专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

21. 发明专利

KR20210028705A KR20210028705A - Stack for energy storage devices 审中-公开
公开(公告)号：KR20210028705A
公开(公告)日：2021-03-12
申请号：KR1020217003910A
申请日：2019-07-19
申请人： 다이슨 테크놀러지 리미티드
发明人： 마이클 에드워드 랜달
IPC分类号： H01M10/0585 , B23K26/364 , B23K31/12 , G01N27/623 , H01M6/40
CPC分类号： H01M10/0585 , H01J49/164 , B23K26/364 , B23K31/12 , G01N27/623 , H01G11/84 , H01G9/15 , H01J49/0004 , H01J49/0463 , H01J49/105 , H01M10/04 , H01M6/40 , H01M2300/0065 , H01M2300/0068 , Y02E60/10
摘要： 방법은, 에너지 저장 디바이스용 스택을 획득하는 단계 - 상기 스택은 하나 이상의 층을 포함함 -; 층들 중 하나 이상을 통과하는 절개부를 형성하도록 상기 스택을 레이저 삭마함으로써 하나 이상의 레이저 삭마 산물을 생성하는 단계 -; 및 질량 분광분석법-기반 분석 기법을 사용하여, 상기 레이저 삭마 산물을 분석하여 상기 스택의 하나 이상의 특성을 결정하는 단계를 포함한다. 장치도 개시된다.

22. 发明专利

JP2017535040A 不要イオンを抑制するシステム及び方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017535040A
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：JP2017524010
申请日：2015-10-30
申请人：パーキンエルマー・ヘルス・サイエンシーズ・インコーポレイテッドPerkinelmer Health Sciences, Inc. , パーキンエルマー・ヘルス・サイエンシーズ・インコーポレイテッドPerkinelmer Health Sciences, Inc.
发明人：バディエイ，ハミド , バザルガン，サマド
IPC分类号： H01J49/26 , G01N27/62 , H01J49/10 , H01J49/42
CPC分类号： H01J49/061 , H01J49/00 , H01J49/0031 , H01J49/0045 , H01J49/005 , H01J49/0077 , H01J49/10 , H01J49/105 , H01J49/24
摘要：本明細書で説明する特定の実施形態は、セルを質量分析器の下流に含むシステムを対象としている。いくつかの場合では、セルは、反応セル、衝突セル、または反応/衝突セルとして構成されている。システムを使用して、複数のイオンを備えるストリームからの、不要イオンを抑制し及び/または妨害イオンを除去することができる。

23. 发明专利

JP2017084790A 質量分光計の真空インターフェース方法および真空インターフェース装置有权
公开(公告)号：JP2017084790A
公开(公告)日：2017-05-18
申请号：JP2016223987
申请日：2016-11-17
申请人：サーモフィッシャーサイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー , Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh , サーモフィッシャーサイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー
发明人： ALEXANDER ALEKSEEVICH MAKAROV , ROTTMANN LOTHAR
IPC分类号： H01J49/04 , G01N27/62 , H01J49/10
CPC分类号： H01J49/06 , H01J49/0495 , H01J49/067 , H01J49/105 , H01J49/24
摘要：【課題】抽出光学系に入る従前に堆積したサンプルからの物質を低減できるスキマーコーン装置および方法を提供する。【解決手段】スキマー装置を備える質量分光計の真空インターフェースにおいて、膨張したプラズマはスキマー開口部134を通してスキミングされる。スキミングされたプラズマ126のうち中心部分を抽出光学系の方へ膨張させつつ、分離された外周部分の残りのプラズマが抽出光学系に達することを阻止または妨害する手段を講じることにより、スキマー装置表面135上の堆積物から遊離されたイオンを除去することが可能になり、メモリー効果が低減される。プラズマの残部は、抽出光学系の方へ膨張することができる。スキマ—装置の表面近くの境界層部分と残部のプラズマ間の相互作用および混合を低減または最小化できるので、スキマー装置から抽出光学系に入るスキマ—装置表面135に堆積したイオンの数が減少する。【選択図】図2

