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1. 发明申请

WO2004017019A1 VERFAHREN ZUR ÖRTLICH HOCHAUFGELÖSTEN, MASSENSPEKTROSKOPISCHEN CHARAKTERISIERUNG VON OBERFLÄCHEN MITTELS EINER RASTERSONDENTECHNIK 审中-公开
标题翻译： FOR当地的方法解决了，质谱表面特性通过网格探针技术手段
公开(公告)号：WO2004017019A1
公开(公告)日：2004-02-26
申请号：PCT/DE2003/002493
申请日：2003-07-24
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , KNEBEL, Detlef , AMREIN, Matthias
发明人： KNEBEL, Detlef , AMREIN, Matthias
IPC分类号： G01B7/34
CPC分类号： G01Q30/02 , G01Q60/22 , H01J49/04 , Y10S977/849 , Y10S977/86 , Y10S977/863
摘要： Die Erfindung betrifft ein kombiniertes Verfahren, bei dem eine hochaufgelöste Abbildung einer Probenoberfläche mittels der Rasterkraftmikroskopie erfaßt wird und eine hierzu korrelierte, örtlich hochaufgelöste, chemische Natur der Probenoberfläche mittels der Massenspektroskopie gemessen wird. Die chemische Analyse der Oberfläche erfolgt nach Laserdesorption eines eingeschränkten Oberflächenbereichs. Hierzu wird die Oberfläche impulsartig an jeder interessierenden Stelle nach dem optischen Nahfeldprinzip beleuchtet. Das optische Nahfeldprinzip garantiert eine Analyse mit einer nicht beugungslimitierten Ortsauflösung. Eine Hohlspitze der verwendeten Meßsonde erlaubt eine eindeutige Zuordnung der chemischen Analyse zu einem ausgewählten Oberflächenbereich. Die hochsymmetrische Anordnung erlaubt eine hohe Transmission der erzeugten molekularen Ionen.
摘要翻译：本发明涉及在其中检测和与其相关的由原子力显微镜的装置的样品表面的高分辨率成像，样品表面的空间上的高分辨率的化学性质通过质谱法来测量的组合过程。表面的化学分析是通过激光解吸受限表面积进行。为此目的，表面被以脉冲方式在感兴趣的光Nahfeldprinzip每个位置照亮。光学Nahfeldprinzip保证与非衍射限制的空间分辨率的分析。探针的中空尖端使用的，允许所选择的表面区域上的化学分析的一个明确的指配。的高度对称的布置允许产生分子离子的高透射率。

2. 发明申请

WO2002095367A1 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM UNTERSUCHEN EINER OBERFLÄCHENAKTIVEN SUBSTANZ 审中-公开
标题翻译：方法和装置用于研究表面活性物质
公开(公告)号：WO2002095367A1
公开(公告)日：2002-11-28
申请号：PCT/DE2002/001828
申请日：2002-05-17
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , KNEBEL, Detlef , AMREIN, Matthias
发明人： KNEBEL, Detlef , AMREIN, Matthias
IPC分类号： G01N13/02
CPC分类号： G01N13/02 , G01N2013/0266 , G01N2013/0275
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Untersuchen von Eigenschaften, insbesondere physikalischen Eigenschaften, einer oberflächenaktiven Substanz. Ein Fluid wird in Form eines Probenvolumens in einem anderen, mit dem einen Fluid nicht mischbaren Fluid eingebracht, so dass zumindest in einem Teilbereich einer Oberfläche des Probenvolumens eine Grenzschicht zwischen dem einen Fluid und dem anderen Fluid gebildet ist. Hierbei ist das Probenvolumen axialsymmetrisch um eine vorgegebene Definitionsachse ausgebildet, so dass die Grenzschicht axialsymmetrisch zu der vorgegebenen Definitionsachse gebildet ist. Die oberflächenaktive Substanz wird über die Grenzschicht gespreitet, um einen Oberflächenfilm im Bereich der Grenzschicht mit der oberflächenaktiven Substanz zu bilden. Der Oberflächenfilm kann dann mikroskopisch untersucht werden.
摘要翻译：本发明涉及一种方法和用于检查性能，特别是物理性质，表面活性剂的装置。流体是这样的，至少形成于与流体样品体积的形状没有引入不混溶流体于另一个，在样品体积，在流体和其它流体之间的边界层的表面的部分区域。在这种情况下，将样品体积被轴向对称地绕预定轴线定义使得轴对称地形成于所述预定轴定义的边界层形成的。所述表面活性剂在所述边界层扩散，以形成与表面活性剂的边界层的表面薄膜。表面薄膜然后可以显微镜检查。

