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1. 发明授权

EP3961188B1 SIMULATION SAMPLE DESIGN METHOD, SIMULATION SAMPLE MANUFACTURING METHOD, SIMULATION SAMPLE DESIGN DEVICE, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM 有权
公开(公告)号：EP3961188B1
公开(公告)日：2024-04-17
申请号：EP20826348.3
申请日：2020-06-01
IPC分类号： G01N21/27 , G01N21/359 , A61B5/1455 , A61B5/1495 , G01N21/47
CPC分类号： A61B5/1455 , G01N21/278 , G01N21/359 , G01N2201/1320130101 , G01N21/4785 , G01N2201/12920130101 , A61B5/1495

2. 发明授权

EP3112844B1 INFRARED IMAGING SYSTEM WITH AUTOMATIC REFERENCING 有权
公开(公告)号：EP3112844B1
公开(公告)日：2018-09-19
申请号：EP16176083.0
申请日：2016-06-24
申请人： Agilent Technologies, Inc.
发明人： Ghetler, Andrew , Kleczewski, Adam , Tella, Richard P.
IPC分类号： G01N21/27 , G01J3/42 , G01N21/3563 , G01N21/55 , G01J3/02 , G01J3/10 , G01J3/28 , G01N21/47
CPC分类号： G01J3/0297 , G01J3/10 , G01J3/108 , G01J3/2823 , G01J3/42 , G01N21/274 , G01N21/276 , G01N21/3563 , G01N21/4785 , G01N21/55 , G01N2201/101 , G01N2201/1042 , G01N2201/127
摘要： A method and apparatus for obtaining reference samples, i.e. measuring reference targets (62) on a reference stage (61) during the generation of a mid-infrared (MIR) image without requiring that a sample specimen (16), being placed on a specimen stage (57) and imaged, be removed is disclosed. A tunable MIR laser (11) generates a light beam (18) that is focused onto the sample specimen on the specimen stage that moves the specimen in a first direction (33). An optical assembly includes a scanning assembly (31) having a focusing lens (55) and a mirror (56) that moves in a second direction (32), different from the first direction, relative to the specimen stage. A light detector (13) measures an intensity of light leaving the point on the specimen. A controller (39) forms an image from the measured intensity. The reference stage (61) is positioned such that the scanning assembly moves over the reference stage in response to a command so that the controller can also make a reference measurement.

3. 发明公开

EP3290904A2 MESSLICHTQUELLE UND MESSANORDNUNG ZUM ERFASSEN EINES REFLEXIONSSPEKTRUMS 有权
标题翻译：测量光源和测量布置检测反射光谱
公开(公告)号：EP3290904A2
公开(公告)日：2018-03-07
申请号：EP17185054.8
申请日：2017-08-07
申请人： Carl Zeiss Spectroscopy GmbH
发明人： MARGRAF, Jörg , KEUNE, Thomas
IPC分类号： G01N21/25 , F21V7/04 , G01J3/02 , G01J3/08 , G01N21/47
CPC分类号： G01J3/10 , F21V7/04 , F21V7/043 , G01J3/021 , G01J3/08 , G01J3/28 , G01J3/42 , G01J2003/102 , G01J2003/425 , G01N21/255 , G01N21/4738 , G01N21/474 , G01N21/4785 , G01N21/55 , G01N21/57 , G01N2021/8411 , G01N2201/061
摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft eine Messlichtquelle zum Erzeugen von Messlicht mit einer gleichmäßigen räumlichen Beleuchtungsstärkeverteilung. Die Messlichtquelle umfasst einen Hohlkörper (01) mit einer diffus reflektierenden Innenfläche. Im Hohlkörper (01) sind ein konkaver, hohlspiegelförmiger Beleuchtungsraum (04), ein rohrartiger Lichtformungsraum (06) und ein konkaver, hohlspiegelförmiger Lichtaustrittsraum (07) ausgebildet, die eine gemeinsame Achse (03) aufweisen. Im Beleuchtungsraum (04) ist eine Lichtquelle (08) zum Erzeugen von Licht zumindest teilweise angeordnet. Der Lichtaustrittsraum (07) weist einen Lichtaustritt (14) auf. Der Beleuchtungsraum (04) und der Lichtaustrittsraum (07) stehen sich mit ihren Hohlspiegelformen gegenüber und sind durch den rohrartigen Lichtformungsraum (06) verbunden. Erfindungsgemäß ist im Hohlkörper (01) eine diffus reflektierende Reflexionsscheibe (11) zum Reflektieren des von der im Lichtaustrittsraum (07) angeordneten Innenfläche des Hohlkörpers (01) reflektierten Lichtes durch den Lichtaustritt (14) nach außerhalb des Hohlkörpers (01) angeordnet. Im Weiteren betrifft die Erfindung eine Messanordnung zum Erfassen eines absoluten Reflexionsspektrums einer Probe und zum Durchführen einer Referenzmessung.
摘要翻译：本发明涉及用于产生具有均匀空间照度分布的测量光的测量光源。测量光源包括具有漫反射内表面的空心体（01）。在中空体（01）形成，凹，凹面镜状照明区域（04），管状光整形空间（06）和一个凹面，凹面反射镜形状的光出射空间（07），其具有一个共同的轴线（03）。用于产生光的光源（08）至少部分地布置在照明空间（04）中。光出射空间（07）具有光出口（14）。所述照明腔室（04）和光出射面（07）彼此面对，它们的凹面镜形式和由管状的光成形空间（06）相连接。漫反射反射板（11），用于通过在光出射空间反映排序（07）由光出射（14）与中空体（01）的外部反射的中空体（01）的光根据布置在所述中空体（01）本发明的内表面上。此外，本发明涉及用于检测样品的绝对反射光谱并用于执行参考测量的测量装置。

