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1. 发明公开

EP4361584A1 MICRO-RAMAN DEVICE 审中-实审
公开(公告)号：EP4361584A1
公开(公告)日：2024-05-01
申请号：EP23205765.3
申请日：2023-10-25
申请人： Shimadzu Corporation
发明人： SHIBUTANI, Ryuta
IPC分类号： G01J3/02 , G01J3/08 , G01J3/10 , G01J3/44
CPC分类号： G01J3/0232 , G01J3/08 , G01J3/44 , G01J3/0213 , G01J3/0235 , G01J3/10 , G01J2003/10420130101 , G01J2003/10620130101
摘要： A micro-Raman device includes a first laser light source, a second laser light source, a first holder, a second holder, a first ND filter, and a second ND filter. The first laser light source and the second laser light source generate first laser light of a first wavelength and second laser light of a second wavelength, respectively. The second wavelength is different from the first wavelength. The first laser light and the second laser light proceed in a second direction orthogonal to a first direction while being separated from each other in the first direction. The first holder and the second holder are arranged overlapping each other in the second direction.

2. 发明授权

EP3420325B1 SYSTEME DE SPECTROSCOPIE ET D'IMAGERIE 有权转让
公开(公告)号：EP3420325B1
公开(公告)日：2022-09-28
申请号：EP17705673.6
申请日：2017-02-22
发明人： GOSSELIN, Renaud
IPC分类号： G01J3/02 , G01J3/08

3. 发明公开

EP3683566A1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM ERFASSEN VON EIGENSCHAFTEN EINES ZU UNTERSUCHENDEN FLUIDS 有权转让
公开(公告)号：EP3683566A1
公开(公告)日：2020-07-22
申请号：EP20151705.9
申请日：2020-01-14
申请人： Scan Messtechnik Gesellschaft mbH
发明人： BENZ, Alexander , MORAWEK, Roman , SPIGAHT, Bernd , WEINGARTNER, Andreas
IPC分类号： G01N21/27 , G01N21/59 , G01N33/18 , G01J3/08 , G01N21/85
摘要： Vorrichtung (1) zum Erfassen von Eigenschaften eines zu untersuchenden Fluids (F), mit einer Lichtquelle (2) zum Aussenden mehrerer Lichtstrahlen (L), von welchen einer der Lichtstrahlen (L) ein Messstrahl (3) ist, welcher für einen Durchtritt durch das Fluid (F) vorgesehen ist, und ein anderer Lichtstrahl (L) ein Referenzstrahl (4) ist, welcher zur Umgehung des Fluids (F) vorgesehen ist, mit einer der Lichtquelle (2) nachgeschalteten bewegbaren Abdeckeinrichtung (5), welche zum Abdecken der Lichtstrahlen (L) vorgesehen ist und die zwischen einer ersten den Messstrahl (3) freigebenden und Referenzstrahl (4) abdeckenden Position (P1) und einer zweiten den Messstrahl (3) abdeckenden und den Referenzstrahl (4) freigebenden Position (P2) überführbar angeordnet ist, und mit einem der Abdeckeinrichtung (5) nachgeschalteten Lichtdetektor (6), wobei die Abdeckeinrichtung (5) in eine dritte Position (P3, P3', P3") überführbar angeordnet ist, in welcher die von der Lichtquelle (2) ausgesendeten Lichtstrahlen (L) im Vergleich zur ersten Position (P1) und zur zweiten Position (P2) der Abdeckeinrichtung (5) unterschiedlich abgedeckt sind.

4. 发明授权

EP3221672B1 MULTI-MODE IMAGING SPECTROMETER 有权
公开(公告)号：EP3221672B1
公开(公告)日：2019-05-29
申请号：EP15757412.0
申请日：2015-08-24
申请人： Raytheon Company
发明人： SILNY, John F.
IPC分类号： G01J3/04 , G01J3/08 , G01J3/18 , G01J3/28 , G01J3/02

5. 发明授权

EP3239668B1 MESSANORDNUNG ZUR ORTSVERTEILTEN ERFASSUNG VON SPEKTREN 有权
公开(公告)号：EP3239668B1
公开(公告)日：2018-09-05
申请号：EP17162710.2
申请日：2017-03-24
申请人： NIR-Online GmbH
发明人： Qvarfort, Tomas , Eckert, Michael
IPC分类号： G01J3/02 , G01J3/08 , G08C15/06
CPC分类号： G01J3/08 , G01J3/0275

