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    • 2. 发明申请
    • FIRST AND SECOND ORDER FOCUSING USING FIELD FREE REGIONS IN TIME-OF-FLIGHT
    • 第一和第二个订单在时间飞行中使用现场免费区域聚焦
    • WO2013093587A1
    • 2013-06-27
    • PCT/IB2012/002631
    • 2012-12-06
    • DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE. LTD.
    • HAUFLER, Robert, E.LOYD, William, M.
    • H01J49/40H01J49/04
    • H01J49/405H01J49/0027H01J49/02H01J49/406
    • In some embodiments, a time of flight mass spectrometer can comprise an input orifice for receiving ions, a first ion accelerator stage for accelerating the ions along a first path, at least one ion reflector for receiving said accelerated ions and redirecting said ions along a second path different than the first path, a detector for detecting at least a portion of the ions redirected by said at least one ion reflector, and at least first and second field free drift regions disposed between said first acceleration stage and said detector, wherein said second field free region is disposed in proximity of the detector. In some embodiments, the lengths of the field free drift regions can be selected so as to provide 1st and 2nd order corrections of the time of flight of the ions with respect to variation in their initial positions.
    • 在一些实施例中,飞行时间质谱仪可以包括用于接收离子的输入孔,用于沿着第一路径加速离子的第一离子加速器级,用于接收所述加速离子的至少一个离子反射器,并沿着第二路径重定向所述离子 用于检测由所述至少一个离子反射器重定向的离子的至少一部分的检测器,以及设置在所述第一加速级与所述检测器之间的至少第一和第二场自由漂移区,其中所述第二 无场区设置在检测器附近。 在一些实施例中,可以选择场自由漂移区的长度,以便提供离子相对于其初始位置变化的飞行时间的1次和2次校正。
    • 4. 发明申请
    • ION OPTICS SYSTEMS
    • 离子光学系统
    • WO2006081204A2
    • 2006-08-03
    • PCT/US2006/002338
    • 2006-01-24
    • APPLERA CORPORATIONMDS INC.VESTAL, Marvin, L.
    • VESTAL, Marvin, L.
    • H01J49/06
    • H01J49/405
    • In various embodiments, provided are ion optics systems comprising an even number of ion mirrors arranged in pairs such that a trajectory of an ion exiting the ion optics system can be provided that intersects a surface substantially parallel to an image focal surface of the ion optics system at a position that is substantially independent of the kinetic energy the ion had on entering the ion optics system. In various embodiments, provided are ion optics systems comprising an even number of ion mirrors arranged in pairs where the first member and second member of each pair are disposed on opposite sides of a first plane such that the first member of the pair has a position that is substantially mirror-symmetric about the first plane relative to the position of the second member of the pair.
    • 在各种实施例中,提供了包括成对布置的偶数个离子镜的离子光学系统,使得可以提供离开离子光学系统的离子的轨迹,其与基本上平行于离子光学系统的图像焦点表面的表面相交 在基本上独立于离子进入离子光学系统的动能的位置。 在各种实施例中,提供了离子光学系统,其包括偶数排列成对的离子镜,其中每对的第一构件和第二构件设置在第一平面的相对侧上,使得该对的第一构件具有位置, 关于第一平面相对于该对的第二构件的位置基本上镜像对称。
    • 5. 发明申请
    • METHOD AND APPARATUS FOR CORRECTION OF INITIAL ION VELOCITY IN A REFLECTRON TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER
    • 用于校正反射电子飞行时间质谱仪中的离子初始速度的方法和设备
    • WO99027560A2
    • 1999-06-03
    • PCT/US1998/024910
    • 1998-11-24
    • H01J49/40
    • H01J49/405H01J49/06H01J49/40
    • The present invention provides for a reflectron time-of-flight mass spectrometer in which there exists a curved field in a portion of the reflectron that takes into account acceleration and deceleration fields in upstream (from the ion source down to the reflectron) and downstream (from the reflectron down to the ion detector) regions, which are always present in any TOF-MS. The reflectron includes a decelerating section and a correcting section, with curved electric fields in the correcting and/or decelerating sections of the reflectron being considered. Moreover, analytic expressions are provided for calculating the profiles of the curved electric field in the second (correcting) section of the reflectron, which expressions are valid for arbitrary electric field distributions in the upstream and downstream regions as well as in the first (deceleration) section of the reflectron. These profiles will depend on the electric field distributions in the upstream and downstream regions and in the first (deceleration) section of the reflectron.
