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1. 发明专利

TW201418674A 光學測量裝置审中-公开
简体标题：光学测量设备
公开(公告)号：TW201418674A
公开(公告)日：2014-05-16
申请号：TW102123930
申请日：2013-07-04
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：大久保和明 , OHKUBO, KAZUAKI , 白岩久志 , SHIRAIWA, HISASHI
IPC分类号： G01J1/00
CPC分类号： G01J1/06 , G01J1/0223 , G01J1/0403 , G01J1/0488 , G01J1/4257 , G01J2001/4247
摘要：光學測量裝置(1)係包含：中空之圓筒狀構件(2)，係在一方之平面具有第1開口(10)，而且在另一方之平面具有第2開口(18)；轉動機構(52、54)，係用以沿著是圓筒狀構件之中心軸的第1軸使圓筒狀構件轉動；支撐部(20、22)，係用以在係第1軸上，而且係所照射之光通過第1開口並射入圓筒狀構件之內部的位置的量測位置，配置光源(30)；第1反射部(12)，係配置於圓筒狀構件之內部，並使從光源經由第1開口所射入的光反射；第2反射部(14)，係使圓筒狀構件之內部的光反射，並使該光經由第2開口，沿著第1軸向圓筒狀構件之外部傳播；及至少一個之第3反射部(16)，係用以使以第1反射部所反射的光向第2反射部射入。
简体摘要：光学测量设备(1)系包含：中空之圆筒状构件(2)，系在一方之平面具有第1开口(10)，而且在另一方之平面具有第2开口(18)；转动机构(52、54)，系用以沿着是圆筒状构件之中心轴的第1轴使圆筒状构件转动；支撑部(20、22)，系用以在系第1轴上，而且系所照射之光通过第1开口并射入圆筒状构件之内部的位置的量测位置，配置光源(30)；第1反射部(12)，系配置于圆筒状构件之内部，并使从光源经由第1开口所射入的光反射；第2反射部(14)，系使圆筒状构件之内部的光反射，并使该光经由第2开口，沿着第1轴向圆筒状构件之外部传播；及至少一个之第3反射部(16)，系用以使以第1反射部所反射的光向第2反射部射入。

2. 发明专利

TWI617791B 分光光度計及分光光度測定方法有权
简体标题：分光光度计及分光光度测定方法
公开(公告)号：TWI617791B
公开(公告)日：2018-03-11
申请号：TW103106658
申请日：2014-02-27
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：白岩久志 , SHIRAIWA, HISASHI
IPC分类号： G01J3/28
CPC分类号： G01J3/0264 , G01J1/44 , G01J3/02 , G01J3/0232 , G01J3/0262 , G01J3/2803 , G01J3/42 , G01J2001/4406 , G01J2001/444 , G01J2001/448

3. 发明专利

TW201405104A 光學特性測量裝置审中-公开
简体标题：光学特性测量设备
公开(公告)号：TW201405104A
公开(公告)日：2014-02-01
申请号：TW101145799
申请日：2012-12-06
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：大久保和明 , OHKUBO, KAZUAKI , 白岩久志 , SHIRAIWA, HISASHI
IPC分类号： G01J1/04
CPC分类号： G02B17/00 , G01J1/0214 , G01J1/04 , G01J1/0407 , G01J1/0425 , G01J3/0218 , G01J3/0254 , G01J3/0262 , G01J3/505 , G01J2001/0481 , G01J2001/4252 , G02B5/08
摘要：光學特性測量裝置包含：半球部，係在內壁具有反射面；及平面部，係配置成塞住半球部的開口，並在半球部的內壁側具有反射面。平面部包含用以將光源安裝於包含半球部之實質上的曲率中心之範圍的第1窗。半球部及平面部之至少一方包含以既定規則性所配置之用以從半球部之內部取出光的複數個第2窗。
简体摘要：光学特性测量设备包含：半球部，系在内壁具有反射面；及平面部，系配置成塞住半球部的开口，并在半球部的内壁侧具有反射面。平面部包含用以将光源安装于包含半球部之实质上的曲率中心之范围的第1窗。半球部及平面部之至少一方包含以既定守则性所配置之用以从半球部之内部取出光的复数个第2窗。

4. 发明专利

TWI575227B 光源支撐裝置及使用該裝置之光放射特性測量裝置有权
简体标题：光源支撑设备及使用该设备之光放射特性测量设备
公开(公告)号：TWI575227B
公开(公告)日：2017-03-21
申请号：TW102103643
申请日：2013-01-31
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：白岩久志 , SHIRAIWA, HISASHI , 鎌田剛史 , KAMADA, TAKESHI
IPC分类号： G01J1/02
CPC分类号： F21V21/14 , G01J1/0223 , G01J1/0228 , G01J1/0242 , G01J2001/4247

5. 发明专利

TWI560431B 光學特性測量裝置有权
简体标题：光学特性测量设备
公开(公告)号：TWI560431B
公开(公告)日：2016-12-01
申请号：TW101145799
申请日：2012-12-06
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：大久保和明 , OHKUBO, KAZUAKI , 白岩久志 , SHIRAIWA, HISASHI
IPC分类号： G01J1/04
CPC分类号： G02B17/00 , G01J1/0214 , G01J1/04 , G01J1/0407 , G01J1/0425 , G01J3/0218 , G01J3/0254 , G01J3/0262 , G01J3/505 , G01J2001/0481 , G01J2001/4252 , G02B5/08

