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1. 发明专利

TWI606870B 電子產品分選系統及分選方法有权
简体标题：电子产品分选系统及分选方法
公开(公告)号：TWI606870B
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：TW104136259
申请日：2015-11-04
申请人：澧達科技股份有限公司 , LEADOT INNOVATION, INC.
发明人：王鏗又 , WANG, JUSTIN
IPC分类号： B07C5/34 , G06K9/78
CPC分类号： B07C5/3422 , B07C5/16 , B07C5/28 , H04N5/23229 , Y02W90/20

2. 发明专利

TWI592273B 廢塑膠容器回收系統及其方法有权
简体标题：废塑胶容器回收系统及其方法
公开(公告)号：TWI592273B
公开(公告)日：2017-07-21
申请号：TW104125931
申请日：2015-08-10
申请人：亞東技術學院 , ORIENTAL INSTITUTE OF TECHNOLOGY
发明人：賴金輪 , LAI, CHIN LUN , 陳俊宏 , CHEN, JUN HORNG
IPC分类号： B29B17/02
CPC分类号： B29B17/02 , B07C5/3422 , B07C2501/0054 , B29B2017/0203 , B29B2017/0279 , B29L2031/712 , G01J3/00 , G01J3/021 , G01J3/42 , G01N21/31 , G01N33/00 , G01N2033/0081 , Y02W30/622

3. 实用新型

TW520669U 螺絲自動檢測篩選機失效
简体标题：螺丝自动检测筛选机
公开(公告)号：TW520669U
公开(公告)日：2003-02-11
申请号：TW091208050
申请日：2002-05-31
申请人：劉英宗
发明人：劉英宗
IPC分类号： B07C
CPC分类号： B07C5/3422 , B07C5/36
摘要：本創作是一種螺絲自動檢測篩選機，係創作人前申請第86214112號『螺絲自動檢測篩選機』專利之再改良案，特別是一種可以對細小之螺絲進行檢測篩選的自動檢測篩選機，其包括有一旋轉機台、許多安裝在旋轉機台之週圍的檢測單元與排料機構，利用旋轉機台將受測的螺絲移經各個檢測單元進行不同的規格測試，再利用排料機構將篩選出其中合格與不合格的螺絲；本創作針對細小的螺絲(如使用於電子產品的細小螺絲)，重新設計其中的檢測單元，特別是在其中的攝影檢測單元中，可以牢靠地將細小的螺絲夾持住並且移動至攝影機前的受測位置，一舉解決傳統此類自動檢測篩選機無法檢測篩選細小之螺絲的問題。
简体摘要：本创作是一种螺丝自动检测筛选机，系创作人前申请第86214112号‘螺丝自动检测筛选机’专利之再改良案，特别是一种可以对细小之螺丝进行检测筛选的自动检测筛选机，其包括有一旋转机台、许多安装在旋转机台之周围的检测单元与排料机构，利用旋转机台将受测的螺丝移经各个检测单元进行不同的规格测试，再利用排料机构将筛选出其中合格与不合格的螺丝；本创作针对细小的螺丝(如使用于电子产品的细小螺丝)，重新设计其中的检测单元，特别是在其中的摄影检测单元中，可以牢靠地将细小的螺丝夹持住并且移动至摄影机前的受测位置，一举解决传统此类自动检测筛选机无法检测筛选细小之螺丝的问题。