24. 发明专利

JP2017040614A オンライン移送した分析試料の分析システム有权
标题翻译：分析样品网上转账的分析系统
公开(公告)号：JP2017040614A
公开(公告)日：2017-02-23
申请号：JP2015163751
申请日：2015-08-21
申请人：株式会社イアス
发明人：川端克彦 , 一之瀬達也 , 池内満政
IPC分类号： G01N21/73
CPC分类号： G01N21/68 , G01N21/714 , G01N21/73 , G01N21/85 , G01N27/62 , H01J49/105 , G01N2001/002 , G01N2001/1006 , G01N2021/8411
摘要：【課題】本発明は、分析試料をオンライン移送可能としつつ、迅速に分析結果を得ることのできる分析システムに関する。また、2以上の現場から供給される分析試料について、1台の分析装置で分析可能としつつ、ネブライザーやスプレーチャンバー等の洗浄工程を要しない分析システムを提供する。【解決手段】本発明は、2以上の試料別移送手段を備えるとともに、試料別移送手段の各試料移送経路が、誘導結合プラズマ若しくはマイクロ波プラズマを利用した分析装置からなる共通分析手段のプラズマトーチと接続しており、各試料移送経路には、メイン流路とメイクアップガス供給路とドレイン流路とを有し、プラズマトーチは、略中央に霧化した分析試料を導入する試料導入管を有し、ドレイン流路の内径は、プラズマトーチの試料導入管の入り口部分の内径と同等以上である分析システムに関する。【選択図】図2
摘要翻译：本发明公开了分析样品而网上转移，能够获得快速分析的分析系统。此外，从两个或多个位点提供的分析样品，而在一个分析装置使分析，以提供不需要分析系统中的洗涤步骤，例如雾化器和雾化室。本发明设置有两个或更多个样品由转印手段，共同分析的等离子炬装置，通过转移的样本的每个样本传输路径是指，由使用感应耦合等离子体或微波等离子体光谱仪的被连接到所述中，在每个样品转移路径，并且主流动路径和补充气体供给通道和所述排水通道，一个等离子体焰炬，一个样品导入管用于引入分析样品在大致中央雾化它具有排水通道的内径，所述内和分析系统的入口部分等同于或大于所述等离子体焰炬的样品导入管。 .The

25. 发明专利

JP2016530502A 質量分析計、その使用、およびガス混合物の質量分析検査の方法审中-公开
标题翻译：质谱仪，其使用的方法，以及气体混合物的质谱分析法测试
公开(公告)号：JP2016530502A
公开(公告)日：2016-09-29
申请号：JP2016524707
申请日：2014-02-20
申请人：カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー , カールツァイスマイクロスコーピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy GmbH , カールツァイスマイクロスコーピーゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy GmbH
发明人：ゲンナジーフェドセンコ , ゲンナジーフェドセンコ , ミヒェルアリマン , ミヒェルアリマン , ヒンイウアンソニーチュン , ヒンイウアンソニーチュン , アルブレヒトランク , アルブレヒトランク , レオニートゴルコヴェル , レオニートゴルコヴェル
IPC分类号： G01N27/62 , H01J49/14 , H01J49/42 , H01L21/3065 , H01L21/31
CPC分类号： H01J49/04 , H01J49/0027 , H01J49/105 , H01J49/14 , H01J49/145 , H01J49/147
摘要：本発明は、イオン化デバイス(12)と、ガス混合物(2)の貯蔵および質量分析検査のためのイオントラップ(10)とを備える、ガス混合物(2)の質量分析検査向けの質量分析計(1)に関する。本発明の1つの態様では、検査されるガス混合物(2)をイオン化するイオントラップ(10)に対して、イオン化ガス(13)のイオン(13a)および/もしくは準安定粒子(13b)を供給するため、ならびに/または電子(20a)を供給するための、イオン化デバイス(12)が具体化され、また、ガス混合物(2)を検査する前に、イオントラップ(10)内に存在するイオン化ガス(13)のイオン(13a)および/もしくは準安定粒子(13b)の数、ならびに/またはイオントラップ(10)内に存在する残留ガス(14)のイオン(14a)の数を決定する、質量分析計(1)が具体化される。本発明はまた、かかる質量分析計(1)の使用、およびガス混合物(2)の質量分析検査の方法に関する。【選択図】図1
摘要翻译：本发明包括一个电离装置（12）包括用于存储与所述气体混合物（2），用于气体混合物中的质谱仪质量分析测试的质谱测试的离子阱（10）（2）（1 ）上。在本发明的一个方面，并提供给被（2）相对于所述离子阱（10）以电离，电离气体的离子（13）（图13A）和/或亚稳粒子检查的气体混合物（13b）的因为，以及用于供应/或电子（20A），离子化装置（12）被实施，还测试气体混合物（2）之前，存在于电离气体在离子阱（10）（ 13）离子（13A）和/或亚稳粒子的数量（13B），并确定在质谱仪中的残留气体的离子（14A）（14）存在于/或离子阱（10）的数（1）它被实施。本发明还涉及使用这样的质谱仪（1），气体混合物（2）的质谱测试的方法的。点域1

26. 发明专利

JP5965388B2 パルス・モードにおけるグロー放電分光分析測定のための方法および装置有权
标题翻译：在脉冲模式下辉光放电光谱测量的方法和装置
公开(公告)号：JP5965388B2
公开(公告)日：2016-08-03
申请号：JP2013504321
申请日：2011-04-14
申请人：オリバジョビンイボンエス. アー. エス.
发明人：シャポンパトリック , ロジュリューオリヴィエ , タンペアニエス
IPC分类号： G01N27/68 , G01N27/62 , H01J49/10
CPC分类号： H01J49/36 , H01J49/105

