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1. 发明专利

TW201829980A 用以檢查構件之總成及方法审中-公开
简体标题：用以检查构件之总成及方法
公开(公告)号：TW201829980A
公开(公告)日：2018-08-16
申请号：TW107103101
申请日：2018-01-29
申请人：瑞士商伊斯美加半導體控股公司 , ISMECA SEMICONDUCTOR HOLDING SA
发明人：帕瑞特傑洛米 , PARATTE, JEROME , 艾柏瑞爾皮里克 , ABRIAL, PIERRICK , 艾美希爾瑞 , EME, THIERRY
IPC分类号： G01C11/26
摘要：依據本發明，提供用以檢查構件之方法，其使用包含具有一固定位置之相機及一可移動平台的一總成，其中該可移動平台係組配成使得它可環繞一轉軸旋轉且可沿著二線性軸線性地移動，其中該等二線性軸互相垂直且其中該等二線性軸皆各與該轉軸垂直，該方法包含以下步驟：(a)提供在該平台上呈一預定方位之一第一構件，使得該構件之一第一側面向一相機；(b)使該平台沿著該等二線性軸中之一或多數線性軸線性地移動以使該第一構件之該第一側在該相機之焦點上；(c)在該第一構件之該第一側在該相機之焦點上後，擷取它的一影像。
简体摘要：依据本发明，提供用以检查构件之方法，其使用包含具有一固定位置之相机及一可移动平台的一总成，其中该可移动平台系组配成使得它可环绕一转轴旋转且可沿着二线性轴线性地移动，其中该等二线性轴互相垂直且其中该等二线性轴皆各与该转轴垂直，该方法包含以下步骤：(a)提供在该平台上呈一预定方位之一第一构件，使得该构件之一第一侧面向一相机；(b)使该平台沿着该等二线性轴中之一或多数线性轴线性地移动以使该第一构件之该第一侧在该相机之焦点上；(c)在该第一构件之该第一侧在该相机之焦点上后，截取它的一影像。

2. 发明专利

TW201705347A 用於處理組件之總成及方法审中-公开
简体标题：用于处理组件之总成及方法
公开(公告)号：TW201705347A
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：TW105106565
申请日：2016-03-03
申请人：伊斯美加半導體控股公司 , ISMECA SEMICONDUCTOR HOLDING SA
发明人：拉梅爾蓋 , RAMEL, GUY , 艾碧兒皮瑞克 , ABRIAL, PIERRICK , 伊葛汀格拉斐爾 , EIGELDINGER, RAPHAEL
IPC分类号： H01L21/68
CPC分类号： H05K13/0413 , H05K13/08
摘要：根據本發明提供處理組件之方法，該方法包括以下步驟：(a)使用一對準構件將一組件對準至一預定義定向中；(b)將該組件放置於經定位於一裝載區域中之一船形器皿上之一預定義位置上；(c)在將該組件放置於該船形器皿上之後，使用一第一相機來擷取該組件之一第一影像；(d)使用該第一影像來識別該組件是否處於該船形器皿上之一預定義定向中；(e)若該組件並不處於該船形器皿上之該預定義定向中，則自該船形器皿拾取該組件並使用該對準構件再次對準該組件。進一步提供一種用於處理組件之對應總成。
简体摘要：根据本发明提供处理组件之方法，该方法包括以下步骤：(a)使用一对准构件将一组件对准至一预定义定向中；(b)将该组件放置于经定位于一装载区域中之一船形器皿上之一预定义位置上；(c)在将该组件放置于该船形器皿上之后，使用一第一相机来截取该组件之一第一影像；(d)使用该第一影像来识别该组件是否处于该船形器皿上之一预定义定向中；(e)若该组件并不处于该船形器皿上之该预定义定向中，则自该船形器皿十取该组件并使用该对准构件再次对准该组件。进一步提供一种用于处理组件之对应总成。