4. 发明公开

EP3246677A2 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR ERMITTLUNG ZUMINDEST EINER PRÜFEIGENSCHAFT EINES PRÜFGEGENSTANDS 审中-公开
公开(公告)号：EP3246677A2
公开(公告)日：2017-11-22
申请号：EP17171896.8
申请日：2017-05-19
申请人： H & P Trading GmbH
发明人： Hochwarter, Erwin , Hochwarter, Michael , Hochwarter, Markus , Größwang, Heinz
IPC分类号： G01J3/50 , G01J3/52 , G01N21/47 , G01J3/02 , G06K9/00
CPC分类号： G01J3/501 , G01J3/0202 , G01J3/0264 , G01J3/0272 , G01J3/0286 , G01J3/0291 , G01J3/0297 , G01J3/50 , G01J3/504 , G01J3/524 , G01N21/474 , G01N21/4785 , G01N2021/4711 , G06K2009/0059
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ermittlung zumindest einer Prüfeigenschaft eines Prüfgegenstands und eine Messvorrichtung, welche geeignet ist, ein Messfeld (3) unter einer Vielzahl an Anstrahlungskombinationen aus Einstrahlungswinkel (α) und/oder Wellenlängenbereich (A) mit elektromagnetischer Strahlung (5) anzustrahlen und die Intensität der jeweils von dem Messfeld unter zumindest einem Abstrahlungswinkel (β) remittierten elektromagnetischen Strahlung (5) zu messen. Die Prüfeigenschaft weist zumindest ein definiertes messbares Einzelmerkmal auf, wobei das Einzelmerkmal oder eine definierte Merkmalskombination mehrerer solcher Einzelmerkmale die Herkunft und/oder Identität des Prüfgegenstandes (1) belegt, wobei das Einzelmerkmal oder die Merkmalskombination messbar ist, wenn sie durch die elektromagnetische Strahlung (5) auf eine durch eine Auswahl an Anstrahlungkombinationen definierte Art und Weise optisch angeregt wird. Das Einzelmerkmal oder die Merkmalskombination wird mit der Messvorrichtung (4) in dieser Art und Weise angeregt und gemessen.

