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1. 发明专利

TW200835924A 設計以測試之微型探針 DESIGN-FOR-TEST MICRO PROBE 审中-公开
简体标题：设计以测试之微型探针 DESIGN-FOR-TEST MICRO PROBE
公开(公告)号：TW200835924A
公开(公告)日：2008-09-01
申请号：TW096146696
申请日：2007-12-07
申请人：泰瑞達公司 TERADYNE, INC.
发明人：徐放 XU, FANG
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/2884 , G01R31/318513
摘要：用於測試裝置的系統與技術,在該裝置內部具有第一與第二互連晶片,該系統與技術包含:於該裝置內部在該等第一晶片與第二晶片之間內部訊號所行進的通訊途徑中選擇地點;以及將測試探針連接至該地點。
简体摘要：用于测试设备的系统与技术,在该设备内部具有第一与第二互连芯片,该系统与技术包含:于该设备内部在该等第一芯片与第二芯片之间内部信号所行进的通信途径中选择地点;以及将测试探针连接至该地点。

2. 发明专利

TW200843357A 平行且時間交錯類比至數位轉換器之錯誤減少 ERROR REDUCTION FOR PARALLEL, TIME-INTERLEAVED ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER 审中-公开
简体标题：平行且时间交错模拟至数码转换器之错误减少 ERROR REDUCTION FOR PARALLEL, TIME-INTERLEAVED ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER
公开(公告)号：TW200843357A
公开(公告)日：2008-11-01
申请号：TW096142660
申请日：2007-11-12
申请人：泰瑞達公司 TERADYNE, INC.
发明人：徐放 XU, FANG
IPC分类号： H03M
CPC分类号： G01R19/2509 , H03M1/1215
摘要：揭示一種用於在M個類比至數位轉換器(ADC)所組成之平行且時間交錯轉換器(PTIC)中減少錯誤之技術,係涉及:針對各個ADC,藉由PTIC以取樣一輸入訊號且實行M個不同的離散傅立葉變換(DFT)。M個DFT之元素係根據頻率而群組在一起且乘以修正矩陣,以產生針對PTIC之一修正、重新構成的功率頻譜。該技術在移除PTIC之個別ADC所引入的增益與相位誤差,包括隨著頻率而變化之增益與相位誤差時特別有效。
简体摘要：揭示一种用于在M个模拟至数码转换器(ADC)所组成之平行且时间交错转换器(PTIC)中减少错误之技术,系涉及:针对各个ADC,借由PTIC以采样一输入信号且实行M个不同的离散傅里叶变换(DFT)。M个DFT之元素系根据频率而群组在一起且乘以修正矩阵,以产生针对PTIC之一修正、重新构成的功率频谱。该技术在移除PTIC之个别ADC所引入的增益与相位误差,包括随着频率而变化之增益与相位误差时特别有效。

3. 发明专利

TW200841025A 電性模擬指紋感測器測試方法 ELECTRICALLY STIMULATED FINGERPRINT SENSOR TEST METHOD 审中-公开
简体标题：电性仿真指纹传感器测试方法 ELECTRICALLY STIMULATED FINGERPRINT SENSOR TEST METHOD
公开(公告)号：TW200841025A
公开(公告)日：2008-10-16
申请号：TW096146699
申请日：2007-12-07
申请人：泰瑞達公司 TERADYNE, INC.
发明人：徐放 XU, FANG
IPC分类号： G01R , G06K
CPC分类号： G06K9/0002 , G01R31/2829
摘要：用於測試一指紋感測器的系統與技術係敘述。一導電材料係被放置在該指紋感測器的一表面上方,並且係施加一電性信號給該導電材料。該電性信號係影響和該指紋感測器的第一電極與第二電極相關聯的第一電性特性。和該等第一電極與第二電極相關聯的一第二電性特性之第一測量値與第二測量値係被取得,該第二電性特性係與該第一電性特性有關。該等第一測量値與第二測量値係被分析,以判斷該指紋感測器是否具有一個或更多缺陷。
简体摘要：用于测试一指纹传感器的系统与技术系叙述。一导电材料系被放置在该指纹传感器的一表面上方,并且系施加一电性信号给该导电材料。该电性信号系影响和该指纹传感器的第一电极与第二电极相关联的第一电性特性。和该等第一电极与第二电极相关联的一第二电性特性之第一测量値与第二测量値系被取得,该第二电性特性系与该第一电性特性有关。该等第一测量値与第二测量値系被分析,以判断该指纹传感器是否具有一个或更多缺陷。

4. 发明专利

TW200903272A 用於儀器與測量之剩餘傅立葉填補內插法 RESIDUAL FOURIER-PADDING INTERPOLATION FOR INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT 审中-公开
简体标题：用于仪器与测量之剩余傅里叶填补内插法 RESIDUAL FOURIER-PADDING INTERPOLATION FOR INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
公开(公告)号：TW200903272A
公开(公告)日：2009-01-16
申请号：TW097107295
申请日：2008-03-03
申请人：泰瑞達公司 TERADYNE, INC.
发明人：徐放 XU, FANG
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G06F17/141 , H03M1/1085 , H03M1/12
摘要：本發明提出一種技術,其係用以將樣本數列內插,其包含建構一種數列的數學模型,描述其大信號特性。原始數列減去該模型以獲得一剩餘。對該剩餘做離散傅立葉轉換(DFT),且將該DFT補零。經填補結果的離散傅立葉反轉換會產生一內插剩餘,接著會加回到該數學模型以建構樣本數列的內插形式。利用此技術,通常可獲得精確的內插,即使是樣本數列並非同調取樣。
简体摘要：本发明提出一种技术,其系用以将样本数列内插,其包含建构一种数列的数学模型,描述其大信号特性。原始数列减去该模型以获得一剩余。对该剩余做离散傅里叶转换(DFT),且将该DFT补零。经填补结果的离散傅里叶反转换会产生一内插剩余,接着会加回到该数学模型以建构样本数列的内插形式。利用此技术,通常可获得精确的内插,即使是样本数列并非同调采样。

5. 发明专利

TW200830724A 利用雙轉換器及交錯頻譜的信號分析 SIGNAL ANALYSIS USING DUAL CONVERTERS AND CROSS SPECTRUM 审中-公开
简体标题：利用双转换器及交错频谱的信号分析 SIGNAL ANALYSIS USING DUAL CONVERTERS AND CROSS SPECTRUM
公开(公告)号：TW200830724A
公开(公告)日：2008-07-16
申请号：TW096130670
申请日：2007-08-20
申请人：泰瑞達公司 TERADYNE, INC.
发明人：徐放 XU, FANG
IPC分类号： H03M
CPC分类号： G01R23/16
摘要：一種用於檢查一類比信號之頻率成分之技術包括:利用定時於相同速率下但相對於彼此偏置一延遲的兩個類比數位轉換器對該類比信號進行取樣。該技術包括計算一個轉換器之輸出相對於另一轉換器之輸出的一交錯頻譜。由於該等轉換器之間的該延遲,該類比信號之不同頻率表示為該交錯頻譜中之不同相位,從而允許推斷出輸入頻率。
简体摘要：一种用于检查一模拟信号之频率成分之技术包括:利用定时于相同速率下但相对于彼此偏置一延迟的两个模拟数码转换器对该模拟信号进行采样。该技术包括计算一个转换器之输出相对于另一转换器之输出的一交错频谱。由于该等转换器之间的该延迟,该模拟信号之不同频率表示为该交错频谱中之不同相位,从而允许推断出输入频率。

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