3. 发明专利

TW201702778A 組件處理總成及調整組件處理總成之方法审中-公开
简体标题：组件处理总成及调整组件处理总成之方法
公开(公告)号：TW201702778A
公开(公告)日：2017-01-16
申请号：TW105112680
申请日：2016-04-22
申请人：伊斯美加半導體控股公司 , ISMECA SEMICONDUCTOR HOLDING SA
发明人：薛溫敦漢默派翠斯 , SCHWINDENHAMMER, PATRICE , 艾碧兒皮瑞克 , ABRIAL, PIERRICK , 歐伯里馬可 , OBERLI, MARCO , 寇斯特戴米恩 , COSTE, DAMIEN
IPC分类号： G05B19/418
CPC分类号： G06T7/70 , G06T2207/30204
摘要：根據本發明，提供一種用於調整一組件處理總成之方法，該組件處理總成包括：複數個站，其等之至少一些具有可接納一組件之一凹窩；及一可旋轉轉座，其具有複數個組件處理頭，且其中該轉座可旋轉以在該複數個站之間運送組件，該方法包括以下步驟：使用位於該可旋轉轉座上之一攝影機捕捉位於一第一站處之一參考元件之一第一影像；識別該參考元件之中心在該第一影像中之位置；旋轉該轉座，使得該轉座上之該攝影機處於其可捕捉一第二站之該凹窩之一第二影像之一位置中；使用該攝影機捕捉該第二站之該凹窩之一第二影像；識別該第二站之該凹窩之中心在該第二影像中之位置；在該第二影像上之與該參考元件之該中心在該第一影像中之該位置相同之位置處疊加一標記；調整該第二站直至該第二站之該凹窩之該中心在該第二影像中之位置與該標記對準。進一步提供一對應的組件處理總成。
简体摘要：根据本发明，提供一种用于调整一组件处理总成之方法，该组件处理总成包括：复数个站，其等之至少一些具有可接纳一组件之一凹窝；及一可旋转转座，其具有复数个组件处理头，且其中该转座可旋转以在该复数个站之间运送组件，该方法包括以下步骤：使用位于该可旋转转座上之一摄影机捕捉位于一第一站处之一参考组件之一第一影像；识别该参考组件之中心在该第一影像中之位置；旋转该转座，使得该转座上之该摄影机处于其可捕捉一第二站之该凹窝之一第二影像之一位置中；使用该摄影机捕捉该第二站之该凹窝之一第二影像；识别该第二站之该凹窝之中心在该第二影像中之位置；在该第二影像上之与该参考组件之该中心在该第一影像中之该位置相同之位置处叠加一标记；调整该第二站直至该第二站之该凹窝之该中心在该第二影像中之位置与该标记对准。进一步提供一对应的组件处理总成。

4. 发明专利

TW201623124A 碗形送料機审中-公开
简体标题：碗形送料机
公开(公告)号：TW201623124A
公开(公告)日：2016-07-01
申请号：TW104124710
申请日：2015-07-30
申请人：伊斯美加半導體控股公司 , ISMECA SEMICONDUCTOR HOLDING SA
发明人：波森寧席瑞 , BOISSENIN, THIERRY , 岡薩勒茲米格爾 , GONZALEZ, MIGUEL , 歐斯勒法勒瑞歐 , OSLER, VALERIO
IPC分类号： B65G47/14
CPC分类号： B65G29/00 , B65G47/1421
摘要：根據本發明，提供一種碗形送料機區段，該碗形送料機區段係針對用來自碗形送料機送料具有預定特徵之部件而得以最佳化。亦提供一種碗形送料機部件，該碗形送料機區段可以可移除方式附接至該碗形送料機部件。當該碗形送料機區段以可移除方式附接至該碗形送料機部件時，該碗形送料機區段及該碗形送料機部件共同界定碗形送料機，該碗形送料機係針對送料具有預定特徵之部件而得以最佳化。進一步提供一種對應總成，該總成包含碗形送料機部件及複數個碗形送料機區段，該等複數個碗形送料機區段中之每一者係針對用來送料具有不同預定特徵之部件而得以最佳化。亦提供一種用於提供碗形送料機之方法，該碗形送料機針對送料具有預定特徵之部件而得以最佳化。
简体摘要：根据本发明，提供一种碗形送料机区段，该碗形送料机区段系针对用来自碗形送料机送料具有预定特征之部件而得以最优化。亦提供一种碗形送料机部件，该碗形送料机区段可以可移除方式附接至该碗形送料机部件。当该碗形送料机区段以可移除方式附接至该碗形送料机部件时，该碗形送料机区段及该碗形送料机部件共同界定碗形送料机，该碗形送料机系针对送料具有预定特征之部件而得以最优化。进一步提供一种对应总成，该总成包含碗形送料机部件及复数个碗形送料机区段，该等复数个碗形送料机区段中之每一者系针对用来送料具有不同预定特征之部件而得以最优化。亦提供一种用于提供碗形送料机之方法，该碗形送料机针对送料具有预定特征之部件而得以最优化。

