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1. 发明专利

JP6180828B2 質量分析装置及び質量分析装置の制御方法有权
公开(公告)号：JP6180828B2
公开(公告)日：2017-08-16
申请号：JP2013141300
申请日：2013-07-05
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：山本昭夫 , 渡辺敏光 , 大月繁夫 , 加島一樹 , 矢ノ倉利明
IPC分类号： H01J49/26 , H01J49/10
CPC分类号： H01J49/0031 , H01J49/0409 , H01J49/0495 , H01J49/102

2. 发明专利

JP6025406B2 質量分析装置有权
公开(公告)号：JP6025406B2
公开(公告)日：2016-11-16
申请号：JP2012126926
申请日：2012-06-04
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：諸熊秀俊 , 石黒浩二 , 熊野峻
IPC分类号： H01J49/42 , G01N27/62 , H01J49/04
CPC分类号： H01J49/0404 , H01J49/00 , H01J49/005 , H01J49/04 , H01J49/0409 , H01J49/0422 , H01J49/0431 , H01J49/0495 , H01J49/10 , H01J49/24

3. 发明专利

JP2013251218A Mass spectrometer 有权
标题翻译：质谱仪
公开(公告)号：JP2013251218A
公开(公告)日：2013-12-12
申请号：JP2012126926
申请日：2012-06-04
申请人： Hitachi High-Technologies Corp , 株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人： MOROKUMA HIDETOSHI , ISHIGURO KOJI , KUMANO SHUN
IPC分类号： H01J49/04 , G01N27/62 , H01J49/42
CPC分类号： H01J49/0404 , H01J49/00 , H01J49/005 , H01J49/04 , H01J49/0409 , H01J49/0422 , H01J49/0431 , H01J49/0495 , H01J49/10 , H01J49/24
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a mass spectrometer 100 facilitating replacement of a measurement sample capable of restricting carry-over.SOLUTION: A mass spectrometer includes: a mass spectrometry part 102 for separating an ionized sample gas; an ion source 101 in which the interior thereof is depressurized by differential evacuation from the mass spectrometry part 102, which ionizes the sample gas; a sample container 17 for evaporating a measurement sample to generate the sample gas; a capillary 11 for introducing the sample gas generated in the sample container 17 to the ion source 101; an elastic tube 12 connecting the sample container 17 and the capillary 11 together and freely opening and closing; a pair of dams 13a, 13b for closing and opening the elastic tube 12 so as to sandwich the elastic tube 12; and a cartridge 8 for integrating the sample container 17, the capillary 11, and the elastic tube 12, the integrated components being collectively attached to and detached from a cartridge body. The sample container 17 can be attached/detached to/from the cartridge 8 when the cartridge 8 is in a detached state.
摘要翻译：要解决的问题：提供便于更换能够限制携带的测量样品的质谱仪100。解决方案：质谱仪包括：用于分离电离样品气体的质谱部分102; 离子源101，其内部通过从质谱分析部102进行差分抽空而减压，其使样品气体离子化; 用于蒸发测量样品以产生样品气体的样品容器17; 用于将在样品容器17中产生的样品气体引入离子源101的毛细管11; 将样本容器17和毛细管11连接在一起并自由地打开和关闭的弹性管12; 用于封闭和打开弹性管12以夹住弹性管12的一对堤坝13a，13b; 以及用于集成样本容器17，毛细管11和弹性管12的盒8，集成部件被共同地附接到盒体上和从盒体分离。当盒8处于分离状态时，样品容器17可以与盒8相连/拆卸。

4. 发明专利

JP2003529188A Pulsed possible capillary valve 有权
公开(公告)号：JP2003529188A
公开(公告)日：2003-09-30
申请号：JP2001571015
申请日：2001-03-03
申请人：ゲーエスエフ−フォルシュングスツェントルムフュアウムヴェルトウントゲズントハイトゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
发明人：ケットルプアントニウス , ローワーエグモント , ツィマーマンラルフ , ドルフナーラルフ
IPC分类号： G01N27/62 , F16K13/00 , F16K31/06 , G01N27/64 , H01J49/04
CPC分类号： F16K31/0651 , F16K31/0658 , H01J49/0422 , H01J49/0495
摘要： (57)【要約】本発明は、パルス化可能な毛管弁およびその使用に関する。本発明の課題は、パルス化可能な毛管弁を、少ない試料量に適しているように形成させること、およびこの毛管弁のための使用を記載することである。この課題は、ノズルと（２）して形成されている狭隘部を有する毛管（１）、この毛管内に存在し、この毛管内で可動し、毛管の狭隘部と共にパッキングを形成しうるタペット（３）、おおびタペットのための励磁部材（８）によって解決され、ならびにイオン源のためのガス供給管またはＵＶ／蛍光源のためのガス供給管としてのパルス化可能な毛管弁の使用によって解決される。