    • 反射器飞行时间质谱仪技术领域本发明涉及一种反射飞行时间质谱仪,后者设置有考虑到上游扇区(从离子源到反射器)中的加速和减速场的弯曲场 )和下游(从反射器到离子检测器),在任何飞行时间质谱仪(TOF-MS)中总是遇到的场。 该反射器包括减速部分和在校正部分和/或减速部分中具有弯曲电场的校正部分。 有,而且,用于计算在所述反射器的所述第二部分(校正)的弯曲电场的轮廓的解析表达式,这些表达式是在第一有效的在上游和下游电场的任意的分布以及 反射器的一部分(减速)。 这些配置文件取决于上游和下游部门的电场分布以及反射器的第一部分(减速)。
    • 6. 发明申请
    • TANDEM MASS SPECTROMETRY APPARATUS
    • WO1995033279A1
    • 1995-12-07
    • PCT/GB1995001252
    • 1995-05-31
    • UNIVERSITY OF WARWICKDERRICK, Peter, JohnREYNOLDS, David, JohnMAKAROV, Alexander, Alekseevich
    • UNIVERSITY OF WARWICK
    • H01J49/40
    • H01J49/405H01J49/004
    • Tandem mass spectrometry apparatus comprises a serial arrangement of an ion source (10), a first time-of-flight means (20, 80), a collision cell (40) to generate fragment ions and a second time-of-flight analyser (50). The second time-of-flight analyser comprises an ion mirror (51, 52) which is arranged to produce a quadratic field along or at an angle to the optical axis of the apparatus. The first time-of-flight analyser may comprise a sequential S configuration of toroidal or cylindrical electrostatic analysers (70) or may comprise two electrostatic lenses (80, 96) to either side of an ion mirror or may comprise an electrostatic lens (80). The first time-of-flight analysers thus comprise electrostatic field means for providing spatial focusing of ions in all three dimensions at or near the entrance to the ion mirror of the second time-of-flight analyser (50). The spatial focusing, concomitant with time focusing, is the essential requirement for the quadratic field mirror to give high resolution.
    • 串联质谱装置包括离子源(10),第一飞行时间装置(20,80),产生碎片离子的碰撞池(40)和第二飞行时间分析仪( 50)。 第二飞行时间分析仪包括离子镜(51,52),该离子镜被设置成沿着设备的光轴或与其光轴成角度地产生二次场。 第一飞行时间分析器可以包括环形或圆柱形静电分析器(70)的顺序S配置,或者可以包括离子镜的任一侧的两个静电透镜(80,96),或者可以包括静电透镜(80) 。 因此,第一飞行时间分析器包括静电场装置,用于在第二飞行时间分析仪(50)的离子反射镜的入口处或附近提供所有三维空间中的离子的空间聚焦。 随着时间的推移,空间聚焦是二次场立体镜提供高分辨率的基本要求。
    • 7. 发明申请
    • TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETERS WITH CASSINI REFLECTOR
    • 具有CASSINI反射器的飞行时间质谱仪
    • WO2015003799A1
    • 2015-01-15
    • PCT/EP2014/001872
    • 2014-07-08
    • BRUKER DALTONIK GMBH
    • KÖSTER, Claus
    • H01J49/40H01J49/42
    • H01J49/405H01J49/425
    • The invention relates to embodiments of high-resolution time-of- flight (TOF) mass spectrometers with special reflectors. The invention provides reflectors with ideal energy and solid angle focusing, based on Cassini ion traps, and proposes that a section of the flight path of the TOF mass spectrometers takes the form of a Cassini reflector. It is particularly favorable to make the ions fly through this Cassini reflector in a TOF mass spectrometer at relatively low energies, with kinetic energies of below one or two kiloelectronvolts. This results in a long, mass-dispersive passage time in addition to the time of flight of the other flight paths, without increasing the energy spread, angular spread or temporal distribution width of ions of the same mass. It is also possible to place several Cassini reflectors in series in order to extend the mass-dispersive time of flight. Several TOF mass spectrometers for axial as well as orthogonal ion injection with Cassini reflectors are presented.