5. 发明专利

TW201335043A 元件裝卸總成审中-公开
简体标题：组件装卸总成
公开(公告)号：TW201335043A
公开(公告)日：2013-09-01
申请号：TW101145605
申请日：2012-12-05
申请人：伊斯美加半導體控股公司 , ISMECA SEMICONDUCTOR HOLDING SA
发明人：歐斯勒法勒瑞歐 , OSLER, VALERIO , 岡薩勒茲米格爾 , GONZALEZ, MIGUEL
IPC分类号： B65G11/06
CPC分类号： H05K13/028 , B65G47/1421 , H05K13/022
摘要：依據本案發明提供有一種元件裝卸總成1，其包括：一供給裝置3，該供給裝置3被裝配成沿著一路徑7移動長方形元件5，其中，各該等長方形元件5包括有一縱向軸線9，一配送軌道11，長方形元件5能沿著該配送軌道11被移動，其中，該配送軌道11包括有至少一線性部分13，其中，該配送軌道11之該線性部分13被裝配成和該供給裝置3配合，以使其可從該供給裝置3接收長方形元件5，其中，該配送軌道11被配置成使得該配送軌道之該線性部分13係在該配送軌道之該線性部分13和該供給裝置3配合的位置處垂直於該路徑7之一切線15，使得一長方形元件5係能以一定向被呈現至該配送軌道11之該線性部分13，在該定向中，該長方形元件5之該縱向軸線9係垂直於該配送軌道11之該線性部分13。進一步提供一種裝卸長方形元件的相關方法。
简体摘要：依据本案发明提供有一种组件装卸总成1，其包括：一供给设备3，该供给设备3被装配成沿着一路径7移动长方形组件5，其中，各该等长方形组件5包括有一纵向轴线9，一配送轨道11，长方形组件5能沿着该配送轨道11被移动，其中，该配送轨道11包括有至少一线性部分13，其中，该配送轨道11之该线性部分13被装配成和该供给设备3配合，以使其可从该供给设备3接收长方形组件5，其中，该配送轨道11被配置成使得该配送轨道之该线性部分13系在该配送轨道之该线性部分13和该供给设备3配合的位置处垂直于该路径7之一切线15，使得一长方形组件5系能以一定向被呈现至该配送轨道11之该线性部分13，在该定向中，该长方形组件5之该纵向轴线9系垂直于该配送轨道11之该线性部分13。进一步提供一种装卸长方形组件的相关方法。

6. 发明专利

TW201333491A 巢套审中-公开
公开(公告)号：TW201333491A
公开(公告)日：2013-08-16
申请号：TW101145608
申请日：2012-12-05
申请人：伊斯美加半導體控股公司 , ISMECA SEMICONDUCTOR HOLDING SA
发明人：菲諾特席爾菲 , VIENOT, SYLVAIN , 菲佛吉飛利浦 , VIVERGE, PHILIPPE , 斯卡爾佩拉馬席摩 , SCARPELLA, MASSIMO , 洛伊飛利浦 , ROY, PHILIPPE
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R1/0408 , G01R31/2635 , G01R31/2865 , G01R31/2893
摘要：一種巢套1，其包括：固定部件3及可移動部件5，其中該固定部件3及可移動部件5經構造以配合來界定凹穴7，該凹穴可收納一電氣組件25之至少一部分，其中可移動部件5可於第一位置與第二位置之間移動，其中在第一位置處，凹穴7敞開以便電氣組件之至少部分可移動至凹穴7中，而在第二位置處，該凹穴7閉合以便使定位於該凹穴中之電氣組件25之至少部分係緊固於該凹穴內，其中巢套1更包括偏置機構9，該偏置機構經佈置以使得可移動部件5朝向其第二位置偏置。本案更提供一種巢套總成、一種組件搬送總成及一種包括該巢套之工作台。
简体摘要：一种巢套1，其包括：固定部件3及可移动部件5，其中该固定部件3及可移动部件5经构造以配合来界定凹穴7，该凹穴可收纳一电气组件25之至少一部分，其中可移动部件5可于第一位置与第二位置之间移动，其中在第一位置处，凹穴7敞开以便电气组件之至少部分可移动至凹穴7中，而在第二位置处，该凹穴7闭合以便使定位于该凹穴中之电气组件25之至少部分系紧固于该凹穴内，其中巢套1更包括偏置机构9，该偏置机构经布置以使得可移动部件5朝向其第二位置偏置。本案更提供一种巢套总成、一种组件搬送总成及一种包括该巢套之工作台。

