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1. 发明申请

WO2008145110A1 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR CHARAKTERISIERUNG EINER PROBE MIT ZWEI ODER MEHR OPTISCHEN FALLEN 审中-公开
标题翻译：方法和设备表征样本有两个或多个光阱
公开(公告)号：WO2008145110A1
公开(公告)日：2008-12-04
申请号：PCT/DE2008/000897
申请日：2008-05-30
申请人： LPI LIGHT POWER INSTRUMENTS GMBH , HEYN, Sven-Peter , KERSSEMAKERS, Jacob , KNEBEL, Detlef , EGGERT, Helge , JÄHNKE, Torsten , KAMPS, Jörn
发明人： HEYN, Sven-Peter , KERSSEMAKERS, Jacob , KNEBEL, Detlef , EGGERT, Helge , JÄHNKE, Torsten , KAMPS, Jörn
IPC分类号： G02B21/32 , G21K1/00 , G12B21/00
CPC分类号： G02B21/32 , G01Q10/06 , G01Q30/06 , G01Q60/00
摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Untersuchen einer Probe (5, 6) mittels Rasterphotonenmikroskopie oder Lichtkraftmikroskopie, sowie eine entsprechend eingerichtete Vorrichtung. Das Verfahren bzw. die Vorrichtung sieht zwei optische Fallen (1, 2) vor, die in einem örtlichen Bereich der Probe (5, 6) bewegbar sind, wobei in wenigstens einer der beiden Fallen (1, 2) eine Sonde (3, 4) gefangen ist. Die Probe (5, 6) wird mit beiden Fallen (1, 2) gescannt und die Messdaten aus beiden Fallen (1, 2) werden getrennt erfasst und durch Korrelation ausgewertet. Durch das Verfahren lassen sich insbesondere Störsignale, die aus einer Wechselwirkung zwischen Probe und Lichtfalle resultieren, eliminieren.
摘要翻译：本发明涉及一种用于（6 5）通过扫描显微镜或光力显微镜，以及一个相应装备的装置来检查的样品。该方法和装置提供了两个光阱（1,2）在其前面在样品的局部区域的（5,6）是可移动的，其中，在这两种情况下的至少一个（1，2）的探针（3,4 ）被困。与两个陷阱样品（5,6）（1，2）被扫描，这两种情况下的测量数据（1，2）可单独检测和相关性进行评价。通过该方法可以在从样品和光阱消除之间的相互作用所产生的特定的干扰信号。

2. 发明申请

WO2007036222A2 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM POSITIONIEREN EINES VERLAGERBAREN BAUTEILS IN EINEM UNTERSUCHUNGSSYSTEM 审中-公开
标题翻译：用于在调查系统中定位可发布组件的方法和设备
公开(公告)号：WO2007036222A2
公开(公告)日：2007-04-05
申请号：PCT/DE2006/001722
申请日：2006-09-29
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , KNEBEL, Detlef , JÄHNKE, Torsten
发明人： KNEBEL, Detlef , JÄHNKE, Torsten
IPC分类号： G01N1/00
CPC分类号： G01Q70/04 , G01N35/04 , G01N2035/0491 , G01Q10/04
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Positionieren eines verlagerbaren Bauteils in einem Untersuchungssystem, insbesondere einem Meß- oder Analysesystem, wobei bei dem Verfahren das verlagerbare Bauteil mit Hilfe eines an das verlagerbare Bauteil gekoppelten Aktorelementes aus einer Ausgangsstellung in eine Endstellung verlagert wird, indem das Aktorelement mittels einer Antriebskraft bewegt wird, und das verlagerbare Bauteil über ein mit dem verlagerbaren Bauteil in Verbindung stehendes Feststellbauteil mit einer das verlagerbare Bauteil in der Endstellung feststellenden Feststellkraft beaufschlagt wird, indem das Feststellbauteil zumindest teilweise in einen Vorrat eines Mediums eintaucht und in dem Medium mittels Überführen des Mediums aus einem flüssigen Zustand in einen verfestigten Zustand fixiert wird, wobei das Medium mittels Beaufschlagen mit einer Stellgröße aus dem flüssigen Zustand in den verfestigten Zustand überführt wird.
摘要翻译：
本发明涉及一种用于在检查系统，尤其是我ROAD定位可移位的部件的方法和装置 - 或分析系统，其特征在于，借助可移动部件加上移动部件中的一个的过程致动器元件从一个起始位置移动到由致动器元件通过一个驱动力而移动，并用与该移动部件在端部位置宣告可移动部件锁定部件将关联的可移动部件的端部位置，锁紧力是由所施加的锁定构件至少部分地浸入在介质中的储存器并且在由导航用途的装置中的介质是固定拉尔状态到凝固的状态，其中通过将所述介质的操作＆oUML ;; Berf导航用途带领介质出从FL导航中使用的FL导航用途ROAD的 ssigen状态在d 固化状态。

