专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

TW201732241A 光波長檢測器及檢測方法审中-公开
简体标题：光波长检测器及检测方法
公开(公告)号：TW201732241A
公开(公告)日：2017-09-16
申请号：TW105124845
申请日：2016-08-04
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：張凌 , ZHANG, LING , 吳揚 , WU, YANG , 姜開利 , JIANG, KAI-LI , 劉長洪 , LIU, CHANG-HONG , 王佳平 , WANG, JIA-PING , 范守善 , FAN, SHOU-SHAN
IPC分类号： G01J3/12
CPC分类号： G01J9/00 , G01J1/0429 , G01J1/42 , G01J3/50 , G01J4/00 , G01J5/023 , G01J2003/507
摘要：本發明涉及一種光波長檢測器，其包括：一探測元件，該探測元件用於接收待測光；一測量裝置，該測量裝置與該探測元件電連接；其中，該探測元件包括一奈米碳管結構，該奈米碳管結構包括複數奈米碳管沿同一方向延伸；該光波長檢測器包括一偏振片，該偏振片用於將待測光起偏為偏振光後入射到奈米碳管結構的部份表面，該測量裝置用於測量該奈米碳管結構中產生的溫度差或電勢差，該偏振片與該奈米碳管結構相對旋轉，改變偏振光的方向與該奈米碳管的延伸方向之間的夾角角度，通過比較不同夾角時測量得到的溫度差或電勢差獲得該待測光的波長值。
简体摘要：本发明涉及一种光波长检测器，其包括：一探测组件，该探测组件用于接收待测光；一测量设备，该测量设备与该探测组件电连接；其中，该探测组件包括一奈米碳管结构，该奈米碳管结构包括复数奈米碳管沿同一方向延伸；该光波长检测器包括一偏振片，该偏振片用于将待测光起偏为偏振光后入射到奈米碳管结构的部份表面，该测量设备用于测量该奈米碳管结构中产生的温度差或电势差，该偏振片与该奈米碳管结构相对旋转，改变偏振光的方向与该奈米碳管的延伸方向之间的夹角角度，通过比较不同夹角时测量得到的温度差或电势差获得该待测光的波长值。

2. 发明专利

TW201725902A 產生供自動白平衡校正運算使用的像素篩選範圍的方法审中-公开
简体标题：产生供自动白平衡校正运算使用的像素筛选范围的方法
公开(公告)号：TW201725902A
公开(公告)日：2017-07-16
申请号：TW105101143
申请日：2016-01-14
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：張緯德 , CHANG, WEI-TE , 陳世澤 , CHEN, SHIH-TSE
IPC分类号： H04N9/73
CPC分类号： G06T5/005 , G01J3/462 , G01J3/50 , G06T5/007 , G06T2207/10024 , H04N1/6077 , H04N9/73 , H04N17/02
摘要：本發明提出一種產生供自動白平衡校正運算使用的像素篩選範圍的方法，包含：以特定色溫參考點為中心，將G/B-G/R色域空間劃分為具有不同色彩元素關係的六個色彩區域；利用HSV色域空間的飽和度計算方式，分別在六個色彩區域中界定出與特定色溫參考點的飽和度差異為預定差異值的六個色彩邊界，以產生對應的特定六邊形篩選範圍；比照特定六邊形篩選範圍的產生方式，分別界定出其他多個色溫參考點所對應的多個六邊形篩選範圍；依據特定六邊形篩選範圍與其他多個六邊形篩選範圍，在G/B-G/R色域空間中產生對應的包絡範圍以做為像素篩選範圍。
简体摘要：本发明提出一种产生供自动白平衡校正运算使用的像素筛选范围的方法，包含：以特定色温参考点为中心，将G/B-G/R色域空间划分为具有不同色彩元素关系的六个色彩区域；利用HSV色域空间的饱和度计算方式，分别在六个色彩区域中界定出与特定色温参考点的饱和度差异为预定差异值的六个色彩边界，以产生对应的特定六边形筛选范围；比照特定六边形筛选范围的产生方式，分别界定出其他多个色温参考点所对应的多个六边形筛选范围；依据特定六边形筛选范围与其他多个六边形筛选范围，在G/B-G/R色域空间中产生对应的包络范围以做为像素筛选范围。