5. 发明公开

EP2350258A4 METHODS AND APPARATUS TO OBTAIN SUSPENDED PARTICLE INFORMATION 审中-公开
标题翻译：方法和设备有关暂停的获取信息
公开(公告)号：EP2350258A4
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：EP09822774
申请日：2009-10-23
申请人： THE UNIV OF NOTRE DAME DU LAC
发明人： RUGGIERO STEVEN , TANNER CAROL
IPC分类号： G01N21/31 , G01N15/02 , G01N21/39 , G01N21/47 , G01N21/51 , G02B21/00 , G02B21/18
CPC分类号： G01N15/0205 , G01N21/00 , G01N21/31 , G01N21/39 , G01N21/4785 , G01N21/51 , G01N21/59 , G01N2015/0294 , G01N2021/4707 , G01N2201/06113 , G01N2201/105 , G02B21/0096 , G02B21/18
摘要： Example methods and apparatus for obtaining suspended particle information are disclosed. A disclosed example method includes emitting light from a light source, dividing the light source into a first path and a second path, and directing the first path to a first container comprising a plurality of particles in a suspension material. The example method also includes directing the second path to a second container containing a suspension material devoid of particles, retrieving a first transmission value of the first path through the first container, and retrieving a second transmission value of the second path through the second container. The example method further includes directing the first and second paths to the second and first containers, respectively, retrieving a third transmission value of the first path through the second container, retrieving a fourth transmission value of the second path through the first container, and calculating a ratio of the first and second transmission values to the third and fourth transmission values to determine an indication of transmissivity for a given wavelength.

6. 发明公开

EP3112844A1 INFRARED IMAGING SYSTEM WITH AUTOMATIC REFERENCING 有权
标题翻译：智能手机自动化系统
公开(公告)号：EP3112844A1
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：EP16176083.0
申请日：2016-06-24
申请人： Agilent Technologies, Inc.
发明人： Ghetler, Andrew , Kleczewski, Adam , Tella, Richard P.
IPC分类号： G01N21/27 , G01J3/42 , G01N21/3563 , G01N21/47 , G01N21/55
CPC分类号： G01J3/0297 , G01J3/10 , G01J3/108 , G01J3/2823 , G01J3/42 , G01N21/274 , G01N21/276 , G01N21/3563 , G01N21/4785 , G01N21/55 , G01N2201/101 , G01N2201/1042 , G01N2201/127
摘要： A method and apparatus for obtaining reference samples, i.e. measuring reference targets (62) on a reference stage (61) during the generation of a mid-infrared (MIR) image without requiring that a sample specimen (16), being placed on a specimen stage (57) and imaged, be removed is disclosed. A tunable MIR laser (11) generates a light beam (18) that is focused onto the sample specimen on the specimen stage that moves the specimen in a first direction (33). An optical assembly includes a scanning assembly (31) having a focusing lens (55) and a mirror (56) that moves in a second direction (32), different from the first direction, relative to the specimen stage. A light detector (13) measures an intensity of light leaving the point on the specimen. A controller (39) forms an image from the measured intensity. The reference stage (61) is positioned such that the scanning assembly moves over the reference stage in response to a command so that the controller can also make a reference measurement.
摘要翻译：一种用于获得参考样本的方法和装置，即在产生中红外（MIR）图像期间在参考台（61）上测量参考目标（62），而不需要将样本（16）放置在样本公开了阶段（57）并被成像。可调谐MIR激光器（11）产生聚焦在样品台上的样品样本上的光束（18），样品台沿第一方向（33）移动样本。光学组件包括具有聚焦透镜（55）的扫描组件（31）和相对于样品台沿与第一方向不同的第二方向（32）移动的反射镜（56）。光检测器（13）测量离开样品点的光的强度。控制器（39）根据测量的强度形成图像。基准台（61）被定位成使得扫描组件响应于命令移动到参考台上，使得控制器也可进行参考测量。

7. 发明公开

EP3058870A1 INFORMATION ACQUISITION APPARATUS AND INFORMATION ACQUISITION METHOD 审中-公开
标题翻译： INFORMATIONSERFASSUNGSVORRICHTUNG UND INFORMATIONSERFASSUNGSVERFAHREN
公开(公告)号：EP3058870A1
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：EP16155870.5
申请日：2016-02-16
申请人： Seiko Epson Corporation
发明人： Ishiguro, Hideto , Eguchi, Tsukasa , Tsuchiya, Hitoshi , Ito, Megumu
IPC分类号： A61B5/024 , A61B5/00 , A61B5/1455 , A61B5/1495 , G01N21/27
CPC分类号： G01J1/44 , A61B5/02416 , A61B5/1455 , A61B5/14551 , A61B5/1495 , A61B5/681 , A61B5/6824 , A61B2560/0223 , A61B2560/0233 , A61B2562/0233 , G01J2001/444 , G01N21/31 , G01N21/474 , G01N21/4785 , G01N21/4795
摘要： A component measurement apparatus includes: a sensor module that receives reflected light and outputs a signal corresponding to light intensity of the reflected light; a calibration plate that outputs first reflected light to the sensor module, the first reflected light being used for comparing the light intensity of the reflected light; and a calibration unit that switches the input reflected light to the sensor module between the second reflected light reflected at a measured portion, and the first reflected light.
摘要翻译：分量测量装置包括：传感器模块，其接收反射光并输出与反射光的光强相对应的信号; 校准板，其将第一反射光输出到所述传感器模块，所述第一反射光用于比较所述反射光的光强度; 以及校准单元，其将输入的反射光在测量部分反射的第二反射光与第一反射光之间切换到传感器模块。

