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    • 1. 发明申请
    • VERFAHREN ZUM HERSTELLEN EINES LASERS
    • 制造激光器的方法
    • WO2013044913A2
    • 2013-04-04
    • PCT/DE2012/200062
    • 2012-09-12
    • HUMBOLDT-UNIVERSITÄT ZU BERLINMASSELINK, William, TedSEMTSIV, Mykhaylo, PetrovychCHASHNIKOVA, Mikaela
    • MASSELINK, William, TedSEMTSIV, Mykhaylo, PetrovychCHASHNIKOVA, Mikaela
    • H01S5/0425H01S5/02461H01S5/2072H01S5/2214H01S5/2224H01S5/2275
    • Die Erfindung bezieht sich u. a. auf ein Verfahren zum Herstellen eines Lasers. Erfindungsgemäß ist bei dem Verfahren vorgesehen, dass auf oder über einem auf einem Träger (10) befindlichen Halbleiterkörper (40), der einen wellenführenden und zur Erzeugung von Photonen geeigneten aktiven Laserabschnitt (41) und einen darüber befindlichen, eine niedrigere Brechzahl als der Laserabschnitt aufweisenden Mantelabschnitt (42) umfasst, eine Materialschicht (50, 120) ganzflächig unselektiv aufgebracht wird, deren Brechzahl kleiner als die Brechzahl des aktiven Laserabschnitts ist, die elektrische Leitfähigkeit der Materialschicht (50, 120) derart lokal verändert wird, dass der über dem aktiven Laserabschnitt befindliche Schichtabschnitt (51, 122) eine größere elektrische Leitfähigkeit als der oder die seitlich neben dem aktiven Laserabschnitt befindlichen Schichtabschnitte (52, 121) aufweist, und zumindest auf dem über dem aktiven Laserabschnitt (41) befindlichen Schichtabschnitt (51, 122) der Materialschicht (50, 120) eine Kontaktschicht (70) zum elektrischen Kontaktieren des Halbleiterkörpers (40) aufgetragen wird.
    • 本发明涉及u。 一。 涉及制造激光的方法。 发明Ä大街 体(40),其具有的光子的波导航用途hrenden和产生合适的活性激光部(41)和一个表示OVER;在此,上或上方一个上的支撑BEAR位于GER(10)Halbleiterk&OUML该方法提供 ,位于低的折射率比具有激光器部鞘部(42)包括材料层(50,120)ganzfl BEAR被chig非选择性施加其折射率比所述激光器激活部分的折射率小,所述材料层的导电性的承受能力(50, 120),使得在本地一个版本BEAR被改变时,该导航使用位于有源激光部层部(51,122)上方的GRö道路ERE电导率BEAR能力大于或位于横向相邻的活性激光部分的层区段(52,121) 并且至少在有源激光器部分(41)上的材料层(50,120)上, 用于电接触半导体本体(40)的接触层(70)被应用

    • 3. 发明申请
    • 半導体素子の製造方法
    • 半导体器件制造方法
    • WO2005057744A1
    • 2005-06-23
    • PCT/JP2004/018695
    • 2004-12-15
    • エムシー・ファイテル株式会社山田由美
    • 山田由美
    • H01S5/16
    • H01S5/16B82Y20/00H01S5/162H01S5/168H01S5/2004H01S5/2009H01S5/2072H01S5/34313Y10S438/962
