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1. 发明专利

TWI560430B 光學量測系統、光學量測方法及光學量測系統的鏡板有权
简体标题：光学量测系统、光学量测方法及光学量测系统的镜板
公开(公告)号：TWI560430B
公开(公告)日：2016-12-01
申请号：TW101137603
申请日：2012-10-12
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD. , 藍菲光學股份有限公司 , LABSPHERE, INC.
发明人：大久保和明 , OHKUBO, KAZUAKI , 麥基格雷格 , MCKEE, GREG
IPC分类号： G01J1/02 , G01J1/00
CPC分类号： G01J1/0407 , F21V7/10 , G01J1/0295 , G01J1/42 , G01J2001/0481 , G01J2001/4247

2. 发明专利

TW201418674A 光學測量裝置审中-公开
简体标题：光学测量设备
公开(公告)号：TW201418674A
公开(公告)日：2014-05-16
申请号：TW102123930
申请日：2013-07-04
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：大久保和明 , OHKUBO, KAZUAKI , 白岩久志 , SHIRAIWA, HISASHI
IPC分类号： G01J1/00
CPC分类号： G01J1/06 , G01J1/0223 , G01J1/0403 , G01J1/0488 , G01J1/4257 , G01J2001/4247
摘要：光學測量裝置(1)係包含：中空之圓筒狀構件(2)，係在一方之平面具有第1開口(10)，而且在另一方之平面具有第2開口(18)；轉動機構(52、54)，係用以沿著是圓筒狀構件之中心軸的第1軸使圓筒狀構件轉動；支撐部(20、22)，係用以在係第1軸上，而且係所照射之光通過第1開口並射入圓筒狀構件之內部的位置的量測位置，配置光源(30)；第1反射部(12)，係配置於圓筒狀構件之內部，並使從光源經由第1開口所射入的光反射；第2反射部(14)，係使圓筒狀構件之內部的光反射，並使該光經由第2開口，沿著第1軸向圓筒狀構件之外部傳播；及至少一個之第3反射部(16)，係用以使以第1反射部所反射的光向第2反射部射入。
简体摘要：光学测量设备(1)系包含：中空之圆筒状构件(2)，系在一方之平面具有第1开口(10)，而且在另一方之平面具有第2开口(18)；转动机构(52、54)，系用以沿着是圆筒状构件之中心轴的第1轴使圆筒状构件转动；支撑部(20、22)，系用以在系第1轴上，而且系所照射之光通过第1开口并射入圆筒状构件之内部的位置的量测位置，配置光源(30)；第1反射部(12)，系配置于圆筒状构件之内部，并使从光源经由第1开口所射入的光反射；第2反射部(14)，系使圆筒状构件之内部的光反射，并使该光经由第2开口，沿着第1轴向圆筒状构件之外部传播；及至少一个之第3反射部(16)，系用以使以第1反射部所反射的光向第2反射部射入。

3. 发明专利

TW201405104A 光學特性測量裝置审中-公开
简体标题：光学特性测量设备
公开(公告)号：TW201405104A
公开(公告)日：2014-02-01
申请号：TW101145799
申请日：2012-12-06
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：大久保和明 , OHKUBO, KAZUAKI , 白岩久志 , SHIRAIWA, HISASHI
IPC分类号： G01J1/04
CPC分类号： G02B17/00 , G01J1/0214 , G01J1/04 , G01J1/0407 , G01J1/0425 , G01J3/0218 , G01J3/0254 , G01J3/0262 , G01J3/505 , G01J2001/0481 , G01J2001/4252 , G02B5/08
摘要：光學特性測量裝置包含：半球部，係在內壁具有反射面；及平面部，係配置成塞住半球部的開口，並在半球部的內壁側具有反射面。平面部包含用以將光源安裝於包含半球部之實質上的曲率中心之範圍的第1窗。半球部及平面部之至少一方包含以既定規則性所配置之用以從半球部之內部取出光的複數個第2窗。
简体摘要：光学特性测量设备包含：半球部，系在内壁具有反射面；及平面部，系配置成塞住半球部的开口，并在半球部的内壁侧具有反射面。平面部包含用以将光源安装于包含半球部之实质上的曲率中心之范围的第1窗。半球部及平面部之至少一方包含以既定守则性所配置之用以从半球部之内部取出光的复数个第2窗。