27. 发明专利

JP2016522533A 誘電体共振器を使用するプラズマ発生器审中-公开
标题翻译：等离子体发生器，它使用介质谐振器
公开(公告)号：JP2016522533A
公开(公告)日：2016-07-28
申请号：JP2016501492
申请日：2014-03-12
申请人：ラドムコーポレイションRadom Corporation , ラドムコーポレイションRadom Corporation
发明人：ジェヴティック，ジョヴァン , メノン，アショク , ピケルジャ，ヴェリボー
IPC分类号： H05H1/46 , C23C16/507 , G01N21/73 , G01N27/62 , G01N27/68 , H01J49/10 , H01J49/26 , H01L21/3065 , H01L21/31 , H01S3/038 , H05H1/26 , H05H1/30 , H05H1/54
CPC分类号： H05H1/46 , G01N21/718 , G01N22/00 , G21B1/057 , H01J37/321 , H01J37/3244 , H01J37/32467 , H01J49/10 , H01J49/105 , H01J2237/002 , H01S3/0975 , H05H1/30 , H05H2001/4652 , H05H2001/4682
摘要：誘電体共振器は、プラズマ発生用の非常に均一な電場を生成するために、その固有共振周波数で励振される。プラズマは、光学分光計または質量分析計に使用されてもよい。
摘要翻译：为了产生非常均匀的电场，用于产生等离子体的介质谐振器在其自然谐振频率被激励。等离子体可在光学光谱仪或质谱仪一起使用。

28. 发明专利

JP2015127684A 質量分析メソッドの自動生成方法有权
标题翻译：自动生成质量分析方法的方法
公开(公告)号：JP2015127684A
公开(公告)日：2015-07-09
申请号：JP2013273545
申请日：2013-12-27
申请人：アジレント・テクノロジーズ・インク , AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：志村政留 , 山中一夫 , 高橋純一
IPC分类号： G01N27/62
CPC分类号： H01J49/105 , H01J49/0009 , H01J49/0031
摘要：【課題】被測定元素のプラズマイオン源質量分析に適した測定メソッドを自動的に作成する方法の提供。【解決手段】被測定試料中の測定に影響する全元素を半定量測定し、半定量測定した元素の合計濃度に基づいてプラズマ条件を決定し、半定量測定した元素の各々について被測定試料中での元素及び干渉成分の信号強度を見積もり、その結果から元素濃度を見積もり、見積もられた元素及び干渉成分の信号強度及び元素濃度に基づいて、(1)プラズマ条件、(2)被測定試料に添加する内部標準、(3)コリジョン/リアクションセルのチューン条件、(4)質量分析計で用いる質量電荷比、及び(5)質量分析計で用いる積分時間の少なくとも一つを含む少なくとも一つの質量分析メソッドを生成する。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供一种自动生成适于待测元素的等离子体离子源质量分析的测量方法的方法。方法：该方法包括：半定量测量可能影响测量中的测量的所有元素样品; 基于半定量测量元素的总浓度来确定血浆条件; 估计测量样本中的元素和每个半定量测量元素的干涉分量的信号强度，并根据结果估计元素浓度; 并且基于要素，干涉成分的信号强度和所估计的元素浓度，生成至少一种质量分析方法，该质量分析方法包括以下（1）等离子体条件，（2）内部标准添加到测量样品中，（3）调整碰撞/反应池的条件，（4）质谱仪使用的质荷比，（5）由质谱仪使用的积分时间质谱仪。

29. 发明专利

JP5622751B2 質量分析装置有权
公开(公告)号：JP5622751B2
公开(公告)日：2014-11-12
申请号：JP2011550863
申请日：2011-01-21
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：益之杉山 , 益之杉山 , 橋本　雄一郎 , 雄一郎橋本 , 長谷川　英樹 , 英樹長谷川
IPC分类号： H01J49/10 , G01N27/62 , G01N27/68
CPC分类号： H01J49/105 , H01J27/16 , H05H1/2406 , H05H2001/2443

30. 发明专利

JP2014504784A Mass spectroscope 审中-公开
标题翻译：空值
公开(公告)号：JP2014504784A
公开(公告)日：2014-02-24
申请号：JP2013549677
申请日：2012-01-25
申请人：ブルーカーバイオサイエンシズプロプライアタリーリミティド
发明人：カリニチェンコイオウリ
IPC分类号： H01J49/26 , G01N27/62
CPC分类号： H01J49/0013 , H01J49/061 , H01J49/105 , H01J49/24
摘要：実質的に水平向きに配列されて所定量のイオンを供給できるイオン源と、イオンの流れをろ過するためにイオンの流れを受け取るように配列されたイオンフィルタ素子と、イオン源から供給されたイオンをイオンフィルタ素子へ向けて案内するように配列されたイオンガイドと、を備える質量分析装置が提供される。イオン源とイオンフィルタ素子は、装置の輪郭を縮小して装置の有効設置面積を最小限に押さえるように、互に対して配列される。
摘要翻译：提供了一种质谱装置，其包括：离子源，其基本上水平的方向布置，并且可以从其中获得一定量的离子;离子过滤器装置，被布置成用于接收用于过滤的离子流; 以及离子导向器，其被布置成将源自离子源的离子引导到离子过滤器装置。离子源和离子过滤装置相对于彼此布置，使得装置的轮廓减小，以便最小化装置的有效占地面积。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式