8. 发明公开

EP3052921A1 NEPHELOMETRIC TURBIDIMETER AND METHOD FOR DETECTION OF THE CONTAMINATION OF A SAMPLE CUVETTE OF A NEPHELOMETRIC TURBIDIMETER 有权
标题翻译：浊度浊度仪及其检测方法的污染样品试管浊度计浊度计的
公开(公告)号：EP3052921A1
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：EP13770909.3
申请日：2013-09-30
申请人： Hach Lange GmbH
发明人： BATTEFELD, Manfred , KUSSMANN, Michael , DE HEIJ, Bas , GAßNER, Bernd , STEINHAUER, Frank , KUMPCH, Hans-Joachim , LEYER, Axel , KÜPPERS, Michael , GOLITZ, Andreas , MITREITER, Andreas , HANSCHKE, Clemens , HEIDEMANNS, Lothar
IPC分类号： G01N21/15 , G01N21/51
CPC分类号： G01N21/47 , G01N21/15 , G01N21/4785 , G01N21/51 , G01N21/94 , G01N2021/152 , G01N2021/157 , G01N2021/4726 , G01N2021/473 , G01N2201/0634
摘要： A nephelometric turbidimeter for measuring a turbidity of a liquid sample in a sample cuvette. The nephelometric turbidimeter includes a measurement light source configured to emit an axial parallel light beam directed to the sample cuvette, a scattering light detector arranged to receive a scattered light from the sample cuvette, and a diffuser comprising a diffuser body and a diffuser actuator. The diffuser actuator is configured to move the diffuser body between a parking position in which the diffuser body does not interfere with the axial parallel light beam and a test position where the diffuser body is arranged between the measurement light source and the sample cuvette so that the diffuser body interferes with the axial parallel light beam and generates a diffuse test light entering the sample cuvette.

9. 发明公开

EP2839785A1 OBJECT OBSERVATION DEVICE, OBJECT OBSERVATION METHOD, AND RECORDING MEDIUM 有权
标题翻译： OBJEKTBEOBACHTUNGSVORRICHTUNG UND OBJEKTBEOBACHTUNGSVERFAHREN
公开(公告)号：EP2839785A1
公开(公告)日：2015-02-25
申请号：EP13775158.2
申请日：2013-04-04
申请人： Advanced Telecommunications Research Institute International
发明人： SHIMOKAWA, Takeaki , KOSAKA, Takashi , YAMASHITA, Okito , SATO, Masaaki
IPC分类号： A61B10/00
CPC分类号： G01N21/4785 , A61B5/0042 , A61B5/0073 , A61B5/0091 , A61B10/0041 , G01N2201/121 , G01N2201/12753
摘要： In order to solve a problem that a local optical characteristic-changed region inside an object cannot be accurately estimated, an object observing apparatus includes: a light intensity information acquiring unit that acquires light intensity information received by each light-receiving probe in a case where light with a certain light intensity is transmitted from each light-transmitting probe of a near-infrared measurement apparatus to an object; a light intensity change information acquiring unit that acquires, for each probe set, light intensity change information regarding a light intensity change, from reference light intensity information and light intensity information; an estimating unit that acquires three-dimensional optical characteristic-changed region information regarding a position with a light absorbance change inside the object, using the light intensity change information; and an output unit that outputs the optical characteristic-changed region information; wherein the estimating unit includes: a correcting part that performs correction according to sensitivity attenuation in accordance with a depth, using sensitivity information; and a sparseness applying part that introduces sparseness for improving a space resolution, thereby acquiring the optical characteristic-changed region information. Accordingly, it is possible to accurately estimate, as three-dimensional information, a local optical characteristic-changed region inside an object.
摘要翻译：为了解决不能精确地估计物体内的局部光学特性变化区域的问题，物体观察装置包括：光强度信息获取单元，其获取由各受光探针接收的光强度信息，具有一定光强度的光从近红外测量装置的每个透光探针发射到物体; 光强度变化信息获取单元，对于每个探针组，从参考光强度信息和光强度信息中获取关于光强度变化的光强度变化信息; 估计单元，使用光强度变化信息获取与物体内部具有吸光度变化的位置有关的三维光学特性变化区域信息; 以及输出单元，其输出所述光学特性变化区域信息; 其中所述估计单元包括：校正部件，使用灵敏度信息根据深度根据灵敏度衰减进行校正; 以及引入稀疏性以提高空间分辨率的稀疏性施加部，从而获取光学特性变化区域信息。因此，作为三维信息可以准确地估计对象内部的局部光学特性变化区域。