4. 发明专利

TWI373815B 半導體封裝的檢測系統有权
简体标题：半导体封装的检测系统
公开(公告)号：TWI373815B
公开(公告)日：2012-10-01
申请号：TW097119135
申请日：2008-05-23
申请人：英泰克普拉斯有限公司
发明人：林雙根 , 李相允 , 崔浩根 , 高升奎
IPC分类号： H01L
CPC分类号： B07C5/3422 , G01N21/95
摘要：一種可於單一檢測系統旋轉一次之期間內，分別對半導體封裝之不同領域進行檢測，而提昇裝備活用能力及檢測良率之半導體封裝檢測系統，其包含：本體；裝載部，設於前述本體前方，以將容置有應檢測之半導體封裝之承載盤送至第一移送軌；第一視訊檢測部，設於前述第一移送軌，用以進行半導體封裝之第一面之視訊檢測；第二移送軌，設於前述第一移送軌之一側；第二視訊檢測部，設於前述第二移送軌上，可使用彩色相機對半導體封裝之第二面進行2D檢測；承載盤移送機構，可使業經前述第二視訊檢測部之視訊檢測之承載盤移動至前述第二移送軌之一側之第三移送軌；第三視訊檢測部，設於前述第三移送軌上，可使用線性掃瞄相機對半導體封裝進行2D檢測；卸載部，設於前述第三視訊檢測部之一側，可供容置有良好之半導體元件之承載盤載疊；卸載軌，設於前述卸載部之後方；暫存軌，設於前述卸載軌之一側；第四視訊檢測部，分別設於前述卸載軌與前述暫存軌，可使用線性掃瞄相機對半導體封裝之第一面進行2D檢測；倒轉機構，可使前述第一移送軌上之承載盤朝第二移送軌上倒轉而移送之，並可使前述第三移送軌上之承載盤倒轉而朝前述卸載軌或暫存軌加以移送；複數廢品部，設於前述卸載部之一側，可依瑕疵之半導體元件之瑕疵種別加以分類容置；及，分類器，可移動於前述複數之廢品部與卸載部之間，同時分類已完成視訊檢測之半導體封裝。
简体摘要：一种可於单一检测系统旋转一次之期间内，分别对半导体封装之不同领域进行检测，而提升装备活用能力及检测良率之半导体封装检测系统，其包含：本体；装载部，设于前述本体前方，以将容置有应检测之半导体封装之承载盘送至第一移送轨；第一视频检测部，设于前述第一移送轨，用以进行半导体封装之第一面之视频检测；第二移送轨，设于前述第一移送轨之一侧；第二视频检测部，设于前述第二移送轨上，可使用彩色相机对半导体封装之第二面进行2D检测；承载盘移送机构，可使业经前述第二视频检测部之视频检测之承载盘移动至前述第二移送轨之一侧之第三移送轨；第三视频检测部，设于前述第三移送轨上，可使用线性扫瞄相机对半导体封装进行2D检测；卸载部，设于前述第三视频检测部之一侧，可供容置有良好之半导体组件之承载盘载叠；卸载轨，设于前述卸载部之后方；暂存轨，设于前述卸载轨之一侧；第四视频检测部，分别设于前述卸载轨与前述暂存轨，可使用线性扫瞄相机对半导体封装之第一面进行2D检测；倒转机构，可使前述第一移送轨上之承载盘朝第二移送轨上倒转而移送之，并可使前述第三移送轨上之承载盘倒转而朝前述卸载轨或暂存轨加以移送；复数废品部，设于前述卸载部之一侧，可依瑕疵之半导体组件之瑕疵种别加以分类容置；及，分类器，可移动于前述复数之废品部与卸载部之间，同时分类已完成视频检测之半导体封装。

