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1. 发明申请

WO2010025712A1 VERFAHREN ZUR BEWERTUNG VON MESSWERTEN EINES OPTISCHEN ABSTANDSSENSORS 审中-公开
标题翻译：程序用于评估光学传感器距离测量
公开(公告)号：WO2010025712A1
公开(公告)日：2010-03-11
申请号：PCT/DE2009/001234
申请日：2009-09-04
申请人： MICRO-EPSILON OPTRONIC GMBH , OTTO, Tobias
发明人： OTTO, Tobias
IPC分类号： G01B11/02 , G01B11/24 , G01B21/04 , G01C3/10 , G01S17/48
CPC分类号： G01B21/045 , G01B11/026 , G01B11/24 , G01C3/085 , G01S17/48
摘要： Ein Verfahren zur Bewertung von Messwerten eines optischen Abstandssensors (1), wobei die Messwerte durch optische Abtastung eines Messobjekts (5) mittels eines Lichtstrahls (3) gewonnen werden und wobei aus dem an einem Messpunkt (8) auf dem Messobjekt (5) reflektierten und durch den Abstandssensor (1) detektierten Lichtstrahl (6) der Abstand zwischen Messpunkt (8) und Abstandssensor (1) bestimmt wird, ist im Hinblick auf eine Bereitstellung von Informationen über die Verlässlichkeit von Messwerten dadurch gekennzeichnet, dass zusätzlich zu dem Abstand des Messpunkts (8) die Intensität (I) des an dem Messpunkt (8) reflektierten und durch den Abstandssensor detektierten Lichtstrahls (6) bestimmt wird und dass durch Auswertung des zeitlichen oder räumlichen Verlaufs der Intensität (I) über mehrere weitere Messpunkte hinweg eine Bewertung des Messwerts an dem Messpunkt (8) durchgeführt wird.
摘要翻译：一种用于光学距离传感器（1），其中所述测量值是通过测量对象（5）的光扫描通过光束的装置（3），并且其中从所述测量点处（8）的测量对象（5）上反射，并且得到的测定值的评价方法由距离传感器（1）检测到的光束（6），所述测量点（8）和距离传感器之间的距离（1）被确定，其特征在于，以提供有关测量值中，除了可靠性信息（到测量点的距离 8）的强度（I）的（在测量点8）反射的并通过经由多个的时间的进一步测量点评估所述强度（I）的时间或空间轮廓由距离传感器光束（6）被确定，并且所检测到的测量值的评价进行测量点（8）。

2. 发明申请

WO2010085940A1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR BERÜHRUNGSLOSEN MESSUNG EINES ABSTANDS UND/ODER EINES PROFILS 审中-公开
标题翻译： DEVICE AND METHOD FOR非接触式测量距离和/或配置文件
公开(公告)号：WO2010085940A1
公开(公告)日：2010-08-05
申请号：PCT/DE2010/000081
申请日：2010-01-27
申请人： MICRO-EPSILON OPTRONIC GMBH , OTTO, Tobias , MEJA, Peter , STAUTMEISTER, Torsten
发明人： OTTO, Tobias , MEJA, Peter , STAUTMEISTER, Torsten
IPC分类号： G02B5/18 , G02B27/09 , G01S17/00
CPC分类号： G01S17/89 , G01S7/481 , G01S7/4972 , G01S17/48
摘要： Eine Vorrichtung (1) zur berührungslosen Messung eines Abstands und/oder eines Profils eines Messobjekts (9), wobei eine Lichtquelle (2) einen Beleuchtungslichtstrahl zum Beleuchten des Messobjekts (9) erzeugt und wobei ein Detektor (11) zur Detektion des an dem Messobjekt (9) reflektierten Anteils des Beleuchtungslichtstrahls vorgesehen ist, ist im Hinblick auf ein möglichst unempfindlichen und dennoch kompakten Sensoraufbau dadurch gekennzeichnet, dass im Strahlengang des Beleuchtungslichtstrahls eine erste Optik (13) und eine zweite Optik angeordnet sind, wobei der Beleuchtungslichtstrahl zunächst mittels der ersten Optik (13) in einer parallel zur Ausbreitungsrichtung angeordneten Auffächerungsebene auffächerbar und danach mittels der zweiten Optik annähernd parallelisierbar ist. In einem besonders bevorzugten Ausführungsbeispiel ist die zweite Optik durch eine Fresnel-Linse (5) gebildet. Ein entsprechendes Verfahren ist angegeben.
摘要翻译：一种用于在距离和/或测量对象（9），其特征在于，光源（2），用于照射所述测量对象产生的照明光束的轮廓的非接触式测量装置（1）（9）和用于检测测量对象上的检测器（11）（9）反射所提供的照明光束，其特征在于在不敏感尽可能然而紧凑的传感器组件，其特征在于，在所述照明光束的光束路径的术语的部分，第一光学系统（13）和第二光学系统被布置，其中，所述照明光束的第一至第一光学（13）展开成扇形，然后大约通过在设置为平行于传播方向Auffächerungsebene所述第二光学元件的装置并行化。在一个特别优选的实施方案中，第二光学系统由菲涅耳透镜（5）形成。被指定的相应方法。

