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41. 发明专利

JPWO2010143572A1 被検体情報分析装置及び被検体情報分析方法有权
公开(公告)号：JPWO2010143572A1
公开(公告)日：2012-11-22
申请号：JP2010548976
申请日：2010-06-02
申请人：オリンパス株式会社 , オリンパスメディカルシステムズ株式会社
发明人：岳晴印南 , 岳晴印南 , 五十嵐　誠 , 誠五十嵐
IPC分类号： G01N21/49 , A61B8/08 , G01N21/17 , G01N21/45 , G01N29/00
CPC分类号： A61B5/0059 , A61B5/0097 , A61B5/7257 , A61B8/0833 , G01N21/1717 , G01N21/49 , G01N29/2418
摘要：被検体情報分析装置は、第1の周波数の超音波が照射された被検体における検査対象部位から、第2の周波数の照射光に対する散乱光としての周波数変調された光を受光する光検出器と、周波数変調された光における第1の周波数の整数倍シフトした特定周波数の情報を抽出する情報抽出部と、抽出された特定周波数の情報に基づき、検査対象部位を構成する構成組織の組成比率に関する特徴情報を生成する特徴情報生成部とを有する。

43. 发明专利

JP5009058B2 Subject information analyzer 有权
公开(公告)号：JP5009058B2
公开(公告)日：2012-08-22
申请号：JP2007154562
申请日：2007-06-11
申请人：オリンパスメディカルシステムズ株式会社
发明人：誠五十嵐
IPC分类号： G01N21/17
CPC分类号： G01N21/1717 , A61B5/0059 , A61B5/0097 , A61B8/08 , G01N21/1702 , G01N21/4795 , G01N29/0654 , G01N29/2418 , G01N2021/1787 , G01N2291/02475
摘要： A medical apparatus comprises a sound-wave radiating member and a light radiating member. The sound-wave radiating member radiates ultrasound wave into an object, the ultrasound wave having a plurality of frequency components different from each other. The light radiating member radiates light into a region within the object, the ultrasound wave being already radiated into the region. Thus, the light reflects and scatters at depth-directional higher-density local portions of the object, which are caused by the ultrasound wave inside the object. Further, the apparatus comprises a light receiving member receiving light reflected in the region in response to the radiated light. In this apparatus, information indicative of a reflected (and scattered) state of the radiated light in the region is calculated based on the received light and the radiated ultrasound wave. For example, the ultrasound wave being radiated increases its frequency over time.

45. 发明专利

JP4441381B2 Method of measuring the surface carrier recombination velocity 有权
公开(公告)号：JP4441381B2
公开(公告)日：2010-03-31
申请号：JP2004316818
申请日：2004-10-29
申请人：三菱電機株式会社
发明人：佳嗣山本 , 日出雄竹内
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： G01N21/6489 , G01N21/1717 , G01N21/636