3. 发明申请

WO2009012766A1 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM KOMBINIERTEN UNTERSUCHEN EINER PROBE MIT ZU UNTERSUCHENDEN OBJEKTEN 审中-公开
标题翻译：方法和设备使用对象是SEEKERS样品的联合检测
公开(公告)号：WO2009012766A1
公开(公告)日：2009-01-29
申请号：PCT/DE2008/001203
申请日：2008-07-24
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , JÄHNKE, Torsten , MÜLLER, Torsten , POOLE, Kathryn, Anne , KNEBEL, Detlef
发明人： JÄHNKE, Torsten , MÜLLER, Torsten , POOLE, Kathryn, Anne , KNEBEL, Detlef
IPC分类号： G01N13/16 , G12B21/20
CPC分类号： G01Q60/42 , B82Y35/00 , G01N21/6458 , G01N2021/6482 , G01Q30/02 , G01Q30/04
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum kombinierten Untersuchen einer Probe mit zu untersuchenden Objekten, insbesondere einer Probe mit biologischen Objekten, bei dem Messergebnisse für ein oder mehrere der zu untersuchenden Objekte in der Probe erfasst werden, indem das eine oder die mehreren zu untersuchenden Objekte mittels eines bildgebenden Messverfahrens untersucht werden, sondenmikroskopische Messergebnisse für das eine oder die mehreren zu untersuchenden Objekte erfasst werden, indem das eine oder die mehreren zu untersuchenden Objekte mittels eines sondenmikroskopischen Messverfahrens untersucht werden, und die Messergebnisse und die sondenmikroskopischen Messergebnisse, nach wahlweiser vorheriger Zwischenverarbeitung, einander zugeordnet werden. Des weiteren betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zum Ausführen einer kombinierten Untersuchung einer Probe mit zu untersuchenden Objekten, insbesondere einer Probe mit biologischen Objekten.
摘要翻译：本发明涉及一种用于样品的结合分析的方法要被检查的对象，特别是生物对象的样品，其中用于一个或多个测试对象的测量结果由所述一个或多个样品中检测到通过的手段被检查对象要被检查的一个或多个成像测量方法被检查探针显微镜测量结果对象由一个或多个检测到进行测试以通过探针显微测量方法来分析对象，并且所述测量结果和所述探针显微镜测量的结果，之前任选的中间处理中，彼此相关联是。本发明还涉及一种设备，用于执行样品的组合分析待检查物体，特别是生物对象的样品。

4. 发明申请

WO2003028037A3 VORRICHTUNG UND VERFAHREN FÜR EIN RASTERSONDENMIKROSKOP 审中-公开
公开(公告)号：WO2003028037A3
公开(公告)日：2003-04-03
申请号：PCT/DE2002/003688
申请日：2002-09-24
申请人： JPK Instruments AG , KNEBEL, Detlef , JÄHNKE, Torsten , SÜNWOLDT, Olaf
发明人： KNEBEL, Detlef , JÄHNKE, Torsten , SÜNWOLDT, Olaf
IPC分类号： G12B21/08
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung und ein Verfahren für ein Rastersondenmikroskop, insbesondere ein Rasterkraftmikroskop mit einer Messanordnung (100), welche eine laterale Verlagerungseinrichtung (1) zum Verlagen einer Messsonde (5) in einer Ebene, eine vertikale Verlagerungseinrichtung (4) zum Verlagern der Messsonde (5) in einer Richtung senkrecht zur Ebene und einen Probenträger (11) zum Aufnehmen einer Messprobe (6) umfasst. Durch die Messanordnung (100) hindurch ist ein Kondensorlichtweg (10) gebildet, so dass der Probenträger (11) im Bereich eines Endes des Kondensorlichtwegs (10) angeordnet ist.