3. 发明专利

TWI580274B 產生供自動白平衡校正運算使用的像素篩選範圍的方法有权
简体标题：产生供自动白平衡校正运算使用的像素筛选范围的方法
公开(公告)号：TWI580274B
公开(公告)日：2017-04-21
申请号：TW105101143
申请日：2016-01-14
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：張緯德 , CHANG, WEI-TE , 陳世澤 , CHEN, SHIH-TSE
IPC分类号： H04N9/73
CPC分类号： G06T5/005 , G01J3/462 , G01J3/50 , G06T5/007 , G06T2207/10024 , H04N1/6077 , H04N9/73 , H04N17/02

4. 发明专利

TW201400198A 光學式粒狀物選別機审中-公开
简体标题：光学式粒状物选别机
公开(公告)号：TW201400198A
公开(公告)日：2014-01-01
申请号：TW102109290
申请日：2013-03-15
申请人：佐竹股份有限公司 , SATAKE CORPORATION
发明人：宮本知幸 , MIYAMOTO, TOMOYUKI , 石津任章 , ISHIZU, HIDEAKI , 立石芳和 , TATEISHI, YOSHIKAZU , 原正純 , HARA, MASAZUMI
IPC分类号： B07C5/342 , G01N21/85 , G01N21/27
CPC分类号： B07C5/3425 , B07C5/342 , G01J3/465 , G01J3/50 , G01N21/27 , G01N21/85 , G01N2021/8592 , G06T11/001 , G06T2207/10024 , H04N1/6058 , H04N9/045 , Y10S209/932 , Y10S209/938
摘要：本發明係在提供利用接近人眼之RGB的三次元色空間資訊來使感度設定較容易實施，而且，可大幅簡化信號處理的光學式粒狀物選別機。判別手段，具備：三次元色分佈資料作成部，將粒狀物之R、G、及B之光的各波長成份作成三次元色空間上之資料；馬哈朗諾比斯距離境界面作成部，設定以馬哈朗諾比斯距離所計算之境界面，區隔成良品群聚區域、及不良品群聚區域；歐幾里德距離境界面作成部，求取良品群聚區域及不良品群聚區域之各重心位置，設定各重心位置間之距離為最遠之以歐幾里德距離所計算的境界面；以及閾值決定部，求取以馬哈朗諾比斯距離所計算之境界面、與以歐幾里德距離所計算之境界面的交線，決定是否以該交線作為決定分離對象物之判別閾值。
简体摘要：本发明系在提供利用接近人眼之RGB的三次元色空间信息来使感度设置较容易实施，而且，可大幅简化信号处理的光学式粒状物选别机。判别手段，具备：三次元色分布数据作成部，将粒状物之R、G、及B之光的各波长成份作成三次元色空间上之数据；马哈朗诺比斯距离境界面作成部，设置以马哈朗诺比斯距离所计算之境界面，区隔成良品群聚区域、及不良品群聚区域；欧几里德距离境界面作成部，求取良品群聚区域及不良品群聚区域之各重心位置，设置各重心位置间之距离为最远之以欧几里德距离所计算的境界面；以及阈值决定部，求取以马哈朗诺比斯距离所计算之境界面、与以欧几里德距离所计算之境界面的交线，决定是否以该交线作为决定分离对象物之判别阈值。

5. 发明专利

TW201333546A 光學濾光器裝置、及光學濾光器裝置之製造方法审中-公开
简体标题：光学滤光器设备、及光学滤光器设备之制造方法
公开(公告)号：TW201333546A
公开(公告)日：2013-08-16
申请号：TW102105411
申请日：2013-02-08
申请人：精工愛普生股份有限公司 , SEIKO EPSON CORPORATION
发明人：松野靖史 , MATSUNO, YASUSHI , 佐野朗 , SANO, AKIRA
IPC分类号： G02B5/28 , G02B26/00
CPC分类号： G02B5/284 , G01J3/2823 , G01J3/42 , G01J3/44 , G01J3/50 , G01J3/51 , G01J2003/1234 , G01J2003/2826 , G01N21/65 , G02B26/001 , Y10T29/49904
摘要：本發明之光學濾光器裝置具備干涉濾光器與框體。干涉濾光器包括：固定基板；可動基板，其與固定基板接合；固定反射膜，其設置於固定基板上；及可動反射膜，其設置於可動基板上，且與上述固定反射膜介隔反射膜間空隙而對向。框體包括可配置干涉濾光器之基底基板。在可動基板與基底基板之間，配置有固定構件。可動基板，於自基板厚度方向觀察可動基板之俯視時，係於設置有上述可動反射膜之區域除外之一部位，藉由固定構件而被固定於基底基板上。
简体摘要：本发明之光学滤光器设备具备干涉滤光器与框体。干涉滤光器包括：固定基板；可动基板，其与固定基板接合；固定反射膜，其设置于固定基板上；及可动反射膜，其设置于可动基板上，且与上述固定反射膜介隔反射膜间空隙而对向。框体包括可配置干涉滤光器之基底基板。在可动基板与基底基板之间，配置有固定构件。可动基板，于自基板厚度方向观察可动基板之俯视时，系于设置有上述可动反射膜之区域除外之一部位，借由固定构件而被固定于基底基板上。

