专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

JP6298102B2 光変調のための装置及び方法有权
公开(公告)号：JP6298102B2
公开(公告)日：2018-03-20
申请号：JP2016115847
申请日：2016-06-10
申请人：カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハー , CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH , カールツァイスアーゲー
发明人：マティアスワルド , クリストフフーセマン
IPC分类号： G02B26/00 , G02B21/06 , G01J3/26 , G02F1/01
CPC分类号： G02B27/141 , G02B21/0052 , G02B21/06 , G02B27/1006 , G02B2207/117

2. 发明专利

JP2017530404A 試料を結像する装置审中-公开
公开(公告)号：JP2017530404A
公开(公告)日：2017-10-12
申请号：JP2017515697
申请日：2015-08-31
申请人：カール・ツァイス・マイクロスコピー・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツングCarl Zeiss Microscopy GmbH , カール・ツァイス・マイクロスコピー・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツングCarl Zeiss Microscopy GmbH
发明人：リッパート、ヘルムート , カルクブレンナー、トーマス , クレッペ、インゴ , ウォルスチェンスキー、ラルフ , ジーベンモルゲン、ヨルグ
IPC分类号： G02B21/00 , G02B21/06 , G02B21/36
CPC分类号： H04N5/3572 , G02B21/0052 , G02B21/0076 , G02B21/06 , G02B21/082 , G02B21/361 , G02B21/365
摘要：本発明は、物体面(1)内に配置された試料(2)を結像する装置及び方法に関する。この装置は、試料(2)のエリアを物体面(1)から中間画像面(4)内に結像する光学中継システム(3)を備えている。物体面(1)及び中間画像面(4)は、中継システム(3)の光軸(5)との間に90°とは異なる角度を含む。光学中継システム(3)は、幾つかのレンズから構成されている。装置は、対物レンズを有する光学結像システム(6)を更に備えており、対物レンズの光軸(7)が中間画像面(4)上において垂直に位置すると共に、対物レンズが中間画像面(4)上に合焦されることにより、物体面(1)は歪まない状態で検出器(8)上に結像される。最後に、装置は、ライトシート(11)によって試料(2)を照明する照明装置(10)も備えている。ライトシート(11)は本質的に物体面(1)内に位置すると共に照明方向を定義しており、また物体面(1)の法線は検出方向を定義している。この装置では、物体面(1)は、中継システム(3)の光軸(5)との間に角度を含み、その値は中継システム(3)の物体側検出アパーチャコーン(12)の開口角よりも小さい。また、物体面(1)は、少なくとも部分的に物体側検出アパーチャコーン(12)内に位置している。さらに、中間画像面(4)も中継システム(3)の光軸(5)との間に角度を含み、その値は中継システム(3)の中間画像側検出アパーチャコーン(13)の開口角よりも小さい。また、中間画像面(4)は、少なくとも部分的に中間画像側検出アパーチャコーン(13)内に位置している。

3. 发明专利

JP2017102266A 走査型顕微鏡审中-公开
公开(公告)号：JP2017102266A
公开(公告)日：2017-06-08
申请号：JP2015235241
申请日：2015-12-01
申请人：キヤノン株式会社
发明人：小原直樹 , 山本亮
IPC分类号： G01N21/64 , G02B21/06
CPC分类号： G02B21/0032 , G01J3/021 , G01J3/0243 , G02B21/0052 , G02B21/0056 , G02B21/0064 , G02B21/0076
摘要：【課題】照射光を試料に照射することで生じる試料からの射出光を従来よりも高効率に取り出すことができる走査型顕微鏡を提供する【解決手段】走査型顕微鏡は、光源1からの照射光により試料7を走査する走査手段3と、走査手段からの照射光を試料に導く光学系6と、照射光が透過する透過部21と、試料から射出して光学系と走査手段とを通過した射出光を反射する反射部22と、を有する分離手段と、分離手段からの射出光を検出する検出手段と、を有し、分離手段は、光源と走査手段との間の照射光の光路上に配置されている。【選択図】図1