6. 发明专利

JP5984315B2 開口部のガスの流動制限有权
标题翻译：气体流动开口的限制
公开(公告)号：JP5984315B2
公开(公告)日：2016-09-06
申请号：JP2014513255
申请日：2012-06-01
申请人：マイクロマスユーケーリミテッド
发明人：ケニー, ダニエルジェームズ
IPC分类号： G01N27/62 , H01J49/06
CPC分类号： H01J49/0495 , H01J49/0418 , H01J49/062 , H01J49/067 , H01J49/24

7. 发明专利

JP2015015160A 質量分析装置及び質量分析装置の制御方法有权
标题翻译：质谱仪及其控制方法
公开(公告)号：JP2015015160A
公开(公告)日：2015-01-22
申请号：JP2013141300
申请日：2013-07-05
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ , Hitachi High-Technologies Corp
发明人： YAMAMOTO AKIO , WATANABE TOSHIMITSU , OTSUKI SHIGEO , KASHIMA KAZUKI , YANOKURA TOSHIAKI
IPC分类号： H01J49/10 , H01J49/26
CPC分类号： H01J49/0031 , H01J49/0409 , H01J49/0495 , H01J49/102
摘要：【課題】被測定物の量の変動や、分析結果の精度低下を抑制する質量分析装置及びその制御方法を提供する。【解決手段】測定試料を入れる試料容器8と、試料の質量を分析して試料に含まれる薬物等を検出する検出器9と、前記試料容器と連結し、大気に放電電流を流して電離させる誘電体容器3と、前記試料容器、誘電体容器、検出器に間欠的に大気を送るためのバルブ2と、前記誘電体容器に放電させるためのバリア放電用高圧電源6と、その放電電流を検出する電流検出部5と、電流検出結果に基づき放電開始タイミングを検出する放電開始タイミング検出部7と、各構成を制御する制御部と、を有する質量分析装置であって、前記電流検出部は前記放電開始タイミング検出部で設定された閾値と比較し、該閾値より超えた場合に放電開始信号を前記制御部に送信し、前記制御部は放電開始信号を受信後一定期間放電を行うよう制御することを特徴とする。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种质谱仪及其控制方法，能够抑制测量对象的量的变化和分析结果的精度的降低。解决方案：质谱仪包括：样品容器8，用于放置测量样品; 检测器9，分析样品的质量并检测样品中所含的药物等; 与样品容器连接并且设置用于向空气施加放电电流并使空气电离的电介质体容器3; 用于将空气间歇地供给到样品容器的阀2，电介质体和检测器; 用于放电介电体容器的阻挡放电高压电源6; 检测放电电流的电流检测部5; 放电开始定时检测部7，根据电流检测结果检测放电开始定时; 以及用于控制每个部件的控制器。电流检测部将检测电流与放电开始定时检测器设定的阈值进行比较，在检测电流大于阈值的情况下，电流检测部向控制器发送放电开始信号。控制器执行控制，使得在接收到放电开始信号之后的特定时间段内执行放电。

8. 发明专利

JP5497615B2 Mass spectroscope 有权
公开(公告)号：JP5497615B2
公开(公告)日：2014-05-21
申请号：JP2010249260
申请日：2010-11-08
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：秀俊諸熊 , 雄一郎橋本 , 益之杉山 , 益義山田 , 英樹長谷川
IPC分类号： H01J49/26 , H01J49/10
CPC分类号： H01J49/0013 , H01J49/0031 , H01J49/0422 , H01J49/0495 , H01J49/10 , H01J49/105 , H01J49/24 , H01J49/26

