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    • 5. 发明专利
    • 基板處理控制系統、基板處理控制方法、以及程式
    • 基板处理控制系统、基板处理控制方法、以及进程
    • TW201832872A
    • 2018-09-16
    • TW106132250
    • 2017-09-20
    • 日商荏原製作所股份有限公司EBARA CORPORATION
    • 武田晃一TAKEDA, KOICHI鳥越恒男TORIKOSHI, TSUNEO大石邦夫OISHI, KUNIO渡辺和英WATANABE, KATSUHIDE安田穂積YASUDA, HOZUMI石井遊ISHII, YU
    • B24B49/04B24B37/12H01L21/304
    • 本發明之局部研磨系統具備:微粒推斷部(30),其係推斷晶圓之膜厚分布;局部研磨部位設定部(11),其係依據膜厚分布設定晶圓之局部研磨部位;研磨頭選擇部(12),其係依據局部研磨部位之大小選擇研磨頭;模型記憶部(20),其係已記憶配方參數生成模型,該配方參數生成模型係將局部研磨部位之屬性作為輸入節點,將研磨處理之配方參數作為輸出節點,規定輸入節點與輸出節點之關係;研磨配方參數生成部(13),其係將局部研磨部位設定部(11)所設定之局部研磨部位的屬性適用於配方參數生成模型的輸入節點,求出研磨局部研磨部位之研磨配方參數;及研磨配方參數傳送部(15),其係傳送研磨配方參數之資料至局部進行研磨之局部研磨模組(200)。
    • 本发明之局部研磨系统具备:微粒推断部(30),其系推断晶圆之膜厚分布;局部研磨部位设置部(11),其系依据膜厚分布设置晶圆之局部研磨部位;研磨头选择部(12),其系依据局部研磨部位之大小选择研磨头;模型记忆部(20),其系已记忆配方参数生成模型,该配方参数生成模型系将局部研磨部位之属性作为输入节点,将研磨处理之配方参数作为输出节点,规定输入节点与输出节点之关系;研磨配方参数生成部(13),其系将局部研磨部位设置部(11)所设置之局部研磨部位的属性适用于配方参数生成模型的输入节点,求出研磨局部研磨部位之研磨配方参数;及研磨配方参数发送部(15),其系发送研磨配方参数之数据至局部进行研磨之局部研磨模块(200)。