6. 发明授权

EP3019912B1 MULTI-CHANNEL UP-CONVERSION INFRARED SPECTROMETER AND METHOD OF DETECTING A SPECTRAL DISTRIBUTION OF LIGHT 有权转让
标题翻译：多通道上转换红外光谱仪和检测光谱分布的方法
公开(公告)号：EP3019912B1
公开(公告)日：2017-08-30
申请号：EP14738372.3
申请日：2014-07-09
申请人： Danmarks Tekniske Universitet
发明人： TIDEMAND-LICHTENBERG, Peter , DAM, Jeppe Seidelin , PEDERSEN, Christian
IPC分类号： G02F1/35 , G01J3/26 , G01J3/28 , G01J3/443 , G01J3/08
CPC分类号： G01J3/0297 , G01J3/0294 , G01J3/08 , G01J3/26 , G01J3/2803 , G01J3/2823 , G01J3/443 , G01J2003/1291

7. 发明公开

EP2691752A4 SCALABLE SPECTROSCOPIC DETECTION AND MEASUREMENT 审中-公开
标题翻译：可扩展的光谱检测和测量
公开(公告)号：EP2691752A4
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：EP12765764
申请日：2012-03-27
申请人： GNUBIO INC , TRACY DAVID , STOKES PETER LEWIS , KIANI SEPEHR
发明人： TRACY DAVID , STOKES PETER LEWIS , KIANI SEPEHR
IPC分类号： G01J3/12 , G01J3/02 , G01J3/06 , G01J3/08 , G01J3/10 , G01J3/14 , G01J3/18 , G01J3/28 , G01J3/42 , G01J3/44 , G01N15/14 , G01N21/64
CPC分类号： G01J3/42 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0216 , G01J3/0248 , G01J3/0291 , G01J3/06 , G01J3/08 , G01J3/10 , G01J3/14 , G01J3/18 , G01J3/2803 , G01J3/44 , G01J3/4406 , G01N15/1434 , G01N15/1459 , G01N15/1484 , G01N21/6456

8. 发明公开

EP2469251A2 Method and apparatus for performing spectroscopy downhole within a wellbore 有权
标题翻译：在井眼内进行井下井下光谱分析的方法和设备
公开(公告)号：EP2469251A2
公开(公告)日：2012-06-27
申请号：EP12160291.6
申请日：2007-10-01
申请人： Custom Sensors and Technology
发明人： Christian, Sean M , Ford, Jess V , Ponstingl, Mike , Johnson, Anthony , Kruger, Sven , Waid, Margaret C. , Kasperski, Bryan , Prati, Enrique
IPC分类号： G01J3/02 , G01V8/02 , E21B49/10 , G01J3/08 , G01J3/28 , G01J3/42
CPC分类号： G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0297 , G01J3/08 , G01J3/28 , G01J3/42 , G01J2003/1282 , G01J2003/1286
摘要： A tool for measuring properties of a formation fluid downhole within a wellbore is described. The tool comprises means for obtaining a sample of formation fluid from an isolated portion of an earth formation, means for evaluating a property of said formation fluid, and means allowing correction of systemic changes in said evaluation while said tool is downhole within said wellbore.
摘要翻译：描述了用于测量井眼内井下地层流体性质的工具。该工具包括用于从地层的孤立部分获得地层流体的样本的装置，用于评估所述地层流体的特性的装置，以及允许在所述工具在井眼内的井下时修正所述评估中的系统变化的装置。