5. 发明申请

WO2009012765A2 MESSONDENVORRICHTUNG FÜR EIN SONDENMIKROSKOP, MESSZELLE SOWIE RASTERSONDENMIKROSKOP 审中-公开
标题翻译： MESSONDENVORRICHTUNG的探测显微镜，测量单元和探针显微镜GRID
公开(公告)号：WO2009012765A2
公开(公告)日：2009-01-29
申请号：PCT/DE2008/001202
申请日：2008-07-24
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , JÄHNKE, Torsten , MÜLLER, Torsten , POOLE, Kathryn, Anne , KNEBEL, Detlef
发明人： JÄHNKE, Torsten , MÜLLER, Torsten , POOLE, Kathryn, Anne , KNEBEL, Detlef
IPC分类号： G01N13/16 , G12B21/22 , B01L3/00
CPC分类号： G01Q30/14 , B01L3/5025 , B01L3/5085 , B01L2300/0819 , B01L2300/0851 , B01L2300/10 , G01Q60/42
摘要： Die Erfindung betrifft eine Messsondenvorrichtung für ein Sondenmikroskop, insbesondere ein Rastersondenmikroskop, mit einer Messsondenaufnahme und einer an der Messsondenaufnähme angeordneten Messsonde, die für eine sondenmikroskopische Untersuchung einer Probe eingerichtet ist, wobei an der Messsondenaufnahme eine die Messsonde wenigstens teilweise aufnehmende und auf einer von der Messsondenaufnahme abgewandten Seite offene Messsondenkammer gebildet ist, die konfiguriert ist, eine Flüssigkeit die Messsonde umgebend aufzunehmen. Des weiteren betrifft die Erfindung eine Messzelle zum Aufnehmen einer flüssigen Probe für ein Sondenmikroskop, ein Rastersondenmikroskop mit einer Messsondenvorrichtung sowie ein Rastersondenmikroskop mit einer Messzelle.
摘要翻译：本发明涉及一种探针装置用于探针显微镜，尤其是扫描探针显微镜，具有测量探针插座和，布置在其适于样品的探针显微镜检查Messsondenaufnähme测量探针，在所述测量探头接收测量探头至少部分地接收和测量探头插座的一个从测量探头腔背向开口侧形成有被配置成接收围绕所述探针的液体。此外，本发明涉及一种测量细胞用于保持液体样本的探测显微镜，具有探测装置和具有测量单元的扫描探针显微镜的扫描探针显微镜。

6. 发明申请

WO2008011849A1 VERFAHREN ZUM BETREIBEN EINER EINE RASTERSONDENMIKROSKOPEINRICHTUNG AUFWEISENDEN MESSANORDNUNG UND MESSANORDNUNG 审中-公开
标题翻译：一种用于操作的扫描探针显微镜DEVICE HAVING测量装置和测量装置
公开(公告)号：WO2008011849A1
公开(公告)日：2008-01-31
申请号：PCT/DE2006/001648
申请日：2006-09-19
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , POOLE, Kate , KNEBEL, Detlef , JÄHNKE, Torsten
发明人： POOLE, Kate , KNEBEL, Detlef , JÄHNKE, Torsten
IPC分类号： G01N13/16 , G12B21/02
CPC分类号： G01Q10/02 , G01Q30/14 , G01Q60/42
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betreiben einer eine Rastersondenmikroskopeinrichtung aufweisenden Meßanordnung, wobei bei dem Verfahren mit einer Verlagerungseinrichtung (50, 52) eine in einem Meßsondenabschnitt mit mindestens einer Sondensubstanz (10, 20) beladene Meßsonde (1) der Rastersondenmikroskopeinrichtung und eine Aufnahme für eine Probe (4; 30), mit der die mindestens eine Sondensubstanz (10, 20) bei einer rastersondenmikroskopischen Messung in Wechselwirkung tritt, innerhalb eines von mehreren, mit Hilfe der Verlagerungseinrichtung (50, 52) einnehmbaren Relativpositionen von Meßsonde (1) und Aufnahme aufgespannten Verlagerungsbereiches relativ zueinander bewegt werden und die Meßsonde (1) nach Gebrauch bei der rastersondenmikroskopischen Messung in dem Verlagerungsbereich verbleibend gereinigt wird.
摘要翻译：本发明涉及一种用于操作一个光栅探针显微镜装置，包括测量装置，在该方法中有位移装置（50,52），一个在一个Meßsondenabschnitt与加载至少一个探针物质（10，20）的探针（1）的扫描探针显微镜装置和用于容器的（4; 30）与所述至少一个探针物质（10，20）样品发生在扫描探针显微镜测量的多个之一内相互作用摄取，与所述位移装置（50，52）的测量探头（1）和记录所跨越的相对位置的辅助位移范围内相对地移动，并在左移位部分在扫描探针显微镜测量使用后的测量探针（1）进行清洗。