4. 发明专利

JP2016537670A 光シート顕微鏡検査のための装置审中-公开
标题翻译：一种用于光学片显微镜
公开(公告)号：JP2016537670A
公开(公告)日：2016-12-01
申请号：JP2016526897
申请日：2014-11-13
申请人：カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh , カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh
发明人：プレトリウス、マルコ
IPC分类号： G02B21/00 , G02B21/02
CPC分类号： G02B21/08 , G02B13/0095 , G02B13/18 , G02B21/0052 , G02B21/0076 , G02B21/02 , G02B21/33 , G02B21/367 , G02B27/0025 , G02B27/0068
摘要：本発明は、光シート顕微鏡検査のための装置に関する。このような装置は、光シートにより照明用ビーム経路を介して媒質(2)中の試料キャリア上にある試料(3)を照明するための照明用対物レンズ(5)を備えた照明光学系を含んでおり、これに関し、照明用対物レンズ(5)の光軸(6)と光シートは1つの平面内にあり、この平面は、平らな基準面(4)の法線に対してゼロとは異なる照明角度(β)を含み、この基準面に対して、試料キャリアが位置合わせされている。この装置はさらに、検出用ビーム経路内に検出用対物レンズ(7)を備えた検出光学系を含んでおり、検出用対物レンズ(7)の光軸(8)が基準面(4)の法線に対してゼロとは異なる検出角度(δ)を含る。最後にこの装置は、所定の厚さでの所定の材料からなる少なくとも1つの層を有する隔離層系も含んでおり、この層が、媒質(2)を照明用対物レンズ(5)および検出用対物レンズ(7)から隔離しており、この隔離層系は、少なくとも照明用対物レンズ(5)および検出用対物レンズ(7)にとって照明または検出が可能な領域内では、基準面(4)と平行に位置合わせされた基本面(9)で媒質(2)と接触している。この装置はさらに、検出すべき光が隔離層系の界面を斜めに通過することで生じるような収差を低減するために、少なくとも1つの検出用補正レンズを備えた補正レンズ系を含んでいる。このような装置の場合、少なくとも1つの検出用補正レンズ(9)が、自由曲面レンズとして形成されており、検出用対物レンズ(7)と隔離層系との間に配置されている。その代わりに少なくとも1つの検出用補正レンズ(9)は、検出用対物レンズ(7)のフロントレンズでもある。
摘要翻译：本发明涉及一种用于光学片显微镜的装置。这样的装置，具有照明物镜（5），用于在通过照明光束路径由所述样品载体上的光学薄片的介质照射样本（3）的照明光学系统（2）包括并涉及此，光学片和照明物镜的光轴（6）（5）在一个平面中，该平面是零相对于法线的平面参考面（4）它们包含不同的照明角度（测试版）为基准平面，所述样品载体被对准。该装置还包括光轴法（8）的所述基准平面包括具有检测物镜的检测光学系统（7）在检测光束路径中，检测物镜（7）（4）从零到线含钌不同检测角度（δ）。最后，具有预定厚度还包含预定材料的至少一个层中的器件隔离层系统，该层，介质（2）的照明物镜（5）和检测已经从物镜（7），该隔离层系统，至少在照明物镜（5）和所述检测物镜（7）分离可以采取的区域的照明或检测中，基准表面（4）是在与介质（2）平行地排列的基本表面（9）接触。为了减少诸如由发生通过接口隔离层系统通过倾斜，并且包括校正透镜系统，包括至少一个检测校正透镜象差要被检测的装置，进一步的光。对于这样的装置，至少一个检测校正透镜（9）被形成为自由形态的表面镜被设置在隔离层基于检测物镜（7）之间。代替至少一个检测校正透镜（9）也是检测物镜的前透镜（7）。

