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    • 6. 发明授权
    • Methods and apparatus for testing a scan chain to isolate defects
    • 用于测试扫描链以隔离缺陷的方法和装置
    • US07752514B2
    • 2010-07-06
    • US11924597
    • 2007-10-25
    • Leendert M. HuismanWilliam V. HuottMaroun KassabFranco Motika
    • Leendert M. HuismanWilliam V. HuottMaroun KassabFranco Motika
    • G01R31/28
    • G01R31/318533
    • Systems, methods and apparatus are provided for isolating a defect in a scan chain. The invention includes modifying a first test mode of a plurality of latches included in a scan chain, operating the latches in the modified first test mode, and operating the plurality of latches included in the scan chain in a second test mode. A portion of the scan chain adjacent and following a stuck-@-0 or stuck-@-1 fault in the scan chain may store and/or output a value complementary to the value on the output of the previous portion of the scan chain due to the fault. Such values may be unloaded from the scan chain and used for diagnosing (e.g., isolating a defect in) the defective scan chain. Numerous other aspects are provided.
    • 提供了用于隔离扫描链中的缺陷的系统,方法和装置。 本发明包括修改包括在扫描链中的多个锁存器的第一测试模式,在修改的第一测试模式下操作锁存器,以及在第二测试模式下操作包括在扫描链中的多个锁存器。 扫描链中与扫描链相邻并跟随卡纸 - @ - 0或卡住 - - - 1故障的部分扫描链可以存储和/或输出与扫描链的先前部分的输出值相匹配的值, 到了错误。 这些值可以从扫描链中卸载并用于诊断(例如,分离缺陷)缺陷扫描链。 提供了许多其他方面。