9. 发明专利

JP2013143196A Inductive coupling plasma ms/ms type mass spectroscope 有权
标题翻译：电感耦合等离子体质谱MS / MS型质谱仪
公开(公告)号：JP2013143196A
公开(公告)日：2013-07-22
申请号：JP2012001616
申请日：2012-01-06
申请人： Agilent Technologies Inc , アジレント・テクノロジーズ・インクAgilent Technologies, Inc.
发明人： YAMADA NORIYUKI , KUWAHARA TAKEO , KITAMOTO ATSUSHI
IPC分类号： H01J49/42 , G01N27/62 , H01J49/10
CPC分类号： H01J49/0495 , H01J49/105 , H01J49/24
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide new differential evacuation structure in an inductive coupling plasma MS/MS type mass spectroscope (ICP-MS/MS).SOLUTION: A device 10 has: a first vacuum chamber 11 which draws plasma containing an ionized sample in a vacuum; a second vacuum chamber 12 which includes means 18 for drawing ion beams from ions emitted from the first vacuum chamber to be guided; a third vacuum chamber 13 with first ion optical separation means 20; a fourth vacuum chamber 14 with a cell 25 to which reaction gas is introduced; and a fifth vacuum chamber 15 with second ion optical separation means 29 and a detector 30. The second vacuum chamber 12 and the third vacuum chamber 13 are independently evacuated.
摘要翻译：要解决的问题：在感应耦合等离子体质谱（ICP-MS / MS）质谱仪（ICP-MS / MS）中提供新的差分抽空结构。解决方案：装置10具有：第一真空室11，其将含有电离样品的等离子体真空; 第二真空室12，其包括用于从要被引导的第一真空室发射的离子抽出离子束的装置18; 具有第一离子光学分离装置20的第三真空室13; 具有引入反应气体的单元25的第四真空室14; 以及具有第二离子光学分离装置29和检测器30的第五真空室15.第二真空室12和第三真空室13被独立排空。

10. 发明专利

JP2012104247A Mass spectroscope 有权
标题翻译：质谱仪
公开(公告)号：JP2012104247A
公开(公告)日：2012-05-31
申请号：JP2010249260
申请日：2010-11-08
申请人： Hitachi High-Technologies Corp , 株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人： MOROKUMA HIDETOSHI , HASHIMOTO YUICHIRO , SUGIYAMA MASUYUKI , YAMADA MASUYOSHI , HASEGAWA HIDEKI
IPC分类号： H01J49/26 , H01J49/10
CPC分类号： H01J49/0013 , H01J49/0031 , H01J49/0422 , H01J49/0495 , H01J49/10 , H01J49/105 , H01J49/24 , H01J49/26
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a small and light mass spectroscope capable of analyzing a mass at high accuracy.SOLUTION: The mass spectroscope has an ion source for ionizing gas 23 flowing from outside to ionize a measurement sample 4, and a mass analyzing part 102 for separating the ionized measurement sample 4. The internal pressure of the ion source is reduced by differential evacuation from the mass analyzing part 102. The ion source takes in the gas 23 to increase the internal pressure, and ionizes the gas 23 when the internal pressure is about 100 Pa to about 10000 Pa. The mass analyzing part 102 separates the ionized measurement sample 4 when the internal pressure increased while taking in the gas 23 is reduced to about 0.1 Pa or less after taking in the gas 23. The spectroscope has restraining means 9 for restraining a flow rate of the gas 23 taken in by the ion source, and opening/closing means 8 for opening/closing a flow of the gas 23 taken in by the ion source.
摘要翻译：要解决的问题：提供能够以高精度分析质量的小型轻质量分光器。解决方案：质谱仪具有用于从外部离子化的离子化气体23离子化离子源离子化测量样品4的离子源和用于分离离子化测量样品4的质量分析部件102.离子源的内部压力通过质量分析部件102的差分抽出。离子源吸入气体23以增加内部压力，并且当内部压力为约100Pa至约10000Pa时使气体23离子化。质量分析部件102将离子化测量在吸入气体23时使内部压力增加时的样品4在吸入气体23后降低至约0.1Pa以下。分光镜具有抑制由离子源吸入的气体23的流量的抑制装置9，以及用于打开/关闭由离子源吸入的气体23的流动的打开/关闭装置8。版权所有（C）2012，JPO＆INPIT

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