46. 发明专利

JP2009525838A Method for obtaining information relating to the anatomical sample using optical microscopy, apparatus and system 有权
标题翻译：空值
公开(公告)号：JP2009525838A
公开(公告)日：2009-07-16
申请号：JP2008554495
申请日：2007-02-08
申请人：ザジェネラルホスピタルコーポレイション
发明人：ソク−ヒュンユン
IPC分类号： A61B1/00 , G01N21/62 , G01N29/00
CPC分类号： G01N21/4795 , A61B3/102 , A61B3/117 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , A61B5/0073 , A61B5/0075 , A61B5/0084 , A61B5/0086 , A61B5/0095 , A61B5/0097 , A61B5/4088 , A61B5/412 , A61B5/413 , C07K14/70503 , C07K2319/30 , C07K2319/32 , C07K2319/70 , G01B9/02091 , G01J3/4412 , G01N21/1717 , G01N21/636 , G01N2021/1725 , G01N2021/638 , G01N2201/06 , G01N2201/0612 , G01N2800/042 , G01N2800/387 , G01N2800/7023 , G01N2800/7028 , G02B21/0052
摘要：【課題】解剖学的サンプルに関係する情報を取得するための装置および方法を提供するものである。
【解決手段】例えば、解剖学的サンプル内に少なくとも１つの音響波を発生させるために少なくとも１つの第１の電磁放射が行われる。この音響波に基づいて少なくとも１つの第２の電磁放射が発生する。この解剖学的サンプルの少なくとも一部分に関係する情報を取得するために少なくとも１つの第２の電磁放射の一部分が用いられる。さらに、この第２の電磁放射に関わるデータに基づく情報が分析される。第１の電磁放射は少なくとも１つの第１の強度と少なくとも１つの第１の周波数とを含むことができる。第２の電磁放射は少なくとも１つの第２の強度と少なくとも１つの第２の周波数とを含むことができる。データは第１及び第２強度間の第１の差および／または第１の周波数と第２周波数との間の第２の差に関係する。第２の差はゼロを除きほぼ−１００ＧＨｚ〜１００ＧＨｚの間にある。
【選択図】図２
摘要翻译：提供了用于获得与解剖样品相关联的信息的安排和方法。例如，可以向解剖样品提供至少一个第一电磁辐射，以便在解剖样品中产生至少一个声波。可以基于声波产生至少一个第二电磁辐射。可以提供至少一个第二电磁辐射的至少一部分，以便确定与解剖样品的至少一部分相关联的信息。此外，可以分析基于与第二电磁辐射相关联的数据的信息。第一电磁辐射可以包括至少一个第一幅度和至少一个第一频率。第二电磁辐射可以包括至少一个第二幅度和至少一个第二频率。数据可以涉及第一和第二幅度之间的第一差异和/或第一和第二频率之间的第二差异。第二个差异可能在-100 GHz到100 GHz之间，不包括零。

47. 发明专利

JP2008224436A Inspection device 有权
标题翻译：检查装置
公开(公告)号：JP2008224436A
公开(公告)日：2008-09-25
申请号：JP2007063613
申请日：2007-03-13
申请人： Canon Inc , キヤノン株式会社
发明人： KASAI SHINTARO , ITSUJI TAKEAKI , ONOUCHI TOSHIHIKO
IPC分类号： G01N21/35 , G01N21/3577 , G01N21/3586
CPC分类号： G01N21/3581 , G01N21/17 , G01N21/1717 , G01N21/3563
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection device capable of inspecting, even a trace amount of a specimen with high sensitivity, by making a specimen and an electromagnetic waves interact with each other a plurality number of times. SOLUTION: The inspection device is constituted so as to detect the data of the specimen 112 from the change in the propagation state of the electromagnetic wave, produced by a plurality of number of times of the interactions of the specimen 112 by electromagnetic waves and has a transmission passage 16; an electromagnetic wave supply detection part 111 for supplying the electromagnetic wave to the transmission passage 16 and detecting the electromagnetic waves, a reflecting part 110 for reflecting the electromagnetic waves propagated through the transmission passage 16 and an inspection part 113, wherein the specimen 112 is installed between the electromagnetic wave supply detection part and the reflection part 110. The transmission passage 16, the reflecting part 110 and the inspection part 113 are formed on the same substrate 11. COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够通过使试样和电磁波多次相互作用而能够检测甚至微量的高灵敏度的试样的检查装置。解决方案：检查装置构成为从电磁波的传播状态的变化中检测出样本112的数据，由电磁波的多个样本112的相互作用产生并具有传递通道16; 用于将电磁波提供给传输通道16并检测电磁波的电磁波供应检测部分111，用于反射通过传输通道16传播的电磁波的反射部分110和检查部分113，其中样本112被安装电磁波供给检测部和反射部110之间。传输通道16，反射部110和检查部113形成在同一基板11上。版权所有（C）2008，JPO＆INPIT

