第一与第二互连芯片,该系统与技术包含:于该设备内部在该等第一芯片与第二芯片之间内部信号所行进的通信途径中选择地点;以及将测试探针连接至该地点。

10. 发明专利

TW200829939A 測試器之輸入/輸出共享 TESTER INPUT/OUTPUT SHARING 审中-公开
简体标题：测试器之输入/输出共享 TESTER INPUT/OUTPUT SHARING
公开(公告)号：TW200829939A
公开(公告)日：2008-07-16
申请号：TW096135901
申请日：2007-09-27
申请人：泰瑞達公司 TERADYNE, INC.
发明人：亞拉須貝席茲 BEHZIZ, ARASH , 葛瑞迪包德斯 BORDERS, GRADY
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31922 , G01R31/3191 , G01R31/31919 , G01R31/31937
摘要：在一種實施方式中係提供一種使用單一測試器通道測試多個待測裝置之方法,其包含以單一測試器通道提供一輸入訊號同時給予每個待測裝置。此方法進一步包含提供一時脈訊號給予每個待測裝置。提供給予每個待測裝置的時脈訊號可以是連續延遲之時脈訊號,將之提供給予連續之待測裝置。此方法包含使用時脈訊號用以在前一個待測裝置的輸出返回至一轉變前的狀態之前,致使下一個待測裝置提供一輸出轉變。此方法進一步包含響應於輸入訊號以及時脈訊號,以單一測試器通道來檢測每個待測裝置之輸出轉變。
简体摘要：在一种实施方式中系提供一种使用单一测试器信道测试多个待测设备之方法,其包含以单一测试器信道提供一输入信号同时给予每个待测设备。此方法进一步包含提供一时脉信号给予每个待测设备。提供给予每个待测设备的时脉信号可以是连续延迟之时脉信号,将之提供给予连续之待测设备。此方法包含使用时脉信号用以在前一个待测设备的输出返回至一转变前的状态之前,致使下一个待测设备提供一输出转变。此方法进一步包含响应于输入信号以及时脉信号,以单一测试器信道来检测每个待测设备之输出转变。

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