7. 发明专利

TW201231978A 電性接點及測試平台 AN ELECTRICAL CONTACT AND TESTING PLATFORM 审中-公开
简体标题：电性接点及测试平台 AN ELECTRICAL CONTACT AND TESTING PLATFORM
公开(公告)号：TW201231978A
公开(公告)日：2012-08-01
申请号：TW100130069
申请日：2011-08-23
申请人：伊斯美加半導體控股公司
发明人：張錫海 , 庄建益
IPC分类号： G01R
CPC分类号： H01R13/2457 , G01R1/0466 , G01R31/2886 , H01R13/405 , H01R2201/20
摘要：根據本發明，提供一種電性接點，其包括三或更多葉片，俾便有助於藉由一器件的一電性接點在該等三或更多葉片中的至少兩者之間建立一電性連接。本發明進一步提供一種適合容納要被測試之器件的測試平台，其中，該測試平台包括一或更多前述的電性接點。本發明還進一步提供一種測試機器器件，其包括一固持器部件，該固持器部件包括前述電性接點中的任一者，其中，該測試機器器件會被配置成使其能夠和一測試機器協同運作。
简体摘要：根据本发明，提供一种电性接点，其包括三或更多叶片，俾便有助于借由一器件的一电性接点在该等三或更多叶片中的至少两者之间创建一电性连接。本发明进一步提供一种适合容纳要被测试之器件的测试平台，其中，该测试平台包括一或更多前述的电性接点。本发明还进一步提供一种测试机器器件，其包括一固持器部件，该固持器部件包括前述电性接点中的任一者，其中，该测试机器器件会被配置成使其能够和一测试机器协同运作。

8. 发明专利

TWI610751B 構件處理總成及處理構件之方法有权
简体标题：构件处理总成及处理构件之方法
公开(公告)号：TWI610751B
公开(公告)日：2018-01-11
申请号：TW101144122
申请日：2012-11-26
申请人：伊斯美加半導體控股公司 , ISMECA SEMICONDUCTOR HOLDING SA
发明人：帕爾米賽諾吉歐法妮 , PALMISANO, GIOVANNI , 馬特席傑諾德傑克斯安卓 , 卓瑪德帕斯卡爾 , DROMARD, PASCAL , 洛伊飛利浦 , ROY, PHILIPPE
IPC分类号： B23Q16/02
CPC分类号： B23P19/002 , B23P19/007 , B23P19/027 , B23P19/04 , H01L21/68 , H01L21/6838 , H01L21/68764 , Y10T29/4978 , Y10T29/53052 , Y10T29/53365 , Y10T29/53374 , Y10T29/53404

9. 发明专利

TW201537151A 帶有遮光器的光學積分球审中-公开
简体标题：带有遮光器的光学积分球
公开(公告)号：TW201537151A
公开(公告)日：2015-10-01
申请号：TW103125490
申请日：2014-07-25
申请人：伊斯美加半導體控股公司 , ISMECA SEMICONDUCTOR HOLDING SA
发明人：菲諾特席爾菲 , VIENOT, SYLVAIN
IPC分类号： G01J3/08 , G01J3/46 , G01N21/25
CPC分类号： G01J1/044 , G01J1/0214 , G01J1/0223 , G01J1/0271 , G01J1/0474 , G01J1/42 , G01J2001/0481 , G01J2001/4252
摘要：一種用於量測一LED3之光特性的光學積分球1，該光學積分球包括在一端部的一入口5，一LED3能為測試被呈現於該處；一遮光器7，其被設置在該入口5處，其中該遮光器7被配置成可在一第一打開位置及一第二關閉位置之間移動，一待被測試的LED3在該第一打開位置能被接收進入該入口5中，該遮光器7在該第二關閉位置能覆蓋該LED3被支撐於其上之一套接件9的至少大部分，以致該遮光器能防止由該LED3所發射出的光線被該套接件9的至少大部分從該積分球被轉移開。進一步提供有一種包括該光學積分球1的組合。
简体摘要：一种用于量测一LED3之光特性的光学积分球1，该光学积分球包括在一端部的一入口5，一LED3能为测试被呈现于该处；一遮光器7，其被设置在该入口5处，其中该遮光器7被配置成可在一第一打开位置及一第二关闭位置之间移动，一待被测试的LED3在该第一打开位置能被接收进入该入口5中，该遮光器7在该第二关闭位置能覆盖该LED3被支撑于其上之一套接件9的至少大部分，以致该遮光器能防止由该LED3所发射出的光线被该套接件9的至少大部分从该积分球被转移开。进一步提供有一种包括该光学积分球1的组合。

10. 发明专利

TWI497084B 電性接點及測試平台有权
简体标题：电性接点及测试平台
公开(公告)号：TWI497084B
公开(公告)日：2015-08-21
申请号：TW100130069
申请日：2011-08-23
申请人：伊斯美加半導體控股公司 , ISMECA SEMICONDUCTOR HOLDING SA
发明人：張錫海 , CHENG, KIAN AIK , 庄建益 , CHONG, SEK HOI
IPC分类号： G01R1/073 , G01R31/00
CPC分类号： H01R13/2457 , G01R1/0466 , G01R31/2886 , H01R13/405 , H01R2201/20

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