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21. 发明授权

KR101816584B1 ORVIS/VISAR 장치 및 그 정렬 방법 有权
标题翻译： ORVIS / VISAR设备及其对齐方法
公开(公告)号：KR101816584B1
公开(公告)日：2018-02-21
申请号：KR1020160082813
申请日：2016-06-30
申请人： 한국원자력연구원
发明人： 임창환 , 한재민 , 남성모 , 하성용 , 김민석
IPC分类号： G02B27/09 , G01J1/04
CPC分类号： G02B27/0905 , G01J1/0414
摘要： 본발명에따른 ORVIS/VISAR 장치는, 입사광의진행경로에배치되고, 상기입사광을투과광및 반사광으로분할시키는광 분할기; 상기투과광이진행되는방향으로상기광 분할기로부터이격되어배치되고, 상기투과광의적어도일부를반사시키는반사경; 및상기광 분할기와상기반사경사이에배치되어상기투과광의경로또는위상을변화시키는광 지연기를포함하며, 상기광 분할기는기설정된두께로형성되어상기투과광을상기입사광으로부터수평이동시킨다. 이에따르면, 상기광 지연기를통과한투과광과상기반사광을합성시킬때 발생되는간섭신호는상기수평이동된수평이동거리로부터계산되는광 경로차이에의하여결정되고, 구성요소의정렬이정확하고간편하게이루어질수 있다.
摘要翻译：根据本发明的ORVIS / VISAR设备包括：分光器，其设置在入射光的行进路径中并将入射光分成透射光和反射光; 一个反射镜，沿着透射光前进的方向与分光器分开设置并反射至少一部分透射光; 并设置在分束器之间，并且所述反射器包括改变所述路径，或透射的光的相位的光延迟，分束器被形成为预定的厚度，以从入射光水平移动到透射光。因此，合成的透射光及反射光通过光学延迟时产生的干扰信号是由从水平移动距离移动计算出的光程差确定的水平，用于对准被精确地实现，并容易地，元件。

22. 发明公开

KR1020170095902A 렌즈 구동장치, 카메라 모듈, 및 카메라 탑재 장치 审中-实审
标题翻译：镜头驱动装置，照相机模块和照相机安装装置
公开(公告)号：KR1020170095902A
公开(公告)日：2017-08-23
申请号：KR1020177017563
申请日：2015-12-24
申请人： 미쓰미덴기가부시기가이샤
发明人： 사토요시아키 , 오사카도모히코 , 고바야시노리유키 , 혼마도시히코
IPC分类号： G02B7/08 , H04N5/225 , H04N5/232
CPC分类号： G02B7/102 , G01J1/0414 , G02B7/04 , G02B7/08 , G02B7/09 , G02B7/28 , H04N5/2253 , H04N5/2256 , H04N5/232 , H04N5/2254 , H04N5/2257 , H04N5/23212
摘要： 렌즈구동장치는, 오토포커스용코일부와오토포커스용마그넷부로구성되는보이스코일모터의구동력을이용하여, 오토포커스고정부에대해서오토포커스가동부를광축방향으로이동시킴으로써자동적으로핀트맞추기를행한다. 오토포커스가동부에대해서광축방향결상측으로이간하여배치되어, 오토포커스가동부를향하여빛을출사(出射)함과동시에, 오토포커스가동부에서반사한반사광을수광하여, 수광강도에기초하여오토포커스가동부의광축방향의위치를검출하는위치검출부를구비한다. 오토포커스가동부와함께변위하는부재의일부가, 위치검출부로부터출사된빛을반사하는반사판으로서기능한다.
摘要翻译：透镜驱动装置通过利用由自动聚焦部分和自动聚焦磁体部分构成的音圈马达的驱动力沿着光轴方向相对于自动聚焦固定部分移动自动聚焦来自动执行聚焦。自动聚焦被布置为在光轴方向上在光轴上形成图像，使得自动聚焦朝向东部发射光并且基于接收到的光强度接收由自动聚焦反射的反射光，以及位置检测部分，用于检测可动部分在光轴方向上的位置。被自动对焦功能置换的部件的一部分作为反射从位置检测单元发射的光的反射器。