3. 发明申请

WO2012035109A1 MISCHKRISTALLE ENTHALTEND HALBLEITERMATERIALIEN, VERFAHREN ZU DEREN HERSTELLUNG UND DEREN ANWENDUNGEN 审中-公开
标题翻译：混合晶体包含半导体材料，制造工艺的应用及发展
公开(公告)号：WO2012035109A1
公开(公告)日：2012-03-22
申请号：PCT/EP2011/066027
申请日：2011-09-15
申请人： TECHNISCHE UNIVERSITÄT DRESDEN , OTTO, Tobias , GAPONIK, Nikolai , EYCHMÜLLER, Alexander
发明人： OTTO, Tobias , GAPONIK, Nikolai , EYCHMÜLLER, Alexander
IPC分类号： C09K11/56 , C09K11/88 , H01J61/44 , C09K11/02
CPC分类号： C09K11/883 , C09K11/02 , C09K11/565 , H01J61/44
摘要： Die Erfindung betrifft neuartige Mischkristalle aus Halbleitermaterialien aus den Elementen der Gruppen 12 & 15, 12 & 16, 13 & 15 und/oder 14 & 16 des Periodensystems der Elemente in einer Schutzmatrix, ein Verfahren zu deren Herstellung und deren Anwendungen in verschiedenen Werkstoffen, z.B. in Leuchtstofflampen, in der Lasertechnik oder als Verpackungsmaterial für Nanopartikel. Die Halbleiter-Partikeln haben eine durchschnittliche Größe zwischen 1-100 nm und ihr Gehalt im Mischkristall beträgt 10 -9 -10%.
摘要翻译：本发明涉及从组12和15，12和16，13和15和/或14和16的元素周期表中的元素的半导体材料的新型混晶在保护性基质，其制备方法和它们在各种材料的应用，例如处理在荧光灯，激光技术或作为纳米颗粒的包装材料。半导体颗粒具有1-100纳米，它们在混合晶体含量之间的平均大小是10年10月9日％。

4. 发明申请

WO2011076187A1 SENSOR UND VERFAHREN ZUM OPTISCHEN MESSEN EINES ABSTANDS, EINER POSITION UND/ODER EINES PROFILS 审中-公开
标题翻译：传感器和方法的光学测量距离，位置和/或配置文件
公开(公告)号：WO2011076187A1
公开(公告)日：2011-06-30
申请号：PCT/DE2010/001507
申请日：2010-12-22
申请人： MICRO-EPSILON OPTRONIC GMBH , STAUTMEISTER, Torsten , OTTO, Tobias
发明人： STAUTMEISTER, Torsten , OTTO, Tobias
IPC分类号： G01S7/481 , G01S17/06
CPC分类号： G01S7/4814 , G01S17/06 , G01S17/88
摘要： Ein optischer Sensor zum Messen eines Abstands, einer Position und/oder eines Profils eines Messobjekts, wobei das Messobjekt aufgrund seiner Temperatur elektromagnetische Strahlung emittiert und wobei der Sensor eine Lichtquelle zum Beleuchten der Oberfläche des Messobjekts und einen Detektor zum Detektieren des an dem Messobjekt reflektierten Beleuchtungslichts aufweist, ist im Hinblick auf eine Messbarkeit auch gegen Körper, die elektromagnetische Strahlung emittieren, dadurch gekennzeichnet, dass das durch die Lichtquelle erzeugte Licht eine Wellenlänge unterhalb des Maximums des Planckschen Strahlungsspektrums des Messobjekts aufweist. Ein entsprechendes Verfahren ist angegeben.
摘要翻译：用于测量距离，位置和/或测量对象的轮廓的光学传感器，该测量对象，由于其温度发射电磁辐射，并且包括光源，用于照射所述测量物体的表面的传感器，以及用于检测反射的测量对象的照明光的检测器这是在可测量的身体对抗该发射电磁辐射，其特征在于由光源产生的光具有最大的测定对象物的普朗克辐射光谱的下方的波长方面。被指定的相应方法。