7. 发明申请

WO2007041976A1 VERFAHREN ZUM UNTERSUCHEN EINES MESSOBJEKTES UND VORRICHTUNG 审中-公开
标题翻译：方法进行调查测量物件与装置
公开(公告)号：WO2007041976A1
公开(公告)日：2007-04-19
申请号：PCT/DE2006/001131
申请日：2006-06-30
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , JÄHNKE, Torsten
发明人： JÄHNKE, Torsten
IPC分类号： G01N13/10 , G12B21/20 , G12B21/22
CPC分类号： G01Q10/06 , G01Q30/025 , G01Q30/06
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Untersuchen eines Meßobjektes (2, 12), bei dem das Meßobjekt (2, 12) mit einer Meßsonde (10) einer Rastersondenmeßeinrichtung rastersondenmikroskopisch untersucht wird und bei dem zumindest ein Teilabschnitt (1) des Meßobjektes (2, 12) in einem optischen Meßsystem zugeordneten Beobachtungsbereich optisch mit dem optischen Meßsystem untersucht wird, wobei eine durch die rastersondenmikroskopische Untersuchung verursachte Verlagerung des zumindest einen Teilabschnittes (1) des Meßobjektes (2, 12) aus dem Beobachtungsbereich heraus korrigiert wird, derart, daß der zumindest eine verlagerte Teilabschnitt (1) des Meßobjektes (2, 12) mit Hilfe einer Nachstelleinrichtung, welche die Verlagerung charakterisierende Datensignale verarbeitet, wieder in dem Beobachtungsbereich angeordnet wird.
摘要翻译：本发明涉及一种方法，用于检查测量对象（2，12），其中具有Rastersondenmeßeinrichtung的测量探头（10）的测量对象（2，12）由扫描型探针显微镜观察，并且其中至少一部分部分（1）的测量对象（2，12 在光学测量系统观察区域相关联）在光学上与光学测量系统，其特征在于，由在至少一个部分截面的扫描探针显微镜检查位移观察（1）从所述观察区域出测量对象（2，12）的进行校正，使得所述至少一个移测量对象（2，12）通过一调节装置，其处理的位移数据表征信号的装置的一部分（1）被再次置于在观察区域。

