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1. 发明专利

JP6358172B2 タンパク質又はペプチドの解析方法及び解析装置审中-公开
公开(公告)号：JP6358172B2
公开(公告)日：2018-07-18
申请号：JP2015106919
申请日：2015-05-27
申请人：株式会社島津製作所
发明人：関谷禎規 , 高橋秀典
IPC分类号： G01N27/62
CPC分类号： H01J49/0045

2. 发明专利

JP2018509608A リピドミクス調査のための完全溶解を可能とする脂質スクリーニングプラットフォーム审中-公开
公开(公告)号：JP2018509608A
公开(公告)日：2018-04-05
申请号：JP2017541335
申请日：2016-02-05
申请人：ディーエイチテクノロジーズデベロップメントプライベートリミテッド
发明人：ウビ, バリジットケー. , コナー, アレクサンドリア , ドゥチョスラブ, エバ , ワン, レオ , ベイカー, ポール , ワトキンス, スティーブン
IPC分类号： G01N27/62 , H01J49/42
CPC分类号： H01J49/0045 , G01N30/7233 , H01J49/004
摘要：マトリクスの既知の脂質分子が、脂質クラスに群化され、脂質クラスはさらに、同重体干渉に基づいて、通過群および移動度分離群に群化される。分離システムが、既知の脂質分子をマトリクスサンプルから分離し、イオン源が、マトリクスサンプルをイオン化する。2回の注入が、行われる。第1の注入では、DMSデバイスが、受動モードにされ、第2の注入では、DMSデバイスは、同重体干渉を解消するために使用される。タンデム質量分析器は、第1の注入について通過群のMRMスキャンおよび第2の注入について移動度分離群のMRMスキャンを行う。プロセッサが、第1および第2の注入について得られたMRM強度値と、マトリクスの既知の脂質分子の既知の標準に関するMRM強度および濃度値とを比較することによって、マトリクスサンプル中の各脂質分子を定量化する。

3. 发明专利

JP2018504607A 断片化エネルギーを切り替えながらの幅広い四重極ＲＦ窓の高速スキャニング审中-公开
公开(公告)号：JP2018504607A
公开(公告)日：2018-02-15
申请号：JP2017541332
申请日：2016-01-29
申请人：ディーエイチテクノロジーズデベロップメントプライベートリミテッド
发明人：ブルームフィールド, ニックジー.
IPC分类号： G01N27/62
CPC分类号： H01J49/0045 , H01J49/0031 , H01J49/04 , H01J49/063
摘要：サンプルが、イオン源を使用してイオン化され、イオンビームが、タンデム質量分析計を使用して受け取られる。m/z範囲が、2つ以上の前駆体イオン単離窓に分割される。断片化パラメータのための2つ以上の値が、選択される。断片化パラメータのための2つ以上の値のうちの第1の値は、イオンビームの最少量のイオンを断片化するレベルを有する。1つ以上の追加の値は、イオンビームのイオンの次第により多くの断片化を生成する次第に攻撃的なレベルを有する。各前駆体イオン単離窓に対して、タンデム質量分析計は、前駆体イオン単離窓および第1の値を使用して、イオンビームの選択ならびに断片化を行うように命令され、前駆体イオン単離窓を使用して、かつ1つ以上の追加の値を使用して、イオンビームの1つ以上の追加の選択および断片化を行うように命令される。

4. 发明专利

JP6269810B2 質量分析方法及び質量分析装置有权
公开(公告)号：JP6269810B2
公开(公告)日：2018-01-31
申请号：JP2016505997
申请日：2014-03-05
申请人：株式会社島津製作所
发明人：工藤恭彦 , 大林賢一 , 川名修一
IPC分类号： G01N27/62
CPC分类号： G01N30/8631 , G01N30/7233 , G01N30/7266 , H01J49/0036 , H01J49/0045

6. 发明专利

JP5972662B2 タンデム飛行時間型質量分析計有权
标题翻译：串联时间飞行质谱仪
公开(公告)号：JP5972662B2
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：JP2012111118
申请日：2012-05-15
申请人：日本電子株式会社
发明人：佐藤貴弥
IPC分类号： H01J49/06 , G01N27/62 , H01J49/40
CPC分类号： H01J49/005 , H01J49/0031 , H01J49/004 , H01J49/40 , H01J49/0045

7. 发明专利

JP5946836B2 質量分析計によって試料を迅速にスクリーニングするためシステムおよび方法有权
标题翻译：系统和方法通过质谱仪快速筛选样本
公开(公告)号：JP5946836B2
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：JP2013537216
申请日：2011-11-02
申请人：ディーエイチテクノロジーズデベロップメントプライベートリミテッド
发明人：ボナー, ロナルド , テイト, スティーブンエー.
IPC分类号： G01N27/62
CPC分类号： H01J49/0045 , H01J49/0027 , H01J49/0031 , H01J49/04