23. 发明公开

KR1020170095157A 센서 디바이스를 제작하는 방법 审中-实审
标题翻译：如何制作传感器设备
公开(公告)号：KR1020170095157A
公开(公告)日：2017-08-22
申请号：KR1020170018976
申请日：2017-02-10
申请人： 비아비 솔루션즈 아이엔씨.
发明人： 오큰푸스조지제이.
IPC分类号： H01L27/146 , H01L27/148
CPC分类号： G01J1/0414 , G01J1/0488 , G01J1/0492 , G01J3/0256 , G01J3/26 , G01J2003/1226 , G01J2003/2806 , H01L27/14605 , H01L27/1462 , H01L27/14625 , H01L27/1464 , H01L27/14685
摘要： 예에따르면, 제1 미러층이기판상에형성될수 있다. 제1 세트의스페이서층들은제1 그룹의감지요소들위에위치될제1 미러층상에증착될수 있으며제2 세트의스페이서층들은제2 그룹의감지요소들위에위치될제1 미러층상에증착될수 있고, 여기에서제2 세트의스페이서층들은제1 세트의스페이서층들과는와는상이하다. 또한, 제2 미러층은증착된제1 세트의스페이서층들및 증착된제2 세트의스페이서층들위에형성될수 있다.
摘要翻译：根据该例子，它可以作为第一镜层形成在板上。的可以是间隔层可以在第一反射层上沉积设置在第一组，第二组的第一组的该间隔层中的所述感测元件上方被沉积在第一镜面层上被定位在检测所述第二组元件的其中第二组间隔层不同于第一组间隔层。第二镜层也可以形成在沉积的第一组间隔层和沉积的第二组间隔层上。

24. 发明公开

KR1020160062729A 튜닝식 광-검출기 장치 审中-实审
标题翻译： TUNABLE光电探测器
公开(公告)号：KR1020160062729A
公开(公告)日：2016-06-02
申请号：KR1020150165733
申请日：2015-11-25
申请人： 헤라우스 노블라이트 아메리카 엘엘씨
发明人： 케이트,앤드류헬름스 , 티모시,앨런돔브코브스키 , 제임스,로버트엘리어트
IPC分类号： G01J1/42 , G01J1/04
CPC分类号： G01J1/429 , B05D3/061 , G01J1/0271 , G01J1/0403 , G01J1/0414 , G01J1/0437 , G01J1/0448 , G01J1/0462
摘要： 광-검출기장치는바닥표면을가진기판을포함할수 있다. 광-검출기장치는기판의바닥표면에고정된포토셀을추가로포함할수 있다. 광-검출기장치는포토셀을둘러싸기위해기판의바닥표면에고정된상측부분을가진금속성블록을추가로포함할수 있으며, 개구가금속성블록안에형성되어금속성블록의상측부분으로부터금속성블록의바닥표면으로연장되고광이금속성블록을통해포토셀로이동하는구멍이형성된다. 광-검출기장치는구멍의개방영역을변경시키기위해금속성블록내에삽입될수 있는부재를추가로포함할수 있다.
摘要翻译：光检测器装置可以包括具有底表面的基底。光电检测器件还可以包括固定在基底的底表面中的光电池。光检测器装置还可以包括金属块，其具有固定在基板的底表面中的顶部以包围光电池。在金属块内部形成开口，并且从金属块的顶部延伸到金属块的底表面以形成光，其中光通过金属块移动到光电池。光检测器装置还可以包括可插入金属块内部以改变孔的开口面积的构件。

25. 发明公开

KR1020160042866A 조명 장치 审中-实审
标题翻译：照明装置
公开(公告)号：KR1020160042866A
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：KR1020167000517
申请日：2014-07-30
申请人： 가부시키가이샤 오크세이사쿠쇼
发明人： 후지모리,아키요시 , 혼다,토모히코
IPC分类号： G01J1/42 , G01J1/04 , G01J1/08 , G01J1/16 , G03F7/20 , H05B37/02
CPC分类号： G01J1/0411 , G01J1/0414 , G01J1/08 , G01J1/16 , G03F7/70016 , G03F7/7005 , G03F7/7085 , H05B37/0245
摘要： 조명장치는, 조명광을각각발광하는복수의광원과, 조명광학계와피조사영역사이에배치되어, 복수의광원에의한전체조명광의조도/강도를검출하는광 검출부와, 복수의광원각각에대해, 발광제어를수행하는조명제어부를갖추고, 조명제어부가, 복수의광원으로부터, 복수의광원에대응한각각다른주파수에따라조도/강도가변동하는계측조명광을, 각각발광시키고, 광검출부가, 각각다른주파수에근거해, 각광원의계측조명광을중첩한전체계측조명광으로부터, 각광원의변동분을포함하지않는조명광의조도/강도를얻는다.

