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    • 41. 发明申请
    • OPTOELEKTRONISCHES HALBLEITERBAUELEMENT UND VORRICHTUNG MIT EINEM OPTOELEKTRONISCHEN HALBLEITERBAUELEMENT
    • 光电半导体器件及其装置的光电子半导体器件
    • WO2016074891A1
    • 2016-05-19
    • PCT/EP2015/074353
    • 2015-10-21
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
    • MOOSBURGER, JürgenPLÖSSL, Andreas
    • H01L27/15H01L33/38
    • H01L27/0248H01L27/15H01L33/382H01L33/387H01L33/405H01L33/62
    • Es wird ein optoelektronisches Halbleiterbauelement (1) mit einem Emissionsbereich (3), der eine Halbleiterschichtenfolge (2) mit einer ersten Halbleiterschicht (21), einer zweiten Halbleiterschicht (22) und einem zwischen der ersten Halbleiterschicht und der zweiten Halbleiterschicht angeordneten zur Erzeugung von Strahlung vorgesehenen aktiven Bereich (20) aufweist, und mit einem Schutzdiodenbereich (4) angegeben, wobei - das Halbleiterbauelement einen Kontakt (6) zur externen elekt rischen Kontaktierung des Halbleiterbauelements (1) aufweist; - der Kontakt einen ersten Kontaktbereich (61) aufweist, der mit dem Emissionsbereich elektrisch leitend verbunden ist; - der Kontakt einen zweiten Kontaktbereich (62) aufweist, der von dem erst en Kontaktbereich beabstandet ist und mit dem Schutzdiodenbereich elektrisch leitend verbunden ist; und - der erste Kontaktbereich und der zweite Kontaktbereich mittels eines gemeinsamen Endes (95) einer Verbindungsleitung (9) extern elektrisch kontaktierb ar sind. Weiterhin wird eine Vorrichtung mit einem optoelektronischen Halbleiterbauelement angegeben.
    • 它是具有发射区域的光电子半导体器件(1)(3)具有第一半导体层(21),第二半导体层(22)和布置在所述第一半导体层和用于产生辐射的第二半导体层之间的半导体层序列(2) 设置在有源区(20),并用一个保护二极管区域(4),其特征在于, - 所述半导体器件具有用于半导体器件(1)的外部接触elekt步骤(6)的接触; - 接触具有被导电地与发射区连接的第一接触区(61); - 接触具有第二接触区域(62),其从第一接触面积S间隔开,并且导电地连接到保护二极管区; 和 - 通过连接线的公共端(95)的装置中的第一接触区域和第二接触区域(9)的外部电kontaktierb是AR。 此外,提供了一种装置具有的光电子半导体器件。
    • 45. 发明申请
    • VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG EINES OPTOELEKTRONISCHEN HALBLEITERCHIPS UND OPTOELEKTRONISCHER HALBLEITERCHIP
    • 方法用于制造光电子半导体芯片和光电子半导体芯片
    • WO2014173590A1
    • 2014-10-30
    • PCT/EP2014/055528
    • 2014-03-19
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
    • PLÖSSL, Andreas
    • H01L33/00H01S5/02B23K26/00B23K26/40H01L33/32
    • H01L33/007B23K26/0057B23K26/40B23K2203/16B23K2203/172B23K2203/50H01L33/0095H01L33/32H01L2933/0033H01S5/0203H01S5/0213H01S5/343
    • In mindestens einer Ausführungsform ist das Verfahren zur Herstellung von optoelektronischen Halbleiterchips (10) eingerichtet und umfasst die Schritte: A) Bereitstellen eines Trägerverbunds (11), der ein Saphirwafer ist, B) Aufbringen einer Halbleiterschichtenfolge (2) auf den Trägerverbund (11), und C) Zerteilen des Trägerverbunds (11) und der Halbleiterschichtenfolge (2) zu den einzelnen Halbleiterchips (10). Der Schritt C) umfasst hierbei: D) Erzeugen je einer Vielzahl von selektiv ätzbaren Materialveränderungen in dem Trägerverbund (11) in Trennbereichen(s)durch eine fokussierte, gepulste Laserstrahlung (L), wobei die Laserstrahlung (L) eine Wellenlänge aufweist, bei der der Trägerverbund (11) transparent ist, und E) nasschemisches Ätzen der Materialveränderungen, sodass der Trägerverbund (11) zu einzelnen Trägern (1) für die Halbleiterchips (2) alleine durch das nasschemisches Ätzen oder in Kombination mit einem weiteren Materialabtrageverfahren vereinzelt wird.
    • 在至少一个实施例中,光电子半导体芯片(10)的制造方法被布置并包括以下步骤:A)提供载体组件(11),这是一种蓝宝石晶片,B)施加的半导体层序列(2)(在载体组件11), 和C)将所述承载组件(11)和半导体层序列(2)连接到各个半导体芯片(10)。 在这种情况下,步骤c)包括:D)由聚焦的脉冲激光辐射(L)产生相应的多个在承载组件可选择性蚀刻的材料的变化(11)(在分离区域S),所述激光辐射(L)具有在该波长 搬运器坯件(11)是透明的,以及e)的材料的变化湿化学蚀刻,从而使搬运架(11),以用于将半导体芯片(2)单独的载体(1)仅由湿化学蚀刻或与另一Materialabtrageverfahren组合分开。