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1. 发明申请

WO2011076187A1 SENSOR UND VERFAHREN ZUM OPTISCHEN MESSEN EINES ABSTANDS, EINER POSITION UND/ODER EINES PROFILS 审中-公开
标题翻译：传感器和方法的光学测量距离，位置和/或配置文件
公开(公告)号：WO2011076187A1
公开(公告)日：2011-06-30
申请号：PCT/DE2010/001507
申请日：2010-12-22
申请人： MICRO-EPSILON OPTRONIC GMBH , STAUTMEISTER, Torsten , OTTO, Tobias
发明人： STAUTMEISTER, Torsten , OTTO, Tobias
IPC分类号： G01S7/481 , G01S17/06
CPC分类号： G01S7/4814 , G01S17/06 , G01S17/88
摘要： Ein optischer Sensor zum Messen eines Abstands, einer Position und/oder eines Profils eines Messobjekts, wobei das Messobjekt aufgrund seiner Temperatur elektromagnetische Strahlung emittiert und wobei der Sensor eine Lichtquelle zum Beleuchten der Oberfläche des Messobjekts und einen Detektor zum Detektieren des an dem Messobjekt reflektierten Beleuchtungslichts aufweist, ist im Hinblick auf eine Messbarkeit auch gegen Körper, die elektromagnetische Strahlung emittieren, dadurch gekennzeichnet, dass das durch die Lichtquelle erzeugte Licht eine Wellenlänge unterhalb des Maximums des Planckschen Strahlungsspektrums des Messobjekts aufweist. Ein entsprechendes Verfahren ist angegeben.
摘要翻译：用于测量距离，位置和/或测量对象的轮廓的光学传感器，该测量对象，由于其温度发射电磁辐射，并且包括光源，用于照射所述测量物体的表面的传感器，以及用于检测反射的测量对象的照明光的检测器这是在可测量的身体对抗该发射电磁辐射，其特征在于由光源产生的光具有最大的测定对象物的普朗克辐射光谱的下方的波长方面。被指定的相应方法。

2. 发明申请

WO2010085940A1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR BERÜHRUNGSLOSEN MESSUNG EINES ABSTANDS UND/ODER EINES PROFILS 审中-公开
标题翻译： DEVICE AND METHOD FOR非接触式测量距离和/或配置文件
公开(公告)号：WO2010085940A1
公开(公告)日：2010-08-05
申请号：PCT/DE2010/000081
申请日：2010-01-27
申请人： MICRO-EPSILON OPTRONIC GMBH , OTTO, Tobias , MEJA, Peter , STAUTMEISTER, Torsten
发明人： OTTO, Tobias , MEJA, Peter , STAUTMEISTER, Torsten
IPC分类号： G02B5/18 , G02B27/09 , G01S17/00
CPC分类号： G01S17/89 , G01S7/481 , G01S7/4972 , G01S17/48
摘要： Eine Vorrichtung (1) zur berührungslosen Messung eines Abstands und/oder eines Profils eines Messobjekts (9), wobei eine Lichtquelle (2) einen Beleuchtungslichtstrahl zum Beleuchten des Messobjekts (9) erzeugt und wobei ein Detektor (11) zur Detektion des an dem Messobjekt (9) reflektierten Anteils des Beleuchtungslichtstrahls vorgesehen ist, ist im Hinblick auf ein möglichst unempfindlichen und dennoch kompakten Sensoraufbau dadurch gekennzeichnet, dass im Strahlengang des Beleuchtungslichtstrahls eine erste Optik (13) und eine zweite Optik angeordnet sind, wobei der Beleuchtungslichtstrahl zunächst mittels der ersten Optik (13) in einer parallel zur Ausbreitungsrichtung angeordneten Auffächerungsebene auffächerbar und danach mittels der zweiten Optik annähernd parallelisierbar ist. In einem besonders bevorzugten Ausführungsbeispiel ist die zweite Optik durch eine Fresnel-Linse (5) gebildet. Ein entsprechendes Verfahren ist angegeben.
摘要翻译：一种用于在距离和/或测量对象（9），其特征在于，光源（2），用于照射所述测量对象产生的照明光束的轮廓的非接触式测量装置（1）（9）和用于检测测量对象上的检测器（11）（9）反射所提供的照明光束，其特征在于在不敏感尽可能然而紧凑的传感器组件，其特征在于，在所述照明光束的光束路径的术语的部分，第一光学系统（13）和第二光学系统被布置，其中，所述照明光束的第一至第一光学（13）展开成扇形，然后大约通过在设置为平行于传播方向Auffächerungsebene所述第二光学元件的装置并行化。在一个特别优选的实施方案中，第二光学系统由菲涅耳透镜（5）形成。被指定的相应方法。