26. 发明公开

KR1020160024835A 측광방법, 장치, 프로그램 및 기록매체 审中-实审
标题翻译：计量方法和装置
公开(公告)号：KR1020160024835A
公开(公告)日：2016-03-07
申请号：KR1020157001261
申请日：2014-11-19
申请人： 시아오미 아이엔씨.
发明人： 친,치우핑 , 장,타오 , 리우,린
IPC分类号： G01J1/04
CPC分类号： H04N5/23293 , G06K9/342 , G06T7/11 , G06T2207/10024 , G06T2207/20101 , G06T2207/30196 , H04N5/23216 , H04N5/2351 , G01J1/0414
摘要： 본발명은측광방법및 장치에관한것이다. 여기서, 측광방법은, 사용자가입력한측광영역에위치하는터치점을획득하는단계와; 터치스크린상에표시되는전체화상중, 상기터치점을포함하는초기측광영역을결정하는단계와; 상기초기측광영역에포함되는화상을분할하여측광할필요가없는배경영역과상기터치점을포함하는최종적으로측광영역으로하는목표영역을분할하는단계와; 상기목표영역내의화상점을측광하는단계를포함한다. 본발명을통해측광의정확성을향상시킬수 있다.
摘要翻译：本发明涉及一种测光方法和装置。测光方法包括：获取（201）由用户输入并位于测光区域中的触摸屏点; 确定（202）包括在触摸屏上显示的整个图像中的触摸屏点的初始测光区域; 将包括在初始测光区域中的图像分割（203）到没有测光的背景区域和包括触摸屏点的对象区域，并最终用作测光区域; 以及在物体区域内测光（204）图像点。

27. 发明公开

KR1020150014370A 고강도의 광빔을 측정하는 시스템 및 방법 审中-实审
标题翻译：用于测量高强度光束的系统和方法
公开(公告)号：KR1020150014370A
公开(公告)日：2015-02-06
申请号：KR1020140086894
申请日：2014-07-10
申请人： 울트라테크 인크.
发明人： 아니키트체프세르게이 , 게인즈데이비드
IPC分类号： G01J1/04 , G01J1/10 , G02B1/11
CPC分类号： G01J1/0407 , G01J1/0414 , G01J1/0477 , G01J1/4257 , G01J2001/0481 , G01J2001/4261 , G02B5/04 , G02B27/108
摘要： 광빔의 강도 특성을 측정하는 시스템 및 방법이 개시된다. 본 발명의 방법은, 2개의 투명한 판에 의해 끼여 있는 얇은 프리즘을 포함하는 프리즘 어셈블리 안으로 광빔을 조향하는 단계; 광빔의 일부를 내부 전반사에 의해 통합 구체로 반사하고, 광빔의 나머지 부분을 2개의 투명한 판을 통과하여 빔 덤프로 전송하는 단계를 포함한다. 또한 이 방법은, 통합 구체에 의해 캡처된 상기 광빔의 일부를 검출하는 단계; 및 검출된 광빔으로부터 광빔의 강도 특성을 결정하는 단계를 포함한다.
摘要翻译：公开了一种用于测量可用于包括半导体衬底的热处理的多次熔化的光束的强度特性的系统和方法。本发明的方法包括以下步骤：将光束引入棱镜组件，棱镜组件包括夹在两个透明板之间的薄棱镜; 并且通过全内反射将光束的一部分反射到一体的球体，并将光束的剩余部分穿过两个透明板传输到光束转台。该方法还包括以下步骤：检测由积分球俘获的光束的一部分; 以及从所检测的光束确定强度特性。