    • 本发明涉及具有特殊反射器的高分辨率时间飞行(TOF)质谱仪的实施例。 本发明提供了基于卡西尼离子阱的具有理想能量和立体角度聚焦的反射器,并且提出了TOF质谱仪的飞行路径的一部分采取卡西尼反射器的形式。 特别有利的是使离子以相当低的能量在TOF质谱仪中飞过该卡西尼反射器,动能低于一或两千伏电压。 这导致除了其他飞行路径的飞行时间之外的长的,质量分散的通过时间,而不增加相同质量的离子的能量扩散,角度扩展或时间分布宽度。 也可以将几个卡西尼反射器串联放置,以延长飞行的质量分散时间。 介绍了几种TOF质谱仪进行轴向和正交离子注入与卡西尼反射镜。
    • 8. 发明申请
    • СПОСОБ И УСТРОЙСТВА МАСС-СПЕКТРОМЕТРИИ
    • 质谱方法和装置
    • WO2014126449A1
    • 2014-08-21
    • PCT/KZ2013/000004
    • 2013-03-13
    • САПАРГАЛИЕВ, Алдан Асанович
    • САПАРГАЛИЕВ, Алдан Асанович
    • H01J49/40G01N30/72
    • G01N30/72H01J49/009H01J49/405H01J49/406
    • Изобретение относится к электронной аналитической технике по определению состава и структуры веществ, в частности к области анализаторов, включающих в себя, по меньшей мере, один масс-спектрометр (MS - mass spectrometer), и может быть использовано в медицине, в биологии, в газовой и нефтяной промышленности, в металлургии, энергетике, геохимии, гидрологии, экологии. Технический результат - увеличение разрешающей способности MS, чувствительности, точности и скорости измерения состава и структуры веществ, при одновременном расширении функциональных возможностей, уменьшении геометрических габаритов и массы анализаторов вещества. Разработаны многотрактный способ масс-спектрометрии и трехмерный отражательный ( 3D -отражательный) способ масс-спектрометрии, требования которого заключаются в использовании трехмерной отражательной 10 подсистемы ( 3D - отражатель). Для осуществления этих способов представлен новый вид распределения электрического поля поперечноразрывно-коническое, включая его тип с трехмерным распределением в области отражения. Разработаны варианты устройств для реализации способа. Представлены принципиальные ионно-оптические схемы, которые позволяют создавать различных видов MS.
    • 本发明涉及用于确定物质的组成和结构的电子分析技术,特别涉及包括至少一种质谱仪(MS)的分析仪领域,并且可用于医药,生物学,油气工业,冶金学 能源工业,地球化学,水文和生态学。 技术结果是在测量物质的组成和结构时,MS分辨率,灵敏度,精度和速度都有所提高,同时功能性能的增加和物质分析仪的几何尺寸和质量的降低。 已经开发了质谱的多轨方法和质谱的三维反射(3D反射)方法,后者需要使用三维反射IO子系统(3D反射器)。 为了实现这些方法,提出了一种新颖的横向不连续的圆锥形的电场分布,包括其在反射区域中具有三维分布的类型。 为了实现该方法,已经开发了装置的变型。 列出的是主要的离子光学方案,可以创建各种各样的MS。
    • 10. 发明申请
    • DISPOSITIF D'ANALYSE DE MASSE A LARGE ACCEPTANCE ANGULAIRE COMPRENANT UN REFLECTRON
    • 具有包括电路在内的宽角度接受的质量分析装置
    • WO2010092141A1
    • 2010-08-19
    • PCT/EP2010/051764
    • 2010-02-12
    • CAMECAYAVOR, Mikhaïl
    • YAVOR, Mikhaïl
    • H01J49/40
    • H01J49/405H01J49/0004
    • Dispositif d'analyse de masse (100) à large acceptance angulaire, notamment du type spectromètre de masse ou microscope à sonde atomique, comprenant des moyens de réception d'un échantillon (101), des moyens d'extraction d'ions depuis la surface de l'échantillon (101), et un réflectron (103) produisant un champ électrostatique toroïdal dont les lignes équipotentielles sont définies par une première courbure dans une première direction et un premier centre de courbure (105), et une seconde courbure dans une seconde direction perpendiculaire à la première direction et un second centre de courbure, caractérisé en ce que l'échantillon (101) est disposé à proximité du premier centre de courbure (105).
    • 本发明涉及一种具有广角角接受度的质量分析装置(100),特别是质谱仪或原子探针显微镜,包括用于接收样品(101)的装置,用于从该表面提取离子的装置 样品(101)和产生环形静电场的反射器(103),其中等电位线由第一方向和第一曲率中心(105)的第一曲率限定,第二方向垂直于第二方向 到第一方向和第二曲率中心,其特征在于,样品(101)被放置成与第一曲率中心(105)相邻。