5. 发明专利

TW200914341A 用於塗覆及檢查物件之裝置與方法(一) APPARATUS AND METHOD FOR COATING AND INSPECTING OBJECTS 审中-公开
简体标题：用于涂覆及检查对象之设备与方法(一) APPARATUS AND METHOD FOR COATING AND INSPECTING OBJECTS
公开(公告)号：TW200914341A
公开(公告)日：2009-04-01
申请号：TW097103527
申请日：2008-01-30
申请人： ND工業股份有限公司 ND INDUSTRIES, INC.
发明人：史諾吉拉德F SNOW, GERALD F. , 狄菲力皮詹姆士P DEFILLIPI, JAMES PATRICK
IPC分类号： B65G , B05D
CPC分类号： G01N21/95 , B05B7/14 , B05C9/14 , B07C5/3422
摘要：一種用以依據一檢查準則檢查物件的裝置和方法,其包括用以接收複數個物件的一傳送帶、位於該傳送帶沿線用以移除該等物件的一移除組件,以及一檢查系統,該檢查系統位於該傳送帶沿線且在該移除組件之前,用以對照一預定檢查準則檢查該等物件,以決定拒絕或通過該等被檢查的物件,並且如果該等被檢查的物件通過的情況發生,致動該移除組件到一通過位置,以及如果該等被檢查的物件被拒絕的情況發生,將該移除組件留在一未通過位置。
简体摘要：一种用以依据一检查准则检查对象的设备和方法,其包括用以接收复数个对象的一发送带、位于该发送带沿线用以移除该等对象的一移除组件,以及一检查系统,该检查系统位于该发送带沿线且在该移除组件之前,用以对照一预定检查准则检查该等对象,以决定拒绝或通过该等被检查的对象,并且如果该等被检查的对象通过的情况发生,致动该移除组件到一通过位置,以及如果该等被检查的对象被拒绝的情况发生,将该移除组件留在一未通过位置。

6. 发明专利

TW200905772A 半導體封裝的檢測系統审中-公开
简体标题：半导体封装的检测系统
公开(公告)号：TW200905772A
公开(公告)日：2009-02-01
申请号：TW097119135
申请日：2008-05-23
申请人：英泰克普拉斯有限公司 INTEKPLUS CO., LTD.
发明人：林雙根 LIM, SSANG-GUN , 李相允 LEE, SANG-YUN , 崔浩根 CHOI, HO-KEUN , 高升奎 KO, SEUNG-GYU
IPC分类号： H01L
CPC分类号： B07C5/3422 , G01N21/95
摘要：一種可於單一檢測系統旋轉一次之期間內,分別對半導體封裝之不同領域進行檢測,而提昇裝備活用能力及檢測良率之半導體封裝檢測系統,其包含:本體;裝載部,設於前述本體前方,以將容置有應檢測之半導體封裝之承載盤送至第一移送軌;第一視訊檢測部,設於前述第一移送軌,用以進行半導體封裝之第一面之視訊檢測;第二移送軌,設於前述第一移送軌之一側;第二視訊檢測部,設於前述第二移送軌上,可使用彩色相機對半導體封裝之第二面進行2D檢測;承載盤移送機構,可使業經前述第二視訊檢測部之視訊檢測之承載盤移動至前述第二移送軌之一側之第三移送軌;第三視訊檢測部,設於前述第三移送軌上,可使用線性掃瞄相機對半導體封裝進行2D檢測;卸載部,設於前述第三視訊檢測部之一側,可供容置有良好之半導體元件之承載盤載疊;卸載軌,設於前述卸載部之後方;暫存軌,設於前述卸載軌之一側;第四視訊檢測部,分別設於前述卸載軌與前述暫存軌,可使用線性掃瞄相機對半導體封裝之第一面進行2D檢測;倒轉機構,可使前述第一移送軌上之承載盤朝第二移送軌上倒轉而移送之,並可使前述第三移送軌上之承載盤倒轉而朝前述卸載軌或暫存軌加以移送;複數廢品部,設於前述卸載部之一側,可依瑕疵之半導體元件
之瑕疵種別加以分類容置;及,分類器,可移動於前述複數之廢品部與卸載部之間,同時分類已完成視訊檢測之半導體封裝。
简体摘要：一种可於单一检测系统旋转一次之期间内,分别对半导体封装之不同领域进行检测,而提升装备活用能力及检测良率之半导体封装检测系统,其包含:本体;装载部,设于前述本体前方,以将容置有应检测之半导体封装之承载盘送至第一移送轨;第一视频检测部,设于前述第一移送轨,用以进行半导体封装之第一面之视频检测;第二移送轨,设于前述第一移送轨之一侧;第二视频检测部,设于前述第二移送轨上,可使用彩色相机对半导体封装之第二面进行2D检测;承载盘移送机构,可使业经前述第二视频检测部之视频检测之承载盘移动至前述第二移送轨之一侧之第三移送轨;第三视频检测部,设于前述第三移送轨上,可使用线性扫瞄相机对半导体封装进行2D检测;卸载部,设于前述第三视频检测部之一侧,可供容置有良好之半导体组件之承载盘载叠;卸载轨,设于前述卸载部之后方;暂存轨,设于前述卸载轨之一侧;第四视频检测部,分别设于前述卸载轨与前述暂存轨,可使用线性扫瞄相机对半导体封装之第一面进行2D检测;倒转机构,可使前述第一移送轨上之承载盘朝第二移送轨上倒转而移送之,并可使前述第三移送轨上之承载盘倒转而朝前述卸载轨或暂存轨加以移送;复数废品部,设于前述卸载部之一侧,可依瑕疵之半导体组件之瑕疵种别加以分类容置;及,分类器,可移动于前述复数之废品部与卸载部之间,同时分类已完成视频检测之半导体封装。