3. 发明申请

WO2007036222A2 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM POSITIONIEREN EINES VERLAGERBAREN BAUTEILS IN EINEM UNTERSUCHUNGSSYSTEM 审中-公开
标题翻译：用于在调查系统中定位可发布组件的方法和设备
公开(公告)号：WO2007036222A2
公开(公告)日：2007-04-05
申请号：PCT/DE2006/001722
申请日：2006-09-29
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , KNEBEL, Detlef , JÄHNKE, Torsten
发明人： KNEBEL, Detlef , JÄHNKE, Torsten
IPC分类号： G01N1/00
CPC分类号： G01Q70/04 , G01N35/04 , G01N2035/0491 , G01Q10/04
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Positionieren eines verlagerbaren Bauteils in einem Untersuchungssystem, insbesondere einem Meß- oder Analysesystem, wobei bei dem Verfahren das verlagerbare Bauteil mit Hilfe eines an das verlagerbare Bauteil gekoppelten Aktorelementes aus einer Ausgangsstellung in eine Endstellung verlagert wird, indem das Aktorelement mittels einer Antriebskraft bewegt wird, und das verlagerbare Bauteil über ein mit dem verlagerbaren Bauteil in Verbindung stehendes Feststellbauteil mit einer das verlagerbare Bauteil in der Endstellung feststellenden Feststellkraft beaufschlagt wird, indem das Feststellbauteil zumindest teilweise in einen Vorrat eines Mediums eintaucht und in dem Medium mittels Überführen des Mediums aus einem flüssigen Zustand in einen verfestigten Zustand fixiert wird, wobei das Medium mittels Beaufschlagen mit einer Stellgröße aus dem flüssigen Zustand in den verfestigten Zustand überführt wird.
摘要翻译：
本发明涉及一种用于在检查系统，尤其是我ROAD定位可移位的部件的方法和装置 - 或分析系统，其特征在于，借助可移动部件加上移动部件中的一个的过程致动器元件从一个起始位置移动到由致动器元件通过一个驱动力而移动，并用与该移动部件在端部位置宣告可移动部件锁定部件将关联的可移动部件的端部位置，锁紧力是由所施加的锁定构件至少部分地浸入在介质中的储存器并且在由导航用途的装置中的介质是固定拉尔状态到凝固的状态，其中通过将所述介质的操作＆oUML ;; Berf导航用途带领介质出从FL导航中使用的FL导航用途ROAD的 ssigen状态在d 固化状态。

4. 发明申请

WO2009012766A1 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM KOMBINIERTEN UNTERSUCHEN EINER PROBE MIT ZU UNTERSUCHENDEN OBJEKTEN 审中-公开
标题翻译：方法和设备使用对象是SEEKERS样品的联合检测
公开(公告)号：WO2009012766A1
公开(公告)日：2009-01-29
申请号：PCT/DE2008/001203
申请日：2008-07-24
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , JÄHNKE, Torsten , MÜLLER, Torsten , POOLE, Kathryn, Anne , KNEBEL, Detlef
发明人： JÄHNKE, Torsten , MÜLLER, Torsten , POOLE, Kathryn, Anne , KNEBEL, Detlef
IPC分类号： G01N13/16 , G12B21/20
CPC分类号： G01Q60/42 , B82Y35/00 , G01N21/6458 , G01N2021/6482 , G01Q30/02 , G01Q30/04
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum kombinierten Untersuchen einer Probe mit zu untersuchenden Objekten, insbesondere einer Probe mit biologischen Objekten, bei dem Messergebnisse für ein oder mehrere der zu untersuchenden Objekte in der Probe erfasst werden, indem das eine oder die mehreren zu untersuchenden Objekte mittels eines bildgebenden Messverfahrens untersucht werden, sondenmikroskopische Messergebnisse für das eine oder die mehreren zu untersuchenden Objekte erfasst werden, indem das eine oder die mehreren zu untersuchenden Objekte mittels eines sondenmikroskopischen Messverfahrens untersucht werden, und die Messergebnisse und die sondenmikroskopischen Messergebnisse, nach wahlweiser vorheriger Zwischenverarbeitung, einander zugeordnet werden. Des weiteren betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zum Ausführen einer kombinierten Untersuchung einer Probe mit zu untersuchenden Objekten, insbesondere einer Probe mit biologischen Objekten.
摘要翻译：本发明涉及一种用于样品的结合分析的方法要被检查的对象，特别是生物对象的样品，其中用于一个或多个测试对象的测量结果由所述一个或多个样品中检测到通过的手段被检查对象要被检查的一个或多个成像测量方法被检查探针显微镜测量结果对象由一个或多个检测到进行测试以通过探针显微测量方法来分析对象，并且所述测量结果和所述探针显微镜测量的结果，之前任选的中间处理中，彼此相关联是。本发明还涉及一种设备，用于执行样品的组合分析待检查物体，特别是生物对象的样品。