48. 发明专利

JP2005537489A Terahertz spectroscopy 审中-公开
公开(公告)号：JP2005537489A
公开(公告)日：2005-12-08
申请号：JP2004533667
申请日：2003-09-08
申请人：ケンブリッジユニバーシティテクニカルサービシズリミティド
发明人：シェン・ヤオヒュン , デービス・アレクサンダー・ジャイルズ , リンフィールド・エドマンド・ハロルド
IPC分类号： G01N21/17 , G01N21/35
CPC分类号： G01N21/1717 , G01N21/3563 , G01N21/3581
摘要：テラヘルツ分光法システムは、テラヘルツ周波数領域のパルス放射で試料を照射するためのテラヘルツ光源を有する。励起手段は、前記テラヘルツ光源による試料の照射中に、電磁波又は音波の形で励起エネルギを供給し、テラヘルツセンサは、照射された前記試料からのエネルギを受ける。処理手段は、前記テラヘルツセンサからの信号を受信し、これを処理して前期センサで受信されたテラヘルツスペクトルを代表する出力を供給する。

49. 发明专利

JP2004265945A Quality determination method of semiconductor epitaxial crystal wafer and wafer manufacturing method using the same 审中-公开
公开(公告)号：JP2004265945A
公开(公告)日：2004-09-24
申请号：JP2003044716
申请日：2003-02-21
申请人： Sumitomo Chem Co Ltd , 住友化学工業株式会社
发明人： NAKAYAMA MASAAKI , TAKADA TOMOYUKI , YAMAMOTO TAKETSUGU
IPC分类号： H01L21/66 , G01N21/17
CPC分类号： G01N21/1717
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To enable nondestructive evaluation for the crystal quality of the buffer structure of a semiconductor epitaxial crystal wafer having a field-effect transistor structure which is provided with buffer structure.
SOLUTION: In the quality determination method of a semiconductor crystal in the semiconductor epitaxial crystal wafer having a buffer structure part of an epitaxial layer, the semiconductor epitaxial crystal wafer is irradiated with pumping pulse light 5A for modulating a built-in electric field of the buffer structure. Electrotransport property which originates in crystal quality of the buffer structure is predicted based on reflectivity differential spectrum in a reflected light from the wafer, and crystal quality of the buffer structure is judged. Judgement may be performed on the basis of electric field intensity computed from Franz-Keldish oscillation derived from semiconductor compound of the buffer structure.
COPYRIGHT: (C)2004,JPO&NCIPI

50. 发明专利

JP2003322628A High-speed pulse high-speed time response measuring method and apparatus 审中-公开
标题翻译：高速脉冲高速时间响应测量方法和装置
公开(公告)号：JP2003322628A
公开(公告)日：2003-11-14
申请号：JP2002128426
申请日：2002-04-30
申请人： National Institute Of Advanced Industrial & Technology , 独立行政法人産業技術総合研究所
发明人： TAKETOSHI NAOYUKI , BABA TETSUYA
IPC分类号： G01K11/12 , G01J11/00 , G01N21/17 , G01N25/18 , G01N25/72
CPC分类号： G01N21/1717 , G01N25/18 , G01N25/72
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To expand a measurement target in a thermoreflectance method using a pulse laser by eliminating the limitation of an observation time region due to the control of a light path length.
SOLUTION: While the measurement target is irradiated with ultra-short pulse light as excitation pulse light for exciting the measurement target, the measurement target is irradiated with probe pulse light, and the reflection light is detected, thus observing a temperature change in the measurement target. A pulse laser for exciting the measurement target that can be individually and electrically controlled and that for probes are prepared, and a difference in the measurement target irradiation time of the pulse light for probes to the irradiation of the measurement target in the excitation pulse light is electrically controlled, thus signals that vary depending on the time difference between the excitation pulse light and the probe pulse light.
COPYRIGHT: (C)2004,JPO
摘要翻译：要解决的问题：通过消除由于光路长度的控制导致的观察时间区域的限制，通过使用脉冲激光器的热反射方法来扩大测量对象。解决方案：当用超短脉冲光照射测量目标作为用于激发测量目标的激发脉冲光时，用探针脉冲光照射测量目标，并且检测反射光，从而观察温度变化测量目标。用于激发可以单独和电气控制的测量目标的脉冲激光器和用于探针的测量目标的脉冲激光，并且探针的脉冲光对激发脉冲光中的测量对象的照射的测量目标照射时间的差异是电控制，因此根据激发脉冲光和探针脉冲光之间的时间差而变化的信号。版权所有（C）2004，JPO

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