6. 发明专利

TW201634906A 用於分光亮度計之校正的基準光源裝置及使用其之校正方法审中-公开
简体标题：用于分光亮度计之校正的基准光源设备及使用其之校正方法
公开(公告)号：TW201634906A
公开(公告)日：2016-10-01
申请号：TW105104547
申请日：2016-02-17
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：白岩久志 , SHIRAIWA, HISASHI , 佐野弘幸 , SANO, HIROYUKI
IPC分类号： G01J3/10 , G01J3/02
CPC分类号： G01J1/44 , G01J1/0295 , G01J1/0407 , G01J1/08 , G01J3/02 , G01J3/0297 , G01J3/10 , G01J3/28 , G01J2001/0481 , G01J2001/083 , G01J2001/086 , G01J2001/444 , G01J2003/2866 , G01J2003/2876
摘要：提供一種用於分光亮度計（40）之校正的基準光源裝置（10），其為用以減低亮度基準面中之亮度偏差(不均勻性)，並且包括：具備開口之亮度基準面（18）的積分球（12）、以及相互分隔地被設置在積分球（12）的外壁（12b）且分別地將波長特性相同的光入射到積分球（12）的內部之複數個第1光射出埠（14a）、（14b）。複數個第1光射出埠（14a）、（14b）係可以設置於積分球（12）的外壁（12b）中距離亮度基準面（18）的中心為相等距離、而且對通過亮度基準面（18）的中心之積分球（12）的旋轉對稱軸R而言具有旋轉對稱性之數個位置。
简体摘要：提供一种用于分光亮度计（40）之校正的基准光源设备（10），其为用以减低亮度基准面中之亮度偏差(不均匀性)，并且包括：具备开口之亮度基准面（18）的积分球（12）、以及相互分隔地被设置在积分球（12）的外壁（12b）且分别地将波长特性相同的光入射到积分球（12）的内部之复数个第1光射出端口（14a）、（14b）。复数个第1光射出端口（14a）、（14b）系可以设置于积分球（12）的外壁（12b）中距离亮度基准面（18）的中心为相等距离、而且对通过亮度基准面（18）的中心之积分球（12）的旋转对称轴R而言具有旋转对称性之数个位置。

7. 发明专利

TWI454670B 光學特性測定裝置及光學特性測定方法有权
简体标题：光学特性测定设备及光学特性测定方法
公开(公告)号：TWI454670B
公开(公告)日：2014-10-01
申请号：TW098115658
申请日：2009-05-12
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：水口勉 , MIZUGUCHI, TSUTOMU , 佐野弘幸 , SANO, HIROYUKI , 白岩久志 , SHIRAIWA, HISASHI
IPC分类号： G01J3/02

8. 发明专利

TWI687718B 顯微分光裝置有权
简体标题：显微分光设备
公开(公告)号：TWI687718B
公开(公告)日：2020-03-11
申请号：TW105124825
申请日：2016-08-04
申请人：日商大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：白岩久志 , SHIRAIWA, HISASHI
IPC分类号： G02B21/18 , G02B21/34 , G02B21/32

9. 发明专利

TWI600894B 測定裝置及測定方法有权
简体标题：测定设备及测定方法
公开(公告)号：TWI600894B
公开(公告)日：2017-10-01
申请号：TW102138198
申请日：2013-10-23
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：白岩久志 , SHIRAIWA, HISASHI , 鎌田剛史 , KAMADA, TAKESHI , 三島俊介 , MISHIMA, SHUNSUKE
IPC分类号： G01N21/64 , G01N21/01

10. 发明专利

TW201443407A 分光光度計及分光光度測定方法审中-公开
简体标题：分光光度计及分光光度测定方法
公开(公告)号：TW201443407A
公开(公告)日：2014-11-16
申请号：TW103106658
申请日：2014-02-27
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：白岩久志 , SHIRAIWA, HISASHI
IPC分类号： G01J3/28
CPC分类号： G01J3/0264 , G01J1/44 , G01J3/02 , G01J3/0232 , G01J3/0262 , G01J3/2803 , G01J3/42 , G01J2001/4406 , G01J2001/444 , G01J2001/448
摘要：本發明揭露一種分光光度計，包括一光檢測單元、一電路單元、一飽和判斷單元以及一測定結果運算單元；其中光檢測單元將所接受之光轉換為電子信號並予以輸出；電路單元包括複數個增益放大器與複數個類比數位轉換器(Analog-to-Digital Converters,ADC)，增益放大器將來自於光檢測單元所輸出之信號予以放大為複數個光增益，且類比數位轉換器將光增益轉換為數位信號，並予以輸出為複數個光量資料；飽和判斷單元判斷來自於電路單元之各光量資料是否飽和；測定結果運算單元係根據飽和判斷單元之判斷結果，使用光量資料中的一部分或全部的光量資料，計算所接受之光的測定結果。
简体摘要：本发明揭露一种分光光度计，包括一光检测单元、一电路单元、一饱和判断单元以及一测定结果运算单元；其中光检测单元将所接受之光转换为电子信号并予以输出；电路单元包括复数个增益放大器与复数个模拟数码转换器(Analog-to-Digital Converters,ADC)，增益放大器将来自于光检测单元所输出之信号予以放大为复数个光增益，且模拟数码转换器将光增益转换为数码信号，并予以输出为复数个光量数据；饱和判断单元判断来自于电路单元之各光量数据是否饱和；测定结果运算单元系根据饱和判断单元之判断结果，使用光量数据中的一部分或全部的光量数据，计算所接受之光的测定结果。

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