3. 发明申请

WO2012075978A1 OPTISCHES MESSSYSTEM ZUM BESTIMMEN VON ABSTÄNDEN 审中-公开
标题翻译：光测量系统用于确定区间
公开(公告)号：WO2012075978A1
公开(公告)日：2012-06-14
申请号：PCT/DE2011/001692
申请日：2011-09-07
申请人： MICRO-EPSILON OPTRONIC GMBH , STAUTMEISTER, Torsten
发明人： STAUTMEISTER, Torsten
IPC分类号： G01B11/25
CPC分类号： G01C3/08 , G01B11/25 , G01S7/4814 , G01S17/08
摘要： Ein Messsystem zum Bestimmen eines Abstandes zwischen einer Sensoreinrichtung und einem Messobjekt, wobei die Sensoreinrichtung eine Lichtquelle zum Erzeugen eines Beleuchtungslichtstrahls und einen Detektor zum Detektieren eines an einer Oberfläche des Messobjekts reflektierten Anteils des Beleuchtungslichtstrahls umfasst und wobei das Messobjekt zumindest für einen Wellenlängenbereich des sichtbaren Lichts transparent ausgebildet ist, ist im Hinblick auf eine möglichst zuverlässige Abstandsmessung in verschiedensten Messsituationen derart ausgestaltet und weitergebildet, dass der Beleuchtungslichtstrahl eine Wellenlänge im violetten oder ultravioletten Bereich aufweist und dass das Messobjekt derart ausgebildet ist, dass der Beleuchtungslichtstrahl an der Oberfläche des Messobjekts diffus reflektiert wird. Ferner ist ein entsprechendes Messsystem zum Messen an im Wesentlichen lichtundurchlässigen Messobjekten angegeben.
摘要翻译：用于确定一个传感器装置和测量对象，其中所述传感器装置之间的距离的测量系统，包括：光源，用于产生照明光束和用于检测光的检测器反射的照明光束的测量对象成分的表面上和其中，所述测量对象的透明的至少一个波长范围内的可见光的形成，被设计以可靠的可能距离测量各种各样的测量情况，例如和进一步发展在于该照明光束具有在紫色或紫外范围内的波长，并且该测量对象被配置为使得所述照明光束在测量物体的表面的漫反射。此外，用于测量的相应的测量系统在基本上不透明的测量对象被指示。

