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2. 发明专利

JPWO2014054741A1 走査型トンネル顕微鏡および観察画像表示方法有权
标题翻译：扫描隧道显微镜和观察图像显示方法
公开(公告)号：JPWO2014054741A1
公开(公告)日：2016-08-25
申请号：JP2014511006
申请日：2013-10-03
申请人：国立研究開発法人科学技術振興機構
发明人：彰齋藤 , 彰齋藤
IPC分类号： G01Q30/04 , G01B7/00 , G01Q60/10
CPC分类号： G01Q60/12 , G01Q30/04
摘要：走査型トンネル顕微鏡は、探針と、探針と試料との間の距離を制御する制御部と、探針と試料との間に直流電圧を印加する電圧印加部と、直流電圧によって探針と試料との間に流れるトンネル電流を計測する計測部と、計測部により計測されたトンネル電流の瞬時値のうち特定の周波数成分を観察値として抽出する抽出部と、抽出部により抽出された観察値に基づいて、試料の表面の化学状態および内部構造のいずれか少なくとも一つに関する情報を含む観察情報を生成する観察情報生成部とを備える。
摘要翻译：扫描隧道显微镜，探针，和用于由DC电压来控制探针和样品，并为探针和样品之间施加直流电压的电压施加部，和探针之间的距离的控制单元一个测量单元，用于测量所述样品提取部分和由所述提取单元提取，观测值之间流动的隧道电流提取物作为由测量部隧道电流测量的瞬时值的特定频率分量的观测值基于，和用于产生观测信息包括关于化学状态中的至少一个信息和所述样品的表面的内部结构的观察信息生成单元。

3. 发明专利

JP5724138B2 異方性表面の拡散テンソルまたは表面エネルギーの異方性を測定する方法有权
标题翻译：测量各向异性表面的各向异性扩散张量或表面能的方法
公开(公告)号：JP5724138B2
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：JP2009110242
申请日：2009-04-30
申请人：コミシリアアレネルジアトミックエオエナジーズオルタネティヴズ
发明人：フランソワ、ドクレシィ , ジャン−シャルル、バルブ , ダニエル、ジラルド−モント
IPC分类号： G01N13/00 , G01Q30/04 , G01Q60/24
CPC分类号： G01Q30/04 , B82Y35/00 , C30B31/04

4. 发明专利

JP2014203665A 電極材料の定量化方法および定量化装置审中-公开
标题翻译：电极材料定量的方法和装置
公开(公告)号：JP2014203665A
公开(公告)日：2014-10-27
申请号：JP2013078834
申请日：2013-04-04
申请人：本田技研工業株式会社 , Honda Motor Co Ltd
发明人： MATSUBARA TAKESHI
IPC分类号： H01M4/04
CPC分类号： G01Q60/30 , B82Y35/00 , G01Q30/04
摘要：【課題】電極材料の分布を定量的に解析することができる電極材料の定量化方法を提供する。【解決手段】電極中の材料の分布の情報を得る材料分布取得工程と、電極中の抵抗の分布の情報を得る抵抗分布取得工程と、材料の分布の情報と抵抗の分布の情報から散布図を作成する散布図作成工程と、散布図を複数の領域に分割する分割工程と、分割された領域に基づき電極を構成する材料の定量化を行う定量化工程とを備えた。【選択図】なし
摘要翻译：要解决的问题：提供一种定量分析电极材料分布的电极材料的方法。解决方案：一种用于电极材料定量的方法包括：材料分布获取步骤，用于获得关于材料分布的信息在电极中电阻分布获取步骤，用于获得关于电极中电阻分布的信息; 散布图创建步骤，用于根据关于材料分布的信息和关于电阻分布的信息创建散点图; 分散步骤，用于将散点图划分成多个区域; 以及用于基于分割区域量化构成电极的材料的定量步骤。

