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    • 7. 发明专利
    • 量化電路運作速度變化之測量電路
    • 量化电路运作速度变化之测量电路
    • TW202026793A
    • 2020-07-16
    • TW108126110
    • 2019-07-24
    • 瑞昱半導體股份有限公司REALTEK SEMICONDUCTOR CORPORATION
    • 郭俊儀KUO, CHUN-YI陳瑩晏CHEN, YING-YEN許文軒HSU, WEN-HSUAN
    • G06F1/12H04L27/36H03M1/66
    • 本發明揭露一種量化電路運作速度變化之測量電路,用來量化一目標電路的運作速度在不同運作條件下的變化,該測量電路包含一訊號產生電路、一可調延遲電路、一訊號偵測器、以及一校正電路。該訊號產生電路用來產生一預定訊號。該可調延遲電路用來於一第一與第二運作條件下依據該預定訊號分別產生一第一與第二延遲訊號。該訊號偵測器用來分別偵測該第一與第二延遲訊號,以分別產生一第一與第二偵測結果。該校正電路用來依據該第一與第二偵測結果分別致能該可調延遲電路之一第一與第二數量的延遲單元,使得該第一與第二數量之延遲單元的延遲量均不大於一延遲量門檻,其中該第一與第二數量分別關聯該第一與第二運作條件下該目標電路的運作速度。
    • 本发明揭露一种量化电路运作速度变化之测量电路,用来量化一目标电路的运作速度在不同运作条件下的变化,该测量电路包含一信号产生电路、一可调延迟电路、一信号侦测器、以及一校正电路。该信号产生电路用来产生一预定信号。该可调延迟电路用来于一第一与第二运作条件下依据该预定信号分别产生一第一与第二延迟信号。该信号侦测器用来分别侦测该第一与第二延迟信号,以分别产生一第一与第二侦测结果。该校正电路用来依据该第一与第二侦测结果分别致能该可调延迟电路之一第一与第二数量的延迟单元,使得该第一与第二数量之延迟单元的延迟量均不大于一延迟量门槛,其中该第一与第二数量分别关联该第一与第二运作条件下该目标电路的运作速度。