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    • 5. 发明专利
    • 包含膠質狀二氧化矽粒子與三聚氰酸鋅粒子的分散液
    • 包含胶质状二氧化硅粒子与三聚氰酸锌粒子的分散液
    • TW202003384A
    • 2020-01-16
    • TW108109945
    • 2019-03-22
    • 日商日產化學股份有限公司NISSAN CHEMICAL CORPORATION
    • 清水大輔SHIMIZU, DAISUKE村上智MURAKAMI, SATORU鹿島吉恭KASHIMA, YOSHIYASU太田勇夫OOTA, ISAO
    • C01B33/145C07D251/32C09D17/00C09D201/00C09D7/61C09D7/63C09D5/08C23C26/00C23F11/14
    • 提供一種用於充分地發揮金屬表面的防蝕等的機能的包含膠質狀二氧化矽粒子與三聚氰酸鋅粒子的分散液,及含此的被覆組成物。 一種將包含膠質狀二氧化矽粒子與三聚氰酸鋅粒子的分散質粒子分散於液狀介質中而成的分散液。膠質狀二氧化矽粒子的平均粒徑為5nm至500nm,並以SiO2濃度為0.1質量%至40質量%來含有該膠質狀二氧化矽粒子。三聚氰酸鋅粒子的藉由穿透式電子顯微鏡觀察所測得的一次粒子的長軸長度為50nm至1000nm,且短軸長度為10nm至300nm,長軸與短軸的長度比為2至25,並以其固形分為0.1質量%至50質量%來含有前述三聚氰酸鋅粒子。膠質狀二氧化矽粒子與三聚氰酸鋅粒子,以膠質狀二氧化矽:三聚氰酸鋅的質量比為1:0.01至100的比例,膠質狀二氧化矽粒子與三聚氰酸鋅粒子的合計固形分為0.1質量%至50質量%。液狀介質為水或有機溶劑。一種包含將分散液與樹脂乳液使用液中分散機來進行混合之步驟之被覆用組成物之製造方法。
    • 提供一种用于充分地发挥金属表面的防蚀等的机能的包含胶质状二氧化硅粒子与三聚氰酸锌粒子的分散液,及含此的被覆组成物。 一种将包含胶质状二氧化硅粒子与三聚氰酸锌粒子的分散质粒子分散于液状介质中而成的分散液。胶质状二氧化硅粒子的平均粒径为5nm至500nm,并以SiO2浓度为0.1质量%至40质量%来含有该胶质状二氧化硅粒子。三聚氰酸锌粒子的借由穿透式电子显微镜观察所测得的一次粒子的长轴长度为50nm至1000nm,且短轴长度为10nm至300nm,长轴与短轴的长度比为2至25,并以其固形分为0.1质量%至50质量%来含有前述三聚氰酸锌粒子。胶质状二氧化硅粒子与三聚氰酸锌粒子,以胶质状二氧化硅:三聚氰酸锌的质量比为1:0.01至100的比例,胶质状二氧化硅粒子与三聚氰酸锌粒子的合计固形分为0.1质量%至50质量%。液状介质为水或有机溶剂。一种包含将分散液与树脂乳液使用液中分散机来进行混合之步骤之被覆用组成物之制造方法。
    • 9. 发明专利
    • 含有二氧化矽之絕緣性組成物
    • 含有二氧化硅之绝缘性组成物
    • TW201919998A
    • 2019-06-01
    • TW107131567
    • 2018-09-07
    • 日商日產化學股份有限公司NISSAN CHEMICAL CORPORATION
    • 末村尚彦SUEMURA, NAOHIKO杉澤雅敏SUGISAWA, MASATOSHI
    • C01B33/14C01B33/141C01B33/145H01B3/30
    • [課題]提供包含二氧化矽粒子及樹脂及硬化劑,抑制並減低自二氧化矽粒子之Na離子之溶出,且絕緣性之歷時變化少之絕緣性組成物。 [解決手段]其係包含二氧化矽粒子(A)及樹脂(B)及硬化劑(C)之絕緣性組成物,其中,前述二氧化矽粒子(A)為將SiO2濃度3.8質量%之該水溶液以121℃、20小時加熱後之溶出Na離子量為40ppm/SiO2以下之二氧化矽粒子。尤其,二氧化矽粒子(A)為加熱後之溶出Na離子量為5~38ppm/SiO2之二氧化矽粒子,又,以M/Si莫耳比為0.001~0.02之比例包含多價金屬氧化物之多價金屬M,且粒子中之Na2O/SiO2質量比為700~1300ppm之二氧化矽粒子,其中,於前述粒子表面上,係形成Na2O/SiO2質量比為10~400ppm之0.1~1.5nm之層,並為具有5~40nm之平均粒子徑之二氧化矽粒子。
    • [课题]提供包含二氧化硅粒子及树脂及硬化剂,抑制并减低自二氧化硅粒子之Na离子之溶出,且绝缘性之历时变化少之绝缘性组成物。 [解决手段]其系包含二氧化硅粒子(A)及树脂(B)及硬化剂(C)之绝缘性组成物,其中,前述二氧化硅粒子(A)为将SiO2浓度3.8质量%之该水溶液以121℃、20小时加热后之溶出Na离子量为40ppm/SiO2以下之二氧化硅粒子。尤其,二氧化硅粒子(A)为加热后之溶出Na离子量为5~38ppm/SiO2之二氧化硅粒子,又,以M/Si莫耳比为0.001~0.02之比例包含多价金属氧化物之多价金属M,且粒子中之Na2O/SiO2质量比为700~1300ppm之二氧化硅粒子,其中,于前述粒子表面上,系形成Na2O/SiO2质量比为10~400ppm之0.1~1.5nm之层,并为具有5~40nm之平均粒子径之二氧化硅粒子。