5. 发明申请

WO2003028037A3 VORRICHTUNG UND VERFAHREN FÜR EIN RASTERSONDENMIKROSKOP 审中-公开
公开(公告)号：WO2003028037A3
公开(公告)日：2003-04-03
申请号：PCT/DE2002/003688
申请日：2002-09-24
申请人： JPK Instruments AG , KNEBEL, Detlef , JÄHNKE, Torsten , SÜNWOLDT, Olaf
发明人： KNEBEL, Detlef , JÄHNKE, Torsten , SÜNWOLDT, Olaf
IPC分类号： G12B21/08
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung und ein Verfahren für ein Rastersondenmikroskop, insbesondere ein Rasterkraftmikroskop mit einer Messanordnung (100), welche eine laterale Verlagerungseinrichtung (1) zum Verlagen einer Messsonde (5) in einer Ebene, eine vertikale Verlagerungseinrichtung (4) zum Verlagern der Messsonde (5) in einer Richtung senkrecht zur Ebene und einen Probenträger (11) zum Aufnehmen einer Messprobe (6) umfasst. Durch die Messanordnung (100) hindurch ist ein Kondensorlichtweg (10) gebildet, so dass der Probenträger (11) im Bereich eines Endes des Kondensorlichtwegs (10) angeordnet ist.

6. 发明申请

WO2009012765A2 MESSONDENVORRICHTUNG FÜR EIN SONDENMIKROSKOP, MESSZELLE SOWIE RASTERSONDENMIKROSKOP 审中-公开
标题翻译： MESSONDENVORRICHTUNG的探测显微镜，测量单元和探针显微镜GRID
公开(公告)号：WO2009012765A2
公开(公告)日：2009-01-29
申请号：PCT/DE2008/001202
申请日：2008-07-24
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , JÄHNKE, Torsten , MÜLLER, Torsten , POOLE, Kathryn, Anne , KNEBEL, Detlef
发明人： JÄHNKE, Torsten , MÜLLER, Torsten , POOLE, Kathryn, Anne , KNEBEL, Detlef
IPC分类号： G01N13/16 , G12B21/22 , B01L3/00
CPC分类号： G01Q30/14 , B01L3/5025 , B01L3/5085 , B01L2300/0819 , B01L2300/0851 , B01L2300/10 , G01Q60/42
摘要： Die Erfindung betrifft eine Messsondenvorrichtung für ein Sondenmikroskop, insbesondere ein Rastersondenmikroskop, mit einer Messsondenaufnahme und einer an der Messsondenaufnähme angeordneten Messsonde, die für eine sondenmikroskopische Untersuchung einer Probe eingerichtet ist, wobei an der Messsondenaufnahme eine die Messsonde wenigstens teilweise aufnehmende und auf einer von der Messsondenaufnahme abgewandten Seite offene Messsondenkammer gebildet ist, die konfiguriert ist, eine Flüssigkeit die Messsonde umgebend aufzunehmen. Des weiteren betrifft die Erfindung eine Messzelle zum Aufnehmen einer flüssigen Probe für ein Sondenmikroskop, ein Rastersondenmikroskop mit einer Messsondenvorrichtung sowie ein Rastersondenmikroskop mit einer Messzelle.
摘要翻译：本发明涉及一种探针装置用于探针显微镜，尤其是扫描探针显微镜，具有测量探针插座和，布置在其适于样品的探针显微镜检查Messsondenaufnähme测量探针，在所述测量探头接收测量探头至少部分地接收和测量探头插座的一个从测量探头腔背向开口侧形成有被配置成接收围绕所述探针的液体。此外，本发明涉及一种测量细胞用于保持液体样本的探测显微镜，具有探测装置和具有测量单元的扫描探针显微镜的扫描探针显微镜。