5. 发明申请

WO2010066784A1 VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG TEMPERATURSTABILER GROßFLÄCHIG EMITTIERENDER LICHTEMITTERDIODEN UND LICHTEMITTERDIODE 审中-公开
标题翻译：用于生产下稳定广泛EMITTING个发光二极管和发光二极管
公开(公告)号：WO2010066784A1
公开(公告)日：2010-06-17
申请号：PCT/EP2009/066719
申请日：2009-12-09
申请人： TECHNISCHE UNIVERSITÄT DRESDEN , EYCHMÜLLER, Alexander , GAPONIK, Nikolai , OTTO, Tobias , MUNDRA, Paul , FROLOVA, Elena
发明人： EYCHMÜLLER, Alexander , GAPONIK, Nikolai , OTTO, Tobias , MUNDRA, Paul , FROLOVA, Elena
IPC分类号： H01L33/08 , H01L33/18 , H05B33/14
CPC分类号： H01L33/18 , B82Y20/00 , H01L33/08
摘要： Die Erfindung betrifft Verfahren zur Herstellung temperaturstabiler großflächig emittierender Lichtemitter dio den und damit hergestellte Lichtemitter dio den. Die Verfahren zeichnen sich insbesondere dadurch aus, dass eine großflächig emittierende Lichtemitter dio de auf der Basis von Halbleiternanokristallen vorhanden ist, die weiterhin thermisch stabil ist und eine schmalbandige Emission besitzt. Dazu werden eine kolloidale Lösung von emittierenden Nanokristallen und eine Matrix aus entweder anorganischen Gelen oder wenigstens einem Polymer alternierend auf das Substrat mit der ersten Elektrode aufgesprüht, wobei auf Grund der elektrostatischen Wechselwirkungen zwischen Substrat, Nanopartikeln und anorganischen Gelen oder Polymeren die Nanopartikel oder Polymere der Matrix adsorbiert werden und die Verunreinigungen mit dem Lösungsmittel nach unten abfließen. Die Schicht aus den alternierend aufgesprühten Nanokristallen und der Matrix wird anschließend zur Gel vernetzung der Metalloxid-Nanopartikel erhitzt, wobei die die Emissionswellenlänge bestimmende Größe der Halbleiternanokristalle durch die Temperatur und die Zeitdauer des Erhitzens bestimmt ist. Nachfolgend wird die zweite Elektrode mittels eines bekannten PVD-Verfahrens aufgebracht.
摘要翻译：本发明涉及一种用于热稳定的大面积发光的发光制备DIO，从而所产生的发光DIO的方法。该方法特别特征在于，大面积发射发光DIO德是本半导体纳米晶体的基础上，其是热稳定的和进一步的窄带发射对。为了这个目的，发光纳米晶体的胶体溶液，要么无机凝胶或至少一种聚合物的基体交替喷到与所述第一电极的基板，由于基板，纳米颗粒和无机凝胶或聚合物，纳米颗粒或基质的聚合物之间的静电相互作用被吸附，并与溶剂向下排出的污染物。交替喷射纳米晶体和基质的层，然后加热到所述金属氧化物纳米粒子的凝胶的交联，其中，确定所述半导体纳米晶体的尺寸的发射波长由温度和加热的持续时间来确定。随后，第二电极是通过公知的PVD法施加。

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