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    • 45. 发明专利
    • 用於控制離子能量分佈的方法和裝置 METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING ION ENERGY DISTRIBUTION
    • 用于控制离子能量分布的方法和设备 METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING ION ENERGY DISTRIBUTION
    • TW201116166A
    • 2011-05-01
    • TW099113815
    • 2010-04-30
    • 先驅能源工業公司
    • 黑克曼 藍迪布羅克 維克多
    • H05HH01LC23C
    • H01J37/32045C23C14/54H01J37/32009H01J37/32082H01J37/32174H01J37/32935H01J37/3299
    • 揭示用於調節一電漿腔室中之離子能量之系統、方法及裝置。一例示性系統包括一離子能量控制部分,且該離子能量控制部分回應於指示轟擊一基板之一表面的離子之能量之一所要分佈之至少一離子能量設定提供至少一離子能量控制信號。一控制器耦接至開關模式電源供應器,且該控制器提供至少兩個驅動控制信號。此外,一開關模式電源供應器耦接至基板支撐件、該離子能量控制部分及該控制器。該開關模式電源供應器包括開關組件,該等開關組件經組態以回應於該等驅動信號及該離子能量控制信號將電力施加至該基板以便實現轟擊該基板之該表面的離子之該等能量之該所要分佈。
    • 揭示用于调节一等离子腔室中之离子能量之系统、方法及设备。一例示性系统包括一离子能量控制部分,且该离子能量控制部分回应于指示轰击一基板之一表面的离子之能量之一所要分布之至少一离子能量设置提供至少一离子能量控制信号。一控制器耦接至开关模式电源供应器,且该控制器提供至少两个驱动控制信号。此外,一开关模式电源供应器耦接至基板支撑件、该离子能量控制部分及该控制器。该开关模式电源供应器包括开关组件,该等开关组件经组态以回应于该等驱动信号及该离子能量控制信号将电力施加至该基板以便实现轰击该基板之该表面的离子之该等能量之该所要分布。
    • 48. 发明专利
    • 製程處理室中陰極之RF接地 RF GROUNDING OF CATHODE IN PROCESS CHAMBER
    • 制程处理室中阴极之RF接地 RF GROUNDING OF CATHODE IN PROCESS CHAMBER
    • TW201001533A
    • 2010-01-01
    • TW098113783
    • 2005-07-27
    • 應用材料股份有限公司
    • 懷特約翰M泰內羅賓L朴範洙白隆尼根溫德T
    • H01LH05H
    • H01J37/32082H01J37/32174
    • 一種用以於一製程處理室壁以及一基材支撐件間提供一短RF電流返回電流路徑之設備。該RF接地設備為RF接地並位於基材傳送埠之上,其僅於基材製程期間(例如沉積)與基材支撐件形成電性接觸,以提供RF電流返回電流路徑。該RF接地設備之一實施例至少包含一或多個低阻抗可彎曲幕狀物,其可電性連接至該接地處理室壁,並接至一或多個低阻抗檔體,其於基材製程期間可與該基材支撐件接觸。該RF接地設備之另一實施例包含數個低阻抗可彎曲條體,其可電性連接至該接地處理室壁,並接至一或多個低阻抗檔體,其於基材製程期間可與基材支撐件接觸。該RF接地設備之另一實施例包含數個探針,其可電性連接至該接地處理室壁或由其他裝置作接地,以及數個附有探針之致動器。該等致動器可移動探針以於基材製程期間電性接觸該基材支撐件。
    • 一种用以于一制程处理室壁以及一基材支撑件间提供一短RF电流返回电流路径之设备。该RF接地设备为RF接地并位于基材发送端口之上,其仅于基材制程期间(例如沉积)与基材支撑件形成电性接触,以提供RF电流返回电流路径。该RF接地设备之一实施例至少包含一或多个低阻抗可弯曲幕状物,其可电性连接至该接地处理室壁,并接至一或多个低阻抗档体,其于基材制程期间可与该基材支撑件接触。该RF接地设备之另一实施例包含数个低阻抗可弯曲条体,其可电性连接至该接地处理室壁,并接至一或多个低阻抗档体,其于基材制程期间可与基材支撑件接触。该RF接地设备之另一实施例包含数个探针,其可电性连接至该接地处理室壁或由其他设备作接地,以及数个附有探针之致动器。该等致动器可移动探针以于基材制程期间电性接触该基材支撑件。