5. 发明专利

JP4834817B2 Interaction force measurement method using an atomic force microscope and an atomic force microscope 有权
公开(公告)号：JP4834817B2
公开(公告)日：2011-12-14
申请号：JP2008554000
申请日：2008-01-07
申请人：国立大学法人大阪大学 , 株式会社島津製作所
发明人：クスタンセオスカル , 昌弘大田 , 範昭大藪 , 宜昭杉本 , 清三森田 , 真之阿部
IPC分类号： G01Q10/04 , G01Q30/04 , G01Q60/32
CPC分类号： G01Q60/32 , G01Q30/04 , Y10S977/863
摘要： A frequency shift &Dgr;f obtained by an FM-AFM can be expressed by a simple linear coupling of a &Dgr;fLR derived from a long-range interaction force and a &Dgr;fSR derived from a short-range interaction force. Given this factor, a &Dgr;f curve on an atomic defect and a &Dgr;f curve on a target atom on the sample surface are each measured for only a relatively short range scale (S1 and S2), and a difference &Dgr;f curve of those two curves is obtained (S3). Since the difference &Dgr;f curve is derived only from a short-range interaction force, a known conversion operation is applied to this curve obtain an F curve which illustrates the relationship between the force and the distance Z, and then the short-range interaction force on the target atom is obtained from the F curve (S4). Since the range scale in measuring the &Dgr;f curve can be narrowed, the measurement time can be shortened, and since the conversion from the &Dgr;f curve into F curve is required only once, the computational time can also be shortened. Consequently, in obtaining the short-range interaction force which acts between the atom on the sample surface and the probe, the time required for the &Dgr;f curve's measurement and the computational time are shortened, which leads to accuracy improvement and throughput enhancement.

6. 发明专利

JP4714651B2 Scanning probe microscope 有权
公开(公告)号：JP4714651B2
公开(公告)日：2011-06-29
申请号：JP2006225729
申请日：2006-08-22
申请人：エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
发明人：紀雄大久保
IPC分类号： G01Q10/06 , G01Q30/04 , G01Q30/06 , G01Q60/00 , G01Q60/32 , G01Q90/00
CPC分类号： G01Q60/32 , G01Q10/06 , G01Q30/04

7. 发明专利

JP2011505556A Iterative feedback adjustment in the scanning probe microscope 有权
标题翻译：空值
公开(公告)号：JP2011505556A
公开(公告)日：2011-02-24
申请号：JP2010535921
申请日：2008-12-01
申请人：ナノファクトリーインストゥルメンツエービー
发明人：クリスタースヴェンソン , ポールベントソン
IPC分类号： G01Q10/06 , G01Q30/04 , H01J37/28
CPC分类号： G01Q10/065 , G01Q30/04
摘要：反復的フィードバック調整処理を用いて走査型プローブ顕微鏡法用途のセットアップにおいてＰＩフィードバックパラメータを自動的に決定する方法、システム、装置、およびソフトウェア。
摘要翻译：用于使用迭代反馈调谐过程在扫描探针显微镜应用程序设置中自动确定PI反馈参数的方法，系统，设备和软件。

8. 发明专利

JP2009511998A Apparatus and method for detecting the deformability of cells using a spatial modulation optical force microscopy 有权
公开(公告)号：JP2009511998A
公开(公告)日：2009-03-19
申请号：JP2008536771
申请日：2006-10-17
申请人：アリックスインク
发明人：アクカキア、オスマン
IPC分类号： G02B21/06 , C12M1/34 , C12Q1/02 , G01N21/17 , G01N21/64
CPC分类号： G01Q20/02 , G01N21/6456 , G01Q30/04 , G01Q60/20 , G03H2001/0077
摘要：本発明は、物体の変形が引き続き定量化され得るように、表面に付着または静止する物体に摂動を起こさせるための力探査子として探査ビームを生成するために顕微鏡対物レンズに連結された、シングルビーム光学力探査能力を有する、あるいはマルチビーム光学力探査の可能なホログラフィック光学トラッピングシステムを有する空間変調光学力顕微鏡検査（ＳＭＯＦＭ）を利用する。この定量化は、コンピュータ制御空間光変調器を使用して、画像の一連の４個の位相偏移レプリカを画像形成し、既存のアルゴリズムを使用してピクセルごとの光路長を計算することによって実行される。光路長の変化と、その結果導き出される粘弾性または弾性応答は、物体が細胞であるときには損傷または病気の徴候である。もう１つの実施形態では、細胞の光学的変形能が測定されて、細胞骨格的／構造的タンパク質発現の測定値と相関付けられることができる。