7. 发明专利

TWI520813B 鑽石篩選裝置有权
简体标题：钻石筛选设备
公开(公告)号：TWI520813B
公开(公告)日：2016-02-11
申请号：TW102128225
申请日：2013-08-07
申请人：中國砂輪企業股份有限公司 , KINIK COMPANY
发明人：周瑞麟 , CHOU, JUI LIN , 王嘉群 , WANG, CHIA CHUN , 邱家豐 , CHIU, CHIA FENG , 廖文仁 , LIAO, WEN JEN , 陳仁風 , CHEN, JEN FENG
IPC分类号： B24B53/00 , B07C5/342
CPC分类号： B07C5/3422 , B25J9/0093 , B25J15/0616 , G05B19/4182 , G05B2219/40554 , G05B2219/40564 , G05B2219/40607 , G06T7/0006 , G06T2207/30108 , Y02P90/083

8. 发明专利

TW200600770A 囊泡式包裝件之檢驗系統 INSPECTION SYSTEM FOR BLISTER PACKAGES 审中-公开
简体标题：囊泡式包装件之检验系统 INSPECTION SYSTEM FOR BLISTER PACKAGES
公开(公告)号：TW200600770A
公开(公告)日：2006-01-01
申请号：TW094110080
申请日：2005-03-30
申请人：博士倫公司 BAUSCH & LOMB INCORPORATED
发明人：鮑德貝利 BARRY, PAUD , 麥克W 莫菲 MURPHY, MICHAEL W. , 佑恩羅齊 ROCHE, EOIN
IPC分类号： G01N
CPC分类号： B07C5/3422 , B65B25/008 , G01N21/9054 , G01N21/9508
摘要：一種檢驗囊泡式包裝件之密封區域及／或填裝程度的檢驗系統，包含一攝像裝置，本發明又提供一種攝像裝置；將囊泡式包裝件以及附著在上面的蓋子放到訪攝像裝置的感測區；造像並判定該密封區域的灰階度，並且將攝得灰階度與預定的灰階度數值做比較；如果攝得的灰階度與預定的灰階度數值大體上相同，就通過了囊泡式包裝件的檢驗；如果攝得的灰階度與預定的灰階度數值實質上不相同，就會駁回囊泡式包裝件的檢驗。
简体摘要：一种检验囊泡式包装件之密封区域及／或填装程度的检验系统，包含一摄像设备，本发明又提供一种摄像设备；将囊泡式包装件以及附着在上面的盖子放到访摄像设备的传感区；造像并判定该密封区域的灰阶度，并且将摄得灰阶度与预定的灰阶度数值做比较；如果摄得的灰阶度与预定的灰阶度数值大体上相同，就通过了囊泡式包装件的检验；如果摄得的灰阶度与预定的灰阶度数值实质上不相同，就会驳回囊泡式包装件的检验。