4. 发明申请

WO2021190713A1 OPTISCHE POSITIONIERHILFE FÜR EINEN ABSTANDSSENSOR, ABSTANDSMESSSYSTEM UND ENTSPRECHENDES VERFAHREN 审中-公开
公开(公告)号：WO2021190713A1
公开(公告)日：2021-09-30
申请号：PCT/DE2021/200014
申请日：2021-02-15
申请人： MICRO-EPSILON OPTRONIC GMBH
发明人： STAUTMEISTER, Torsten , SCHUELLER, Tobias , ROESSLER, Marco
IPC分类号： G01B11/26 , G01B21/04 , G01B21/047
摘要： Es ist eine optische Positionierhilfe für einen Abstandssensor (2) zum Unterstützen eines Positionierens des Abstandssensors (2, 16) relativ zu einem Messobjekt (8) offenbart. Die optische Positionierhilfe (6) umfasst eine Lichtquelle (10) und eine Steuereinheit (14). Die Lichtquelle (10) ist zum Erzeugen eines Einstelllichtstrahls (11) ausgebildet, wobei der Einstelllichtstrahl (11) eine Wellen- länge (λ) im sichtbaren Bereich aufweist und zum Erzeugen eines Lichtflecks auf einem Messobjekt (8) geeignet ist. Die Steuereinheit (14) weist einen Abstandseingang (15) auf und ist zum Steuern mindestens einer Eigenschaft des Einstelllichtstrahls (11) kommunizierend mit der Lichtquelle (10) verbunden. Dabei ist die Steuereinheit (14) dazu ausgebildet, einen in den Abstandseingang (15) eingegebenen Eingabewert zu bewerten und basierend auf einem Bewertungsergebnis mindestens eine Eigenschaft des Einstelllichtstrahls derart zu beeinflussen, dass der Einstelllichtstrahl (11) Rückschlüsse auf den Eingabewert erlaubt. Darüber hinaus ist ein Abstandsmesssystem (1, 1') mit dieser optischen Positionierhilfe (6) sowie ein Verfahren zum Unterstützen eines Positionierens eines Abstandssensors (2, 16) relativ zu einem Messobjekt (8) offenbart.

5. 发明申请

WO2006122519A1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM VERMESSEN VON OBERFLÄCHEN 审中-公开
标题翻译：设备和方法测量面
公开(公告)号：WO2006122519A1
公开(公告)日：2006-11-23
申请号：PCT/DE2006/000800
申请日：2006-05-10
申请人： MICRO-EPSILON MESSTECHNIK GMBH & CO. KG , STAUTMEISTER, Torsten , MESSERSCHMIDT, Bernhard , WISSPEINTER, Karl
发明人： STAUTMEISTER, Torsten , MESSERSCHMIDT, Bernhard , WISSPEINTER, Karl
IPC分类号： G01B11/02 , G01B11/24
CPC分类号： G01B11/24 , G01B2210/50 , G02B21/0064
摘要： Vorrichtung zum Vermessen von Oberflächen und Verfahren vorzugsweise zur Anwendung der Vorrichtung, wobei die Vorrichtung eine Lichtquelle zum Erzeugen eines Mehrfarbenlichtstrahls (2) aufweist, wobei der Lichtstrahl (2) durch eine Abbildungsoptik (1 ) unter Ausnutzung der chromatischen Aberration von Optiken auf mehrere unterschiedlich weit von der Abbildungsoptik beabstandeten Punkte fokussierbar ist, wobei der fokussierte Lichtstrahl (9) auf einen Punkt der Oberfläche (3) lenkbar ist und wobei eine Sensorvorrichtung zum Detektieren des reflektierten Lichtstrahls (10) vorgesehen ist, ist im Hinblick auf ein möglichst großen Abstand zwischen Messkopf und -Objekt derart ausgestaltet, dass die Abbildungsoptik (1) eine Optik (4) zum gezielten Herbeiführen einer chromatischen Aberration und eine weitere Optik (6) zum Formen des aus der Abbildungsoptik (1) austretenden, fokussierten Lichtstrahls (9) aufweist.
摘要翻译：装置，用于测量优选地用于该装置的应用表面和方法，该装置包括一个光源，用于生成一个多色光束（2），其中不同的，光束（2）由摄像光学系统（1）通过利用光学系统的色像差到多个远可以通过成像光学系统间隔开的点，其中所述聚焦光束（9）可被转向到一个点的表面上被聚焦（3），并且其中，用于检测反射光束（10）的传感器装置被提供，以测量头之间的最大可能距离和对象构造为使得成像光学器件（1），用于选择性地使色像差和用于成形所述成像光学系统的另外的光学系统（6）的光学系统（4）（1）出现，聚焦光束（9）。

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