28. 发明公开

KR1020130121896A 레이저 특성화 처리 시스템 및 방법 无效
标题翻译：激光特性系统与工艺
公开(公告)号：KR1020130121896A
公开(公告)日：2013-11-06
申请号：KR1020137016836
申请日：2011-12-01
申请人： 코닝 인코포레이티드
发明人： 왕,인 , 위소키,제라드,피. , 시에,펭 , 자,청-은
IPC分类号： H01S3/1055 , H01S3/101
CPC分类号： H01S5/0042 , B82Y20/00 , G01J1/0403 , G01J1/0407 , G01J1/0414 , G01J3/021 , G01J3/1804 , G01J2001/4247 , G01R31/2635 , H01S5/141 , H01S5/3401
摘要： 본 발명은 반도체 웨이퍼로부터 분리되는 반도체 바 상의 복수의 외부 캐비티 반도체 레이저 칩들을 자동으로 특성화 처리하는 시스템 및 방법에 관한 것이다. 상기 시스템은 회절 각도 범위를 통해 회절 격자를 회전시키는 회전 스테이지 상에 장착된 회절 격자; 회절 격자의 표면과 수직으로 배향되고 회전 스테이지 상에 장착된 조정 미러; 레이저 분석기; 및 레이저 바 위치 선정 스테이지를 포함한다. 위치 선정 스테이지는 상기 스테이지 상의 레이저 바의 레이저 칩 각각을 한번에 한 칩씩 회절 격자와 정렬시키기 위해 자동으로 이동하고, 그 결과, 레이저 바의 레이저 칩으로부터 발광된 레이저 빔의 일부는 레이저 방출을 잠그기 위해 격자의 제 1 차 회절에 의해 동일한 레이저 칩으로 다시 반사되고, 조정 미러에 의해 반사된 나머지 레이저 빔은 레이저 분석기에 의해 수신되고 특성화 처리된다. 각각의 레이저 운송에 있어서, 회전 스테이지는 레이저 칩에 의해 방출된 레이저 빔에 대해 회절 각도 범위를 통하여 회절 격자를 회전시키기 위해 자동으로 회전되고, 레이저 분석기는 스펙트럼, 파워 또는 공간 모드 등의 레이저 광학 속성을 각각의 회절 각도에서 자동으로 특성화 처리한다.

29. 发明公开

KR1020120066048A 무작위 편광의 전력을 모니터링하기 위한 조립체 无效
标题翻译：用于监测随机偏振光的功率的组件
公开(公告)号：KR1020120066048A
公开(公告)日：2012-06-21
申请号：KR1020127010041
申请日：2010-10-18
申请人： 아이피지 포토닉스 코포레이션
发明人： 마민알렉세이엠 , 즈예프블라디미르
IPC分类号： G01J4/00 , G01J1/04
CPC分类号： G01J1/22 , G01J1/04 , G01J1/0414 , G01J1/0429 , G01J1/4257
摘要： 무작위 편광 빔을 측정하기 위한 유닛은, 서로 대면하는 각각의 반사 표면들을 갖고 제 1 빔 스플리터 상에 입사되는 무작위 편광 빔의 일부분을 순차적으로 반사하도록 구성된, 이격된 제 1 및 제 2 빔 스플리터를 갖도록 구성된다. 빔 스플리터들은, 제 2 빔 스플리터로부터 반사된 출력 빔이 무작위 편광 빔의 편광 상태와 독립적인 전력을 갖도록, 치수와 형상을 갖는다.

30. 发明授权

KR101756857B1 빔 집속 및 빔 집광 광학장치 有权
公开(公告)号：KR101756857B1
公开(公告)日：2017-07-11
申请号：KR1020167006664
申请日：2015-01-20
申请人： 제이.에이. 울램 컴퍼니, 인코퍼레이티드
发明人： 리파드,마틴,엠. , 헤일,제프리,에스. , 허,핑 , 파이퍼,게일런,엘.
IPC分类号： G01J4/04 , G01J1/04 , G01J4/00 , G02B19/00
CPC分类号： G02B17/0621 , G01J1/0411 , G01J1/0414 , G01J4/00 , G01J4/04 , G01N21/21 , G02B19/0023 , G02B19/0076 , G02B27/0012 , G02B27/286
摘要： 빔반사표면들을갖는볼록미러(M3) 및오목미러(M4) 모두의존재를바람직하게는요구하는반사광학장치시스템(RFO)에관한것으로, 이시스템의사용은관여하는다양한미러들(M1)(M2)(M3)(M4)로의입사각들및 이로부터의반사각들의조절에기초하여서입사빔의편광상태에대한영향을최소화하면서, (입사빔(IB)의궤적과는상이한궤적을따를수 있는) 샘플상으로의전자기방사선의빔의집속을달성한다.

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