9. 发明公开

EP2442093A2 Optical-path-difference compensation mechanism for acquiring wave form signal of time-domain pulsed spectroscopy apparatus 审中-公开
标题翻译：机制，用于检测光谱装置zeitbereichsgepulsten的波形信号补偿光程差
公开(公告)号：EP2442093A2
公开(公告)日：2012-04-18
申请号：EP11192255.5
申请日：2004-08-19
申请人： Japan Science and Technology Agency
发明人： Nishizawa, Seizi , Iwamoto, Toshiyuki
IPC分类号： G01N21/35 , G01J3/08
CPC分类号： G01J3/08 , G01N21/3586 , G01N2201/0696 , G01N2201/0698
摘要： It is an object to provide a time-domain pulsed spectroscopy apparatus in which time-domain pulsed spectroscopy of multiple samples, states thereof, and so on can be carried out easily and in a short period of time. A time-domain pulsed spectroscopy apparatus of the present invention comprises a pulsed laser light source; a splitting unit configured to split pulsed laser light from the pulsed laser light source into excitation pulsed laser light and detection pulsed laser light; a pulsed-light emitting unit; a detector; a sample holder configured to hold the sample; and sample-unit entrance and exit optical systems configured to guide the pulsed light from the pulsed-light emitting unit to the sample and to guide to the detector pulsed light reflected from or transmitted through the sample due to the irradiation; wherein the time-domain pulsed spectroscopy apparatus further comprises: at least one optical-path-length varying unit for setting a photometric range, disposed in an incident-side optical path from the splitting unit to the pulsed-light emitting unit and/or in a detection-side optical path from the splitting unit to the detector; and at least one optical delay unit for the wave form signal measurement, disposed in the incident-side optical path from the splitting unit to the pulsed-light emitting unit and/or in the detection-side optical path from the splitting unit to the detector.
摘要翻译：这是一个目的是提供在多个样品的哪个时间序列变换脉冲分光计的时域脉冲分光计测装置，其状态等可以很容易地并且在短时间内进行。本发明的时间序列变换脉冲分光计测装置包括脉冲激光源; 配置为脉冲激光从该脉冲激光光源分成激发用脉冲激光光束和检测用脉冲激光光束分割单元; 脉冲式发光单元; 的检测器; 构造成保持所述样品的样品保持器; 和采样单元的入口和出口的光学系统被配置为从所述脉冲光辐射装置引导的脉冲光到样品并引导到检测器脉冲光从反射式或反式通过样品mitted由于照射; worin的时间序列变换脉冲分光计测装置还包括：至少一个光路长度改变单元，用于设置的测光范围内，在入射侧的光路从所述分支单元配置在所述脉冲光发射单元和/或在一个检测侧从分割单元到所述检测器的光路; 和用于波形信号测量至少一个光延时单元，在入射侧的光路设置在从分束单元到所述脉冲光辐射装置和/或在检测侧的光路从所述分支单元向所述检测器，

10. 发明公开

EP2267420A1 Vorrichtung für die optische Spektroskopie und mechanischer Schalter für eine solche Vorrichtung 审中-公开
标题翻译：设备，用于光学光谱和机械开关用于这种设备
公开(公告)号：EP2267420A1
公开(公告)日：2010-12-29
申请号：EP10006396.5
申请日：2010-06-19
申请人： Carl Zeiss MicroImaging GmbH
发明人： Correns, Nico , Kerstan, Felix , Jochmann, Doris , Hoyme, Werner , Dobschal, Hans-Jürgen , Seeberg, Marcel , Freyta, Lutz
IPC分类号： G01J3/28 , G01N21/47 , G01J3/08
CPC分类号： G01J3/08 , G01J3/021 , G01J3/0262 , G01J3/28 , G01J2003/2866 , G01N21/4738
摘要： Werden ein Messstrahlengang und ein separater Referenzstrahlengang gemeinsam über einen Y-Lichtleiter in ein Spektrometer eingekoppelt, so sind die Lichtleitwerte des Messstrahlengangs und des Referenzstrahlengangs jedoch niedrig, da die Eintrittsöffnung des Spektrometers jeweils nur anteilig ausgenutzt werden kann. Ein niedriger Lichtleitwert erfordert lange Integrationszeiten. Die Erfindung soll eine Referenzierung und Messung mit hoher Genauigkeit ermöglichen sowie einen mechanischen Schalter mit geringem Prellen angeben.
In einer spektroskopischen Vorrichtung weisen dazu der Referenzstrahlengang (R) und der Messstrahlengang (M) zwischen der Weiche und dem Detektoreingang denselben Lichtleitwert und dieselbe optische Achse auf. So kann die Eintrittsöffnung nahezu vollständig genutzt werden. Bei einem Schalter ist abseits des beweglichen Elements ein zweiter Permanentmagnet derart befestigt, dass in der betreffenden Schaltstellung entgegengesetzte magnetische Pole des ersten Permanentmagneten und des zweiten Permanentmagneten einander berührungslos zugewandt sind und sich bei jeder Auslenkung des beweglichen Elements aus der betreffenden Schaltstellung voneinander entfernen.
摘要翻译：该系统（1）具有一个发光单元（3）发射的光来照射样品表面和参考面（4）。光学偏转器耦合的测量光束（M）和参考光束（R），以沿着respectivement从样品表面测量光束和参考光束光谱上分辨探测器（5）的输入到检测器中的位置respectivement解决。参考和测量光束具有光偏转器和所述分辨探测器之间相同的集光率和相同的光轴。光学偏转器在所述测量光束的光（5.1）的输入后直接位于。

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