专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

TWI470881B 同軸連接器有权
简体标题：同轴连接器
公开(公告)号：TWI470881B
公开(公告)日：2015-01-21
申请号：TW102120884
申请日：2013-06-13
申请人：村田製作所股份有限公司 , MURATA MANUFACTURING CO., LTD.
发明人：大崎吉大 , OSAKI, YOSHIHIRO
IPC分类号： H01R24/38 , H01R13/71
CPC分类号： G01R31/04 , H01R24/46 , H01R24/50 , H01R2103/00

2. 实用新型

TW364717U 影像處理器用的光源裝置失效
简体标题：影像处理器用的光源设备
公开(公告)号：TW364717U
公开(公告)日：1999-07-11
申请号：TW086218432
申请日：1994-07-13
申请人：時至準鐘錶股份有限公司
发明人：土田真作 , 佐佐木靖宏 , 柳澤徹 , 科野敬藏 , 森田恭章 , 堀田徹雄
IPC分类号： H04N
CPC分类号： H05K13/08 , G01N21/8806 , G01R31/04 , G01R31/048
摘要：一影像處理器用的光源裝置具有一光源，含多個LED位於電視攝影機下方。遮蔽板位於光源上方以防止發自光源之光線直接進入電視攝影機。裝設一圓柱形光線傳送筒，從電視攝影機延伸至充分靠近待測物體之處。
简体摘要：一影像处理器用的光源设备具有一光源，含多个LED位于电视摄影机下方。屏蔽板位于光源上方以防止发自光源之光线直接进入电视摄影机。装设一圆柱形光线发送筒，从电视摄影机延伸至充分靠近待测物体之处。

3. 发明专利

TWI552243B 測試電路及包含該測試電路的半導體設備有权
简体标题：测试电路及包含该测试电路的半导体设备
公开(公告)号：TWI552243B
公开(公告)日：2016-10-01
申请号：TW101136892
申请日：2012-10-05
申请人：愛思開海力士有限公司 , SK HYNIX INC.
发明人：李東郁 , LEE, DONG UK , 金榮柱 , KIM, YOUNG JU
IPC分类号： H01L21/66 , G01R31/28 , H01L23/544
CPC分类号： G01R19/0092 , G01R31/04 , G01R31/318513 , H01L23/481 , H01L25/0657 , H01L2225/06541 , H01L2225/06596 , H01L2924/0002 , H01L2924/00

4. 发明专利

TW201530146A 接觸端子的維修方法及檢測裝置审中-公开
简体标题：接触端子的维修方法及检测设备
公开(公告)号：TW201530146A
公开(公告)日：2015-08-01
申请号：TW103136658
申请日：2014-10-23
申请人：日本電產理德股份有限公司 , NIDEC-READ CORPORATION
发明人：山下宗寛 , YAMASHITA, MUNEHIRO
IPC分类号： G01R1/04 , G01R31/04 , G01R31/28
CPC分类号： G01R31/04 , G01R3/00 , G01R31/2808
摘要：本發明的接觸端子的維修方法及檢測裝置不需要用於檢測接觸端子的特別工藝，在對檢測對象的配線進行導通檢測的同時，掌握接觸端子的狀態，從而在發生異常之前檢測出需要更換的接觸端子。所述維修方法用於維修在連接夾具上設置的接觸端子，所述連接夾具用於連接進行電性檢測的檢測物件物與進行所述檢測的檢測裝置，所述方法是通過接觸端子檢測出對有關檢測物件部位供應用於檢測的電力時的電壓變化，當檢測到電壓變化不是以時間序列增加的部位時，判斷為接觸端子異常進而通知維修資訊。
简体摘要：本发明的接触端子的维修方法及检测设备不需要用于检测接触端子的特别工艺，在对检测对象的配线进行导通检测的同时，掌握接触端子的状态，从而在发生异常之前检测出需要更换的接触端子。所述维修方法用于维修在连接夹具上设置的接触端子，所述连接夹具用于连接进行电性检测的检测对象物与进行所述检测的检测设备，所述方法是通过接触端子检测出对有关检测对象部位供应用于检测的电力时的电压变化，当检测到电压变化不是以时间串行增加的部位时，判断为接触端子异常进而通知维修信息。

5. 发明专利

TWI468704B 中介層的測試方法有权
简体标题：中介层的测试方法
公开(公告)号：TWI468704B
公开(公告)日：2015-01-11
申请号：TW101143147
申请日：2012-11-19
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：周永發 , CHOU, YUNG FA , 蒯定明 , KWAI, DING MING
IPC分类号： G01R31/02 , H01L23/544
CPC分类号： G01R31/2801 , G01R31/026 , G01R31/04

6. 发明专利

TWI566651B 電性連接組件及其檢測方法有权
简体标题：电性连接组件及其检测方法
公开(公告)号：TWI566651B
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：TW102128797
申请日：2013-08-12
申请人：宸鴻科技(廈門)有限公司 , TPK TOUCH SOLUTIONS (XIAMEN) INC.
发明人：江耀誠 , JIANG, YAU CHEN , 吳德發 , WU, DE-FA , 嚴建斌 , YAN, JIAN-BIN , 林少庭 , LIN, SHAO-TING , 魏財魁 , WEI, TSAI KUEI , 白曉鋅 , BAI, XIAO-XIN , 葉財金 , YE, CAI-JIN
IPC分类号： H05K1/14 , G01R31/02
CPC分类号： G01R31/04 , G01R1/07342 , G01R31/026 , G01R31/2818 , G01R31/2889

