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1. 发明专利

JP6419765B2 分析装置审中-公开
公开(公告)号：JP6419765B2
公开(公告)日：2018-11-07
申请号：JP2016239272
申请日：2016-12-09
申请人：アトナープ株式会社
发明人：ムルティプラカッシスリダラ
IPC分类号： H01J49/10 , H01J49/06
CPC分类号： H01J49/0031 , H01J49/025 , H01J49/06 , H01J49/107 , H01J49/147

2. 发明专利

JP2018125060A 質量分析装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018125060A
公开(公告)日：2018-08-09
申请号：JP2015090984
申请日：2015-04-28
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：吉成清美 , 照井康
IPC分类号： H01J49/06 , G01N27/62 , H01J49/42
CPC分类号： G01N27/62 , H01J49/06 , H01J49/42
摘要：【課題】イオン透過率(感度)をコントロールする。【解決手段】質量分析装置は、試料をイオン化するイオン化部2と、少なくとも4本の棒状電極を有し、イオンを輸送するイオンガイド3と、質量分離を行う、少なくとも4本の棒状電極を有する質量分析部4と、質量分析部4を通過したイオンを検出する、検出部5と、イオンガイド3に印加する電圧を制御する制御部8と、を有し、制御部8は、イオンガイド3を通過するイオンの通過エネルギーを、ターゲットとするイオンの特性に応じて変動させる。【選択図】図3

3. 发明专利

JP2018091863A 分析装置及びその制御方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018091863A
公开(公告)日：2018-06-14
申请号：JP2018032016
申请日：2018-02-26
申请人：アトナープ株式会社
发明人：ムルティプラカッシスリダラ , ヘッジアヌープアール. , 佐藤武
IPC分类号： G01N27/62
CPC分类号： G01N27/62 , H01J49/06 , H01J49/10 , H01J49/26 , H01J49/42
摘要：【課題】質量分析器などの分析装置においては、より小型で、より精度の高いものを提供する。【解決手段】分析装置1は、分析対象の分子をイオン化するイオン化ユニット11と、イオン化ユニットにより生成されたイオンを選択的に通過させる場を形成するフィルタユニット13と、フィルタユニットを通過したイオンを検出するディテクタユニット14と、イオン化ユニット、フィルタユニットおよびディテクタユニットが順番に収納されたセンサーハウジング19と、センサーハウジングを収納したチャンバ30と、チャンバ内を減圧する減圧ユニット31および32と、センサーハウジングのイオン化ユニットまたはその近傍に、分析対象の分子を含むガスを流入するキャピラリ9とを有する。【選択図】図1

4. 发明专利

JP6330154B2 電界非対称性イオン移動度分光計、およびそれを用いた混合物分離方法有权
公开(公告)号：JP6330154B2
公开(公告)日：2018-05-30
申请号：JP2016217738
申请日：2016-11-08
申请人：パナソニックIPマネジメント株式会社
发明人：佃雅彦 , 太田智浩 , 山本竹志 , 塚原法人
IPC分类号： G01N27/62
CPC分类号： G01N27/622 , G01N27/624 , H01J49/0031 , H01J49/0422 , H01J49/06

6. 发明专利

JP5925806B2 イオンゲートとイオンモディファイアとの組み合わせ有权
标题翻译：离子门和离子改性剂的组合
公开(公告)号：JP5925806B2
公开(公告)日：2016-05-25
申请号：JP2013549877
申请日：2012-01-20
申请人：スミスズディテクション−ワトフォードリミテッド
发明人：ジョナサンリチャードアトキンソン
IPC分类号： H01J49/40 , G01N27/62
CPC分类号： H01J49/06 , G01N27/622 , H01J49/061

7. 发明专利

JP5885474B2 質量分布分析方法及び質量分布分析装置有权
标题翻译：质量分布分析方法和质量分布分光计
公开(公告)号：JP5885474B2
公开(公告)日：2016-03-15
申请号：JP2011251552
申请日：2011-11-17
申请人：キヤノン株式会社
发明人：教學正文 , 岩崎光太
IPC分类号： H01J49/40 , H01J49/06 , H01J37/252 , G01N27/62 , H01J49/10
CPC分类号： H01J49/14 , G01N23/2258 , H01J49/0004 , H01J49/0031 , H01J49/06 , H01J49/142 , H01J49/40

8. 发明专利

JP5807023B2 オープントラップ質量分析計有权
标题翻译：开口阱质谱仪
公开(公告)号：JP5807023B2
公开(公告)日：2015-11-10
申请号：JP2012555504
申请日：2010-12-30
申请人：レココーポレイション , LECO CORPORATION
发明人：アナトリー・ヴェレンチコフ
IPC分类号： H01J49/34 , G01N27/62 , H01J49/40
CPC分类号： H01J49/406 , H01J49/0036 , H01J49/06 , H01J49/282 , H01J49/40 , H01J49/401 , H01J49/4245 , H01J49/48

9. 发明专利

JP5780355B2 質量分析装置有权
公开(公告)号：JP5780355B2
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：JP2014505888
申请日：2012-03-22
申请人：株式会社島津製作所
发明人：向畑和男
IPC分类号： H01J49/42 , G01N27/62 , H01J49/06
CPC分类号： H01J49/06 , G01N27/62 , H01J49/062 , H01J49/10

10. 发明专利

JP2015511055A 粒子分光計のための分析装置有权
标题翻译：分析粒子光谱仪
公开(公告)号：JP2015511055A
公开(公告)日：2015-04-13
申请号：JP2014560888
申请日：2012-03-06
申请人：ヴィゲー・シエンタ・アーベー
发明人：ビョルン・ヴァンベリ
IPC分类号： H01J49/48 , G01N23/20
CPC分类号： H01J49/48 , G01N23/2273 , G01N2223/085 , H01J37/05 , H01J49/0031 , H01J49/06 , H01J49/061 , H01J49/484 , H01J2237/0535
摘要：本発明は、粒子放出試料(11)から放出された荷電粒子に関する少なくとも一つのパラメーター、例えば粒子のエネルギー、開始方向、開始位置、又はスピンに関するパラメーターを決定するための方法に関する。上記の方法は、荷電粒子のビームをレンズシステム(13)によって測定領域の入口へ導くステップと、測定領域内で上記の少なくとも一つのパラメーターの指標となる粒子の位置を検出するステップと、を備える。さらに、上記の方法は、粒子ビームが測定領域に入射する前に、同じ座標方向に少なくとも二回粒子ビームを偏向させるステップを備える。それによって、測定領域(3)の入口(8)における粒子ビームの位置及び方向の両方は、試料(11)の物理的な操作の必要性をある程度除くように制御されることが可能である。次に、これによって、エネルギー測定におけるエネルギー分解能を改善できるように、試料が効率的に冷却されることが可能になる。
摘要翻译：本发明中，至少一个与从所述粒子排放的样品（11）发射的带电粒子的参数，例如，颗粒的能量，启动方向，开始位置，或用于确定旋转相关的参数的方法。上述方法包括通过透镜系统（13），从而导致测量区的入口带电粒子的束的步骤中，测量区域的步骤，以检测粒子的位置是指示上述至少一个参数的，所述。此外，粒子束入射到测量区域之前上述方法中，包括偏转的步骤至少两次在同一粒子束坐标方向。从而，无论是位置和在（3）可以被控制在一定程度上测量区域的入口（8）所述粒子束的方向消除对样品（11）的物理操纵的需要。然后，因此，如能改善在能源计量能量分辨率，可以进行采样被高效地冷却。

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