6. 发明专利

TW201105958A 量測測量目標之方法 METHOD OF MEASURING MEASUREMENT TARGET 审中-公开
简体标题：量测测量目标之方法 METHOD OF MEASURING MEASUREMENT TARGET
公开(公告)号：TW201105958A
公开(公告)日：2011-02-16
申请号：TW099115120
申请日：2010-05-12
申请人：高永科技股份有限公司
发明人：鄭仲基 , 金珉永 , 柳希昱
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G06T1/0007 , G01B11/0608 , G01B11/2509 , G01J3/50 , G01N21/8806 , G01N21/95684 , G01N2021/95638 , G01N2021/95646 , G01N2201/0635 , G06T7/0008 , G06T7/521 , G06T2207/10024 , G06T2207/10152 , G06T2207/30152
摘要：為了量測一PCB上之一測量目標,該PCB之高度資訊透過利用一第一圖像而獲得,該第一圖像透過將一光柵圖形光照射到該PCB上而拍攝。接著透過利用該高度資訊,在該PCB上突出大於一參考高度之一高度之一第一區域確定為該測量目標。此後,該PCB之顏色資訊透過利用一第二圖像而獲得,該第二圖像透過將光照射到該PCB上而拍攝。接著,該PCB之該顏色資訊中確定為該測量目標之該第一區域之該第一顏色資訊設定為參考顏色資訊。此後,將該參考顏色資訊與除了該第一區域外的一區域之顏色資訊作比較以判斷該測量目標是否形成於除了該第一區域外的該區域中。因此,該測量目標可遭準確地量測。
简体摘要：为了量测一PCB上之一测量目标,该PCB之高度信息透过利用一第一图像而获得,该第一图像透过将一光栅图形光照射到该PCB上而拍摄。接着透过利用该高度信息,在该PCB上突出大于一参考高度之一高度之一第一区域确定为该测量目标。此后,该PCB之颜色信息透过利用一第二图像而获得,该第二图像透过将光照射到该PCB上而拍摄。接着,该PCB之该颜色信息中确定为该测量目标之该第一区域之该第一颜色信息设置为参考颜色信息。此后,将该参考颜色信息与除了该第一区域外的一区域之颜色信息作比较以判断该测量目标是否形成于除了该第一区域外的该区域中。因此,该测量目标可遭准确地量测。

7. 发明专利

TWI226195B 供影像裝置用以分析,最佳化及/或設計光譜敏感度曲線之系統及其方法 A SYSTEM AND METHOD FOR ANALYZING, OPTIMIZING AND/OR DESIGNING SPECTRAL SENSITIVITY CURVES FOR AN IMAGING DEVICE 有权
简体标题：供影像设备用以分析,最优化及/或设计光谱敏感度曲线之系统及其方法 A SYSTEM AND METHOD FOR ANALYZING, OPTIMIZING AND/OR DESIGNING SPECTRAL SENSITIVITY CURVES FOR AN IMAGING DEVICE
公开(公告)号：TWI226195B
公开(公告)日：2005-01-01
申请号：TW090107054
申请日：2001-05-18
申请人：美商羅徹斯特科技學會 ROCHESTER INSTITUTE OF TECHNOLOGY , 日商新力股份有限公司 SONY CORPORATION
发明人：加戶直哉 NAOYA KATOH , 尾田乃步留 NOBORU OHTA , 素珠官 SHUXUE QUAN , 米契爾羅森 MITCHELL ROSEN
IPC分类号： H04N , G01J
CPC分类号： H04N17/02 , G01J3/462 , G01J3/465 , G01J3/50 , G01J3/51 , G01J3/524 , G01J2003/466 , H04N17/002
摘要：一種用於分析至少一彩色影像裝置的顏色表現能力之方法與系統，該裝置可獲得多重彩色通道，包含彩色影像裝置內二個(含)以上多重彩色通道的光譜敏感度曲線，並且從彩色影像裝置內二個(含)以上多重彩色通道的光譜敏感度曲線來決定彩色影像裝置的影像品質數值。
简体摘要：一种用于分析至少一彩色影像设备的颜色表现能力之方法与系统，该设备可获得多重彩色信道，包含彩色影像设备内二个(含)以上多重彩色信道的光谱敏感度曲线，并且从彩色影像设备内二个(含)以上多重彩色信道的光谱敏感度曲线来决定彩色影像设备的影像品质数值。