10. 发明公开

EP2790006A1 Verfahren und Kalibriereinheit zur Kalibrierung von streulichtbasierten Partikelmessgeräten 审中-公开
标题翻译：处理和校准单元，用于光散射性粒子测量设备的校准
公开(公告)号：EP2790006A1
公开(公告)日：2014-10-15
申请号：EP13163384.4
申请日：2013-04-11
申请人： SAXON Junkalor GmbH
发明人： Manzei, Uwe , Egert, René , Schapitz, Lutz
IPC分类号： G01N21/47 , G01N15/10
CPC分类号： G01N21/474 , G01N15/0211 , G01N21/4785 , G01N2015/0046
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Kalibrierung von streulichtbasierten Partikelmessgeräten, sowie eine Kalibriereinheit.
Ausgehend von den Nachteilen des bekannten Standes der Technik soll ein Verfahren geschaffen werden, das sehr gut reproduzierbare Werte liefert und vergleichsweise in der praktischen Anwendung geringe Kosten verursacht.
Hierzu wird als Lösung vorgeschlagen, dass eine Kalibriereinheit (1), bestehend aus einem Kalibrierstrahler (10) und einem Kalibrierdetektor (11) sowie einer elektronischen Steuer- und Recheneinheit (9), in die Messkammer des Partikelmessgerätes eingebracht wird. Entweder einzeln oder in Kombination werden in zeitlicher Reihenfolge nacheinander
a) zur Prüfung der Strahlungsquelle des Partikelmessgerätes die von dieser abgegebene Strahlungsstärke mittels des Kalibrierdetektors (11) gemessen und
b) zur Prüfung mindestens eines Detektors des Partikelmessgerätes vom Kalibrierstrahler (10) eine Strahlung mit einer vorgegebenen Stärke als Sollwert abgegeben und vom Detektor gemessen.
Die gemessenen Werte gemäß a) werden in der elektronischen Steuer- und Recheneinheit (9) der Kalibriereinheit (1) und gemäß b) in der elektronischen Steuer- und Recheneinheit des Partikelmessgerätes verarbeitet und dem Bediener als Korrekturempfehlung angezeigt und Strahlungsquelle und/oder Detektor nachjustiert.
摘要翻译：本发明涉及一种用于光散射性粒子测量设备校准的方法和校准单元。从现有技术中的缺点出发，提供了一种方法，其提供高度可再现的值，并在实际使用成本相对较低。为了这个目的，建议作为一个解决方案，即一个校准单元（1），包括一个校准源（10）和校准检测器（11）和电子控制和计算单元（9）被引入到粒子测量设备的测量室中。单独地或组合地在一个时间顺序之后的其它a）中测得的由Kalibrierdetektors 11）和b）进行测试的装置的至少一个从所述校准源的粒子测量系统的检测器（10）的放射线预定与测试粒子测量仪，其（在此发射的辐射强度的辐射源给定的强度设定值和由检测器测得的。根据所测量的值）中的电子控制和计算单元进行处理的微粒测量装置的电子控制和处理单元的校准单元（1）和根据b）的，并显示给操作者作为校正建议和调整辐射源和/或检测器（9）。

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