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    • 1. 发明申请
    • 走査荷電粒子顕微鏡
    • 扫描充电颗粒显微镜
    • WO2010041392A1
    • 2010-04-15
    • PCT/JP2009/005091
    • 2009-10-02
    • 株式会社 日立ハイテクノロジーズ石谷亨長沖功
    • 石谷亨長沖功
    • H01J37/22H01J37/28H01J37/09
    • H01J37/28H01J37/09H01J37/222H01J2237/0216H01J2237/223H01J2237/2817
    •  走査荷電粒子顕微鏡の走査画像に外部擾乱により障害が現れた場合、外部擾乱を特定するためにその画像から擾乱周波数を簡単に精度よく解析することを目的とする。また、その解析可能な最大周波数を、走査荷電粒子顕微鏡の排気ポンプとしてよく使用するターボ分子ポンプなどの回転周波数である数kHzまで高めることを目的とする。  走査画像の像障害である縞パターンのFFT解析において、Y方向(荷電粒子線の副偏向方向)の一次元FFT(1D-FFT)あるいはX方向(荷電粒子線の主偏向方向)の一次元DFT(1D-DFT)にて行う。また、解析可能な最大周波数を数kHzまで伸ばすには、荷電ビームの走査速度の速いX方向(荷電粒子線の主偏向方向)での1D-FFT(あるいは1D-DFT)解析を行う。
    • 当扫描带电粒子显微镜的扫描图像被外部干扰削弱时,可以从图像中简单且精确地分析干扰频率,以便指定外部干扰。 通过扫描带电粒子显微镜可分析的最大频率也可以增加到几kHz,这是例如通常用作扫描带电粒子显微镜的排气泵的涡轮分子泵的旋转频率。 在扫描图像中作为不需要的图像的条纹图案的FFT分析中,扫描带电粒子显微镜在Y方向(带电粒子束的亚偏转方向)上进行一维FFT(1D-FFT) 或X方向(带电粒子束的主偏转方向)上的一维DFT(1D-DFT)。 为了将可分析的最大频率扩展到几kHz,扫描带电粒子显微镜还在带电粒子具有的X方向(带电粒子束的主偏转方向)上进行1D-FFT(或1D-DFT)分析 扫描速度快。