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    • 4. 发明申请
    • VERFAHREN ZUM TEXTURIEREN EINER OBERFLÄCHE EINES HALBLEITERSUBSTRATES SOWIE VORRICHTUNG ZUM DURCHFÜHREN DES VERFAHRENS
    • 方法的纹理化半导体衬底和器件的表面实施过程
    • WO2010136387A1
    • 2010-12-02
    • PCT/EP2010/056995
    • 2010-05-20
    • UNIVERSITÄT KONSTANZHAHN, GisoHAVERKAMP, HelgeXIMELLO-QUIEBRAS, Jose Nestor
    • HAHN, GisoHAVERKAMP, HelgeXIMELLO-QUIEBRAS, Jose Nestor
    • H01L21/00H01L21/306
    • H01L21/67086H01L31/02363H01L31/18Y02E10/50
    • Es wird ein Verfahren zum Texturieren einer Oberfläche eines Halbleitersubstrates vorgeschlagen. Die Oberfläche wird dabei mit einer das Halbleitersubstratmaterial ätzenden Ätzlösung geätzt, wobei der Ätzlösung ein Benetzungsmittel beigefügt ist, welches wasserlösliche Polymere, insbesondere in Form von Polyvinylalkohol, enthält. Hierbei können die Prozesstemperaturen der Ätzlösung im Vergleich zu herkömmlichen Texturierungsverfahren erhöht werden, wodurch sich die Prozessdauer verkürzen lässt. Eine Prozessführung wird vereinfacht und eine Prozessstabilität erhöht. Eine geeignete Texturierungsvorrichtung zum Durchführen des Verfahrens kann zusätzlich zu einem Becken (6) zum Aufnehmen der Ätzlösung (7) und einer Heizung (9) zum Erhitzen der Ätzlösung (7) auf mindestens 85°C noch eine optional beheizbare Entleerungseinrichtung (12) zum Entleeren der Ätzlösung aus dem Becken (6), eine Entfernungseinrichtung (14, 15) zum Entfernen von kristallisierten wasserlöslichen Polymeren aus der Ätzlösung (7) sowie eine Umwälzeinrichtung (18) zum Umwälzen der Ätzlösung aufweisen.
    • 它提出了一种用于纹理化半导体衬底的表面的方法。 该表面然后用苛性材料,半导体衬底蚀刻溶液,其中所述蚀刻溶液,润湿剂加入,其中含有水溶性聚合物,特别是在聚乙烯醇的形式蚀刻。 这里,蚀刻溶液的处理温度可以相对于传统的纹理化,这可以缩短处理时间而增加。 的方法管理被简化,并且过程稳定性增加。 用于执行该方法中,除了一个罐(6),用于接收所述蚀刻溶液(7)和用于加热所述蚀刻溶液的加热器(9)一种合适的纹理化装置(7),以至少为85℃或用于排空任选可加热排气装置(12) 从盆蚀刻溶液(6),去除装置(14,15)用于从所述蚀刻溶液(7)和用于循环所述蚀刻溶液具有循环装置(18)除去结晶的水溶性聚合物。