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    • 6. 发明专利
    • 固定器具および金属メッシュデバイス
    • 保持器和所述金属网格设备
    • JP5880803B1
    • 2016-03-09
    • JP2015555309
    • 2015-06-25
    • 株式会社村田製作所
    • 岡本 好司神波 誠治
    • G01N21/3581
    • G02B7/00F16B2/06G01J3/0202G01J3/4412G01J3/0229G01N21/3581
    • 空隙配置構造体を、挟み込んで固定するための第1枠部材(2)および第2枠部材(3)を備える固定器具。第1基準面(22a)と第1内周側嵌合面(21a)との距離をA1、第1基準面(22a)と第1外周側嵌合面(21b)との距離をA2、第2基準面(32a)と第2内周側嵌合面(31a)との距離をB1、第2基準面(32a)と第2外周側嵌合面(31b)との距離をB2、空隙配置構造体1の外周部(102)の厚みをCとしたときに、以下の式1:A1+C>B1および式2:A2+C>B2の少なくともいずれかの条件を満たす。
    • 空隙地设置的结构,夹在由第一框架构件用于固定(2)和所述第二框架构件(3)固定的仪器包括:a。 所述第一参考表面和(22a)的第1内周侧配合面(21a)的A1,在第一基准面和(22a)的所述第一外周侧嵌合表面之间的距离(21B)A2之间的距离的 2基准平面和(32A)的第二内周侧配合表面(31A)B1之间的距离,(31B)B2,空隙设置在所述第二基准表面和(32A)的第二外周侧配合表面之间的距离 结构1中的(102)的厚度的外周部时C,下面的方程1:A1 + C> B1和式2:A2 + C>的至少一个条件被满足B2的。
    • 7. 发明专利
    • 測定装置及び測定方法
    • 测量设备和方法
    • JPWO2013077137A1
    • 2015-04-27
    • JP2013545857
    • 2012-10-24
    • 国立大学法人東京農工大学
    • 岩井 俊昭俊昭 岩井俊晴 渡會俊晴 渡會
    • G01N21/47
    • G01N15/1429G01B9/02044G01J3/4412G01J9/02G01J2003/4418G01N15/0211G01N21/51G01N2015/0222
    • 光カプラ20によって低コヒーレンス光源10からの光を分割し、光カプラ20で分割された一方の光を試料媒質40に照射し、光カプラ20で分割された他方の光を参照ミラー50及び振動素子52によって位相変調し、位相変調された光(参照光)と試料媒質40からの散乱光を回折格子62で波長毎に分解して、光検出部70で、参照光と散乱光との干渉光の分光スペクトルを検出する。演算処理部80において、検出された分光スペクトルに基づき試料媒質40における散乱点の位置毎の強度信号を求め、前記散乱点の位置毎の強度信号の時間変化に基づき前記散乱点の位置毎のパワースペクトルを求め、求めたパワースペクトルに基づき前記散乱点の位置毎の粒子の拡散係数を同時に求める。
    • 由光学耦合器20个将来自低相干光源10,通过光学耦合器20分开并施加到样品介质40,以分开的其它参考反射镜50的光学耦合器20的光的一个光和振动元件的光 相由52调制,被分解成由衍射光栅从相位调制光(参考光)和样品介质40,光检测单元70,参考光和散射光之间的干涉光62的各波长的散射光 以检测光谱。 在运算处理部80以获得用于在所述样品介质40基于检测到的光谱的散射点的每个位置处的强度信号的基础上,用于散射点的各位置中的强度信号的时间变化的散射点的各位置的功率 计算光谱,确定基于在同一时间得到的功率谱中的散射点的每个位置上的粒子的扩散系数。