8. 发明专利

JP2016042105A 質量分析計によって試料を迅速にスクリーニングするためシステムおよび方法有权
标题翻译：用质谱仪快速筛选样品的系统和方法
公开(公告)号：JP2016042105A
公开(公告)日：2016-03-31
申请号：JP2015255681
申请日：2015-12-28
申请人：ディーエイチテクノロジーズデベロップメントプライベートリミテッド
发明人：ロナルドボナー , スティーブンエー. テイト
IPC分类号： G01N27/62
CPC分类号： H01J49/0045 , H01J49/0027 , H01J49/0031 , H01J49/04
摘要：【課題】質量分析計によって試料を迅速にスクリーニングするためシステムおよび方法の提供。【解決手段】システムおよび方法は、試料を迅速にスクリーニングするために使用される。プロセッサを使用して、非クロマトグラフ的である高速試料導入デバイスが、複数の試料のうちの各試料をタンデム質量分析計に供給するように命令される。高速試料導入デバイスは、フローインジェクション分析デバイス、イオン移動度分析デバイス、または迅速な試料清浄デバイスを含むことができる。プロセッサを使用して、タンデム質量分析計が、複数の試料のうちの各試料のある質量範囲にわたって、2つ以上の質量選択窓において、断片化スキャンを実施するように命令される。質量範囲にわたる2つ以上の質量選択窓は、固定または可変の窓幅を有することができる。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供一种使用质谱仪快速筛选样品的系统和方法。解决方案：在用于快速筛选样品的系统和方法中，处理器用于给非色谱的命令高速试样引入装置将多个试样中的每一个提供给质谱仪。高速试样导入装置可以包括流动注射分析装置和离子迁移率分析装置或快速试样清洗装置。该处理器用于给串联质谱仪提供命令，以在两个或多个质量选择窗口内在包含多个样本中的相关标本的质量范围内完成碎片扫描。质量范围上的两个或更多个质量选择窗口可以具有固定的或可变的窗口宽度。选择图：图2

9. 发明专利

JP2015523550A 前駆イオンの同定方法有权
公开(公告)号：JP2015523550A
公开(公告)日：2015-08-13
申请号：JP2015512116
申请日：2013-05-09
申请人：マイクロマスユーケーリミテッド , マイクロマスユーケーリミテッド
发明人：ジェイソンリーワイルドグース， , ジェイソンリーワイルドグース，
IPC分类号： G01N27/62 , H01J49/42
CPC分类号： H01J49/0045 , H01J49/0031 , H01J49/0036 , H01J49/40
摘要：質量選択的に前駆イオンを質量分析器からフラグメンテーションまたは反応デバイスへと移送すること、ここで移送されるイオンの質量電荷比は時間とともに変化する;フラグメントまたはプロダクトイオンを生成するように、フラグメンテーションまたは反応デバイス内で前駆イオンを断片化すること;フラグメントまたはプロダクトイオンを質量分析すること;第一のフラグメントまたはプロダクトイオンが検出される開始および終了時刻を測定すること;前記第一のフラグメントまたはプロダクトイオンの前駆イオンが前記質量分析器によって移送される開始および終了時刻を測定するために前記開始および終了時刻を使用すること;および前記前駆イオンの質量電荷比を測定するために、前駆イオンが前記質量分析器によって移送される開始および終了時刻を使用すること、を備える、質量分析の方法が開示される。本発明は、前駆イオンを分析するために低分解能質量分析器が使用された場合であっても前駆イオンのピークがフラグメントデータから分離されることを可能にする。【選択図】図1

10. 发明专利

JPWO2013065173A1 質量分析装置有权
标题翻译：质谱仪
公开(公告)号：JPWO2013065173A1
公开(公告)日：2015-04-02
申请号：JP2013541562
申请日：2011-11-04
申请人：株式会社島津製作所
发明人：夏世朝野 , 夏世朝野
IPC分类号： H01J49/26 , G01N27/62 , H01J49/42
CPC分类号： H01J49/0009 , G01N30/7233 , G01N30/7266 , H01J49/0031 , H01J49/0036 , H01J49/004 , H01J49/0045 , H01J49/005 , H01J49/4215
摘要： 1回目の試料注入後に、粗調整モードで、広い電圧範囲を粗い幅でコリジョンエネルギ(CE)電圧を変化させつつ、所定成分由来のプロダクトイオンの強度を測定し(S1−S2)、測定終了後にCE電圧毎に、最大強度と該強度を示す電圧前後におけるイオン強度の変化量を算出する(S3−S4)。その変化量が閾値以下であれば微調整モードを実行せずに、粗調整モードで最大強度を示すCE電圧を最適値として決定する(S5でNo、S10)。一方、イオン強度変化量が閾値を超えていれば1回目の試料注入に対する測定結果からより狭いCE電圧範囲と密な幅とを決め、2回目の試料注入を行って微調整モードでCE電圧を変化させつつイオン強度を測定する(S6−S8)。そして、微調整モードで最大強度を示すCE電圧を最適値として決定する(S9−S10)。これにより、最大限2回の試料注入に対する分析によりCE電圧の最適値を決めることができる。
摘要翻译：样品注射在第一次后，在粗调模式，同时改变碰撞能量（CE）电压宽电压范围粗糙宽度，它测量从预定的部件（S1-S2）衍生的产物离子的强度，在测量完成后每个CE电压，计算离子强度的变化量和前表示最大强度的电压之后和所述强度（S3-S4）。如果变化量是不进行微调模式或小于阈值时，它确定在粗调模式作为最佳值（S5中否，S10），其指示最大强度的CE电压。在另一方面，当确定致密宽度和更窄的CE的电压范围从测量结果为第一试样注入长超过阈值的离子强度的变化，第二微调模式的CE电压进行样品注入同时改变测量的离子强度（S6-S8）。然后，为了确定指示在微调模式作为最佳值（S9-S10）中的最大强度的CE电压。这使得有可能确定两次样品注射最大CE电压分析法的最佳值。

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