7. 发明申请

WO2008011849A1 VERFAHREN ZUM BETREIBEN EINER EINE RASTERSONDENMIKROSKOPEINRICHTUNG AUFWEISENDEN MESSANORDNUNG UND MESSANORDNUNG 审中-公开
标题翻译：一种用于操作的扫描探针显微镜DEVICE HAVING测量装置和测量装置
公开(公告)号：WO2008011849A1
公开(公告)日：2008-01-31
申请号：PCT/DE2006/001648
申请日：2006-09-19
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , POOLE, Kate , KNEBEL, Detlef , JÄHNKE, Torsten
发明人： POOLE, Kate , KNEBEL, Detlef , JÄHNKE, Torsten
IPC分类号： G01N13/16 , G12B21/02
CPC分类号： G01Q10/02 , G01Q30/14 , G01Q60/42
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betreiben einer eine Rastersondenmikroskopeinrichtung aufweisenden Meßanordnung, wobei bei dem Verfahren mit einer Verlagerungseinrichtung (50, 52) eine in einem Meßsondenabschnitt mit mindestens einer Sondensubstanz (10, 20) beladene Meßsonde (1) der Rastersondenmikroskopeinrichtung und eine Aufnahme für eine Probe (4; 30), mit der die mindestens eine Sondensubstanz (10, 20) bei einer rastersondenmikroskopischen Messung in Wechselwirkung tritt, innerhalb eines von mehreren, mit Hilfe der Verlagerungseinrichtung (50, 52) einnehmbaren Relativpositionen von Meßsonde (1) und Aufnahme aufgespannten Verlagerungsbereiches relativ zueinander bewegt werden und die Meßsonde (1) nach Gebrauch bei der rastersondenmikroskopischen Messung in dem Verlagerungsbereich verbleibend gereinigt wird.
摘要翻译：本发明涉及一种用于操作一个光栅探针显微镜装置，包括测量装置，在该方法中有位移装置（50,52），一个在一个Meßsondenabschnitt与加载至少一个探针物质（10，20）的探针（1）的扫描探针显微镜装置和用于容器的（4; 30）与所述至少一个探针物质（10，20）样品发生在扫描探针显微镜测量的多个之一内相互作用摄取，与所述位移装置（50，52）的测量探头（1）和记录所跨越的相对位置的辅助位移范围内相对地移动，并在左移位部分在扫描探针显微镜测量使用后的测量探针（1）进行清洗。

8. 发明申请

WO2006012893A1 VORRICHTUNG ZUM AUFNEHMEN EINER MESSPROBE 审中-公开
标题翻译：设备，用于取得的测量探头
公开(公告)号：WO2006012893A1
公开(公告)日：2006-02-09
申请号：PCT/DE2005/001395
申请日：2005-08-04
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , SÜNWOLDT, Olaf , KNEBEL, Detlef
发明人： SÜNWOLDT, Olaf , KNEBEL, Detlef
IPC分类号： G02B21/34
CPC分类号： G01Q30/14 , G01N21/03 , G01N21/0303 , G01N21/0332
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum Aufnehmen einer Messprobe, insbesondere Probenhalter, für eine kombinierte Untersuchung der Messprobe mit einem Messverfahren und einem anderen Messverfahren, welches von dem Messverfahren verschieden ist, mit einem flächigen Präpartionsbauteil (1) aus einem transparenten Material mit einer Präparationsfläche, auf die die Messprobe aufpräparierbar ist, wobei auf einer Seite des Präparationsbauteils (1) ein Messweg zum heranführen einer das Messverfahren ausführenden Messeinrichtung und auf einer gegenüberliegenden Seite des Präparationsbauteils (1) ein anderer Messweg zum Heranführen einer das andere Messverfahren ausführenden anderen Messeinrichtung an die Messprobe gebildet sind und wobei auf der einen Seite gegen das Präparationsbauteil (1) ein Stütz- und Abdeckelement (3a) gedrückt ist, welches eine Öffnung (5) aufweist, durch die hindurch der Messweg gebildet ist.
摘要翻译：本发明涉及一种装置，用于接收一个测量样本，特别是样品保持器，用于与测量方法和其它测量方法，它是从具有平面的测量方法不同的样品的组合检查Präpartionsbauteil（1）由具有预备区域的透明材料的到该测定用试样是aufpräparierbar，其中，在所述制备构件的一侧（1）具有引入的测量方法导出测量装置和对润滑剂组分的相对侧上的测量路径（1）用于推进一个其它测量方法导出其它测量装置到不同的测量路径测定样品中形成，并且其中，关于对组分（1）的制备一侧和支撑盖（3A）被压，其具有（5）形成，通过该测量路径中的开口。