5. 发明专利

JP2015169438A 測定装置、測定システム、測定方法、およびプログラム审中-公开
标题翻译：测量装置，测量系统，测量方法和程序
公开(公告)号：JP2015169438A
公开(公告)日：2015-09-28
申请号：JP2014042015
申请日：2014-03-04
申请人：ソニー株式会社
发明人：岡本好喜 , 原雅明 , 伊藤輝将
IPC分类号： G01N21/01 , G01N21/27
CPC分类号： G02B21/0032 , G02B21/0052 , G02B21/008
摘要：【課題】測定効率を向上させる測定装置、測定システム、測定方法、およびプログラムを提供する。【解決手段】各光源300A、300B、300Cは、測定装置100の外部に設置された照明等であり、測定装置100と接続されており、点灯状態が制御される。測定データの取得期間に基づいて、前記測定データの取得に寄与しない照明の点灯状態を制御することによって、測定対象からのデータ取得と、測定対象への照明とを並行して行い、測定者の測定効率を向上させることができる。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够提高测量效率的测量装置，测量系统，测量方法和程序。解决方案：光源300A，300B和300C是设置在测量装置100外部并被连接的照明到测量装置100来控制照明状态。通过基于测量数据的获取周期控制对于获取测量数据无贡献的照明的点亮状态，同时执行测量对象的数据采集和测量对象上的照明。因此，测量器可以提高测量效率。

6. 发明专利

JP2009525838A Method for obtaining information relating to the anatomical sample using optical microscopy, apparatus and system 有权
标题翻译：空值
公开(公告)号：JP2009525838A
公开(公告)日：2009-07-16
申请号：JP2008554495
申请日：2007-02-08
申请人：ザジェネラルホスピタルコーポレイション
发明人：ソク−ヒュンユン
IPC分类号： A61B1/00 , G01N21/62 , G01N29/00
CPC分类号： G01N21/4795 , A61B3/102 , A61B3/117 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , A61B5/0073 , A61B5/0075 , A61B5/0084 , A61B5/0086 , A61B5/0095 , A61B5/0097 , A61B5/4088 , A61B5/412 , A61B5/413 , C07K14/70503 , C07K2319/30 , C07K2319/32 , C07K2319/70 , G01B9/02091 , G01J3/4412 , G01N21/1717 , G01N21/636 , G01N2021/1725 , G01N2021/638 , G01N2201/06 , G01N2201/0612 , G01N2800/042 , G01N2800/387 , G01N2800/7023 , G01N2800/7028 , G02B21/0052
摘要：【課題】解剖学的サンプルに関係する情報を取得するための装置および方法を提供するものである。
【解決手段】例えば、解剖学的サンプル内に少なくとも１つの音響波を発生させるために少なくとも１つの第１の電磁放射が行われる。この音響波に基づいて少なくとも１つの第２の電磁放射が発生する。この解剖学的サンプルの少なくとも一部分に関係する情報を取得するために少なくとも１つの第２の電磁放射の一部分が用いられる。さらに、この第２の電磁放射に関わるデータに基づく情報が分析される。第１の電磁放射は少なくとも１つの第１の強度と少なくとも１つの第１の周波数とを含むことができる。第２の電磁放射は少なくとも１つの第２の強度と少なくとも１つの第２の周波数とを含むことができる。データは第１及び第２強度間の第１の差および／または第１の周波数と第２周波数との間の第２の差に関係する。第２の差はゼロを除きほぼ−１００ＧＨｚ〜１００ＧＨｚの間にある。
【選択図】図２
摘要翻译：提供了用于获得与解剖样品相关联的信息的安排和方法。例如，可以向解剖样品提供至少一个第一电磁辐射，以便在解剖样品中产生至少一个声波。可以基于声波产生至少一个第二电磁辐射。可以提供至少一个第二电磁辐射的至少一部分，以便确定与解剖样品的至少一部分相关联的信息。此外，可以分析基于与第二电磁辐射相关联的数据的信息。第一电磁辐射可以包括至少一个第一幅度和至少一个第一频率。第二电磁辐射可以包括至少一个第二幅度和至少一个第二频率。数据可以涉及第一和第二幅度之间的第一差异和/或第一和第二频率之间的第二差异。第二个差异可能在-100 GHz到100 GHz之间，不包括零。