9. 发明专利

JP2009509145A Method and apparatus for measuring characteristics of a sample shape 有权
公开(公告)号：JP2009509145A
公开(公告)日：2009-03-05
申请号：JP2008531417
申请日：2006-09-18
申请人：ビーコインストルメンツインコーポレイテッド
发明人：ジャイン、ロヒット , リチャーズ、ジョン
IPC分类号： G01B21/20 , G01Q10/00 , G01Q10/06 , G01Q30/04
CPC分类号： G01Q10/06 , G01Q30/04 , G03F7/70625
摘要：サンプルの表面形状を測定するためのＳＰＭベースの計測技法は、表面形状のＳＰＭ走査の結果取得された形状端部ポイントの一群に曲線をフィットさせる。２つの曲線が注目する形状の両端部でフィットされる場合、それらの曲線間の最大または最小距離を決定して、最大ビア幅、最小ライン幅などの注目する寸法を確定することができる。走査は、好ましくは、Ｙ方向には比較的低い解像度の走査であり、一般に、注目する形状全体で８〜１２個の走査プロファイルを有し、従来技法で一般に使用される解像度の約半分の低解像度である。低解像度走査は比較的迅速に高い併行精度で行うことができる。併行精度も従来技法の場合よりも高く、併行精度のレベルはＹ方向の解像度に比較的影響されない。低解像度を使用するとチップ摩耗も著しく減少し、高解像度走査と比較して処理能力が向上する。

10. 发明专利

JP2008128895A Scanning probe microscope 审中-公开
标题翻译：扫描探针显微镜
公开(公告)号：JP2008128895A
公开(公告)日：2008-06-05
申请号：JP2006315720
申请日：2006-11-22
申请人： Olympus Corp , オリンパス株式会社
发明人： KAKEMIZU TAKAHIKO
IPC分类号： G01Q30/04 , G01Q90/00
CPC分类号： G01Q30/04
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a scanning probe microscope having a function for identifying a probe chip.
SOLUTION: The scanning probe microscope includes: a vibration characteristic acquisition part 51 for acquiring the vibration characteristics of the probe chip 10 mounted on a mechanism part 30; a control item acquisition part 54 for acquiring the control item of the probe chip 10; a data control part 55 for successively relating the vibration characteristics with control item of the probe chip 10 acquired by the vibration characteristic acquisition part 51 and the control item acquisition part 54 to store the same; an indentification part 56 for comparing the vibration characteristics acquired by the vibration characteristic acquisition part 51 with those of the probe chip 10 stored in the memory 55a in the data control part 55 and mounted heretofore until now to identify the presently mounted probe chip 10; and a display part 70 for displaying the control item of the presently mounted probe chip 10 on the basis of the indentification results of the indentification part 56.
COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供具有用于识别探针芯片的功能的扫描探针显微镜。解决方案：扫描探针显微镜包括：用于获取安装在机构部件30上的探针芯片10的振动特性的振动特征获取部51; 用于获取探针芯片10的控制项目的控制项目获取部分54; 将振动特性与由振动特性获取部51获取的探针芯片10的控制项和控制项取得部54进行连续关联的数据控制部55，用于将由振动特性获取部分51获取的振动特性与存储在数据控制部分55中的存储器55a中的探针芯片10进行比较的识别部分56，直到现在安装以识别当前安装的探针芯片10; 以及显示部70，用于根据识别部56的识别结果显示当前安装的探针芯片10的控制项目。版权所有（C）2008，JPO＆INPIT

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