9. 发明专利

TWI232297B 用在篩選工作件以反應檢查結果之裝置及方法 APPARATUS AND METHOD FOR SCREENING OF WORKS IN RESPONSE TO INSPECTION RESULTS 失效
简体标题：用在筛选工作件以反应检查结果之设备及方法 APPARATUS AND METHOD FOR SCREENING OF WORKS IN RESPONSE TO INSPECTION RESULTS
公开(公告)号：TWI232297B
公开(公告)日：2005-05-11
申请号：TW093104641
申请日：2004-02-24
申请人：山葉汎提克股份有限公司 YAMAHA FINE TECHNOLOGIES CO., LTD.
发明人：原卓也 HARA, TAKUYA , 石井徹 ISHII, TORU , 伊藤猛 ITO, TAKESHI
IPC分类号： G01N , G01B
CPC分类号： B07C5/3422 , B07C5/02
摘要：一種篩選裝置(40)包括一卸放滑槽(33)、一輸送台(42)、一篩選台(43)及至少一排氣裝置(53a)，因此其能藉由一檢查裝置(30)完成檢查工作件(15)之篩選。在輸送台之一周圍方向上，於其間以指定的節距配置複數個工作件保持空間(50)，其中在卸放滑槽與工作件保持空間之間配置一跳動抑制壁，用於抑制工作件跳動至外側。當輸送台轉動時，經由卸放滑槽連續地輸送的該等工作件，獨立地受驅使自動地落入該等工作件保持空間中。接著，當該篩選台轉動時，其自輸送台接受工作件俾便藉由排氣裝置將其卸故進入對應的儲存盒中，以反應其之檢查結果。
简体摘要：一种筛选设备(40)包括一卸放滑槽(33)、一输送台(42)、一筛选台(43)及至少一排气设备(53a)，因此其能借由一检查设备(30)完成检查工作件(15)之筛选。在输送台之一周围方向上，于其间以指定的节距配置复数个工作件保持空间(50)，其中在卸放滑槽与工作件保持空间之间配置一跳动抑制壁，用于抑制工作件跳动至外侧。当输送台转动时，经由卸放滑槽连续地输送的该等工作件，独立地受驱使自动地落入该等工作件保持空间中。接着，当该筛选台转动时，其自输送台接受工作件俾便借由排气设备将其卸故进入对应的存储盒中，以反应其之检查结果。

10. 发明专利

TW392115B 自動檢視裝置失效
简体标题：自动视图设备
公开(公告)号：TW392115B
公开(公告)日：2000-06-01
申请号：TW083105021
申请日：1994-06-01
申请人：亞西姆影像處理系統有限公司
发明人：馬林.羅沙利.達 , 大衛.强.菲力 , 安達.威廉.加奇 , 尼格.强.米奇 , 大衛.漢佛利
IPC分类号： B07C , G01N , G06F , H04N
CPC分类号： G01N21/8806 , B07C5/3422
摘要：一種依物件31、231表面特徵以分類物件31、231之自動檢視裝置11211，包含輸送裝置30、230，用於輸送物件31、231至一影像感應位置，一攝影機14、214，可在物件32、231通過影像感應位置時捕捉其表面之電子影像。照明裝置38、39、227、228係在物件31、231通過影像感應位置時照明其表面。處理裝置，包含一微控制器17、217、一影像處理單元18、218及一微電腦21、221，係用於處理所捕捉之電子影像以將物件31、231分類。
简体摘要：一种依对象31、231表面特征以分类对象31、231之自动视图设备11211，包含输送设备30、230，用于输送对象31、231至一影像感应位置，一摄影机14、214，可在对象32、231通过影像感应位置时捕捉其表面之电子影像。照明设备38、39、227、228系在对象31、231通过影像感应位置时照明其表面。处理设备，包含一单片机17、217、一影像处理单元18、218及一微电脑21、221，系用于处理所捕捉之电子影像以将对象31、231分类。

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