7. 发明专利

JP2005043892A Confocal raster microscope 有权
标题翻译： CONFOCAL RASTER MICROSCOPE
公开(公告)号：JP2005043892A
公开(公告)日：2005-02-17
申请号：JP2004215355
申请日：2004-07-23
申请人： Leica Microsystems Heidelberg Gmbh , ライカミクロジュステムスハイデルベルクゲーエムベーハー
发明人： RIEDMANN JUERGEN
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0032 , G02B21/0052
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a raster (scan) microscope the detection efficiency of which hardly depends on the scan speed.
SOLUTION: This is a confocal raster (scan) microscope which scans objects being detected having an illumination beam path including at least one point light source and a beam deflection device, and a detection beam path including at least one detection (pin) hole diaphram and the beam deflection device. The path of the illumination beam path and/or the detection beam path is constituted applicable to the scanning speed.
COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI
摘要翻译：要解决的问题：提供一种光栅（扫描）显微镜，其检测效率几乎不依赖于扫描速度。解决方案：这是共焦光栅（扫描）显微镜，其扫描具有包括至少一个点光源和光束偏转装置的照明光束路径的物体，以及检测光束路径，其包括至少一个检测（引脚）孔梁和梁偏转装置。照射光束路径和/或检测光束路径的路径适用于扫描速度。版权所有（C）2005，JPO＆NCIPI

8. 发明专利

JP6282658B2 自由に調整可能な試料走査を有する共焦点顕微鏡有权
公开(公告)号：JP6282658B2
公开(公告)日：2018-02-21
申请号：JP2015533612
申请日：2013-09-27
申请人：カールツァイスマイクロスコピーゲーエムベーハー , CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH
发明人：カルクブレナー、トーマス
IPC分类号： G02B21/00 , G01N21/64 , G02B21/06
CPC分类号： G02B21/0032 , G02B6/04 , G02B21/0036 , G02B21/004 , G02B21/0052

9. 发明专利

JPWO2016047666A1 固浸レンズホルダ及び画像取得装置审中-公开
公开(公告)号：JPWO2016047666A1
公开(公告)日：2017-07-06
申请号：JP2016550347
申请日：2015-09-24
申请人：浜松ホトニクス株式会社
发明人：寺田　浩敏 , 浩敏寺田 , 育男荒田 , 育男荒田 , 政敬活洲 , 政敬活洲
IPC分类号： G02B7/02 , G02B21/00
CPC分类号： G02B7/02 , G02B7/027 , G02B7/16 , G02B21/0052 , G02B21/02 , G02B21/26 , G02B21/33 , G02B21/361 , G02B21/362
摘要：固浸レンズホルダ8は、球面部6aの一部が対物レンズ21側へ突出するように球面部6aを内部に配置する第1の開口71を有する第1の部材70と、当接面6fが対物レンズ21側とは反対側へ突出するように当接部6dを内部に配置する第2の開口87を有する第2の部材80と、を備える。第1の部材70は、第1の開口71の内面71aから第1の開口71の中心側へ延び、球面部6aと接触可能に構成された3つの突出部73を有する。

10. 发明专利

JP6157364B2 位相変調デバイス及びレーザ顕微鏡有权
公开(公告)号：JP6157364B2
公开(公告)日：2017-07-05
申请号：JP2013556524
申请日：2013-02-01
申请人：シチズン時計株式会社
发明人：松本健志 , 田辺綾乃 , 横山正史 , 橋本信幸 , 栗原誠
IPC分类号： G02F1/13 , G02B21/00 , G02F1/01
CPC分类号： G02B26/06 , G02B21/0032 , G02B21/0052 , G02B21/0056 , G02B21/082 , G02B27/0068 , G02F1/134309 , G02F2203/18 , G02F2203/50

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式