8. 发明申请

WO2008017322A1 WÄRMEKOPPLUNGSVORRICHTUNG 审中-公开
标题翻译：热电联产装置
公开(公告)号：WO2008017322A1
公开(公告)日：2008-02-14
申请号：PCT/EP2006/007976
申请日：2006-08-11
申请人： NAMBITION GMBH , TECHNISCHE UNIVERSITÄT DRESDEN , LEUSCHNER, Mirko , STRUCKMEIER, Jens , GEISLER, Ulrich , JÄHNKE, Torsten
发明人： LEUSCHNER, Mirko , STRUCKMEIER, Jens , GEISLER, Ulrich , JÄHNKE, Torsten
IPC分类号： G01N13/10 , G12B21/00 , F25D19/00
CPC分类号： G01Q30/10 , F28D15/0275 , F28F13/00 , F28F2013/008
摘要： Die Erfindung betrifft eine Wärmekopplungsvorrichtung für die Rastersonden- oder Kraftmikroskopie, umfassend eine erste Wärmeleiteinrichtung (27), eine zweite Wärmeleiteinrichtung (28), und eine Kopplungseinrichtung (36, 38, 39, 40, 41), wobei die erste Wärmeleiteinrichtung (27) gegenüber der zweiten Wärmeleiteinrichtung (28) bewegbar ist, und die Kopplungseinrichtung (36, 38, 39, 40, 41) so zwischen der ersten und zweiten Wärmeleiteinrichtung (27, 28) angeordnet und ausgebildet ist, dass sie fluidartig, wenigstens teilweise verformbar und/oder gelenkig ist und Wärme zwischen der ersten und der zweiten Wärmeleiteinrichtung (28) übertragbar ist.
摘要翻译：本发明涉及一种用于对扫描探针或原子力显微镜，其包括第一热传导装置（27），第二热传导装置（28），和耦合装置（36，38，39，40，41），其中，所述第一热传导装置（27）的热耦合装置第二热传导装置（28）是可移动的，而该耦合装置（36，38，39，40，41）作为第一和第二热传导装置之间（27，28）被布置和配置为流体状，至少部分可变形和/或铰接和所述第一和第二热传导装置（28）之间的热是转让。

9. 发明申请

WO2007076828A1 VERFAHREN ZUM BETREIBEN EINES MESSSYSTEMS MIT EINEM RASTERSONDENMIKROSKOP UND MESSSYSTEM 审中-公开
标题翻译：一种用于操作测量系统用探针显微镜和GRID测量系统
公开(公告)号：WO2007076828A1
公开(公告)日：2007-07-12
申请号：PCT/DE2006/002298
申请日：2006-12-21
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , JÄHNKE, Torsten , HAGGERTY, Michael
发明人： JÄHNKE, Torsten , HAGGERTY, Michael
IPC分类号： G12B21/20 , G01N13/10
CPC分类号： G01Q40/00 , G01Q30/06
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Betreiben eines Messsystems mit einem Rastersondenmikroskop, insbesondere einem Rasterkraftmikroskop sowie ein Meßsystem zum rastersondenmikroskopischen und zum optischen Untersuchen einer Meßprobe. Bei dem Verfahren werden auf einer Anzeigevorrichtung eine mit Hilfe einer optischen Aufnahmeeinrichtung aufgenommene, optische Abbildung eines Messabschnitts einer zu untersuchenden Messprobe dargestellt, eine Auswahl einer Position in der optischen Abbildung erfasst und für eine Rastersondenmessung eine Messsonde, die für die Rastersondenmessung konfiguriert ist, mittels einer die Messsonde und die Messprobe relativ zueinander bewegenden Verlagerungsvorrichtung zu einer Messposition verlagert, die der in der optischen Abbildung ausgewählten Position gemäß einer Koordinatentransformation zugeordnet ist, indem die Verlagerungsvorrichtung der Koordinatentransformation entsprechend gesteuert wird, wobei mit der Koordinatentransformation eine zuvor ermittelte Zuordnung zwischen einem Koordinatensystem der optischen Abbildung und einem Koordinatensystem eines von Verlagerungspositionen der Messsonde und der Messprobe aufgespannten Raumes gebildet ist, wobei die Verlagerungspositionen die Messposition umfassen.
摘要翻译：本发明涉及一种用于操作一个测量系统的扫描探针显微镜，尤其是扫描力显微镜，以及用于扫描探针显微镜和用于光学检测的测试样品的测量系统的方法。在该方法中，一个记录的光拾取装置的帮助下，被检查者的测定试样的测定部的光学成像显示所示的显示装置上，检测选择的光学图像和用于扫描探针测量，测量探头，其被配置为扫描探针测量，位置的通过的装置置换探针和测量样本相对运动传递装置，其与根据由所述坐标变换的所述移置装置的坐标变换在光学成像位置所选择的相关联的相应控制的测量位置，预先在光学的坐标系之间确定与坐标变换的映射画面和由探针和测定试样的空间换档位置跨越的平面的坐标系中形成，所述换档位置测量位置包括。

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