4. 发明专利

TWI622756B 標準光源及使用標準光源的測量方法有权
简体标题：标准光源及使用标准光源的测量方法
公开(公告)号：TWI622756B
公开(公告)日：2018-05-01
申请号：TW102148622
申请日：2013-12-27
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：大久保和明 , OHKUBO, KAZUAKI
IPC分类号： G01J1/08 , G01J1/42

5. 发明专利

TWI599762B 光學測量裝置有权
简体标题：光学测量设备
公开(公告)号：TWI599762B
公开(公告)日：2017-09-21
申请号：TW102123930
申请日：2013-07-04
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：大久保和明 , OHKUBO, KAZUAKI , 白岩久志 , SHIRAIWA, HISASHI
IPC分类号： G01J1/00
CPC分类号： G01J1/06 , G01J1/0223 , G01J1/0403 , G01J1/0488 , G01J1/4257 , G01J2001/4247

6. 发明专利

TWI495854B 光學測定裝置、光學測定系統以及光纖結合器有权
简体标题：光学测定设备、光学测定系统以及光纤结合器
公开(公告)号：TWI495854B
公开(公告)日：2015-08-11
申请号：TW100106164
申请日：2011-02-24
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：大久保和明 , OHKUBO, KAZUAKI , 田口都一 , TAGUCHI, KUNIKAZU
IPC分类号： G01J3/02 , G01J3/28 , G01N21/25 , G01N21/27
CPC分类号： G01N21/55 , G01J3/02 , G01J3/0218 , G01J3/0251 , G01J3/0254 , G01J3/0262 , G01J3/10 , G01N21/255 , G01N21/59 , G01N2201/0655

7. 发明专利

TWI460403B 用於測定全光束之全光束測定裝置及全光束測定方法有权
简体标题：用于测定全光束之全光束测定设备及全光束测定方法
公开(公告)号：TWI460403B
公开(公告)日：2014-11-11
申请号：TW099113244
申请日：2010-04-27
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：大久保和明 , OHKUBO, KAZUAKI , 三島俊介 , MISHIMA, SHUNSUKE
IPC分类号： G01J1/04
CPC分类号： G01J1/02 , G01J1/0219 , G01J1/0223 , G01J1/04 , G01J1/0403 , G01J1/0448 , G01J2001/0481

8. 发明专利

TWI443312B 用於測定由被測定光源產生之全光束的光束計、以及使用該光束計之全光束的測定方法有权
简体标题：用于测定由被测定光源产生之全光束的光束计、以及使用该光束计之全光束的测定方法
公开(公告)号：TWI443312B
公开(公告)日：2014-07-01
申请号：TW097138378
申请日：2008-10-06
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：大久保和明 , KAZUAKI OHKUBO
IPC分类号： G01J1/06
CPC分类号： G01J1/04 , G01J1/08 , G01J2001/0481

9. 发明专利

TWI560431B 光學特性測量裝置有权
简体标题：光学特性测量设备
公开(公告)号：TWI560431B
公开(公告)日：2016-12-01
申请号：TW101145799
申请日：2012-12-06
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：大久保和明 , OHKUBO, KAZUAKI , 白岩久志 , SHIRAIWA, HISASHI
IPC分类号： G01J1/04
CPC分类号： G02B17/00 , G01J1/0214 , G01J1/04 , G01J1/0407 , G01J1/0425 , G01J3/0218 , G01J3/0254 , G01J3/0262 , G01J3/505 , G01J2001/0481 , G01J2001/4252 , G02B5/08

10. 发明专利

TWI468654B 適合光譜測定之光學特性測定裝置及光學特性測定方法有权
简体标题：适合光谱测定之光学特性测定设备及光学特性测定方法
公开(公告)号：TWI468654B
公开(公告)日：2015-01-11
申请号：TW098133802
申请日：2009-10-06
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：佐野弘幸 , SANO, HIROYUKI , 大川內真 , OKAWAUCHI, MAKOTO , 大嶋浩正 , OSHIMA, KOSEI , 大久保和明 , OHKUBO, KAZUAKI , 水口勉 , MIZUGUCHI, TSUTOMU , 志摩史郎 , SHIMA, SHIRO
IPC分类号： G01J3/30
CPC分类号： G01J3/02 , G01J1/0219 , G01J3/0232 , G01J3/28

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