7. 发明专利

TWI518346B 電池故障檢測方法和裝置有权
简体标题：电池故障检测方法和设备
公开(公告)号：TWI518346B
公开(公告)日：2016-01-21
申请号：TW102107165
申请日：2013-03-01
申请人：凹凸科技國際股份有限公司 , O2MICRO INTERNATIONAL LIMITED
发明人：張衛 , ZHANG, WEI
IPC分类号： G01R31/36
CPC分类号： G01R31/3627 , G01R31/04 , G01R31/3662

8. 发明专利

TW201502540A 用於判斷第一接腳與第二接腳之連接狀態的檢測電路與檢測方法审中-公开
简体标题：用于判断第一接脚与第二接脚之连接状态的检测电路与检测方法
公开(公告)号：TW201502540A
公开(公告)日：2015-01-16
申请号：TW102124992
申请日：2013-07-11
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：許恒嘉 , HSU, HENG CHIA
IPC分类号： G01R31/02
CPC分类号： G01R31/04 , H03K19/20
摘要：一種用於判斷一第一接腳與一第二接腳之連接狀態的檢測電路，包含有一訊號產生單元、一邏輯單元以及一決定單元。該訊號產生單元耦接於該第一接腳，用來產生一第一訊號至該第一接腳。該邏輯單元耦接於該訊號產生單元與該第二接腳，用來根據輸出至該第一接腳之該第一訊號以及自該第二接腳所接收之一第二訊號來產生一決定訊號。該決定單元耦接於該邏輯單元，用來根據該決定訊號來決定該第一接腳與該第二接腳之連接狀態。
简体摘要：一种用于判断一第一接脚与一第二接脚之连接状态的检测电路，包含有一信号产生单元、一逻辑单元以及一决定单元。该信号产生单元耦接于该第一接脚，用来产生一第一信号至该第一接脚。该逻辑单元耦接于该信号产生单元与该第二接脚，用来根据输出至该第一接脚之该第一信号以及自该第二接脚所接收之一第二信号来产生一决定信号。该决定单元耦接于该逻辑单元，用来根据该决定信号来决定该第一接脚与该第二接脚之连接状态。

9. 发明专利

TW201412205A 電性連接組件及其檢測方法审中-公开
简体标题：电性连接组件及其检测方法
公开(公告)号：TW201412205A
公开(公告)日：2014-03-16
申请号：TW102128797
申请日：2013-08-12
申请人：宸鴻科技(廈門)有限公司 , TPK TOUCH SOLUTIONS (XIAMEN) INC.
发明人：江耀誠 , JIANG, YAU CHEN , 吳德發 , WU, DE-FA , 嚴建斌 , YAN, JIAN-BIN , 林少庭 , LIN, SHAO-TING , 魏財魁 , WEI, TSAI KUEI , 白曉鋅 , BAI, XIAO-XIN , 葉財金 , YE, CAI-JIN
IPC分类号： H05K1/14 , G01R31/02
CPC分类号： G01R31/04 , G01R1/07342 , G01R31/026 , G01R31/2818 , G01R31/2889
摘要：一種電性連接組件，包括一第一電路板及一第二電路板，第一電路板包括複數個第一訊號電極及至少一第一測試電極，第二電路板包括複數個第二訊號電極及至少一第二測試電極，其中第一訊號電極與第一測試電極位於第一電路板之相同側且相互間隔排列，第二訊號電極與第二測試電極位於第二電路板之相同側且相互間隔排列，且第一訊號電極與第二訊號電極對應電性連接，第一測試電極與第二測試電極電性連接以形成一測試迴路。藉此，可透過檢測該測試迴路是否電性導通來判斷第一訊號電極與第二訊號電極之間是否電性導通。
简体摘要：一种电性连接组件，包括一第一电路板及一第二电路板，第一电路板包括复数个第一信号电极及至少一第一测试电极，第二电路板包括复数个第二信号电极及至少一第二测试电极，其中第一信号电极与第一测试电极位于第一电路板之相同侧且相互间隔排列，第二信号电极与第二测试电极位于第二电路板之相同侧且相互间隔排列，且第一信号电极与第二信号电极对应电性连接，第一测试电极与第二测试电极电性连接以形成一测试回路。借此，可透过检测该测试回路是否电性导通来判断第一信号电极与第二信号电极之间是否电性导通。

10. 发明专利

TWI369052B 偵測電池不存在的電路及方法有权
简体标题：侦测电池不存在的电路及方法
公开(公告)号：TWI369052B
公开(公告)日：2012-07-21
申请号：TW097109522
申请日：2008-03-18
申请人：立錡科技股份有限公司
发明人：龔能輝 , 朱冠任
IPC分类号： H02J
CPC分类号： H02J7/0047 , G01R31/04 , H02J7/0029
摘要：一種偵測電池不存在的電路及方法，包括施加偵測用訊號至線性充電器的輸出端，以及偵測該輸出端。由於電池存在和不存在兩種狀況下，該輸出端上的電容值相差達三個數量級，藉此可從偵測到的訊號判斷是否電池不存在。
简体摘要：一种侦测电池不存在的电路及方法，包括施加侦测用信号至线性充电器的输出端，以及侦测该输出端。由于电池存在和不存在两种状况下，该输出端上的电容值相差达三个数量级，借此可从侦测到的信号判断是否电池不存在。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式