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    • 4. 发明公开
    • 정합라인 감지 회로 및 방법
    • 정합라인감지회로및방법
    • KR1020030014210A
    • 2003-02-15
    • KR1020027014623
    • 2001-05-01
    • 컨버전트 인텔렉츄얼 프로퍼티 매니지먼트 인코포레이티드
    • 마,스탠리,제-천마,피터,피.라인스,발레리에길링햄,피터맥켄지,로버트아메드,압둘라
    • G11C15/00
    • G11C7/06G11C15/04G11C15/043
    • CAM 어레이의 정합라인에서 상승 전압을 검출하기 위한 정합라인 감지 회로가 개시되며, 이 회로는 전류를 정합라인에 공급하고 정합라인의 전압을 상승시키기 위하여 전류 소스를 턴 온(turn on)하기 전에 정합라인을 먼저 그라운드(ground)로 프리챠지한다. 전류 전원이 미리 정해진 시간동안 턴 온 상태가 유지되도록 레퍼런스 정합라인 감지 회로가 자기-시간(self-timed) 제어 신호를 발생시킨다. 전류 소스가 턴 오프되고 정합라인이 그라운드로 프리챠지 된 후에 정합라인에서 감지된 데이터가 래치된다(latched). 본 발명의 정합라인 감지 회로가 정합라인을 전원 전압, VDD, 대신에 그라운드로 프리챠지하기 때문에 더 적은 전력이 소모된다. 하나의 n 채널 트랜지스터 임계 전위까지의 정합라인 전압의 상승을 감지함에 의해, 정합라인 감지 동작 속도가 증가된다.
    • 公开了用于检测CAM阵列的匹配线上的上升电压的匹配线感测电路。 在开启电流源以向匹配线提供电流并提高匹配线的电压之前,该电路首先将匹配线预充电至地。 参考匹配线检测电路产生自定时控制信号以保持电流源接通预定的持续时间。 在关闭电流源并将匹配线预充至地之后,锁存匹配线上的感测数据。 因为本发明的匹配线检测电路将匹配线预充电至地电位而不是电源电压VDD,所以消耗较少的功率。 通过检测匹配电压到n沟道晶体管阈值电位的上升,匹配线检测操作速度增加。
    • 5. 发明公开
    • 반도체 장치 및 그 검사 방법
    • 半导体器件及其测试方法
    • KR1020020077016A
    • 2002-10-11
    • KR1020010062589
    • 2001-10-11
    • 후지쯔 가부시끼가이샤
    • 에마타이지
    • G11C15/04
    • G11C15/043H01L27/108
    • PURPOSE: To provide a semiconductor device which can efficiently drive a circuit in which the accumulation electrode of a capacitor is connected to a gate terminal of a transistor. CONSTITUTION: Each of a plurality of cells arranged on the surface of a semiconductor substrate comprises a first transistor and a second transistor. The second current terminal of the first transistor is connected to the gate terminal of the second transistor, a bit line is connected to the first current terminal of the first transistor, and a word line is connected to the gate terminal. A first wiring line is connected to the first current terminal side of the second transistor, and a second wiring line is connected to the second current terminal side. Bit lines are set to either of a first voltage state or a second voltage state of which voltage is higher than the first voltage. Voltage being higher than the first voltage and lower than the second voltage is applied to the first wiring line. A voltage detecting circuit detects voltage appearing on the second wiring line.
    • 目的:提供一种半导体器件,其可以有效地驱动电容器的累积电极连接到晶体管的栅极端子的电路。 构成:布置在半导体衬底的表面上的多个单元中的每一个包括第一晶体管和第二晶体管。 第一晶体管的第二电流端子连接到第二晶体管的栅极端子,位线连接到第一晶体管的第一电流端子,字线连接到栅极端子。 第一布线与第二晶体管的第一电流端侧连接,第二布线与第二电流端侧连接。 位线被设置为电压高于第一电压的第一电压状态或第二电压状态。 高于第一电压并且低于第二电压的电压施加到第一布线。 电压检测电路检测出现在第二布线上的电压。
    • 10. 发明授权
    • 반도체 기억장치
    • 具有内置缓存的半导体存储器
    • KR100263868B1
    • 2000-08-16
    • KR1019940040219
    • 1994-12-30
    • 오끼 덴끼 고오교 가부시끼가이샤
    • 다나까야스히로다나베데쓰야다노이사또루
    • G11C11/407
    • G11C7/106G06F12/0893G11C7/1006G11C7/1051G11C7/1078G11C11/4096G11C15/04G11C15/043G11C2207/2245
    • [목적]
      고속화가 가능하며, 리프레시 동작시에도 정보를 유지해 두는 것이 가능한 반도체 기억장치를 제공한다.
      [구성]
      센스노드 등화회로(40i)를 활성화한 후, 지연회로(60)에 의한 소정의 지연후, 센스 증폭기 구동노드 등화회로(50)를 활성화한다.
      이로써, 센스 증폭기 구동노드(P1, N1)가 전원으로 부터 분리된 후에 이 노드(P1, N1)에 남는 전하를 이용하여 센스노드쌍(Sai/Sbi)의 이퀄라이즈가 가속된다. 선택신호, 스위치 제어신호, 기억소자 제어신호 및 센스 증폭기 활성화 신호를 출력하는 로우 어드레스 기억장치(105)와, 선택신호에 응답하여 워드선을 선택하는 로우 디코더(107)와 메모리 셀 어레이(109)와, 센스 증폭기 활성화 신호에 응답하여 동작하는 센스 증폭기(119)와, 비트선의 1조와 1조의 센스권과의 사이에 배설되고, 스위치 제어신호에 응답하여 이것을 접속하는 스위치 수단(113)과, 제1 단자가 상기 1조의 센스선의 적어도 한쪽에 접속되고, 기억소자 제어신호 및 리프레시 사이클 검출신호에 응답하여 온/오프 동작하는 기억소자용 스위치 수단(SSW1)과, 기억소자용 스위치 수단의 제2단자에 접속되어 센스선에 나타나는 전위를 기억하는 기억소자(SC1)를 갖는 반도체 기억장치.