    •  窓構造を形成する際の熱的悪影響を防止して高出力で長期信頼性に優れた半導体素子の製造方法を提供する。  半導体基板1上に、量子井戸活性層からなる活性層4bを少なくとも含む所定の半導体層2~9を積層する第1のステップと、半導体層2~9表面の第1の部分に第1の誘電体膜10を形成する第2のステップと、半導体層2~9表面の第2の部分に前記第1の誘電体膜10と同一の材料からなり且つ第1の誘電体膜10よりも低い密度を有する第2の誘電体膜12を形成する第3のステップと、半導体層2~9、第1の誘電体膜10及び第2の誘電体膜12を含んでなる積層体を熱処理して第2の誘電体膜下部12の下の量子井戸層を混晶化する第4のステップとを有する。
    • 一种制造具有高输出和长期可靠性优异的半导体器件的方法,该方法通过防止形成窗结构时产生的热不利影响。 该方法包括在半导体衬底上形成至少包括由量子阱有源层构成的有源层(4b)的预定半导体层(2-9)的第一步骤,形成第一介电膜(10)的第二步骤 半导体层(2-9)的第一部分,形成与第一电介质膜(10)相同材料制成的第二电介质膜(12)的密度低于第一绝缘膜 在半导体层(2-9)的第二部分上的介电膜(10),以及对由半导体层(2-9)和第一和第二电介质膜(10)构成的多层体进行热处理的第四工序, 12)将第二电介质膜下部(12)下的量子阱层变换为混合晶体。
    • 6. 发明申请
    • SEMICONDUCTOR LASER ELEMENT AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
    • 半导体激光元件及其制造方法
    • WO2011135803A1
    • 2011-11-03
    • PCT/JP2011/002278
    • 2011-04-19
    • Furukawa Electric Co., Ltd.TANIGUCHI, HidehiroKINUGAWA, Kouhei
    • TANIGUCHI, HidehiroKINUGAWA, Kouhei
    • H01S5/16H01S5/20H01S5/343
    • H01S5/162B82Y20/00H01S5/2072H01S5/22H01S5/2202H01S5/2231H01S5/34313
    • It is an objective to provide a semiconductor laser element that can achieve higher optical output. The semiconductor laser element (100) includes a substrate (5) of a first conduction type and a layered semiconductor structure (17) formed on the substrate (5). The layered semiconductor structure (17) includes a first semiconductor layer of the first conduction type formed on the substrate (5), an active layer (10) formed on the first semiconductor layer (9), and a second semiconductor layer (15) of a second conduction type formed on the active layer (10), the second conduction type being opposite to the first conduction type. The first semiconductor layer, the active layer, and the second semiconductor layer include a non-window region (17a) through which a light emitted from the active layer (10) passes and a window region (17b) surrounding the non-window region (17a). Band gap energy of the active layer (10) is larger in the window region (17b) than in the non-window region (17a). The second semiconductor layer (15) includes a current confinement layer (16) that narrows a current path through which a current is injected into the active layer (10) and that protrudes toward the non-window region (17a) from an interface between the window region (17b) and the non-window region (17a).