9. 发明申请

WO2008145108A1 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM SONDEMIKROSKOPISCHEN UNTERSUCHEN EINER PROBE 审中-公开
标题翻译：方法和装置探针显微镜A示例
公开(公告)号：WO2008145108A1
公开(公告)日：2008-12-04
申请号：PCT/DE2008/000894
申请日：2008-05-30
申请人： LPI LIGHT POWER INSTRUMENTS GMBH , KERSSEMAKERS, Jacob , KNEBEL, Detlef
发明人： KERSSEMAKERS, Jacob , KNEBEL, Detlef
IPC分类号： G02B21/32 , G12B21/00 , G21K1/00
CPC分类号： G02B21/32 , G01Q10/06 , G01Q30/06 , G01Q60/00
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum sondenmikroskopischen Untersuchen einer Probe, insbesondere rastersondenmikroskopische Untersuchen, bei dem eine Probe sondenmikroskopisch untersucht wird mittels einer mehrteiligen Messsonde, welche mit einem Sondenelement und einem das Sondenelement beim sondenmikroskopischen Untersuchen führenden Führungselement gebildet ist, wobei das Verfahren weiterhin die folgenden Schritte umfasst: Erfassen von Rauschmesssignalen für die Messsonde in einer Nichtmesskonfiguration, in welcher das Sondenelement getrennt von dem Führungselement angeordnet wird, Erfassen von Messsignalen für die Messsonde in einer Messkonfiguration, in welcher das Sondenelement von dem Führungselement geführt wird, und Auswerten der Messsignale, indem die Messsignale wenigstens teilweise den Rauschmesssignalen zugeordnet werden. Weiterhin sieht die Erfindung eine Vorrichtung zum sondenmikroskopischen Untersuchen einer Probe vor.
摘要翻译：本发明涉及一种用于样品的探针显微镜检查的方法，特别是扫描探针显微镜检查，其中的样品是通过与探针构件以及在所述探针显微镜检查引导导向构件的探针元件形成的多部分探针的手段检测探针显微术，所述方法还包括以下步骤包括：检测在非测量配置测量探针，其中所述探针构件从导向元件分开布置的噪声测量信号，用于在测量配置中的测量探针，其中所述探针元件是由引导构件引导的检测测量信号，和由所述测量信号的评价测量信号被至少部分地与所述噪声测量信号相关联。此外，本发明提供了一种用于样品的探针显微镜检查的装置。

10. 发明申请

WO2008145110A1 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR CHARAKTERISIERUNG EINER PROBE MIT ZWEI ODER MEHR OPTISCHEN FALLEN 审中-公开
标题翻译：方法和设备表征样本有两个或多个光阱
公开(公告)号：WO2008145110A1
公开(公告)日：2008-12-04
申请号：PCT/DE2008/000897
申请日：2008-05-30
申请人： LPI LIGHT POWER INSTRUMENTS GMBH , HEYN, Sven-Peter , KERSSEMAKERS, Jacob , KNEBEL, Detlef , EGGERT, Helge , JÄHNKE, Torsten , KAMPS, Jörn
发明人： HEYN, Sven-Peter , KERSSEMAKERS, Jacob , KNEBEL, Detlef , EGGERT, Helge , JÄHNKE, Torsten , KAMPS, Jörn
IPC分类号： G02B21/32 , G21K1/00 , G12B21/00
CPC分类号： G02B21/32 , G01Q10/06 , G01Q30/06 , G01Q60/00
摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Untersuchen einer Probe (5, 6) mittels Rasterphotonenmikroskopie oder Lichtkraftmikroskopie, sowie eine entsprechend eingerichtete Vorrichtung. Das Verfahren bzw. die Vorrichtung sieht zwei optische Fallen (1, 2) vor, die in einem örtlichen Bereich der Probe (5, 6) bewegbar sind, wobei in wenigstens einer der beiden Fallen (1, 2) eine Sonde (3, 4) gefangen ist. Die Probe (5, 6) wird mit beiden Fallen (1, 2) gescannt und die Messdaten aus beiden Fallen (1, 2) werden getrennt erfasst und durch Korrelation ausgewertet. Durch das Verfahren lassen sich insbesondere Störsignale, die aus einer Wechselwirkung zwischen Probe und Lichtfalle resultieren, eliminieren.
摘要翻译：本发明涉及一种用于（6 5）通过扫描显微镜或光力显微镜，以及一个相应装备的装置来检查的样品。该方法和装置提供了两个光阱（1,2）在其前面在样品的局部区域的（5,6）是可移动的，其中，在这两种情况下的至少一个（1，2）的探针（3,4 ）被困。与两个陷阱样品（5,6）（1，2）被扫描，这两种情况下的测量数据（1，2）可单独检测和相关性进行评价。通过该方法可以在从样品和光阱消除之间的相互作用所产生的特定的干扰信号。

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