8. 发明专利

TW230800B 從多重色彩之色源作顏色析離之方法及裝置失效
简体标题：从多重色彩之色源作颜色析离之方法及设备
公开(公告)号：TW230800B
公开(公告)日：1994-09-21
申请号：TW081107329
申请日：1992-09-17
申请人：史雀布羅內科技庫富斯坦股份有限公司
发明人：海茲慕哥那斯特 , 漢尼斯費斯屈爾
IPC分类号： G03H , G06K , G06F
CPC分类号： H04N1/622 , G01J3/462 , G01J3/50
摘要：為了產生顏色析離，一主體色源(３)以多元色的方法一點一點地受到掃瞄，例如，以三原色的方式，以便獲得顏色信號值（F1、F2、F3），該等信號值位於一顏色空間（RGB）內，同時被用來形成顏色離析。為達此目的，吾人選用既定數量的且最常發生的顏色信號值。然後，該顏色空間（RGB）被這些最常發生的顏色信號值所填充，以便獲得修正的顏色空間。然後，該主體色源(３)以多元色或三色的方式，再度被一點一點地掃瞄，以此程序所得到的顏色信號值被處於同一點之修正的顏色空間所取代。因此，藉由相當少的顏色以及微量的記憶需求，本發明可以電子的方式，複製高度顏色傳真的主體色源。
简体摘要：为了产生颜色析离，一主体色源(３)以多元色的方法一点一点地受到扫瞄，例如，以三原色的方式，以便获得颜色信号值（F1、F2、F3），该等信号值位于一颜色空间（RGB）内，同时被用来形成颜色离析。为达此目的，吾人选用既定数量的且最常发生的颜色信号值。然后，该颜色空间（RGB）被这些最常发生的颜色信号值所填充，以便获得修正的颜色空间。然后，该主体色源(３)以多元色或三色的方式，再度被一点一点地扫瞄，以此进程所得到的颜色信号值被处于同一点之修正的颜色空间所取代。因此，借由相当少的颜色以及微量的记忆需求，本发明可以电子的方式，复制高度颜色传真的主体色源。

9. 发明专利

TWI615599B 光波長檢測器及檢測方法有权
简体标题：光波长检测器及检测方法
公开(公告)号：TWI615599B
公开(公告)日：2018-02-21
申请号：TW105124845
申请日：2016-08-04
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：張凌 , ZHANG, LING , 吳揚 , WU, YANG , 姜開利 , JIANG, KAI-LI , 劉長洪 , LIU, CHANG-HONG , 王佳平 , WANG, JIA-PING , 范守善 , FAN, SHOU-SHAN
IPC分类号： G01J3/12
CPC分类号： G01J9/00 , G01J1/0429 , G01J1/42 , G01J3/50 , G01J4/00 , G01J5/023 , G01J2003/507

10. 发明专利

TWI613421B 光學測定裝置有权
简体标题：光学测定设备
公开(公告)号：TWI613421B
公开(公告)日：2018-02-01
申请号：TW104101580
申请日：2015-01-16
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 先鋒自動化設備股份有限公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：望月學 , MOCHIZUKI, MANABU , 藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI
IPC分类号： G01J1/04
CPC分类号： G01J3/50 , G01J1/0228 , G01J1/4228 , G01J2001/4252

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式