    • 目的是提供一种能够实现更高光输出的半导体激光器元件。 半导体激光元件(100)包括形成在基板(5)上的第一导电类型的基板(5)和层状半导体结构(17)。 层状半导体结构(17)包括在基板(5)上形成的第一导电类型的第一半导体层,形成在第一半导体层(9)上的有源层(10)和第二半导体层 形成在有源层(10)上的第二导电类型,第二导电类型与第一导电类型相反。 第一半导体层,有源层和第二半导体层包括非活性层(10)发射的光通过的非窗口区域(17a)和围绕非窗口区域的窗口区域(17b) 17A)。 活性层(10)的带隙能量在窗口区域(17b)中大于非窗口区域(17a)。 第二半导体层(15)包括电流限制层(16),该电流限制层使电流注入有源层(10)的电流通路变窄,并且从电流通路(16)的界面向非窗口区域 窗口区域(17b)和非窗口区域(17a)。
    • 7. 发明申请
    • 半導体光デバイスの製造方法、半導体光レーザ素子の製造方法および半導体光デバイス
    • 用于制造半导体光学器件的方法,制造半导体光学激光元件的方法和半导体光学器件
    • WO2011004674A1
    • 2011-01-13
    • PCT/JP2010/059770
    • 2010-06-09
    • 古河電気工業株式会社谷口 英広
    • 谷口 英広
    • H01S5/16
    • H01S5/22H01S5/162H01S5/2072H01S5/2077H01S5/2205
    •  本発明にかかる半導体層を含む半導体光デバイスの製造方法は、半導体積層構造(12-18)表面の第1の領域に第1の誘電体膜(26)を形成し、半導体積層構造(12-18)表面の第2の領域に、第1の誘電体膜(26)よりも高い密度を有する第2の誘電体膜(25)を形成し、第2の誘電体膜(25)下部の半導体層の熱処理によるバンドギャップの変化量が、第1の誘電体膜(26)下部の半導体層の熱処理によるバンドギャップの変化量よりも大きくなる温度領域で熱処理を施して、第1の誘電体膜(26)下部の半導体積層構造(12-18)に窓領域(23)を形成する。
    • 提供一种半导体光学器件的制造方法,其包括半导体层,其中在半导体层叠结构(12-18)的表面的第一区域上形成第一电介质膜(26),第二电介质膜(25) 在半导体叠层结构(12-18)的表面的第二区域上形成比第一电介质膜(26)更高的密度,并且在半导体层叠结构(12-18)中形成窗口区域(23) )通过在第二介电膜(25)下的半导体层的热处理导致的带隙变化大于由于热处理导致的带隙变化的温度范围内进行热处理而在第一绝缘膜(26)下方进行热处理 的第一介电膜(26)下方的半导体层。
    • 9. 发明申请
    • 半導体レーザ素子およびその製造方法
    • 半导体激光元件及其制造方法
    • WO2010067845A1
    • 2010-06-17
    • PCT/JP2009/070693
    • 2009-12-10
    • 古河電気工業株式会社今井 英高木 啓史岩井 則広田邉 衣加清水 均石井 宏辰
    • 今井 英高木 啓史岩井 則広田邉 衣加清水 均石井 宏辰
    • H01S5/183
    • H01S5/18341H01S5/0425H01S5/18308H01S5/18311H01S5/18369H01S5/2072
    •  半導体レーザ素子は、第1、第2の電極と、第1、第2の反射鏡と、第1および前記第2の反射鏡との間の共振器であって、活性層と、電流が流れる第1の領域と電流の流れを制限する第2の領域とを有する電流経路制限層と、電流経路制限層に対して活性層とは反対側に位置する第1の半導体層と、第1の半導体層と電流経路制限層との間に位置する第2の半導体層と、を備える前記共振器と、を備え、第1の半導体層は、電流経路制限層とは反対側に一主面を有し、第1の半導体層は、電流経路制限層の第1の領域と対向する第1の領域と、電流経路制限層の第2の領域と対向する第2の領域とを備え、第1の半導体層の第2の領域の一主面の少なくとも一部に接して第1の電極が設けられ、第1の半導体層は、第1の電極を構成する成分または第1の電極を構成する成分の少なくとも一部の成分が第1の半導体層に拡散した拡散部を有し、第2の半導体層は、第1の半導体層よりも高いドーパント濃度を有し、第2の半導体層は、第1の半導体層の拡散部と接すると共に、拡散部と接した領域から電流経路制限層の第1の領域に対向する位置まで延在する。
    • 半导体激光元件设置有:第一和第二电极; 第一和第二反射镜; 以及设置在第一和第二反射镜之间的谐振器,并且设置有有源层,具有电流流动的第一区域的电流通路调节层和电流流动被调节的第二区域,第一 半导体层相对于电流路径调节层位于与有源层相反的一侧,以及位于第一半导体层和电流通路调节层之间的第二半导体层。 第一半导体层在与电流路径调整层相反的一侧具有一个主表面,并且设置有面向电流通路调节层的第一区域的第一区域和面向电流路径调节层的第二区域的第二区域 路径调节层。 第一电极设置成与第一半导体层的第二区域的一个主表面的至少一部分接触,并且第一半导体层具有扩散部分,其中构成第一电极的部件或构成第一电极的至少一些部件的部件 第一电极在第一半导体层中扩散。 第二半导体层的掺杂浓度高于第一半导体层的掺杂浓度,与第一半导体层的扩散部接触并从第二半导体层与扩散部接触的区域延伸到 第二半导体层面向电流路径调节层的第一区域。