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1. 发明公开

EP2790006A1 Verfahren und Kalibriereinheit zur Kalibrierung von streulichtbasierten Partikelmessgeräten 审中-公开
标题翻译：处理和校准单元，用于光散射性粒子测量设备的校准
公开(公告)号：EP2790006A1
公开(公告)日：2014-10-15
申请号：EP13163384.4
申请日：2013-04-11
申请人： SAXON Junkalor GmbH
发明人： Manzei, Uwe , Egert, René , Schapitz, Lutz
IPC分类号： G01N21/47 , G01N15/10
CPC分类号： G01N21/474 , G01N15/0211 , G01N21/4785 , G01N2015/0046
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Kalibrierung von streulichtbasierten Partikelmessgeräten, sowie eine Kalibriereinheit.
Ausgehend von den Nachteilen des bekannten Standes der Technik soll ein Verfahren geschaffen werden, das sehr gut reproduzierbare Werte liefert und vergleichsweise in der praktischen Anwendung geringe Kosten verursacht.
Hierzu wird als Lösung vorgeschlagen, dass eine Kalibriereinheit (1), bestehend aus einem Kalibrierstrahler (10) und einem Kalibrierdetektor (11) sowie einer elektronischen Steuer- und Recheneinheit (9), in die Messkammer des Partikelmessgerätes eingebracht wird. Entweder einzeln oder in Kombination werden in zeitlicher Reihenfolge nacheinander
a) zur Prüfung der Strahlungsquelle des Partikelmessgerätes die von dieser abgegebene Strahlungsstärke mittels des Kalibrierdetektors (11) gemessen und
b) zur Prüfung mindestens eines Detektors des Partikelmessgerätes vom Kalibrierstrahler (10) eine Strahlung mit einer vorgegebenen Stärke als Sollwert abgegeben und vom Detektor gemessen.
Die gemessenen Werte gemäß a) werden in der elektronischen Steuer- und Recheneinheit (9) der Kalibriereinheit (1) und gemäß b) in der elektronischen Steuer- und Recheneinheit des Partikelmessgerätes verarbeitet und dem Bediener als Korrekturempfehlung angezeigt und Strahlungsquelle und/oder Detektor nachjustiert.
摘要翻译：本发明涉及一种用于光散射性粒子测量设备校准的方法和校准单元。从现有技术中的缺点出发，提供了一种方法，其提供高度可再现的值，并在实际使用成本相对较低。为了这个目的，建议作为一个解决方案，即一个校准单元（1），包括一个校准源（10）和校准检测器（11）和电子控制和计算单元（9）被引入到粒子测量设备的测量室中。单独地或组合地在一个时间顺序之后的其它a）中测得的由Kalibrierdetektors 11）和b）进行测试的装置的至少一个从所述校准源的粒子测量系统的检测器（10）的放射线预定与测试粒子测量仪，其（在此发射的辐射强度的辐射源给定的强度设定值和由检测器测得的。根据所测量的值）中的电子控制和计算单元进行处理的微粒测量装置的电子控制和处理单元的校准单元（1）和根据b）的，并显示给操作者作为校正建议和调整辐射源和/或检测器（9）。

2. 发明公开

EP2790007A1 System bestehend aus einer Kalibriereinheit in Kombination mit einem streulichtbasierten Partikelmessgerät zur Messung von polydispersen Agglomeraten in gasförmigen Medien 审中-公开
标题翻译：系统包括校准单元结合光散射为基础的颗粒分析仪用于气体介质测量多分散的附聚物
公开(公告)号：EP2790007A1
公开(公告)日：2014-10-15
申请号：EP14163649.8
申请日：2014-04-05
申请人： SAXON Junkalor GmbH
发明人： Dipl.-Ing. Manzei, Uwe , Dipl.-Ing. Egert, René , Dipl.-Ing. Schapitz, Lutz
IPC分类号： G01N21/47 , G01N15/10
CPC分类号： G01N21/474 , G01N15/0211 , G01N21/4785 , G01N2015/0046
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf ein System bestehend aus einer Kalibriereinheit in Kombination mit einem streulichtbasierten Partikelmessgerät zur Messung von polydispersen Agglomeraten in gasförmigen Medien.
Ausgehend von den Nachteilen des bekannten Standes der Technik soll ein System geschaffen werden, mit dem es ermöglicht wird, kostengünstig und wiederholbar Partikelmess-geräte zu prüfen und zu kalibrieren.
Hierzu wird als Lösung ein System als Kombination eines Partikelmessgerätes mit einem Kalibrierstift als Kalibriereinheit mit folgenden Merkmalen vorgeschlagen.
Das Partikelmessgerät 14 besitzt eine von Partikeln in einem gasförmigen Medium durchströmbare Messkammer 18 mit einer Laserstrahlungsquelle 15 sowie einem oder mehreren Detektoren 16. Außerdem gehören zum Partikelmessgerät noch als wesentliche Bestandteile eine Entnahmesonde, eine Pumpe zum Gastransport, ein Feinfilter und eine elektronische Steuer- und Recheneinheit, die mit einem Anzeige- und Eingabefeld in Verbindung steht.
Zur Kalibrierung des Partikelmessgerätes wird in die Messkammer 18 passgenau als Kalibriereinheit ein Kalibrierstift 1 mit einer optischen Einheit, bestehend aus einem Kalibrierstrahler 10 und einem Kalibrierdetektor 11, sowie einer elektronischen Steuer- und Recheneinheit und einer Multifunktionsanzeige eingesetzt und arretiert.
摘要翻译：本发明涉及以组合方式包括校准单元与基于光散射粒子分析仪在气体介质测量多分散附聚物的系统。从已知的现有技术的缺点出发，一个系统是被创建，与它是可能的，价格低廉，且可再现的审查粒子测定装置和校准。为了这个目的，系统被提出作为使用校准为具有以下特征的溶液的校准单元中的颗粒测量仪的组合。粒子测定装置14具有一个粒子可以在气态介质中测量室18流动具有激光辐射源15和一个或多个检测器16.此外，该颗粒的一部分测量装置或作为必须成分，采样探头，用于气体输送泵，细过滤器，以及电子控制和处理单元，这是在具有显示器和输入场通信。为了校准粒子测量是在测量室18中，精确地具有光学单元，包括一个校准源10和校准检测器11，以及电子控制和计算单元和插入并锁定一个多功能显示一个校准单元校准销1。

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